Revista MUY.

Abril 1986
El microscopio electronico
Laboratorio de Covendish, Cambridge, 1897. El fsico ingls J. J. Thompson o
bserva cmo los rayos emitidos por el ctodo de un grupo de electrodos incandescente
s, dentro de un tubo de vaco, son derivados por la accin de un campo elctrico o de
un campo magntico. Esto demostraba que los rayos catdicos estaban formados por un
flujo de partculas de carga negativa: los electrones, cuya existencia habla apunt
ado anteriormente el tambin fsico irlands Stoney, a quien deben su denominacin desde
1881.
Naca de esta forma una nueva disciplina cientfica, la electrnica, cuyos fru
tos empezamos a recoger ahora. En 1924, Louis de Broglie daba un paso de gigante
en este prometedor terreno al avanzar la hiptesis, ms tarde confirmada, de que to
da partcula material, en este caso el electrn, se propagaba de forma ondulatoria,
como la luz. Se les poda asignar, por tanto, una longitud de onda. Ms tarde, en 19
26, H. Bush publicaba un informe en el que demostraba que un campo elctrico o mag
ntico con simetra axial era capaz de actuar como una lente para los electrones u o
tras partculas cargadas.
Este conjunto de estudios, experiencias y descubrimientos iba a sentar l
as bases de una nueva ciencia de la instrumentacin, la ptica electrnica, que darfa
origen al microscopio electrnico. El primer paso hacia su construccin lo dio Gabor
al fabricar un ao despus, en 1927, la primera lente electrosttica. En 1933 fue com
ercializado el primer prototipo.
Hoy da existe una enorme variedad de modelos basados en los dos sistemas
fundamentales que emplea la microscopia electrnica: la transmision y el barrido o
scanning. Ambos parten de los principios antes descritos, si bien difieren en l
a forma de obtener las imgenes.
El esquema bsico de funcionamiento de un microscopio electrnico se asemeja
bastante al del microscopio ptico: una fuente de iluminacin, una lente condensado
ra, una lente objetivo, un sistema de proyeccin y una pantalla o sistema de regis
tro. Dentro de una columna, en la que previamente hemos generado un alto vacio (
del orden de 1 mm de mercurio), un can electrnico, alimentado con alto voltaje, se
encarga de producir, mediante el calentamiento de un filamento, la emisin de elec
trones. Y sta es precisamente la fuente de iluminacin.
Este haz de electrones va a ser sometido inmediatamente a la accin de un
campo elctrico de alto potencial (entre 20 y 1.000 Kv), que aumentar su excitacin,
acelerndolos. Un orificio, que hace las veces de diafragma, dejar pasar nicamente e
l haz de electrones que nos interesa hacia la lente condensadora (generalmente d
e carcter magntico, aunque tambin se utilizan electrostticas>. Esta lente tiene por
misin focalizar o concentrar el haz electrnico sobre la muestra que queremos visua
lizar, en caso de que se trate de un microscopio de transmisin, y sobre la lente
objetivo si es de barrido.
Tropezamos, pues, con la primera diferencia entre los dos sistemas. Nues
tros electrones han llegado a la muestra y la mayora la han traspasado. Al hacerl
o, se ha producido un fenmeno denominado difraccin, que hace que los electrones va
rien el ngulo de su trayectoria y se dispersen.
Parte del haz ha logrado, sin embargo, traspasar la muestra sin sufrir g
randes alteraciones en su trayectoria. Este haz transmitido es el encargado de f
ormar la imagen a travs de la lente objetivo. Dos o ms lentes intermedias se encar
gan de aumentarla y, finalmente, una lente proyectora nos servir el resultado en
una pantalla fluorescente o en una placa fotogrfica.
Pero an podemos aprovechar otro tipo de informacin. Los electrones que al
atravesar la muestra se desviaron a partir de un cierto ngulo -que depende de la
lente objetivo- pueden ser proyectados, a su vez, sobre la pantalla. Obtendremos
as un diagrama de difraccin que nos informar sobre la estructura superficial de la
muestra.
En el microscopio de barrido, en cambio, nuestros electrones no alcanzarn
la muestra hasta el final de su carrera por el tubo de vacio. Antes, la lente o
bjetivo y las intermedias han concentrado el haz hasta conseguir un dimetro de un
os pocos centenares de angstroms (1 angstrom A equivale a 10-lo metros). Este ra
yo puntiagudo bombardear la muestra barrindola sistemticamente (algo parecido a lo
que ocurre con el tubo de rayos catdicos de nuestro televisor), haciendo que se d
esprendan los llamados electrones secundarios.
Se mide, a continuacin, la intensidad de estos electrones, generados en e
l punto de Impacto del haz con la muestra. Esto proporciona una seal determinada
que, una vez alimentada, se enva a un tubo de rayos catdicos. Su pantalla nos most
rar finalmente imgenes sincronizadas de la exploracin de la muestra.
Evidentemente, cada sistema proporciona un tipo de Informacin diferente.
En el microscopio de transmision obtendremos una imagen que depender del poder di
fusor o dispersor de la muestra, ntimamente ligado a su densidad superficial de m
asa. As, por ejemplo, las zonas
ms oscuras de la imagen correspondern bien a zonas de mayor espesor de la muestra
o a zonas constituidas por un material de mayor densidad.
En el microscopio de barrido los electrones no atraviesan la muestra sin
o que son reflejados. Portan, pues, informacin sobre la superficie de aqulla, prop
orcionando imgenes de gran definicin y contraste. Esto no es posible con el micros
copio de transmisin que, sin embargo, tiene mayor poder resolutivo, puesto que ll
ega a discriminar distancias de separacin entre tomos.
Hoy da, con el uso de difractmetros automticos, computadoras, etctera, se ll
egan a resolver estructuras muy complejas, tales como protenas. Esta deter
minacin microestructural es cada da ms precisa, ya que el limite actual de los mode
rnos microscopios se sita entre 1,5 y 2 angstroms, dentro de la regln de distancia
s interatmicas. En la sal comn (NaCI), por ejemplo, la distancia entre dos tomos es
de 2,81 angstroms. En los ltimos quince aos, el microscopio electrnico se ha conve
rtido en el instrumento ideal de numerosos Investigadores (bilogos, mdicos, fsicos,
qumicos, Industriales...). Con su ayuda ha sido posible, entre otras, determinar
las causas de fenmenos como la fluorescencia o la fosforescencia, ligados a defe
ctos en la estructura atmica o electrnica de los materiales. Defectos que parecen
controlar la mayora de las propiedades mecanicas, elctricas, qumicas y trmicas de lo
s slidos.
El microscopio electrnico ha abierto una nueva ventana a la ciencia y, po
r tanto, al conocimiento de la vida. Poco a poco, los misterios del microcosmos,
quizs el mismsimo origen de la vida se Irn haciendo accesibles a nuestros ojos. De
momento, el tomo est al alcance de los ms modernos aparatos. Esta es, por ahora, n
uestra barrera visual, pero la carrera no ha hecho ms que empezar.