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española
Febrero 1999
Geometrical product specifications (GPS). Surface texture: Profile method. Terms, definitions and surface
texture parameters (ISO 4287:1997 + Technical Corrigendum 1).
Spécification géométrique des produits (GPS). Etat de surface: Méthode du profil. Termes, définitions et
paramètres d'état de surface (ISO 4287:1997 + Rectificatif Technique 1).
CORRESPONDENCIA Esta norma es la versión oficial, en español, de la Norma Europea EN ISO 4287 de
agosto 1998, que a su vez adopta íntegramente la Norma Internacional ISO 4287:1997 +
Technical Corrigendum 1.
OBSERVACIONES Esta norma anula y sustituye a la Norma UNE 82-315/1 de noviembre 1986.
ANTECEDENTES Esta norma ha sido elaborada por el comité técnico AEN/CTN 82 Metrología y Cali-
bración cuya Secretaría desempeña AENOR.
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0 INTRODUCCIÓN .................................................................................................................... 6
3 TÉRMINOS Y DEFINICIONES............................................................................................. 6
Esta norma internacional especifica los términos, definiciones y parámetros para la determinación del estado superficial
(perfiles de rugosidad, de ondulación y primario) mediante el método del perfil.
La(s) norma(s) que a continuación se relaciona(n) contiene(n) disposiciones válidas para esta norma internacional. En el mo-
mento de la publicación la(s) edición(es) indicada(s) estaba(n) en vigor. Toda norma está sujeta a revisión por lo que las
partes que basen sus acuerdos en esta norma internacional deben estudiar la posibilidad de aplicar la edición más reciente de
las(s) norma(s) indicada(s) a continuación. Los miembros de CEI y de ISO poseen el registro de las normas internacionales
en vigor en cada momento.
ISO 3274:1996 − Especificación geométrica de producto (GPS). Calidad superficial: Método del perfil. Características
nominales de los instrumentos de contacto (palpador).
ISO 11562:1996 − Especificación geométrica de producto (GPS). Calidad superficial: Método del perfil: Caracterís-
ticas metrológicas de los filtros corregidos en fase.