Resultados

Curvas de enfriamiento típicas en las proximidades de la reacción eutéctica se

muestran para las aleaciones utilizadas en esta investigación.
Las adiciones de antimonio dieron como resultado una depresión de la nucleación
eutéctica y las temperaturas de crecimiento y un aumento en la cantidad de
recalescencia antes del crecimiento. Se observaron efectos similares pero mayores
con la modificación del estroncio.

FIGURA 3: Resumen las características micro y macroscópicas que definen las

aleaciones no modificadas, modificadas con estroncio y modificadas con
antimonio.
3a)

Microscopía electrónica de transmisión para aleaciones

Fue posible encontrar cristales de silicio libres de macla en las aleaciones sin
modificar.
Imágenes TEM de cristales de silicio (nótese la micrografía modificada con Sb
reproducida a partir de una aleación solidificada direccionalmente en otras
investigaciones)
-TEM= La microscopia electrónica de transmisión 

3b)

Mapas de EBSD que ilustran la orientación del aluminio eutéctico en relación con las
dendritas de aluminio primarias

-EBSD: Difracción de electrones por retrodispersión

Se utilizó la difracción por retrodispersión de electrones para analizar la orientación del
aluminio eutéctico en relación con la del aluminio primario
En las aleaciones no modificadas, la gran mayoría del aluminio eutéctico tiene una
orientación idéntica a la de las dendritas circundantes, mientras que en las aleaciones
modificadas con Sr y Sb, el aluminio eutéctico tiene múltiples orientaciones no
relacionadas con las dendritas circundantes. Estos resultados indican que la relación
de crecimiento entre el aluminio primario y el aluminio eutéctico es epitaxial en las
aleaciones comerciales no modificadas, mientras que la nucleación y el crecimiento
independientes se producen en las aleaciones modificadas con Sr y Sb.

-Dendritas circundantes: es una estructura con ramificaciones repetitivas característica

de los procesos de crecimiento de los cristales.

-Epitaxial: Propiedad de los cristales que les permite constituirse utilizando un modelo
de estructura cristalina similar. 

3c)

Reconstrucción 3D de granos eutécticos derivados del corte en serie de muestras templadas

La muestra sin modificar es 85 µm de profundidad, el modificado es 117 µm de profundidad.

Hubo una diferencia dramática en el tamaño de los granos eutécticos. La región reconstruida
de la aleación sin modificar contenía cinco granos eutécticos separados (azul y rojo, en la sin
modificar). De los dos granos más grandes de la aleación sin modificar; uno estaba
completamente atravesado por la serie de secciones mientras que el otro se extendía más en
la muestra

El grano eutéctico modificado con Sr era muy grande y parece como si solo se hubiera
reconstruido un pequeño segmento de este grano esférico más grande. Este grano se ha
estimado en aproximadamente 500µm de diámetro . El silicio eutéctico modificado era
demasiado fino para reconstruirlo por separado del aluminio eutéctico, por lo que las dos fases
se representan como una sola característica.

3d)

Micrografías ópticas de muestras templadas

Los granos eutécticos en la aleación no modificada tienen como máximo unos pocos cientos de
micrones de diámetro y consisten en relativamente pocas placas de silicio gruesas y una
interfaz de crecimiento débilmente acoplada que conduce a granos que a menudo son de
apariencia anisotrópica.

En las aleaciones modificadas con Sr, los granos eutécticos son aproximadamente circulares en
sección transversal y típicamente son mucho más grandes que las aleaciones sin modificar
(hasta un orden de magnitud). Cada grano eutéctico de las aleaciones modificadas con Sr
contiene una alta densidad de fibras de silicio.

En las aleaciones modificadas con Sb, los granos eutécticos son de tamaño y morfología
intermedios, siendo más esféricos que los granos sin modificar. Cada grano de la aleación
modificada con Sb contiene numerosas placas de silicio, que son refinados y más
estrechamente alineados que los que se encuentran en la aleación sin modificar.

3e)
 Macrografías ópticas de muestras templadas

En la muestra sin modificar, el tamaño de grano eutéctico es tan pequeño que no se pueden
resolver granos en la macrografía. En la aleación modificada con Sr, hay una capa de granos
eutécticos fusionados que recubren la pared de la muestra y se pueden ver varios granos
grandes distribuidos independientemente por todo el centro de la pieza fundida. En la aleación
modificada con Sb, el tamaño y el número de granos es intermedio al que se encuentra en las
aleaciones sin modificar y modificadas con estroncio.

FIGURA 4. Imagen TEM

(la parte superior de la micrografía es la superficie expuesta de la muestra pulida

convencionalmente) y los patrones de difracción de electrones correspondientes del
precipitado de Al – P – O en la superficie pulida que muestra una estructura amorfa y patrones
CBED de sonda pequeña que muestran el AlP [0 1 1] polo y el polo de silicio [0 1 1]. Los
patrones CBED se obtuvieron utilizando un ángulo de inclinación idéntico.

-TEM= microscopia electrónica de transmisión (TEM) es una técnica usada para observar las
características de especímenes muy pequeños. La tecnología utiliza un haz de electrones
acelerado, que pasa a través de un espécimen muy fino para habilitar a un científico las
características de la observación tales como estructura y morfología.

Se encontró que las técnicas SEM convencionales contienen Al, P y O . En la investigación

actual, se utilizó el fresado con haz de iones enfocado para extraer selectivamente muestras
adecuadas para el análisis TEM que contenían tanto el cristal de silicio central como su núcleo
supuesto. Una muestra típica de TEM producida por este método junto con los patrones SAD y
CBED
-SEM: El Microscopia electrónica de barrido o SEM (Scanning Electron Microscopy)

FIGURA 5. Una micrografía FEG-TEM de alta resolución de la interfaz AlP / Si,

junto con patrones de difracción de área seleccionados de las regiones A (Si) y B (AlP)

Además de esto, el análisis FEG-TEM muestra que no hay desajuste de red entre los planos de
red (1 1 1) de AlP y el cristal de Si.

El análisis equivalente en muestras modificadas es un desafío, ya que es difícil localizar

posibles partículas nucleantes durante la microscopía óptica. Se esperan tales dificultades, ya
que estadísticamente, la posibilidad de seccionar a través del centro exacto de un grano
eutéctico disminuye drásticamente a medida que la frecuencia de nucleación de los granos
eutécticos disminuye y aumenta su tamaño correspondiente.

- FEG: Field Emission Gun, Una pistola de emisión de campo es un tipo de

pistola de electrones en la que un emisor de tipo Müller puntiagudo se
mantiene a un potencial negativo de varios kilovoltios en relación con un
electrodo
- ALP: Fosfatasa alcalina (ALP), es una enzima.