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BS EN ISO 17636-1:2013
Incorporación de corrección de errores de febrero de 2013.
Personal BSI norte dardos publi Cación
Ensayos no destructivos de
soldaduras. Ensayos radiográficos.
Parte 1: Técnicas de rayos X y gamma con
película.
NO SE PUEDE COPIAR SIN EL PERMISO DE BSI, EXCEPTO LO PERMITIDO POR LA LEY DE DERECHOS DE AUTOR
elevando los estándares en todo el mundo™

BS EN ISO 17636-1:2013 ESTÁNDAR BRITÁNICO
Prólogo nacional
Esta norma británica es la implementación en el Reino Unido de EN
ISO 17636-1:2013. Junto con la norma BS EN ISO 17636-2:2013,
reemplaza a la norma BS EN 1435:1997, que ha sido retirada.
La participación del Reino Unido en su preparación fue confiada al

Comité Técnico WEE/46, Ensayos no destructivos.
Se puede obtener una lista de las organizaciones representadas en

este comité solicitándola a su secretario.
Esta publicación no pretende incluir todas las disposiciones necesarias

de un contrato. Los usuarios son responsables de su correcta
aplicación.
© The British Standards Institution 2013. Publicado por BSI Standards

Limited 2013
ISBN 978 0 580 82155 4
ICS 25.160.40
El cumplimiento de una norma británica no puede conferir inmunidad respecto de

obligaciones legales.
Esta norma británica fue publicada bajo la autoridad del Comité

de Política y Estrategia de Normas el 31 de enero de 2013.
Enmiendas/corrigendas emitidas desde su publicación

Fecha Texto afectado
28 de febrero de 2013 Corrección del texto central.

ESTÁNDAR EUROPEO EN ISO 17636-1

NORMA EUROPEA
NORMA EUROPEA enero 2013
ICS 25.160.40 Reemplaza EN 1435:1997
Versión inglesa
Ensayos no destructivos de soldaduras - Ensayos radiográficos - Parte 1:

Técnicas de rayos X y gamma con película (ISO 17636-1:2013)
Control no destructivo de ensamblajes sólidos - Control Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißverbindungen -

por radiografía - Parte 1: Técnicas por rayos X ou Durchstrahlungsprüfung - Parte 1: Röntgen- und
gama de ayuda de película (ISO 17636-1:2013) Gammastrahlungstechniken mit Filmen (ISO 17636-
1:2013)
Esta norma europea fue aprobada por el CEN el 14 de diciembre de 2012.
Los miembros de CEN están obligados a cumplir con el Reglamento interno de CEN/CENELEC que estipula las condiciones para otorgar a esta norma
europea el estatus de norma nacional sin ninguna alteración. Se pueden obtener listas actualizadas y referencias bibliográficas relativas a dichas
normas nacionales solicitándolas al Centro de Gestión CEN-CENELEC o a cualquier miembro del CEN.
Esta norma europea existe en tres versiones oficiales (inglés, francés, alemán). Una versión en cualquier otro idioma realizada mediante traducción
bajo la responsabilidad de un miembro de CEN a su propio idioma y notificada al Centro de Gestión de CEN-CENELEC tiene el mismo estatus que
las versiones oficiales.
Los miembros del CEN son los organismos nacionales de normalización de Austria, Bélgica, Bulgaria, Croacia, Chipre, República Checa, Dinamarca,
Estonia, Finlandia, la Antigua República Yugoslava de Macedonia, Francia, Alemania, Grecia, Hungría, Islandia, Irlanda, Italia, Letonia y Lituania. ,
Luxemburgo, Malta, Países Bajos, Noruega, Polonia, Portugal, Rumanía, Eslovaquia, Eslovenia, España, Suecia, Suiza, Turquía y Reino Unido.
COMITÉ EUROPEO DE NORMALIZACIÓN C OM IT É EUR

OP É EN DE NORMAL IS AT I ON EUROPÄ I SCHES KOMI
TEE FÜR NORMUNG
Centro de gestión: Avenue Marnix 17, B-1000 Bruselas
© 2013 CEN Todos los derechos de explotación en cualquier forma y por cualquier medio reservados en todo Árbitro. N.º EN ISO 17636-1:2013: E
el mundo a los Miembros nacionales de CEN.

BS EN ISO 17636-1:2013
EN ISO 17636-1:2013 (E)
Prefacio
Este documento (EN ISO 17636-1:2013) ha sido elaborado por el Comité Técnico CEN/TC 121 “Soldadura” cuya
secretaría desempeña DIN, en colaboración con el Comité Técnico ISO/TC 44 “Soldadura y procesos afines”.
A esta norma europea se le otorgará el estatus de norma nacional, ya sea mediante la publicación de un texto idéntico o
mediante aprobación, a más tardar en julio de 2013, y las normas nacionales en conflicto se retirarán a más tardar en julio
de 2013.
Se llama la atención sobre la posibilidad de que algunos de los elementos de este documento puedan ser objeto de derechos de
patente. CEN [y/o CENELEC] no será responsable de identificar cualquiera o todos dichos derechos de patente.
Este documento reemplaza a la norma EN 1435:1997.
Según el Reglamento Interno CEN/CENELEC, las organizaciones nacionales de normalización de los siguientes
países están obligadas a implementar esta norma europea: Austria, Bélgica, Bulgaria, Croacia, Chipre, República
Checa, Dinamarca, Estonia, Finlandia, Antigua República Yugoslava de Macedonia, Francia, Alemania, Grecia,
Hungría, Islandia, Irlanda, Italia, Letonia, Lituania, Luxemburgo, Malta, Países Bajos, Noruega, Polonia, Portugal,
Rumanía, Eslovaquia, Eslovenia, España, Suecia, Suiza, Turquía y Reino Unido.
3
BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
Contenido Página
Prólogo ................................................. ................................................. ................................................. ....... iv

Introducción................................................ ................................................. ................................................. ............ v 1
Alcance ................................................. ................................................. ................................................. .1
2 Referencias normativas................................................ ................................................. ........................1
3 Términos y definiciones ............................................... ................................................. ..........................2
4 Símbolos y términos abreviados ................................................ ................................................. ..........3
5 Clasificación de técnicas radiográficas................................................ ................................................3
6 Preparativos y requisitos generales ................................................ ................................................4
6.1 Protección contra radiaciones ionizantes ................................................ ................................................. ..4
6.2 Preparación de la superficie y etapa de fabricación................................................ ........................................4
6.3 Ubicación de la soldadura en la radiografía ......................................... ................................................. ..4
6.4 Identificación de radiografías................................................ ................................................. ...............4
6.5 Calificación................................................. ................................................. ................................................4
6.6 Superposición de películas ................................................. ................................................. .................................4
6.7 Tipos y posiciones de indicadores de calidad de imagen................................. .................................4
6.8 Evaluación de la calidad de la imagen................................................ ................................................. .................5
6.9 Valores mínimos de calidad de imagen .................................. ................................................. ............5
6.10 Cualificación del personal ................................................ ................................................. ........................6
7 Técnicas recomendadas para realizar radiografías ................................................ ................................6
7.1 Disposiciones de prueba ................................................ ................................................. ................................6
7.2 Elección del voltaje del tubo y fuente de radiación ................................. ........................................12
7.3 Sistemas de cine y pantallas metálicas ................................. ................................................. .........13
7.4 Alineación del haz ................................................ ................................................. ..............................15
7.5 Reducción de la radiación dispersa ................................................ ................................................. ........15
7.6 Distancia fuente-objeto ......................................... ................................................. .....................15
7.7 Área máxima para una sola exposición ......................................... ................................................. ...18
7.8 Densidad de la radiografía ................................................ ................................................. ........................18
7.9 Procesamiento ................................................ ................................................. ........................................18
7.10 Condiciones de visualización de la película................................ ................................................. ........................19
8 Informe de prueba ................................................ ................................................. ........................................19
Anexo A(normativo)Número recomendado de exposiciones que dan un examen aceptable.

de una soldadura a tope circunferencial ................................. ................................................. ............21
Anexo B(normativo)Valores mínimos de calidad de imagen .................................. ........................................26
Bibliografía................................................. ................................................. ................................................. .30
III
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BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
Prefacio
ISO (la Organización Internacional de Normalización) es una federación mundial de organismos nacionales de
normalización (organismos miembros de ISO). El trabajo de preparación de Normas Internacionales normalmente se lleva
a cabo a través de comités técnicos de ISO. Cada organismo miembro interesado en un tema para el cual se ha
establecido un comité técnico tiene derecho a estar representado en ese comité. En el trabajo también participan
organizaciones internacionales, gubernamentales y no gubernamentales, en colaboración con ISO. ISO colabora
estrechamente con la Comisión Electrotécnica Internacional (IEC) en todos los asuntos de normalización electrotécnica.
Las normas internacionales se redactan de acuerdo con las reglas establecidas en las Directivas ISO/IEC, Parte 2.
La principal tarea de los comités técnicos es preparar normas internacionales. Los proyectos de normas internacionales
adoptados por los comités técnicos se distribuyen a los organismos miembros para su votación. La publicación como Norma
Internacional requiere la aprobación de al menos el 75% de los organismos miembros con derecho a voto.
Se llama la atención sobre la posibilidad de que algunos de los elementos de este documento puedan ser objeto de derechos de
patente. ISO no será responsable de identificar cualquiera o todos estos derechos de patente.
ISO 17636-1 fue preparada por el Comité Europeo de Normalización (CEN) en colaboración con el Comité
Técnico de ISO TC 44,Soldadura y procesos afines., Subcomité SC 5,Pruebas e inspección de soldaduras.de
conformidad con el Acuerdo de cooperación técnica entre ISO y CEN (Acuerdo de Viena).
Esta primera edición, junto con la Norma ISO 17636-2, anula y reemplaza la Norma ISO 17636:2003, de la cual constituye una
revisión técnica.
La Norma ISO 17636 consta de las siguientes partes, bajo el título generalEnsayos no destructivos de soldaduras. Ensayos
radiográficos.:
- Parte 1: Técnicas de rayos X y gamma con película.
- Parte 2: Técnicas de rayos X y gamma con detectores digitales
Los principales cambios son que:
-se han actualizado las referencias normativas;
- el documento se ha dividido en dos partes: esta parte de la Norma ISO 17636 se aplica a las pruebas radiográficas con
películas;
- Se han incluido dispositivos de rayos X de hasta 1 000 kV;
- el texto ha sido revisado editorialmente.
Las solicitudes de interpretaciones oficiales de cualquier aspecto de esta parte de ISO 17636 deben dirigirse a la Secretaría de
ISO/TC 44/SC 5 a través de su organismo nacional de normalización. Una lista completa de estos organismos se puede encontrar
enwww.iso.org .
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BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
Introducción
Esta norma internacional especifica técnicas fundamentales de radiografía con el objetivo de permitir obtener
resultados satisfactorios y repetibles de forma económica. Las técnicas se basan en la práctica generalmente
reconocida y la teoría fundamental del tema, la inspección de uniones soldadas por fusión con películas
radiográficas industriales.
v
BS EN ISO 17636-1:2013

BS EN ISO 17636-1:2013
ESTÁNDAR INTERNACIONAL ISO 17636-1:2013(E)
Ensayos no destructivos de soldaduras — Ensayos radiográficos —
Parte 1:
Técnicas de rayos X y gamma con película.
1 Alcance
Esta parte de la Norma ISO 17636 especifica técnicas de examen radiográfico de uniones soldadas por fusión en materiales
metálicos utilizando técnicas de película radiográfica industrial.
Esta parte de la Norma ISO 17636 se aplica a las uniones de placas y tuberías. Además de su significado convencional, "tubería", tal como
se utiliza en esta norma internacional, cubre otros cuerpos cilíndricos como tubos, compuertas, tambores de calderas y recipientes a
presión.
NOTA Esta parte de ISO 17636 cumple con ISO 5579.[1]
Esta parte de ISO 17636 no especifica niveles de aceptación para ninguna de las indicaciones que se encuentran en las radiografías.
Si las partes contratantes aplican criterios de prueba más bajos, es posible que la calidad lograda sea significativamente menor que cuando se aplica
estrictamente esta parte de la norma ISO 17636.
2 Referencias normativas
Los siguientes documentos referenciados son indispensables para la aplicación de este documento. Para las referencias
con fecha, sólo se aplica la edición citada. Para referencias sin fecha, se aplica la última edición del documento de
referencia (incluidas las modificaciones).
ISO 5576,Ensayos no destructivos — Radiología industrial de rayos X y rayos gamma — Vocabulario
ISO 5580,Ensayos no destructivos. Iluminadores radiográficos industriales. Requisitos mínimos.
ISO 9712,Ensayos no destructivos. Cualificación y certificación del personal de END
ISO 11699-1,Ensayos no destructivos. Película radiográfica industrial. Parte 1: Clasificación de sistemas de películas para
radiografía industrial.
ISO 11699-2,Ensayos no destructivos. Películas radiográficas industriales. Parte 2: Control del procesamiento de películas
mediante valores de referencia.
ISO 19232-1,Ensayos no destructivos. Calidad de imagen de radiografías. Parte 1: Indicadores de calidad de imagen (tipo de
cable). Determinación del valor de calidad de imagen.
ISO 19232-2,Ensayos no destructivos. Calidad de imagen de radiografías. Parte 2: Indicadores de calidad de imagen (tipo paso/
agujero). Determinación del valor de calidad de imagen.
ISO 19232-4,Ensayos no destructivos. Calidad de imagen de radiografías. Parte 4: Evaluación experimental de valores de calidad
de imagen y tablas de calidad de imagen.
1
BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
EN 12543 (todas las partes),Ensayos no destructivos. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso
en ensayos no destructivos.
EN 12679,Ensayos no destructivos. Determinación del tamaño de fuentes radiográficas industriales. Método

radiográfico.
3 Términos y definiciones
A los efectos de este documento, se aplican los términos y definiciones proporcionados en ISO 5576 y lo siguiente.
3.1
espesor nominal
t
Espesor nominal del material base solo cuando no es necesario tener en cuenta las tolerancias de fabricación.
3.2
cambio de espesor de penetración
-t
cambio del espesor penetrado en relación con el espesor nominal debido al ángulo del haz
3.3
espesor penetrado
w
Espesor del material en la dirección del haz de radiación calculado sobre la base de los espesores nominales de todas las
paredes penetradas.
3.4
distancia objeto-película b
distancia entre el lado de radiación de la parte radiografiada del objeto de prueba y la superficie de la película medida a lo
largo del eje central del haz de radiación
3.5
tamaño de fuente
d
Tamaño de la fuente de radiación o tamaño del punto focal.
NOTA Consulte EN 12679 o EN 12543.
3.6
distancia fuente-película
SFD
SDD
Distancia entre la fuente de radiación y la película medida en la dirección del haz.
NOTA SFD =F+b

dónde
F distancia fuente-objeto
b distancia objeto-película
3.7
distancia fuente-objeto F
distancia entre la fuente de radiación y el lado de la fuente del objeto de prueba medida a lo largo del eje central
del haz de radiación
2 © ISO 2013 – Todos los derechos reservados

BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
3.8
diámetro externo
Dmi
diámetro exterior nominal de la tubería
4 Símbolos y términos abreviados
A los efectos de este documento, se aplican los símbolos que figuran en la Tabla 1.
Tabla 1: Símbolos y términos
Símbolo Término
b distancia objeto-película
b- distancia entre el objeto y la película perpendicular al objeto de prueba
Dmi diámetro externo
d tamaño de fuente
F distancia fuente-objeto
F′ distancia fuente-objeto perpendicular al objeto de prueba
Fmín. distancia mínima fuente-objeto

t espesor nominal
-t cambio de espesor de penetración
w espesor penetrado
F película
ICI indicador de calidad de imagen
S fuente de radiación
SFD
distancia fuente-película
SDD
5 Clasificación de las técnicas radiográficas.
Las técnicas radiográficas se dividen en dos clases:
- Clase A: técnicas básicas;
- Clase B: técnicas mejoradas.
Las técnicas de clase B se utilizan cuando la clase A puede no ser lo suficientemente sensible.
Son posibles mejores técnicas en comparación con la clase B y las partes contratantes pueden acordarlas mediante la
especificación de todos los parámetros de prueba apropiados.
La elección de la técnica radiográfica será acordada entre las partes contratantes.
Si, por razones técnicas o industriales, no es posible cumplir una de las condiciones especificadas para la clase B, como el tipo de
fuente de radiación o la distancia entre la fuente y el objeto,F,Las partes contratantes podrán acordar que la condición
seleccionada sea la especificada para la clase A. La pérdida de sensibilidad se compensará mediante un aumento de la densidad
mínima a 3,0 o mediante la selección de una mejor clase de sistema de película con una densidad mínima de 2,6. Las demás
condiciones para la clase B permanecen sin cambios, especialmente la calidad de imagen lograda (ver Tablas B.1 a
3
BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
B.12). Debido a la mejor sensibilidad en comparación con la clase A, se puede considerar que la muestra de prueba se
examina según la clase B. Esto no se aplica si se utilizan las reducciones especiales de SFD como se describen en 7.6 para
las disposiciones de prueba 7.1.4 y 7.1.5.
6 Preparativos y requisitos generales
6.1 Protección contra radiaciones ionizantes
ADVERTENCIA: La exposición de cualquier parte del cuerpo humano a los rayos X o gamma puede ser muy
perjudicial para la salud. Siempre que se utilicen equipos de rayos X o fuentes radiactivas, se aplicarán los
requisitos legales apropiados.
Se aplicarán estrictamente las precauciones de seguridad locales, nacionales o internacionales al utilizar radiaciones ionizantes.
6.2 Preparación de la superficie y etapa de fabricación.
En general, la preparación de la superficie no es necesaria, pero cuando las imperfecciones o los recubrimientos de la superficie puedan causar
dificultades para detectar defectos, la superficie deberá pulirse hasta quedar lisa o se eliminarán los recubrimientos.
A menos que se especifique lo contrario, la radiografía se realizará después de la etapa final de fabricación, por ejemplo, después del rectificado o
del tratamiento térmico.
6.3 Ubicación de la soldadura en la radiografía
Cuando la radiografía no muestre la soldadura, se colocarán marcadores de alta densidad a ambos lados de la soldadura.
6.4 Identificación de radiografías
Se colocarán símbolos en cada sección del objeto que se radiografíe. Las imágenes de estos símbolos aparecerán
en la radiografía fuera de la región de interés siempre que sea posible y garantizarán una identificación inequívoca
de la sección.
6.5 Marcado
Se harán marcas permanentes en el objeto a examinar para localizar con precisión la posición de cada radiografía
(por ejemplo, punto cero, dirección, identificación, medida).
Cuando la naturaleza del material y/o sus condiciones de servicio no permitan un marcado permanente, la
ubicación podrá registrarse mediante bocetos o fotografías precisas.
6.6 Superposición de películas
Al radiografiar un área con dos o más películas separadas, las películas se superpondrán lo suficiente para garantizar que
se radiografíe toda la región de interés. Esto se verificará mediante un marcador de alta densidad en la superficie del
objeto que aparecerá en cada película.
6.7 Tipos y posiciones de indicadores de calidad de imagen.
La calidad de la imagen se verificará mediante el uso de indicadores de calidad de imagen (IQI) de acuerdo con la norma ISO 19232-1 o ISO
19232-2.
El IQI utilizado se colocará preferentemente en el lado de origen del objeto de prueba en el centro del área de
interés en el metal base al lado de la soldadura. Los números de identificación y, cuando se utilicen, la letra F, no
estarán en el área de interés, excepto cuando la configuración geométrica lo haga poco práctico..El IQI estará en
estrecho contacto con la superficie del objeto.

BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
Su ubicación se realizará en una sección de espesor uniforme caracterizada por una densidad óptica uniforme sobre la película.
Según el tipo de ICI utilizado se considerarán los casos a) yb).
a) Cuando se utiliza un alambre IQI, los alambres deben dirigirse perpendicularmente a la soldadura y su ubicación debe
garantizar que al menos 10 mm de la longitud del alambre se muestre en una sección de densidad óptica uniforme, que
normalmente se encuentra en el metal base adyacente al soldar. Para exposiciones de acuerdo con 7.1.6 y 7.1.7, el IQI se
puede colocar con los cables a través del eje de la tubería y no deben proyectarse en la imagen de la soldadura.
b) Cuando se utiliza un IQI con orificio escalonado, se debe colocar de tal manera que el número de orificio requerido quede cerca de la
soldadura.
Para exposiciones de acuerdo con 7.1.6 y 7.1.7, el tipo de IQI utilizado puede colocarse en el lado de la fuente o en el de la
película. Si los IQI no se pueden colocar de acuerdo con las condiciones anteriores, los IQI se colocan en el lado de la película y la
calidad de la imagen se determinará al menos una vez a partir de la exposición de comparación con un IQI colocado en el lado de
la fuente y otro en el lado de la película debajo del mismas condiciones.
Para exposiciones de doble pared, cuando el IQI se coloca en el lado de la película, la prueba anterior no es necesaria. En este
caso, consulte las tablas de correspondencia (Tablas B.3 a B.12).
Cuando los IQI se coloquen en el lado de la película, la letra F se colocará cerca del IQI y se indicará en el informe de
prueba.
Si se han tomado medidas para garantizar que las radiografías de objetos y regiones de prueba similares se produzcan con
técnicas de exposición y procesamiento idénticas, y no es probable que haya diferencias en el valor de la calidad de la imagen, no
es necesario verificar la calidad de la imagen para cada radiografía. El alcance de la verificación de la calidad de la imagen debe
estar sujeto a acuerdo entre las partes contratantes.
Para exposiciones de tuberías con un diámetro de 200 mm y superior con la fuente ubicada en el centro, se deben colocar
al menos tres IQI equidistantes en la circunferencia. Las películas que muestran imágenes de ICI se consideran
representativas de toda la circunferencia.
6.8 Evaluación de la calidad de la imagen
Las películas se visualizarán de acuerdo con la norma ISO 5580.
A partir del examen de la imagen del IQI en la radiografía, se determina el número del cable o agujero más pequeño que
se puede discernir. La imagen de un cable se acepta si una longitud continua de al menos 10 mm es claramente visible en
una sección de densidad óptica uniforme. En el caso del orificio para escalón tipo IQI, si existen dos orificios del mismo
diámetro, ambos deberán ser discernibles, para que el escalón se considere visible.
El valor IQI obtenido se indicará en el informe de prueba del examen radiográfico. En cada caso se indicará
claramente el tipo de indicador utilizado, tal como se muestra en el ICI.
6.9 Valores mínimos de calidad de imagen
Las tablas B.1 a B.12 muestran los valores mínimos de calidad para materiales metálicos. Para otros materiales, estos
requisitos o los requisitos correspondientes podrán ser acordados por las partes contratantes. Los requisitos se
determinarán de acuerdo con la norma ISO 19232-4.
En el caso de que se utilicen fuentes de Ir 192 o Se 75, se podrán aceptar valores de ICI peores que los enumerados en las Tablas B.1 a
B.12 mediante acuerdo de las partes contratantes de la siguiente manera:
5
BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
Técnicas de doble pared, doble imagen, tanto de clase A como B (w-2t):
- 10 milímetros <w-25 mm: 1 cable o orificio escalonado menos para Ir 192;
- 5 milímetros <w-12 mm: 1 cable o agujero de paso menos para Se 75.
Técnicas de imagen simple de pared simple y imagen simple de doble pared, clase A:
- 10 milímetros <w-24 mm: valores de 2 cables o orificios escalonados menos para Ir 192;
- 24mm <w-30 mm: 1 cable o orificio escalonado menos para Ir 192;
Técnicas de simple imagen de pared simple y de doble pared de imagen simple, clase B:
- 10 milímetros <w-40 mm: 1 cable o orificio escalonado menos para Ir 192;
6.10 Cualificación del personal
El personal que realice exámenes no destructivos de acuerdo con esta parte de la norma ISO 17636 deberá estar calificado de
acuerdo con la norma ISO 9712 o equivalente a un nivel apropiado en el sector industrial relevante.
7 Técnicas recomendadas para realizar radiografías
NOTA A menos que se indique lo contrario, las definiciones de los símbolos utilizados en las Figuras 1 a 21 se pueden encontrar en la Cláusula 4.
7.1 Disposiciones de prueba
7.1.1 Generalidades
Normalmente se utilizarán técnicas radiográficas de acuerdo con 7.1.2 a 7.1.9.
La película de rayos X se colocará lo más cerca posible del objeto.
La técnica elíptica (doble pared y doble imagen) de acuerdo con la Figura 11 no debe utilizarse para diámetro externo.Dmi> 100
mm o espesor de paredt>8 mm o ancho de soldadura >Dmi/4. Dos imágenes desplazadas a 90° son suficientes sit/Dmi< 0,12; de lo
contrario se necesitan tres imágenes. La distancia entre las dos imágenes de soldadura proyectadas será de aproximadamente un
ancho de soldadura.
Cuando sea difícil realizar un examen elíptico enDmi- 100 mm, se puede utilizar la técnica perpendicular de
acuerdo con 7.1.7 (ver Figura 12). En este caso, se requieren tres exposiciones con una separación de 120° o
60°.
Para disposiciones de prueba de acuerdo con las Figuras 11, 13 y 14, la inclinación del haz se mantendrá lo más
pequeña posible y será tal que impida la superposición de las dos imágenes. La distancia fuente-objeto, F, se
mantendrá lo más pequeño posible para la técnica que se muestra en la Figura 13, de acuerdo con 7.6. El IQI se
colocará cerca de la película con una letra F.
Las partes contratantes podrán acordar otras técnicas radiográficas cuando sea útil, por ejemplo por motivos como la
geometría de la pieza o diferencias de espesor del material. En 7.1.9 se presenta un ejemplo de tal caso. No se utilizarán
técnicas de películas múltiples para reducir los tiempos de exposición en secciones uniformes. Además se podrá aplicar
compensación de espesor con el mismo material.

BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
NOTA En el Anexo A se proporciona el número mínimo de radiografías necesarias para obtener una imagen aceptable.
Cobertura radiográfica de la circunferencia total de una soldadura a tope en una tubería.
7.1.2 Fuente de radiación ubicada frente al objeto y con la película en el lado opuesto(ver Figura
1)
Figura 1 — Disposición de prueba para soldaduras planas y penetración en pared simple
7.1.3 Fuente de radiación ubicada fuera del objeto y película dentro(ver Figuras 2 a 4)
Figura 2 — Disposición de prueba para la penetración en una sola pared de objetos curvos
Figura 3 — Disposición de prueba para la penetración en una sola pared de objetos curvos (soldadura empotrada)
7
BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
Figura 4 — Disposición de prueba para la penetración en una sola pared de objetos curvos (soldadura de fijación)
7.1.4 Fuente de radiación ubicada centralmente dentro del objeto y con la película afuera(ver Figuras 5 a 7)
Figura 6 — Disposición de prueba para la penetración en una sola pared de objetos curvos (soldadura empotrada)

BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
7.1.5 Fuente de radiación situada descentrada en el interior del objeto y película en el exterior(ver Figuras 8 a 10)
Figura 9 — Disposición de prueba para la penetración en una sola pared de un objeto curvo (soldadura empotrada)
7.1.6 Técnica elíptica(ver Figura 11)
NOTA La distancia fuente-objeto se puede calcular mediante la distancia perpendicularF',calculado a partir deb'.
Figura 11 — Disposición de prueba para la penetración de doble pared, imagen doble de objetos curvos para
evaluación de ambas paredes (fuente y película fuera del objeto de prueba)
9
BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
7.1.7 Técnica perpendicular(ver Figura 12)
Figura 12 — Disposición de prueba para la penetración de doble pared, imagen doble de objetos curvos para
evaluación de ambas paredes (fuente y película fuera del objeto de prueba)
7.1.8 Fuente de radiación ubicada fuera del objeto y película en el otro lado(ver Figuras 13 a 18)
Figura 13 — Disposición de prueba para la penetración de doble pared imagen única de objetos curvos para
evaluación de la pared al lado de la película con el IQI colocado cerca de la película
Figura 14 — Disposición de prueba para imagen única de penetración de doble pared
Figura 15 — Disposición de prueba para penetración de doble pared imagen única de soldaduras longitudinales

BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
Figura 16 — Disposición de prueba para la penetración de doble pared imagen única de objetos curvos para
evaluación de la pared al lado de la película
Llave
1 borde de compensación
a) Disposición de prueba sin borde de compensación b) Disposición de prueba con borde de compensación
Figura 17 — Disposición de prueba para la penetración de soldaduras de filete
Figura 18 — Disposición de prueba para la penetración de soldaduras de filete
7.1.9 Técnica para diferentes espesores de material(ver Figura 19)
Figura 19 — Técnica de películas múltiples
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ISO 17636-1:2013(E)
7.2 Elección del voltaje del tubo y la fuente de radiación
7.2.1 Dispositivos de rayos X hasta 1 000 kV
Para mantener una buena sensibilidad a los defectos, el voltaje del tubo de rayos X debe ser lo más bajo posible. Los valores máximos del
voltaje del tubo de rayos X versus el espesor se dan en la Figura 20.
Llave
Ud. voltaje de rayos X 1 cobre y níquel y aceros

w espesor penetrado 2 aleados
3 titanio y aleaciones
4 aluminio y aleaciones
Figura 20 — Tensión máxima de rayos X para dispositivos de rayos X de hasta 1 000 kV en función del valor penetrado
espesor y material
Para algunas aplicaciones donde hay un cambio de espesor en el área del objeto que se está radiografiando, se puede utilizar una
modificación de la técnica con un voltaje ligeramente mayor, pero se debe tener en cuenta que un voltaje del tubo excesivamente
alto conduce a una pérdida de sensibilidad de detección de defectos. . Para el acero, el incremento no será superior a 50 kV, para
el titanio no superior a 40 kV y para el aluminio no superior a 30 kV.
7.2.2 Otras fuentes de radiación
Los rangos de espesor penetrado permitidos para fuentes de rayos gamma y equipos de rayos X superiores a 1 MeV se
dan en la Tabla 2.
Por acuerdo entre las partes contratantes, el valor del Ir 192 podrá reducirse a 10 mm y del Se 75 a 5 mm.

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ISO 17636-1:2013(E)
En muestras de acero delgadas, los rayos gamma de fuentes de Se 75, Ir 192 y Co 60 no producen radiografías que tengan una
sensibilidad de detección de defectos tan buena como los rayos X utilizados con los parámetros técnicos adecuados. Sin embargo, debido
a las ventajas de las fuentes de rayos gamma en cuanto a manipulación y accesibilidad, la Tabla 2 proporciona una gama de espesores
para los cuales se puede utilizar cada una de estas fuentes de rayos gamma cuando el uso de tubos de rayos X es difícil.
Para determinadas aplicaciones, se pueden permitir rangos de espesor de pared más amplios, si se puede lograr una calidad de imagen
suficiente.
En los casos en que las radiografías se produzcan utilizando rayos gamma, el tiempo de viaje para ubicar la fuente no excederá el
10 % del tiempo total de exposición.
Tabla 2: Rango de espesor penetrado para fuentes de rayos gamma y equipos de rayos X con energía superior
1 MeV para aleaciones a base de acero, cobre y níquel
Espesor penetrado
w
fuente de radiación milímetros
Clase A Clase B
tm 170 w-5 w-5

Yb 169a 1 -w-15 2 -w-12
Se 75b 10 -w-40 14 -w-40
ir 192 20 -w-100 20 -w-90
CO 60 40 -w-200 60 -w-150
Equipos de rayos X con energía de 1 MeV a 4 MeV 30 -w-200 50 -w-180
Equipos de rayos X con energía desde 4 MeV hasta 12 MeV w-50 w-80
Equipos de rayos X con energía superior a 12 MeV w-80 w-100
a
En aluminio y titanio el espesor del material penetrado es de 10 mm.w-70 mm para clase A y 25 mm -w-55 mm para clase B.
b
En aluminio y titanio el espesor del material penetrado es de 35 mm.w-120 mm para clase A.
7.3 Sistemas de cine y pantallas metálicas
Para el examen radiográfico, se utilizarán clases de sistemas de películas de acuerdo con la norma ISO 11699-1.
Para diferentes fuentes de radiación, las clases mínimas de sistemas de película se dan en las Tablas 3 y 4.
Cuando se utilizan pantallas metálicas, se requiere un buen contacto entre películas y pantallas. Esto se puede lograr
utilizando películas envasadas al vacío o aplicando presión.
Para diferentes fuentes de radiación, las Tablas 3 y 4 muestran los materiales y espesores de pantalla recomendados.
Las partes contratantes también podrán acordar otros espesores de pantalla, siempre que se consiga la calidad de imagen
requerida.
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Tabla 3 — Clases de sistemas de películas y pantallas metálicas para radiografía

de aceros, aleaciones a base de cobre y níquel
Espesor penetrado Clase de sistema de películaa Tipo y espesor de mamparas metálicas.

fuente de radiación
w Clase A Clase B Clase A Clase B
potenciales de rayos x ninguno o hasta 0,03 mm frontal y

-100 kilovoltios pantallas traseras de plomo
C3
potenciales de rayos x hasta 0,15 mm frontal y
C5
-100 kV a 150 kV pantallas traseras de plomo
potenciales de rayos x 0,02 mm a 0,15 mm frontal y

C4
ninguno o hasta 0,03 mm frontal

Yb 169 w-5mm C3
y pantallas traseras de plomo
C5
tm 170 0,02 mm a 0,15 mm frontal y
w-5mm C4
pantallas traseras de plomo
0,02 mm a 0,2 mm frontal y

w-50 milímetros C4
potenciales de rayos x
C5
-250 kV a 500 kV Pantallas frontales de plomo de 0,1 mm a 0,2 mmb
w-50 milímetros C5
Pantallas traseras de plomo de 0,02 mm a 0,2 mm
potenciales de rayos x
w-75 milímetros C5 C4 Pantallas delantera y trasera de
-500 kV a 1000 kV w-75 milímetros C5 C5 acero o cobre de 0,25 mm a 0,7 mmC
0,02 mm a 0,2 mm frontal y

Se 75 C5 C4
0,02 mm a 0,2 mm 0,1 mm a 0,2 mm

pantallas frontales pantallas frontales
ir 192 C5 C4 de plomo de plomob
Pantallas traseras de plomo de 0,02 mm a 0,2 mm
w-100 milímetros C4 Pantallas delantera y trasera de

CO 60 C5
w-100 milímetros C5 acero o cobre de 0,25 mm a 0,7 mmC
Equipo de rayos X con w-100 milímetros C3

Pantallas frontal y trasera de 0,25 mm a 0,7 mm
energía de C5
w -100 milímetros C5 de acero o cobreC
1 MeV a 4 MeV
w-100 milímetros C4 C4 hasta 1 mm de pantalla frontal de cobre,

Equipo de rayos X con acero o tantaliod
energía de 100 milímetros -w-300 milímetros C4
4 MeV a 12 MeV C5 Pantalla trasera de cobre o acero de hasta 1 mm.
w-300 milímetros C5 y tantalio hasta 0,5 mmd
No
w-100 milímetros C4
aplicable Pantalla frontal de tantalio de hasta 1 mm.mi
Equipo de rayos X con Sin pantalla trasera
energía arriba 100 milímetros -w-300 milímetros C4
12 MeV C5 Pantalla frontal de tantalio de hasta 1 mm.mi
w-300 milímetros C5
Pantalla trasera de tantalio de hasta 0,5 mm.
a
También se pueden utilizar mejores clases de sistemas de película; consulte la norma ISO 11699-1.
b
Se pueden utilizar películas empaquetadas con una pantalla frontal de hasta 0,03 mm si se coloca una pantalla de plomo adicional de 0,1 mm entre las
Objeto y película.
C
En la clase A también se podrán utilizar pantallas de plomo de 0,5 mm a 2,0 mm.
d
En la clase A podrán utilizarse pantallas de plomo de 0,5 mm a 1 mm, previo acuerdo entre las partes contratantes.
mi
Previo acuerdo se podrán utilizar pantallas de tungsteno.

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Tabla 4. Clases de sistemas de película y pantallas metálicas para aluminio y titanio.
Clase de sistema de películaa

fuente de radiación Tipo y espesor de pantallas intensificadoras.
Clase A Clase B
potenciales de rayos x ninguno o hasta 0,03 mm delante y hasta 0,15 mm detrás

-150 kilovoltios pantallas de plomo
potenciales de rayos x 0,02 mm a 0,15 mm frontal y

potenciales de rayos x C5 C3 0,1 mm a 0,2 mm frontal y

Yb 169 Pantallas delanteras y traseras de plomo de 0,02 mm a 0,15 mm
0,2 mm frontalby 0,1 mm a 0,2 mm

Se 75
a
También se pueden utilizar mejores clases de sistemas de película; consulte la norma ISO 11699-1.
b
En lugar de una pantalla de plomo de 0,2 mm, se podrán utilizar dos pantallas de plomo de 0,1 mm.
7.4 Alineación del haz
El haz de radiación se dirigirá al centro del área que se examina y deberá ser perpendicular a la superficie del
objeto en ese punto, excepto cuando pueda demostrarse que ciertas imperfecciones se revelan mejor
mediante una alineación diferente del haz. En este caso se permite una alineación adecuada de la viga. Las
partes contratantes podrán acordar otras formas de realizar radiografías.
EJEMPLO Para una mejor detección de la falta de fusión de la pared lateral, la dirección del haz debe estar alineada con la soldadura.
ángulos de preparación.
7.5 Reducción de la radiación dispersa
7.5.1 Filtros metálicos y colimadores
Para reducir el efecto de la radiación retrodispersada, la radiación directa se colimará lo más posible a la
sección bajo examen.
Con fuentes de radiación Se 75, Ir 192 y Co 60 o en el caso de dispersión en los bordes, se puede utilizar una lámina
de plomo como filtro de la radiación dispersa de baja energía entre el objeto y el casete. El espesor de esta lámina
es de 0,5 mm a 2 mm según el espesor penetrado.
7.5.2 Intercepción de radiación retrodispersada
La presencia de radiación retrodispersada se comprobará en cada nuevo dispositivo de ensayo mediante una letra
B (con una altura mínima de 10 mm y un espesor mínimo de 1,5 mm) colocada inmediatamente detrás de cada
casete. Si la imagen de este símbolo se registra como una imagen más clara en la radiografía, será rechazada. Si el
símbolo es más oscuro o invisible, la radiografía es aceptable y demuestra una buena protección contra la radiación
retrodispersada.
Si es necesario, la película deberá protegerse de la radiación retrodispersada mediante una lámina de plomo de al menos 1 mm de
espesor, o una lámina de estaño de al menos 1,5 mm de espesor, colocada detrás de la combinación película-pantalla.
7.6 Distancia fuente-objeto
La distancia mínima entre la fuente y el objeto.Fmín.Depende del tamaño de la fuente o del tamaño del punto focal.dy en la
distancia objeto-películab. El tamaño de la fuente o el tamaño del punto focal.ddeberá ser conforme a EN 12543 o EN 12679.
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Cuando el tamaño de la fuente o el tamaño del punto focal esté definido por dos dimensiones, se utilizará la mayor.
La distanciaFCuando sea posible, se elegirá de modo que la relación entre esta distancia y el tamaño de la fuente o el tamaño del
punto focald, es decirF/d, no es inferior a los valores dados por las Fórmulas (1) y (2):
F
-7,5b2/3 (1)
d
para la clase A y para la clase B,
F
-15b2/3
d (2)
dóndebse expresa en milímetros.
si la distanciabes menor que 1,2tentonces la dimensiónben las Fórmulas (1) y (2) y en la Figura 21 se sustituirá por
el espesor nominalt.
Para determinar la distancia fuente-objetoFmín., se puede utilizar el nomograma de la Figura 21.
Este nomograma se basa en las Fórmulas (1) y (2).
En la clase A, si se requiere la detección de imperfecciones planas, la distancia mínimaFmín.será el mismo que para
la clase B para reducir la falta de nitidez geométrica en un factor de 2.
En aplicaciones técnicas críticas de materiales sensibles a fisuras, se utilizarán técnicas radiográficas más sensibles
que la clase B.
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Clase B Clase A
Figura 21 — Nomograma para la determinación de la distancia mínima entre fuente y objetoFmín.En relación a
distancia objeto-películaby el tamaño de la fuented
Cuando se utilice la técnica elíptica especificada en 7.1.6 o la técnica perpendicular especificada en 7.1.7,bserá
reemplazado por el diámetro externo,Dmi, de la tubería en las Fórmulas (1) y (2) y en la Figura 21.
Cuando la fuente está fuera del objeto y la película en el otro lado (técnica especificada en 7.1.8 como penetración de doble pared e
imagen única), la distancia mínima entre la fuente y el objeto está determinada únicamente por el espesor de la pared (es decir, no por el
diámetro de la tubería). ).
Siempre que sea posible, es preferible evitar el uso de una técnica de doble pared (ver 7.1.6 a 7.1.8) colocando la
fuente de radiación dentro del objeto a radiografiar, para lograr una dirección de examen más adecuada (ver 7.1.4).
y 7.1.5). La reducción de la distancia mínima entre la fuente y el objeto no debe ser superior al 20 %.
Cuando la fuente esté situada centralmente en el interior del objeto y la película en el exterior (técnica mostrada en 7.1.4)
y siempre que se cumplan los requisitos del ICI, este porcentaje podrá incrementarse. Sin embargo, la reducción de
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La distancia mínima entre la fuente y el objeto no será superior al 50 %. Las partes contratantes podrán acordar una
reducción adicional siempre que se cumplan los requisitos del ICI.
7.7 Área máxima para una sola exposición
El número de radiografías para un examen completo de soldaduras planas (ver Figuras 1, 15, 17 y 18) y de
soldaduras curvas con la fuente de radiación dispuesta descentrada (ver Figuras 2 a 4 y 8 a 16) debe
especificarse en de acuerdo con los requisitos técnicos.
La relación entre el espesor penetrado en el borde exterior de un área evaluada de espesor uniforme y el espesor penetrado en la
viga central no deberá ser superior a 1,1 para la clase B y 1,2 para la clase A.
Las densidades resultantes de cualquier variación del espesor penetrado no deben ser inferiores a las indicadas en 7.8 ni
superiores a las permitidas por el iluminador disponible, siempre que sea posible un enmascaramiento adecuado.
El tamaño del área a examinar incluye la soldadura y las zonas afectadas por el calor. En general, se examinarán
unos 10 mm de metal base a cada lado de la soldadura.
Las recomendaciones para el número de radiografías se indican en el Anexo A, que proporciona un examen aceptable de
una soldadura a tope circunferencial.
7.8 Densidad de la radiografía
Las condiciones de exposición deben ser tales que la densidad óptica mínima de la radiografía en el área examinada sea
mayor o igual a las indicadas en la Tabla 5.
Tabla 5 — Densidad óptica de las radiografías.
Clase Densidad ópticaa
A -2,0b
B -2,3C
a
Se permite una tolerancia de medición de -0,1.
b
El valor podrá reducirse mediante acuerdo especial entre las partes contratantes al 1,5.
C
El valor podrá reducirse mediante acuerdo especial entre las partes contratantes al 2,0.
Se pueden utilizar con ventaja densidades ópticas altas cuando la luz de visión es suficientemente brillante de
acuerdo con 7.10. La densidad de película máxima legible depende del visor de película utilizado y de su luminancia
máxima (ver ISO 5580). La densidad máxima legible se publicará en el visor.
Para evitar densidades de niebla excesivamente altas que surjan del envejecimiento, el revelado o la temperatura de la película, la
densidad de la niebla se verificará periódicamente en una muestra no expuesta tomada de las películas que se utilizan, y se manipulará y
procesará en las mismas condiciones que la radiografía real. La densidad de la niebla no excederá de 0,3. La densidad de la niebla aquí se
define como la densidad total (emulsión y base) de una película procesada no expuesta.
Cuando se utiliza una técnica de películas múltiples con interpretación de películas individuales, la densidad óptica de cada película debe estar de
acuerdo con la Tabla 5.
Si se solicita visualización de doble película, la densidad óptica de una sola película no será inferior a 1,3.
7.9 Procesamiento
Las películas se procesan de acuerdo con las condiciones recomendadas por el fabricante de la película y del producto químico
para obtener la clase de sistema de película seleccionada. Se prestará especial atención a la temperatura, el tiempo de revelado y
el tiempo de lavado. El procesamiento de la película se controlará periódicamente de acuerdo con la norma ISO 11699-2. El

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ISO 17636-1:2013(E)
Las radiografías deben estar libres de defectos debidos al procesamiento u otras causas que puedan interferir con la
interpretación.
7.10 Condiciones de visualización de películas
Las radiografías deben examinarse en una habitación oscura en un área de la pantalla de visualización con una luminancia
ajustable de acuerdo con la norma ISO 5580. La pantalla de visualización debe estar enmascarada en el área de interés.
8 Informe de prueba
Para cada exposición, o conjunto de exposiciones, se elaborará un informe de ensayo en el que se informará sobre la
técnica radiográfica utilizada y sobre cualquier otra circunstancia especial que permita una mejor comprensión de los
resultados.
El informe de prueba incluirá al menos la siguiente información:
a) nombre del organismo examinador;
b) objeto;
c) materiales;
d) tratamiento térmico;
e) geometría de la soldadura;
f) espesor del material;
g) proceso de soldadura;
h) especificación del examen, incluidos los requisitos para la aceptación;
i) técnica y clase radiográfica, sensibilidad IQI requerida de acuerdo con esta parte de la Norma ISO 17636
(ISO 17636-1:2012);
j) disposición de prueba de acuerdo con 7.1;
k) sistema de marcado utilizado;
l) plano de posición de la película;
m) fuente de radiación, tipo y tamaño del punto focal e identificación del equipo utilizado;
n) tipo y sistema de película, pantallas y filtros;
o) voltaje del tubo utilizado y tipo y actividad de corriente o fuente;
p) tiempo de exposición y distancia entre la fuente y la película;
q) técnica de procesamiento: manual/automático y condiciones de desarrollo;
r) tipo y posición de los indicadores de calidad de imagen;
s) resultados del examen, incluidos datos sobre la densidad de la película y lecturas del ICI;
t) cualquier desviación de esta parte de la Norma ISO 17636, mediante acuerdo especial;
19
BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
u) nombre, certificación y firma de la(s) persona(s) responsable(s);
v) fecha(s) de exposición e informe de prueba.

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Anexo A
(normativo)
Número recomendado de exposiciones que dan un resultado aceptable.

examen de una soldadura a tope circunferencial
El número mínimo de exposiciones requeridas se presenta en las Figuras A.1 a A.4 que son válidas para tuberías con un
diámetro exterior superior a 100 mm.
Cuando la desviación del espesor de la pared de la junta a examinar, cuando se utiliza una sola exposición -t/tno supera el
20 %, se utilizan las figuras A.3 y A.4. Esta técnica se recomienda sólo cuando la posibilidad de tener grietas transversales
es pequeña o la soldadura se examina para detectar tales imperfecciones mediante otros métodos de examen no
destructivos.
Cuando -t/tes inferior o igual al 10 %, se utilizan las figuras A.1 y A.2. En este caso, es probable que también se detecten
grietas transversales.
Si el objeto se examina en busca de grietas transversales únicas, entonces el número mínimo requerido de radiografías aumenta
en comparación con los valores de las Figuras A.1 a A.4.
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ISO 17636-1:2013(E)
Figura A.1 — Número mínimo de exposicionesnortepara penetración de pared simple con fuente exterior, con un
aumento máximo permitido en el espesor penetrado-t/tdebido a la penetración inclinada en las zonas a
ser evaluado de10 %(clase B), en función de ratiost/DmiyDmi/F

BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
Llave
1 pared interior de la tubería (no accesible)
Figura A.2 — Número mínimo de exposicionesnortepara penetración descentrada con fuente dentro y
para penetración en doble pared, con un aumento máximo permitido en el espesor penetrado-t/t
debido a la penetración inclinada en las zonas a evaluar de10 %(clase B), en función de ratiost/Dmi
yDmi/SFD
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ISO 17636-1:2013(E)
Figura A.3 — Número mínimo de exposicionesnortepara penetración de pared simple con fuente exterior, con un
aumento máximo permitido en el espesor penetrado-t/tdebido a la penetración inclinada en las zonas a
ser evaluado de20 % (clase A), en función de ratiost/DmiyDmi/F

BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
Llave
1 pared interior de la tubería (no accesible)
Figura A.4 — Número mínimo de exposicionesnortepara penetración descentrada con fuente dentro y
para penetración en doble pared, con un aumento máximo permitido en el espesor penetrado-t/t
debido a la penetración inclinada en las zonas a evaluar de20 %(clase A), en función de ratiost/Dmi
yDmi/SFD
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Anexo B
(normativo)
Valores mínimos de calidad de imagen.

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B.1 Técnica de pared simple; IQI en el lado de la fuente
Tabla B.1 — IQI del cable Tabla B.2 — IQI del orificio escalonado
Clase de calidad de imagen A Clase de calidad de imagen A
Espesor nominalt valor ICI Espesor nominalt valor ICI

milímetros milímetros
a 1,2 W 18 a 2,0 h 3
arriba 1,2 a 2,0 W 17 arriba 2,0 a 3,5 h 4
arriba 2,0 a 3,5 W 16 arriba 3,5 a 6 h 5
arriba 3,5 a 5,0 W 15 arriba 6 a 10 h 6
arriba 5,0 a 7 W 14 arriba 10 a 15 h 7
arriba 7 a 10 W 13 arriba 15 a 24 h 8
arriba 15 a 25 W 11 arriba 30 a 40 H 10
arriba 32 a 40 W. 9 arriba 60 a 100 H 12
arriba 250 W. 4 arriba 320 a 400 H 17
arriba 400 H 18
Clase de calidad de imagen B Clase de calidad de imagen B
Espesor nominalt valor ICI Espesor nominalt valor ICI

a 1,5 W 19 a 2,5 h 2
arriba 1,5 a 2,5 W 18 arriba 2,5 a 4 h 3
arriba 45 a sesenta y cinco W. 9 arriba 100 a 150 H 12
arriba sesenta y cinco a 120 W. 8 arriba 150 a 200 H 13
arriba 200 a 350 W. 6
arriba 350 W. 5
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B.2 Técnica de doble pared; doble imagen; IQI en el lado de la fuente
Espesor penetradow valor ICI Espesor penetradow valor ICI

a 1,2 W 18 a 1 H3
arriba 1,2 a 2 W 17 arriba 1 a 2 H4
arriba 2 a 3,5 W 16 arriba 2 a 3,5 H5
arriba 3,5 a 5 W 15 arriba 3,5 a 5,5 H6
arriba 5 a 7 W 14 arriba 5,5 a 10 H7
arriba 7 a 12 W 13 arriba 10 a 19 H8
arriba 18 a 30 W 11
arriba 30 a 40 W 10
arriba 40 a 50 W. 9
arriba 50 a 60 W. 8
arriba 60 a 85 W. 7
arriba 85 a 120 W. 6
arriba 120 a 220 W. 5
arriba 220 a 380 W. 4
arriba 380 W. 3

a 1,5 W 19 a 1 H2
arriba 1,5 a 2,5 W 18 arriba 1 a 2,5 H3
arriba 2,5 a 4 W 17 arriba 2,5 a 4 H4
arriba 25 a 38 W 12
arriba 38 a 45 W 11
arriba 45 a 55 W 10
arriba 55 a 70 W. 9
arriba 100 a 170 W. 7
arriba 170 a 250 W. 6
arriba 250 W. 5

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B.3 Técnica de doble pared: imagen simple o doble; IQI en el lado de la película

a 1,2 W 18 a 2 h 3
arriba 2 a 3,5 W 16 arriba 5 a 9 h 5
arriba 38 a 48 W 10
arriba 48 a 60 W. 9
arriba 60 a 85 W. 8
arriba 125 a 225 W. 6
arriba 225 a 375 W. 5
arriba 375 W. 4

a 1,5 W 19 a 2,5 H2
arriba 1,5 a 2,5 W 18 arriba 2,5 a 5,5 H3
arriba 2,5 a 4 W 17 arriba 5,5 a 9,5 H4
arriba 4 a 6 W 16 arriba 9,5 a 15 H5
arriba 45 a 55 W 11
arriba 55 a 70 W 10
arriba 100 a 180 W. 8
arriba 180 a 300 W. 7
arriba 300 W. 6
29
BS EN ISO 17636-1:2013
ISO 17636-1:2013(E)
Bibliografía
[1] ISO 5579,Ensayos no destructivos. Examen radiográfico de materiales metálicos utilizando películas y rayos
X o gamma. Reglas básicas.
[2] ISO 19232-3,Ensayos no destructivos. Calidad de imagen de las radiografías. Parte 3: Clases de calidad de imagen para
metales ferrosos.

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BS EN ISO 17636-1:2013
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La participación del Reino Unido en su preparación fue confiada al

Se puede obtener una lista de las organizaciones representadas en

Esta publicación no pretende incluir todas las disposiciones necesarias

© The British Standards Institution 2013. Publicado por BSI Standards

ISBN 978 0 580 82155 4

El cumplimiento de una norma británica no puede conferir inmunidad respecto de

Esta norma británica fue publicada bajo la autoridad del Comité

Enmiendas/corrigendas emitidas desde su publicación

28 de febrero de 2013 Corrección del texto central.

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ESTÁNDAR EUROPEO EN ISO 17636-1

ICS 25.160.40 Reemplaza EN 1435:1997

Ensayos no destructivos de soldaduras - Ensayos radiográficos - Parte 1:

Control no destructivo de ensamblajes sólidos - Control Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißverbindungen -

Esta norma europea fue aprobada por el CEN el 14 de diciembre de 2012.

COMITÉ EUROPEO DE NORMALIZACIÓN C OM IT É EUR

Centro de gestión: Avenue Marnix 17, B-1000 Bruselas

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Este documento reemplaza a la norma EN 1435:1997.

Prólogo ................................................. ................................................. ................................................. ....... iv

8 Informe de prueba ................................................ ................................................. ........................................19

Anexo A(normativo)Número recomendado de exposiciones que dan un examen aceptable.

- Parte 1: Técnicas de rayos X y gamma con película.

- Parte 2: Técnicas de rayos X y gamma con detectores digitales

Los principales cambios son que:

-se han actualizado las referencias normativas;

- Se han incluido dispositivos de rayos X de hasta 1 000 kV;

- el texto ha sido revisado editorialmente.

IV © ISO 2013 – Todos los derechos reservados

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Ensayos no destructivos de soldaduras — Ensayos radiográficos —

NOTA Esta parte de ISO 17636 cumple con ISO 5579.[1]

ISO 5576,Ensayos no destructivos — Radiología industrial de rayos X y rayos gamma — Vocabulario

ISO 5580,Ensayos no destructivos. Iluminadores radiográficos industriales. Requisitos mínimos.

ISO 9712,Ensayos no destructivos. Cualificación y certificación del personal de END

EN 12679,Ensayos no destructivos. Determinación del tamaño de fuentes radiográficas industriales. Método

NOTA Consulte EN 12679 o EN 12543.

NOTA SFD =F+b

2 © ISO 2013 – Todos los derechos reservados

4 Símbolos y términos abreviados

Tabla 1: Símbolos y términos

b- distancia entre el objeto y la película perpendicular al objeto de prueba

Dmi diámetro externo

F′ distancia fuente-objeto perpendicular al objeto de prueba

Fmín. distancia mínima fuente-objeto

-t cambio de espesor de penetración

ICI indicador de calidad de imagen

5 Clasificación de las técnicas radiográficas.

Las técnicas radiográficas se dividen en dos clases:

- Clase A: técnicas básicas;

- Clase B: técnicas mejoradas.

La elección de la técnica radiográfica será acordada entre las partes contratantes.

6 Preparativos y requisitos generales

6.1 Protección contra radiaciones ionizantes

6.2 Preparación de la superficie y etapa de fabricación.

6.3 Ubicación de la soldadura en la radiografía

6.4 Identificación de radiografías

6.6 Superposición de películas

6.7 Tipos y posiciones de indicadores de calidad de imagen.