Está en la página 1de 3

norma UNE-EN ISO 4287

española
Febrero 1999

TÍTULO Especificación geométrica de productos (GPS)

Calidad superficial: Método del perfil

Términos, definiciones y parámetros del estado superficial

(ISO 4287:1997 + Technical Corrigendum 1)

Geometrical product specifications (GPS). Surface texture: Profile method. Terms, definitions and surface
texture parameters (ISO 4287:1997 + Technical Corrigendum 1).

Spécification géométrique des produits (GPS). Etat de surface: Méthode du profil. Termes, définitions et
paramètres d'état de surface (ISO 4287:1997 + Rectificatif Technique 1).

CORRESPONDENCIA Esta norma es la versión oficial, en español, de la Norma Europea EN ISO 4287 de
agosto 1998, que a su vez adopta íntegramente la Norma Internacional ISO 4287:1997 +
Technical Corrigendum 1.

OBSERVACIONES Esta norma anula y sustituye a la Norma UNE 82-315/1 de noviembre 1986.

ANTECEDENTES Esta norma ha sido elaborada por el comité técnico AEN/CTN 82 Metrología y Cali-
bración cuya Secretaría desempeña AENOR.

EXTRACTO DEL DOCUMENTO UNE-EN ISO 4287


Editada e impresa por AENOR LAS OBSERVACIONES A ESTE DOCUMENTO HAN DE DIRIGIRSE A:
Depósito legal: M 4268:1999
25 Páginas

© AENOR 1999 C Génova, 6 Teléfono 91 432 60 00 Grupo 17


Reproducción prohibida 28004 MADRID-España Fax 91 310 40 32
ÍNDICE

Página

0 INTRODUCCIÓN .................................................................................................................... 6

1 OBJETO Y CAMPO DE APLICACIÓN ............................................................................... 6

2 NORMAS PARA CONSULTA ............................................................................................... 6

3 TÉRMINOS Y DEFINICIONES............................................................................................. 6

3.1 Definiciones generales............................................................................................................... 6

3.2 Definiciones geométricas .......................................................................................................... 9

4 DEFINICIONES DE LOS PARÁMETROS DE PERFIL .................................................... 11

4.1 Parámetros de amplitud (pico y valle) .................................................................................... 11

4.2 Parámetros de amplitud (media de las ordenadas) ................................................................ 13

4.3 Parámetros de espaciamiento .................................................................................................. 14

4.4 Parámetros híbridos ................................................................................................................. 15

4.5 Curvas y parámetros asociados ............................................................................................... 15

ANEXO A TEXTO EQUIVALENTE .......................................................................................... 18

ANEXO B DIAGRAMA PARA LA EVALUACIÓN SUPERFICIAL ..................................... 19

ANEXO C COMPARACIÓN ENTRE SÍMBOLOS DE DEFINICIONES BÁSICAS


Y PARÁMETROS DE LAS NORMAS ISO 4287-1:1984 E ISO 4287:1997 ......... 20

ANEXO D RELACIÓN CON EL MODELO DE MATRIZ GPS ............................................. 22

ANEXO E BIBLIOGRAFÍA ........................................................................................................ 24

1 OBJETO Y CAMPO DE APLICACIÓN

Esta norma internacional especifica los términos, definiciones y parámetros para la determinación del estado superficial
(perfiles de rugosidad, de ondulación y primario) mediante el método del perfil.

2 NORMAS PARA CONSULTA

La(s) norma(s) que a continuación se relaciona(n) contiene(n) disposiciones válidas para esta norma internacional. En el mo-
mento de la publicación la(s) edición(es) indicada(s) estaba(n) en vigor. Toda norma está sujeta a revisión por lo que las
partes que basen sus acuerdos en esta norma internacional deben estudiar la posibilidad de aplicar la edición más reciente de
las(s) norma(s) indicada(s) a continuación. Los miembros de CEI y de ISO poseen el registro de las normas internacionales
en vigor en cada momento.

ISO 3274:1996 − Especificación geométrica de producto (GPS). Calidad superficial: Método del perfil. Características
nominales de los instrumentos de contacto (palpador).

EXTRACTO DEL DOCUMENTO UNE-EN ISO 4287


ISO 4288:1996 − Especificación geométrica de producto (GPS). Calidad superficial: Método del perfil. Reglas y proce-
dimientos para la evaluación del estado superficial.

ISO 11562:1996 − Especificación geométrica de producto (GPS). Calidad superficial: Método del perfil: Caracterís-
ticas metrológicas de los filtros corregidos en fase.

EXTRACTO DEL DOCUMENTO UNE-EN ISO 4287

También podría gustarte