Informe 6 - Difracción de rayos x
(DRX)
Natalia Rivera Díaz
Universidad Militar Nueva Granada
Bogotá, Colombia. 24 de mayo de 2022
est.natalia.riverad@unimilitar.edu.co
Resumen — En este documento se hablará de la difracción de
rayos y como estos tienen diversas aplicaciones para
instrumentos de medición tales como máquinas que miden
estructuras atómicas o microestructuras y determinan con
esta las propiedades mecánicas que puede tener el material.
Se presenta un análisis de un material para demostrar el uso
de una máquina que mediante rayos x hace un rastreo o
detección de los planos cristalográficos de cualquier material.
I. INTRODUCCIÓN
Este documento se trata de la difracción o cristalografía de rayos
x, el cual es un proceso que permite determinar la geometría de
algún material cristalino en tres dimensiones.
Cuando se habla de rayos X se trata de ondas electromagnéticas,
que son un tipo de radiación que se emplea en la actualidad
mayormente para diferentes áreas de la salud, como radiografías
o detección de algunas enfermedades. Estos rayos son similares
a la luz, sin embargo, estos poseen una mayor energía y pueden
atravesar la mayoría de los objetos, plasmando una imagen de lo
que logro atravesar y dejando expuestos las partes por donde no
logran pasar los rayos.
En 1895 el físico alemán Roentgen descubrió los rayos x,
adquirió ese nombre porque no se conocía su naturaleza, pero
tiempo después, en el año 1912, se descubrió la difracción de
rayos x en cristales, lo cual permitió entender el origen de estos
mismos y abrió posibilidades a nuevos métodos para investigar
la estructura de un material. [1]
II. DESARROLLO DE CONTENIDOS
A. Marco Teórico
La cristalografía estudia los cristales, y como se conforma la
celda unitaria o elemental que forma el edificio cristalino (unión
de varias celdas), dentro de estas los átomos se repiten a sí
mismos mediante operaciones de simetría, estos patrones hacen
que las propiedades externas físicas de los cristales. Con la
cristalografía se puede entender la estructura intima del material
del que estén formados los cristales.
Estos rayos X son radiación electromagnética muy similar que la
luz, pero de longitud de onda más corta entre 0.5 y 2.5
angstroms. Estos rayos se producen cuando una partícula que
está cargada eléctricamente con mucha energía cinética es
frenada de repente. Comúnmente las partículas empleadas son
electrones y la radiación es emitida por un tubo de rayos x.
1
Bajo estos conceptos se puede definir que la difracción de rayos x
es un fenómeno de dispersión, donde se puede emplear como un
proceso analítico que permite determinar la geometría en tres
dimensiones de materiales cristalinos. Se emplean radiaciones
electromagnéticas (rayos x) que elaboran un espacio interatómico
dentro del cristal. Mediante la difracción se genera una dispersión
de ondas cuando pasan a través de algo muy pequeño. [2]
Cuando un rayo x viaja a través de un material o estructura
cristalina se difractan por diversas capas atómicas de dicho
cristal, y a su vez sufren interferencias constructivas, es decir
cuando se suman los efectos de dos ondas en fase, para este caso
la intensidad de los rayos X se puede evaluar con mayor precisión
y se forma un patrón de difracción o pico, en este caso se cumple
la Ley de Bragg, o destructivas que es cuando la intensidad del
haz de rayos x es muy baja, y no alcanza a formar un pico.
Dichos datos brindan información gráfica sobre los planos del
material y el espacio entre ellos.
Un rayo difractado se puede definir como un rayo que este
compuesto por un gran numero de rayos dispersados que se
refuerzan mutuamente. Los átomos dispersan la radiación
incidente en todas direcciones, donde en algunos casos estos
rayos estarán en fase y se reforzaran mutuamente para formar
rayos difractados, como se explicó anteriormente.
[3]
La lectura de esta difracción de rayos esta dada por un difracto
grama, que recoge datos de la intensidad de la onda en función
del ángulo de difracción, donde se obtiene una serie de picos, la
posición de estos estará expresada en términos del ángulo theta
(θ) o 2θ, la intensidad será la altura de los picos o las áreas, y la
forma en que se encuentren los picos tambien proporcionarán
información sobre la muestra analizada.
Existen tres métodos para producir difracción de rayos X:
- Método de Laue: Se incide en un cristal un espectro de rayos
c continuo, para cada longitud de onda existirá un ángulo
determinado. Para el método de transmisión de Laue se
coloca una película detrás del cristal, los haces difractados
formaran un patrón de manchas circulares o elípticas, y para
el de reflexión la película se interpone entre la fuente, que
posee un hueco que deja pasar los rayos x, y el cristal, y en
este el patrón que se formara son hipérbolas.
- Método de rotación del cristal: Se inciden rayos X
monocromáticos sobre un cristal. La película se envuelve de
forma cilíndrica rodeando el cristal para detectar los haces
 difractados. El cristal gira sobre el eje perpendicular al haz,
que será el mismo del cilindro, de 0° a 90°, hasta encontrar
el patrón de difracción.
- Método del polvo: El cristal que se analiza se hace polvo
para que queden pequeños cristales. Con un cristal al
incidir un haz monocromático este se difractará a un ángulo
particular. Cuando se gira el cristal en todas las direcciones
se forma un cono cuyo eje será el mismo del haz incidente.
[4]
B. Procedimientos
En esta práctica se emplea un material de acero inoxidable, y
mediante sus fases cristalinas se determina su composición. El
equipo funciona con rayos x que se inciden sobre el material, es
bastante seguro. Cuenta con un software para medición y otro
para análisis después de obtener el dato.
Para el software de medición (Data Colector) el equipo comienza
a realizar la medición, el tiempo que tarda el equipo puede variar
acorde a la medición, requerimientos o información que se pida.
Tambien se puede ver en el equipo el sistema de giro
(goniómetro). El filamento del costado izquierdo emite la
radiación y el del lado derecho es el detector gira, por eso se
conoce como medición por ángulo 2θ.
Esta máquina proporciona difracto gramas que, en el eje y indica
la intensidad de cuanta energía difracto en el equipo y el eje x
indica cuanta energía se detecta a la salida, de esto salen los picos
a diferentes ángulos que indicará la identidad de composición del
material, dándole posibles elementos que tenga el material y el
mismo software buscará en su base de datos para determinar cual
posible elemento es.
C. Resultados
Se obtiene el siguiente difracto grama del material que se va a
trabajar:
Figura n. Difracto grama del material.
Este es llevado al software de medición, donde se realiza una
comparación de que materiales puede tener ese acero.
Se determina una zona de background, que será un limite
sobre los pequeños picos que indica en la zona inferior de la
gráfica, y el software analiza lo que esta por encima de esta,
luego se buscanlos picos sobre esta zona, que son donde se
encontró un mayor ángulo o intensidad.
Se realiza un refinamiento porque puede que el material no se
encontrara a brillo espejo previamente a la lectura, cuando se
2
hace el refinamiento se obtienen porcentajes de hierro níquel y de
austenita, que fueron los materiales seleccionados. En austenita da
una estructura cubica centrada en las caras. Tambien se pueden
obtener en el software que el difracto grama tiene en los picos los
índices de Miller, que indican la representación de los planos
cristalino-gráficos que el equipo refleja en el material estudiado.
Figura n. Datos obtenidos después del refinamiento.
Se obtienen porcentajes de austenita al 19,9% y de hierro níquel
al 80,1%.
Y aparte se encuentran los índices de Miller los cuales indican
la representación de los planos cristalográficos del material, y
se presenta en cada uno de los picos proporcionados por el
diagrama.
Este tipo de datos nos permite analizar las composiciones en un
material por como se ubican los planos y diferentes propiedades
mecánicas, se pueden analizar estudios de polimorfismo,
transiciones de fase, medida del tamaño de una partícula y
determinación de diagramas de fase.
III. CONCLUSIONES
 La difracción de rayos es un método de lectura de los
materiales que permite analizar su estructura molecular
con rayos x o radiación, esto permite que mediante la
dispersión de estos rayos se analice el comportamiento
del ángulo que forma esa difracción y en base a eso se
determine la orientación de los planos.
 La intensidad de los picos aumenta rápidamente hasta
un máximo, y en cierto momento decrece sin límite en
la parte de larga longitud de onda. Dicha radiación se
conoce como continua o blanca, y está formada por
muchas longitudes de onda.
 La máquina de difracción de rayos x al proporcionar
estos difracto gramas y analizar los índices de Miller
de los picos puede proporcionar diferentes opciones o
posibles materiales que proporcionan esta muestra.
Todo depende de los constituyentes que se seleccionen
a la hora de hacer el refinamiento.
 Es una máquina que tiene ciertos grados de riesgo, por
eso es importante saber manipularla y comprender su
funcionamiento. Dependiendo del tipo de resultados
que se necesiten se demora el análisis, puede llegar a
durar un día completo o más.
 IV. REFERENCIAS

Referencias
[1] danielrdz3@gmail.com, «¿Qué es la difracción de rayos X (XRD) y por qué es tan importante para la
industria?,» 20 Octubre 2020. [En línea]. Available: https://espectrometria.com.mx/que-es-la-difraccion-de-
rayos-x-xrd-y-por-que-es-tan-importante-para-la-industria/ .
[2] «Cristalografía en pocas palabras (...en una cáscara de nuez...),» [En línea]. Available:
https://www.xtal.iqfr.csic.es/Cristalografia/cascara.html#difraccion .
[3] U. P. d. Cartagena, «Difracción de rayos X. Introducción,» [En línea]. Available:
https://www.upct.es/~minaeees/difraccion_rayosx.pdf .
[4] Equipos y laboratorios de Colombia, «CRISTALOGRAFÍA DE RAYOS X,» [En línea]. Available:
https://www.equiposylaboratorio.com/portal/articulo-ampliado/cristalografIa-de-rayos-x .

3
4