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Fundamentos teóricos
Desarrollos prácticos
Principio físico
En un cañón de electrones típico , los electrones individuales, que tienen una carga elemental
(acerca de culombios ) y una masa (acerca de kg ), bajo una diferencia
de potencial de voltios , una cantidad de energía de Joules se transfiere a cada uno de ellos,
que absorben por completo como energía cinética , ½ (suponiendo una mecánica
no relativista ) y comienza a moverse a una velocidad . Así, siendo
entonces .
Tipos
Una aplicación de TEM es la microscopía electrónica de sección en serie (ssEM), por ejemplo, en el
análisis de la conectividad en muestras volumétricas de tejido cerebral al obtener imágenes de
muchas secciones delgadas en secuencia. [17] Esto se puede lograr mediante la introducción de un
método de fresado en la canalización de imágenes, mediante el cual se exponen cortes sucesivos de
un volumen 3D al haz y se obtienen imágenes. Estos métodos incluyen Serial Block Face SEM (SB-
SEM) [18] y Focused Ion Beam -SEM ( FIB-SEM ). [19] [20] El preprocesamiento de volúmenes para
crear muchos cortes de los que se obtienen imágenes de forma automatizada ha logrado
3
recientemente imágenes de alto rendimiento de volúmenes de hasta 1 mm . [21] Con este método,
se pueden resolver microcircuitos neuronales locales completos, aunque los requisitos de equipo y
tiempo para esto siguen siendo significativos: obtener imágenes de un bloque de tejido cerebral de
3 requirió 6 meses de imágenes casi continuas mediante seis TEM funcionando en paralelo.
1 mm
El STEM rastrea una sonda incidente enfocada a través de una muestra que (al igual que con el
TEM) se ha adelgazado para facilitar la detección de electrones dispersos a través de la muestra. La
alta resolución del TEM es así posible en STEM. La acción de enfoque (y las aberraciones) ocurren
antes de que los electrones golpeen la muestra en el STEM, pero luego en el TEM. El uso de STEM
de rasterización de haz similar a SEM simplifica la obtención de imágenes anulares de campo
oscuro y otras técnicas analíticas, pero también significa que los datos de imagen se adquieren en
serie en lugar de en paralelo. A menudo, TEM puede equiparse con la opción de escaneo y luego
puede funcionar como TEM y STEM.
Color
En sus configuraciones más comunes, los microscopios electrónicos producen imágenes con un
solo valor de brillo por píxel, y los resultados generalmente se muestran en escala de grises . [23] Sin
embargo, a menudo estas imágenes se colorean mediante el uso de software de detección de
características, o simplemente editándolas a mano con un editor de gráficos. Esto se puede hacer
para aclarar la estructura o por un efecto estético y, por lo general, no agrega nueva información
sobre el espécimen. [24]
Algunos tipos de detectores utilizados en SEM tienen capacidades analíticas y pueden proporcionar
varios elementos de datos en cada píxel. Algunos ejemplos son los detectores de espectroscopia de
rayos X de dispersión de energía (EDS) utilizados en el análisis elemental y los sistemas
de microscopio de catodoluminiscencia (CL) que analizan la intensidad y el espectro de
la luminiscencia inducida por electrones.en (por ejemplo) especímenes geológicos. En los sistemas
SEM que utilizan estos detectores, es común codificar por colores las señales y superponerlas en
una sola imagen de color, de modo que las diferencias en la distribución de los diversos
componentes de la muestra puedan verse claramente y compararse. Opcionalmente, la imagen
estándar de electrones secundarios se puede fusionar con uno o más canales de composición, de
modo que se puedan comparar la estructura y la composición de la muestra. Tales imágenes se
pueden hacer manteniendo la integridad total de la señal original, que no se modifica de ninguna
manera.
Preparación de muestras
Los materiales que se van a ver en un microscopio electrónico
pueden requerir procesamiento para producir una muestra
adecuada. La técnica requerida varía según la muestra y el
análisis requerido:
Desventajas
Los microscopios electrónicos son costosos de construir y
mantener, pero los costos de capital y funcionamiento de los
sistemas de microscopios ópticos confocales ahora se
superponen con los de los microscopios electrónicos
básicos. Los microscopios diseñados para lograr altas
resoluciones deben alojarse en edificios estables (a veces
subterráneos) con servicios especiales como sistemas de
cancelación de campos magnéticos.
En gran parte, las muestras deben verse en el vacío , ya que las
moléculas que forman el aire dispersarían los electrones. Una
excepción es la microscopía electrónica de fase líquida [42] que
usa una celda líquida cerrada o una cámara ambiental, por
ejemplo, en el microscopio electrónico de barrido ambiental ,
que permite ver muestras hidratadas a baja presión (hasta
20 Torr o 2,7 kPa) ambiente húmedo. También se han
desarrollado varias técnicas para la microscopía electrónica in
situ de muestras gaseosas. [43] Microscopio electrónico de
transmisión y barrido JEOL
Los microscopios electrónicos de barrido que funcionan en el fabricado a mediados de la década
modo convencional de alto vacío suelen obtener imágenes de de 1970
muestras conductoras; por lo tanto, los materiales no
conductores requieren un revestimiento conductor (aleación de
oro/paladio, carbono, osmio, etc.). El modo de bajo voltaje de los microscopios modernos hace
posible la observación de muestras no conductoras sin recubrimiento. Los materiales no
conductores también se pueden visualizar mediante un microscopio electrónico de barrido de
presión variable (o ambiental).
Las muestras pequeñas y estables, como los nanotubos de carbono , las frustulas de diatomeas y los
pequeños cristales minerales (fibras de asbesto, por ejemplo), no requieren ningún tratamiento
especial antes de ser examinadas en el microscopio electrónico. Las muestras de materiales
hidratados, incluidos casi todos los especímenes biológicos, deben prepararse de varias maneras
para estabilizarlos, reducir su grosor (secciones ultrafinas) y aumentar su contraste óptico de
electrones (tinción). Estos procesos pueden dar lugar a artefactos , pero normalmente se pueden
identificar comparando los resultados obtenidos mediante el uso de métodos de preparación de
muestras radicalmente diferentes. Desde la década de 1980, el análisis de criofijados, los
especímenes vitrificados también se han vuelto cada vez más utilizados por los científicos, lo que
confirma aún más la validez de esta técnica. [44] [45] [46]
Aplicaciones
Almacenamiento de datos y Investigación de materiales
semiconductores
Pruebas y caracterización de dispositivos [61]
Editar circuito [47] Experimentos con materiales dinámicos [62]
Análisis de defectos [48] Deposición inducida por haz de
Análisis de fallas [49] electrones [63]
Caracterización in situ [64]
Biología y ciencias de la vida
Cualificación de materiales [65]
Criobiología [50] Investigación médica [53]
Microscopía crioelectrónica [51] Nanometrología [66]
Microscopía electrónica de diagnóstico [52] Nanoprototipos [67]
Investigación de fármacos (p. ej.,
Industria
antibióticos) [53]
Tomografía electrónica [54] Química / Petroquímica [68]
Análisis de partículas [55] Fabricación de escritura de haz directo [69]
Detección de partículas [56] ciencia de los alimentos [70]
Localización de proteínas [57] Medicina forense [71]
Biología estructural [51] Fractografía [72]
Imágenes de tejidos [58] Microcaracterización [73]
Toxicología [59] Minería (análisis de liberación de
Virología (p. ej ., monitorización de la carga minerales) [74]
viral ) [60] Control de calidad farmacéutico [75]
Véase también
Acrónimos en microscopía Procesamiento de imágenes de microscopio
difracción de electrones Microscopía
Espectroscopia de pérdida de energía de Nanociencia
electrones (EELS) Nanotecnología
Imágenes de microscopio electrónico microscopio de neutrones
Microscopía electrónica de transmisión Microscopía cuántica
filtrada por energía (EFTEM) Microscopía electrónica confocal de barrido
Microscopio electrónico de barrido
Microscopio electrónico de barrido (SEM)
ambiental (ESEM)
Microscopio de efecto túnel
Microscopio de emisión de campo
ciencia de la superficie
HiRISE
Microscopio con corrección de aberración
Microscopía electrónica inmune electrónica de transmisión
Microscopía electrónica in situ difracción de rayos X
fijador de Karnovsky
microscopio de rayos x Analizador de energía de electrones
Microscopía electrónica de baja energía hemisféricos
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