MÉTODOS DE DIFRACCIÓN

DE RAYOS X
 INTRODUCCIÓN
Uno de los primeros pasos para
comenzar el estudio de las
propiedades físicas de cualquier
material, es conocer su estructura. A
partir de este conocimiento se pueden
deducir el comportamiento y las
propiedades del mismo ante la
aplicación de campos magnéticos,
campos eléctricos, tensiones, etc.
 CONCEPTOS BÁSICOS
 Difracción: es un fenómeno ondulatorio:
la dispersión y curvado aparente de las
ondas cuando enfrentan una obstrucción.
 Una onda: es una perturbación que se
propaga a través del espacio y transporta
energia.
 Difracción: Ocurre cuando una onda al
topar con el borde de un obstáculo deja
de ir en línea recta para rodearlo.
 Longitud de onda: separación espacial
existente entre dos puntos cuyo estado de
movimiento es idéntico.
 Lo más sencillo para medirla es fijarse en
la distancia existente entre dos crestas o
dos valles de una onda. Se suele
representar con la letra griega λ (lambda).
 La longitud de onda es igual a la velocidad
de propagación de la onda en el medio
dividida por su frecuencia.
 Utilizando métodos de difracción de
rayos X es posible identificar las
sustancias cristalinas y determinar su
estructura.

 La difracción de rayos X, es una técnica

consistente en hacer pasar un haz de rayos x
a través de un cristal de una sustancia. El haz
se escinde en varias direcciones debido a la
simetría de la agrupación de átomo y, por
difracción da lugar a un patrón de intensidades
que puede interpretarse según la ubicación de
los átomos en el cristal, gracias a la ley de
bragg.
 La difracción de rayos x tiene un gran
prestigio entre la comunidad científica a la
hora de dilucidar estructuras cristalinas, por
su precisión y por las décadas de
experiencia, que hacen que sea muy fiable.
Sus mayores limitaciones se deben a la
necesidad de trabajar con sistemas
cristalinos, por lo que es inaplicable a
disoluciones, a sistemas biológicos, a
sistemas amorfos o a gases.
 Es posible trabajar con monocristales, o
con polvo microcristalino, consiguiéndose
diferentes datos en un caso y en otro.
Para la resolución de los parámetros de la
celda unidad puede ser suficiente la
difracción de rayos X en polvo, mientras
que para una dilucidación precisa de las
posiciones atómicas es conveniente la
difracción de rayos X en monocristal.
 TÉCNICA DE LAÜE
Max von Laüe

Desarrolló un método para medir la longitud

de onda de los rayos x, utilizando, por
primera vez, cristales salinos delgados como
retícula de difracción, llegando a demostrar
que éstos rayos eran de naturaleza análoga
a los de la luz, pero no visibles, dado que su
longitud de onda es extremada corta.
En su primeros experimentos, utilizó radiación
blanca de todas las longitudes de onda
posibles y permitió que esta radiación cayera
sobre un cristal estacionario. El cristal difractó
el haz de rayos X y produjo un patón de puntos
que cumplía exactamente con la simetría
interna del cristal. El cristal tenía una posición
fija respecto al haz de rayos X, entonces no
sólo el valor de d estaba fijo, sino que el valor
de ө también estaba fijo.
 Método de Laue en modo transmisión Método de Laue en modo reflexión

 
MÉTODO DE
ROTACIÓN
 Un haz colimado monocromático de rayos X
incide sobre el cristal perpendicular al eje de
rotación, y se rota el cristal. Los diversos planos
en el cristal reflejarán el haz conforme la
rotación trae a cada uno a la posición de
difracción sucesivamente, esto es, se satisface
la ecuación de Bragg. Hagamos que el eje de
rotación corresponda con el eje c real. Todos los
planos (hkl) con un índice l común producirán
reflexiones a lo largo de la superficie de un cono
común cuyo ángulo de ápice está definido por la
condición de Laue . La película se encuentra
normalmente rodeando al cristal en la forma de
un cilindro, coaxial con el eje de rotación de la
cámara
 MÉTODO DE
WEISSENBERG
 La técnica de Weissenberg es un avance en la técnica
de rotación. Una cámara típica se muestra en forma de
diagrama en la Fig. a).
 Una pantalla cilíndrica con ranura se coloca entre el
cristal y la película de tal forma que sólo un cono de
reflexión puede incidir sobre la película (ver Fig. b) y
entonces conforme el cristal es rotado, el soporte de la
película es trasladado paralelo al eje de rotación. Esto
produce que las reflexiones (que formaron una línea
recta sobre la fotografía de rotación) se encuentren
desplegadas sobre la película en un patrón
bidimensional específico. La pantalla es móvil, de tal
forma que cada cono o "capa" de la reflexiones (n = 0,
1 , 2, etc. ) puede ser fotografiado separadamente. De
estas fotografías se puede calcular las longitudes de los
otros ejes cristalográficos y los ángulos interaxiales.
 Método de Weissenberg

Esquema de una cámara tipo Weissenberg,

usada en los laboratorios de Cristalografía
hasta aproximadamente 1970.
 Diagrama de
Weissenberg
del plano
recíproco hk2 del
metaborato de
cobre.
MÉTODO DE
PRECESIÓN
 El método de precesión fué desarrollado por
Martin J. Buerger, a principios de la década
de 1940, como alternativa muy ingeniosa
para poder impresionar placas fotográficas
de planos recíprocos sin distorsionar. Al
igual que el método de Weissenberg, se trata
de un método en el que cristal se mueve,
pero el movimiento del cristal (y como
consecuencia el de los planos recíprocos
solidarios) es como el de precesión de los
planetas, de ahí su nombre. La película
fotográfica se coloca sobre un soporte plano
y se mueve solidariamente con el cristal.
Esquema y aspecto de una cámara de precesión.
 El movimiento es complejo pero
produce una fotografía que da una
imagen sin distorsión de la "red
recíproca".
 Esta es la segunda cámara de
monocristales de mayor uso
actualmente. Es muy popular para
estudios de proteínas cristalinas.
DIFRACTOMETROS
Goniometría de cuatro círculos
 Difractómetros automáticos de cuatro
círculos:
Estos equipos, disponen de un sistema
goniométrico, con una mecánica muy precisa,
que mediante tres giros permite colocar el cristal
en cualquier orientación del espacio.

Entre este tipo de goniómetros se pueden

distinguir dos geometrías goniométricas que son:
 El goniómetro de geometría Euleriana
 El goniómetro de geometría Kappa
 El goniómetro de geometría Euleriana
En el goniómetro de geometría Euleriana el cristal se
orienta mediante los tres ángulos de Euler, Φ que
representa el giro sobre el eje de la cabeza
goniométrica, Х que le permite el balanceo sobre el
círculo cerrado, y ∞ que permite el giro total del
goniómetro. El cuarto círculo lo representa el giro del
detector, 2θ. Esta geometría, presenta la ventaja de la
estabilidad mecánica, pero por contra restringe la
accesibilidad al cristal para equipos externos de baja
o alta temperatura.
Esquema y aspecto de un goniómetro de cuatro círculos con geometría Euleriana.
Movimientos de un goniómetro de cuatro círculos con geometría Euleriana.
 El goniómetro de geometría Kappa
La geometría alternativa a la Euleriana es la
denominada geometría Kappa que no dispone
de un círculo cerrado equivalente al Х. En su
lugar, su función la cumplen los llamados
ejes k y ∞k, de tal modo que con una
combinación de ambos se pueden obtener Х
eulerianos en el intervalo de -90 a +90º. La
ventaja principal de esta geometría es la
amplia accesibilidad al cristal. Los ángulos Φ y
2θ son idénticos al los de la geometría
Euleriana.
Esquema y aspecto de un goniómetro de cuatro círculos con geometría Kappa.
 Tanto en la geometría Euleriana como
Kappa, el sistema de detección
ampliamente usado durante muchos años
es el denominado "puntual", en el sentido
de que la detección de cada haz difractado
(reflexión) se realiza de modo individual,
necesitando cambiar, de modo automático
y programado, los cuatro valores angulares
del goniómetro para cada haz difractado.
Los tiempos de medida en estos equipos
suele ser del orden de 1 minuto por
reflexión.
DIFRACCION DE
POLVOS
 La cámara de polvos (Fig. 21) consiste de un cilindro
metálico en el centro del cual está la muestra. El
material pulverizado frecuentemente se encuentra
adherido con barniz de uñas transparente a una barra
de vidrio. Una cinta de película de rayos X se coloca
dentro del cilindro. Existe un orificio perforado en un lado
de la película para el colimador del haz y otro orificio
está perforado a 180 el lado opuesto a través del cual
se puede colocar un dispositivo para capturar el haz. La
cámara se encuentra cerrada por un tapa ligera
apretada y colocada enfrente del haz de rayos X. El
patrón en la película se muestra a la derecha de la Fig.
22.
 INTERPRETACION DE
RESULTADOS
 Los rayos X dispersados por varios átomos de un
material, originan radiación en todas direcciones,
produciéndose interferencias debido a los de fases
coherentes inducidos por los vectores interatómicos
que fijan la posición relativa de los átomos. En una
molécula o en un agregado de átomos, este efecto
se conoce como efecto de interferencia interna,
mientras que nos referiremos como efecto de
interferencia externa al que se produce entre
moléculas o entre agregados. Los diagramas de
dispersión reflejan la intensidad relativa de cada uno
de estos efectos:
 
DIAGRAMAS