EJERCICIOS DE CONTROL DE LA CALIDAD

13) Si un proceso tiene un Cps = 1.3, estime las PPM fuera de especificaciones (apóyese en la
tabla 5.2).
PPM = 96.231

14) La especificación del peso de una preforma en un proceso de inyección de plástico es de

60 ± 1 g. Para hacer una primera valoración de la capacidad del proceso se obtiene una
muestra aleatoria de n = 40 piezas, y resulta que X= 59.88 y S = 0.25.

a) Estime con un intervalo de confianza a 95% los índices Cp, Cpk y Cpm, e intérprete cada uno
de ellos.

𝐸𝑆−𝐸𝐼
𝐶𝑝 = 6Ѳ

61−59
𝐶𝑝 = 6(0.25)

2
𝐶𝑝 =
1.5

𝐶𝑝 = 1.33𝑅
De acuerdo a este intervalo se puede decir que el proceso tiene una capacidad potencial
intermedia, debido a que en el intervalo se incluye a 1.33.

𝜇−𝐸𝐼 𝐸𝑆− 𝜇
𝐶𝑝𝑘 = 𝑚𝑖𝑛𝑖𝑚𝑜 [ 3ℴ
, 3ℴ ]

59.88−59 61 −59.88
𝐶𝑝𝑘 = [ , ]
3(0.25) 3(0.25)

0.88 1.12
𝐶𝑝𝑘 = [0.75 , 0.75]

𝐶𝑝𝑘 = 1.17 , 1.49R

De acuerdo al intervalo se puede concluir que existe incertidumbre sobre la capacidad real del
proceso

𝐸𝑆−𝐸𝐼
𝐶𝑝𝑚 =
6𝑟

𝑟 = √𝜎² + (µ − 𝑁)²

𝑟 = √(0.25)² + (59.88 − 40)²

𝑟 = √(0.0625 + 395.21

𝑟 = √395.27

𝑟 = 19.88𝑅
Tal como se muestra el intervalo se concluye que el proceso tiene una capacidad intermedia.
b) Hay seguridad de que la capacidad del proceso sea satisfactoria
No hay seguridad ya que el proceso no está estable y existe incertidumbre sobre la capacidad
real por que el tamaño de la muestra es pequeño y esto demuestra y se sugiere a seguir
monitoreando el proceso hasta tener un tamaño de la muestra mayor.

c) Por que fue necesario estimar por intervalo

Para tener una mayor certidumbre acerca del valor verdadero de la capacidad del proceso.

15) Conteste los primeros incisos del problema anterior, pero ahora suponga que el tamaño
de la muestra fue de n = 140. .Las conclusiones serían las mismas

No serían las mismas conclusiones, debido a que el tamaño real de la muestra es un número
más elevado y esto haría que el proceso esté en un una capacidad estable.

16) Realice el problema 14 con de n = 40 piezas, X= 59.88y S = 0.15.

𝐸𝑆−𝐸𝐼
𝐶𝑝 =
6Ѳ

61−59
𝐶𝑝 = 6(0.15)

2
𝐶𝑝 =
0.9

𝐶𝑝 = 2.22//

𝜇−𝐸𝐼 𝐸𝑆− 𝜇
𝐶𝑝𝑘 = 𝑚𝑖𝑛𝑖𝑚𝑜 [ 3ℴ
, 3ℴ ]

59.88−59 61 −59.88
𝐶𝑝𝑘 = [ 3(0.15)
, 3(0.15) ]

0.88 1.12
𝐶𝑝𝑘 = ,
0.45 0.45

𝐶𝑝𝑘 = 1.96 , 2.49//

𝐸𝑆−𝐸𝐼
𝐶𝑝𝑚 =
6𝑟

𝑟 = √𝜎² + (µ − 𝑁)²

𝑟 = √(0.15)² + (59.88 − 40)²

𝑟 = √0.0225 + 395.21

𝑟 = √395.23

𝑟 = 19.88//
 19. Que significa que un proceso tenga nivel de calidad tres sigma?
¿porque ese nivel no es suficiente?

Tener un proceso tres sigmas significa que el índice Z correspondiente es

igual a tres.

20. Explique cuál es la diferencia entre capacidad de corto y a largo

plazo.

Capacidad de corto plazo: se calcula a partir de muchos datos tomados

durante un periodo corto para que no haya influencias externas en el
proceso, o con muchos datos de un periodo largo, pero calculando σ con
el rango promedio.

21. Explique la métrica Seis Sigma (el estadístico Z)

Es la métrica de capacidad de procesos de mayor uso en Seis Sigma.
Se obtiene calculando la distancia entre la media y las especificaciones, y esta
distancia se divide entre la desviación estándar.

22. De un ejemplo donde se apliquen las siguiente métricas: DPU, DPO, DPMO, e
interprételas.
En la EPN se matriculan a Nivelación 1000 estudiantes en cada período académico, al
realizar el proceso de actualizacón de datos se revisa y actualiza lo siguiente :
1. Nombres
2. Procedencia
3. Fecha de nacimiento
4. Título de colegio
5. Colegio del que proviene
Se tiene los siguientes errores en le proceso de actualización de datos:
1. Errores en los nombres
2. Errores en la fecha de nacimiento
3. Errores en el colegio
En un período académico se encuentra que existen 210 errores
DPU = d/U
DPU = 210/1000
DPU = 0,21

En promedio cada actualización de datos tiene 0,21 errores

DPO = d/U*O
DPO = 210/(1000*5)
DPO = 0,042

De 5000 ingresos de datos se cometen 210 errores

DPMO = 1000.000 * DPO
De un millon de ingresos de datos se espera tener 42000
errores

DPMO = 42000

23. Si una característica de calidad tiene una especificación de 35 1, y de

acuerdo con datos históricos se tiene que μ = 35.1, y una desviación estándar de
corto plazo igual a 0.31, y de largo plazo igual a 0.40, resuelva lo siguiente:

a) Obtenga Zc y ZL, y diga por qué difieren de manera importante.

Zc difiere de ZL porque la desviación estándar de corto plazo solamente toma en
cuenta a una muestra pequeña del proceso en un periodo de tiempo corto donde no
influyen factores externos como mano de obra, maquinaría, materiales, turnos,etc.
b) ¿Cuál es el nivel de sigmas del proceso?
El nivel de sigmas del proceso se obtiene a través de Zc. Por lo tanto el nivel de
sigmas es de 2.90 sigmas.
c) Obtenga los índices Pp y Ppk e interprete.

El valor de es menor que 1 y mayor a 0.67 por lo tanto es de clase 3 y no es

adecuado para el trabajo.

El valor de especificación. Es menor que 1 por lo tanto no cumple con al menos una

d) Obtenga los índices Cp y Cpk e interprete.

El valor de es mayor que 1 y menor que 1.33 por lo tanto es de clase 2 y es

parcialmente adecuado y requiere un control estricto.

El valor de especificación. Es menor que 1 por lo tanto no cumple con al menos una

e) ¿Con cuántas PPM trabaja este proceso?

En 2 procesos.

24. Considere que los datos del ejercicio 15 del capítulo 2 se obtuvieron con 28
muestras de tamaño 4 cada una, y los datos están ordenados por renglón (cada
renglón representa dos muestras). Resuelva lo siguiente:

a) Obtenga la desviacion estandar de corto y largo plazo.

b) Calcule Zc y ZL, e interprete.
c) .Cual es el nivel de sigmas del proceso?
d) Obtenga Pp y Ppk.
e) Con cuantas PPM trabaja este proceso?
27,72 27,88 27,89 27,93 28,02 28,19 28,21 28,39
27,91 27,94 27,95 27,96 27,97 28,04 28,05 28,06
27,74 27,81 27,91 27,93 27,95 27,98 28,07 28,13
27,8227,7027,7627,7627,8827,7527,8827,7527,6327,8427,87
DATOS
N=
EI=
ES=
µ=
ơ=

a.

27,87 27,84 27,84 27,81 27,89 27,75 28,05 27,78 27,74 27,85 27,90
27,87 27,86 27,87 27,84 27,96 27,82 28,08 27,89 27,84 27,88 27,94
27,90 27,98 27,90 27,85 28,04 27,85 28,11 27,94 27,91 27,97 27,97
27,91 27,99 27,94 27,93 28,08 27,98 28,11 28,04 27,93 28,00 28,01
27,94 28,00 28,07 27,94 28,08 28,02 28,13 28,05 28,10 28,01 28,13
28,16 28,02 28,10 27,95 28,19 28,09 28,14 28,10 28,14 28,1028,16
28,23 28,13 28,26 27,96 28,22 28,27 28,16 28,19 28,21 28,12 28,16
28,00 27,50 28,50 27,98 0,14

DESVIACION ESTANDAR CORTO PLAZO

DESVIACION ESTANDAR LARGO PLAZO

ơl= 0,14

0,39 /2,326

ơc= 0,17
b.

Zc y Zl
𝐸𝑆−µ

Zs=28,5−27,98

Zs=3,13

Zi

Zi=Zc

Zs=0,17

Zs=Zi

Zs

Zs=µ−𝐸𝐼
Zi=27,98−27,50 = 0,17

Zi=2,84
Zc=2,84
Min[𝑍𝑠 , 𝑍𝑖]

Zi=Zl

𝐸𝑆−µ
=28,5−27,98
=0,14
=3,65

µ−𝐸𝐼
=27,98−27,50
=0,14
3,31
Zl=3,31

Min[𝑍𝑠 , 𝑍𝑖]
Zm 𝑍𝑐
Zm=𝑍l]
=-0,47

c. Nivel de sigmas del proceso

Zc=2,84

d. Pp y Ppk
Pp

ES−EI
6ơ

Pp=28,50−27,50
=6 0,14

Pp=Ẋ−EI 𝐸𝑆−Ẋ,]3ơL3ơL

Ppk

Ppk=6,96

Min[Ppk=27,98−27,50 28,50−27 98,]

3 0,14
1,10

e. PPML
PPML

exp=Zc
PPML=exp

PPML=91528,26

25. A partir de los datos de la tabla 5.5 del ejemplo 5.7 obtenga lo siguiente:
Son 36 muestras con 5 datos cada uno: d2=2.326 (según apéndice A1)
µ=552,5
ES=558
EI=542
a) Obtenga desviación estándar de corto y largo plazo.
Desviación estándar de corto plazo
R  4,6

σc=Rd2
σc=4,6(2,326)
σc=1,98
Desviación estándar de largo plazo
σL=S
σL=1,96

b) Calcule Zc y ZL, e interprete.

Zc

Zs=ZL

Es - µ

Zs=σ
Zs=Es - µσ

558 - 552,5

Zs=1.98

558 - 552,5
1.96

Zs=2.78

Zs=2.81

Zi=µ - EI

Zi=µ - EIσ
Zi=σ

552,5 - 542

Zi=1.98
Zi=Zc=1.96

5.31

Zi=mínimo [Zs,Z1]

Zc=552,5 - 542
5.36
ZL= mínimo [Zs,Z1]
2.78
ZL=2.81
Zm = Zc - ZL
Zm =-0.03

Si Zm es menor a 1,5 el proceso tiene un mejor control que el promedio de los procesos
con control pobre
c) ¿Cuál es el nivel de sigmas del proceso?
Zc=2,78 sigmas

d) Obtenga Pp y Ppk.
Pp

Pp=ES - EI
6σL

Pp=ES - EI
6σL

Pp =1,36

Ppk =0,94

d) ¿Con cuántas PPM trabaja este proceso?

PPML= 29,37  (Zc  0,8409 2)

= 2,221
PPML= 29,37  (2,78  0,8409) 2
=2,221
101802= PPM

26. De 2000 tarjetas electrónicas producidas se detectaron 1000 defectos. Cada

tarjeta tiene 50 componentes.

a. Calcule los índices DPU y DPMO e interprete

Unidades inspeccionadas U
Defectos d
Oportunidades de error por unida O
DPU = d/U
DPU = 1000/2000
DPU = 0,5
DPO = d/U*O

2000
1000
50

En promedio cada tarjeta producida tiene 50 % de defectos

DPO = 1000/(2000*50)
DPO = 0,01

De un millón de tarjetas producidas se fabricaron 1000 con defectos

DPMO = 1000.000 * DPO

DPMO = 10000

De un millón de tarjetas producidas se fabricaron 10.000 con defectos

b. Estime el nivel de sigmas de este proceso
Sigmas

y=e ^-DPU
(2,7183) ^-0,5
0,6065

P(ZZy)= 1-Y
P(Z>Zy)= 1-0,6065
P(Z>Zy)= 0,2703

Suponiendo un desplazamiento de 1,5 sigmas

Zc= Zy +1,5
Zc =0,2703+1,5
Zc =1,7703

27. Se examinaron cuatro características críticas en una muestra de 500 órdenes de

compra. En 25 de las órdenes fueron encontrados 50 errores de diferentes tipos.
a) Obtenga el DPU y el DPMO.

b) Estime el nivel de sigmas de este proceso.

Rendimiento:
−0 1

La probabilidad de que una unidad este libre de defectos es de 90.48%

El nivel de sigmas de largo plazo es de 1.84

El número de sigmas del proceso es de 3.34

28. Un proceso tiene cinco defectos codifi cados con las letras A, B, C, D, E. Los
siguientes datos fueron colectados en cierto periodo de tiempo, registrando (D)
defectos, unidades (U) y oportunidades (O).

a) Con base en los datos de la tabla, obtenga el DPU, el DPO y el DPMO para cada
tipo de defecto, asi como para el total.
b) Obtenga una estimacion de la probabilidad de que el producto no tenga ese defecto,
Y = e−DPU, y con ello el nivel de sigmas de largo y corto plazo para el defecto
correspondiente.
c) Considere todos los defectos y determine cual es el nivel de sigmas del proceso.
CARACTERISTICA

D
U
O
DPU
DPO
DPMO
Y = e−DPU
ZL
ZC
TIPO A
20
450
10
0,044
0,004
4444,44
0,96
1,71
3,21
TIPO B
15
350
15
0,043
0,003
2857,14
0,96
1,73
3,23

TIPO C
6
200
25
0,030
0,001
1200,00
0,97
1,89
3,39
TIPO D
25
350

12
0,071
0,006
5952,38
0,93
1,48
2,98
TIPO E
30
400
15
0,075
0,005
5000,00

0,93
1,46
2,96
TOTAL
96
1750
77
0,05
0,00
3890,79
0,95
1,65
3,15

134750

En promedio cada proceso tiene 0,05 defectos (DPU)

En total de 134750 procesados 96 tuvieron defecto
De un millón de procesados se espera tener 3890, por lo que no habría un proceso
seis sigma, ya que el objetivo es de 3,4
La probabilidad de que una unidad esté libre de defecto es del 95%
El nivel de sigmas a largo plazo es de 1,65
El número de sigmas des proceso es de 3,15, cercano a 66807, está muy lejos de
tener un proceso seis sigma