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1.

ABANTO PALMA, Roberto Carlos


2. DIAZ FERNANDEZ, Max
3. ESPINOZA ZANINI, Pamela Aurora
4. LIMAY MALCA, Milton
5. SOLANO VARGAS, Ricardo Alfredo
INTRODUCCIÓN
Los rayos x son ondas electromagnéticas producidas por la
desaceleración de los electrones cuando se detienen en un blanco.
La difracción de rayos x es una técnica que sirve para determinar la
estructura detallada de un material, es decir, permite conocer la
posición que ocupan los átomos, iones o moléculas que lo forman.
Debido a este ordenamiento podeos determinar propiedades físicas y
químicas de los materiales.
OBJETIVOS
• Aprender las técnicas de difracción de los rayos x
• Conocer las aplicaciones de la difracción
1.-Identificación de sustancias cristalinas desconocidas.
2.-Análisis cuantitativo y cualitativo de fases cristalinas
• Conocer los instrumentos de difracción.
DIFRACCION DE RAYOS X
• La difracción de rayos x puede proporcionar información detallada de la
estructura tridimensional en estado solido de muestras cristalinas de
compuestos orgánicos, inorgánicos y organometálicos, consistiendo en la
descripción geométrica en términos de distancias y ángulos de enlace, ángulos
de torsión, etc.
• La difracción de los rayos x es el fenómeno físico a través del cual se manifiesta
la intervención fundamental de los rayos x con los cristales.
La intensidad del haz difractado depende de :
a. La intensidad y la longitud de onda del haz incidente.
b. El volumen de los cristales que difractan
c. El ángulo de difracción.
d. La absorción de los rayos x del cristal.
ALGUNOS CASOS DE DIFRACCIÓN
• Uno de los ejemplos más comunes donde se aplica una concisa
caracterización de los materiales son las dos cristalizaciones del
carbono : el grafito y el diamante, los cuales posees propiedades
totalmente distintas pero tienen la misma composición química
Cristalografía de rayos X
La cristalografía de rayos x es una técnica que consiste en hacer pasar
un haz de luz a través de un cristal de la sustancia o el material en
estudio. El haz se dispersa en varias direcciones debido al orden de los
átomos en el cristal y, por difracción, se puede observar un patrón de
intensidades que se interpreta según la ubicación de los átomos,
haciendo uso de la LEY DE BRAGG.
Una de las limitaciones de esta técnica es que solo se puede usar en
materiales cristalinos, por lo tanto, no puede ser usada en sustancias
como gases, disoluciones, a sistemas amorfos, entre otros.
Ley de Bragg
• Para interpretar los diagramas de difracción se requiere una teoría. W.
Bragg fue pionero en el tema y desarrolló una sencilla teoría, que es
la que veremos. En este modelo se analiza la interacción de un haz de
radiación sobre un conjunto de planos paralelos, equiespaciados y
semitransparentes a la radiación. Para efectos de la reflexión se aplica
que el ángulo de incidencia es igual al de reflexión.
• La interferencia es constructiva cuando la diferencia de fase entre la
radiación emitida por diferentes átomos es proporcional a 2π. Esta
condición se expresa en la ley de Bragg:
ECUACIÓN

Donde:
• n es un número entero.
• λ es la longitud de onda de los rayos X.
• des la distancia entre los planos de la red cristalina y.
• θ es el ángulo entre los rayos incidentes y los planos de dispersión.

• Incidencia de rayos x sobre dos planos.


• De acuerdo al ángulo de desviación (2θ), el cambio de fase de las ondas produce
interferencia constructiva (figura izquierda) o destructiva (figura derecha).
La esfera de Ewald
• Para visualizar fácilmente los planos de Miller que contribuyen a la
difracción en una dirección dada y determinar la relación entre la
orientación del cristal y el patrón de difracción, se utiliza la
construcción conocida como esfera de Ewald. La esfera de Ewald
ilustra todas las posibles direcciones en que los rayos X pueden ser
reflejados por el cristal. El radio de esta esfera es y su extremo en la
dirección del haz de rayos X incidente coincide con el origen de la red
recíproca.
Si un punto de la red recíproca de coordenadas se encuentra sobre la
superficie de la esfera de Ewald, los planos de Miller con
índices darán lugar a un punto de difracción en la dirección definida
por el centro de la esfera y ese punto de la red recíproca. La distancia
entre el origen y, por lo que se puede demostrar geométricamente
que esta condición de difracción es equivalente a la ley de Bragg.
F
Algunas aplicaciones de la difracción
de rayos x
• Una fase cristalina dada siempre produce un patrón de difracción
característico, bien esté en estado puro o como constituyente de una
mezcla. Este hecho es la base para el uso de la difracción como
método de análisis químico. El análisis cualitativo se realiza mediante
la identificación del patrón de esa fase. Para la identificación
cualitativa se usa la Powder Diffraction File, esta base de datos
contiene datos de d-I además de información cristalográfica y
bibliográfica para gran cantidad de fases crist. de materiales
inorgánicos, minerales, productos farmacéuticos, etc
Determinación de estructuras cristalinas:
El proceso de determinación de una estructura mediante drx comienza con la
toma de datos con suficiente precisión en un intervalo amplio de 2θ. La
siguiente etapa es el indexado, los programas más habituales para llevar a
cabo el indexado son ITO, TREOR y DICVOL entre otros. La siguiente etapa,
ajuste de perfil, permite asignar intensidades, forma y anchura de picos,
background; existen dos técnicas diferentes: el método de Le Bail y el método
de Pawley.
Una vez obtenidas las intensidades de las reflexiones es necesario obtener
una aproximación inicial de la estructura, para ello se pueden emplear
métodos tradicionales como los de Patterson o directos así como métodos
basados en el espacio directo. Por último se realiza el refinamiento de la
estructura utilizando el método de Rietveld en el que se minimiza la
diferencia entre la intensidad calculada y la medida experimentalmente.
Estudio de texturas
• Cada grano en un agregado policristalino normalmente tiene
una orientación cristalográfica diferente de la de sus vecinos.
Considerado como un todo las orientaciones de todos los
granos pueden estar aleatoriamente distribuidas o pueden
tender a agruparse, en mayor o menor grado alrededor de
una o varias orientaciones particulares. Cualquier agregado
caracterizado por esta condición se dice que posee
orientación preferente o textura. La orientación preferente
puede tener una gran influencia sobre las intensidades de los
picos de difracción.
• Método Laue
Consiste en hacer incidir en un cristal un espectro continuo de rayos X, de tal
manera que para cada longitud de onda, existirá un determinado ángulo. El
método de transmisión de Laue (a) en la figura consiste en colocar esta película
detrás del cristal como se ve a la derecha. Por el contrario, en el método de
reflexión (b) en la figura de Laue, la película se interpone entre la fuente y el cristal,
esta posee un agujero que deja pasar los haces de rayos X.
En el método de transmisión de Laue los haces difractados forman un patrón de
machas circular o elíptico y en cambio, el patrón formado en el método de reflexión
de Laue son hipérbolas.
Método de rotación de cristal.
Se hace incidir un haz de rayos X monocromáticos sobre un cristal. Para detectar los
haces difractados, la película es envuelta de forma cilíndrica de tal manera que
rodee al cristal. El cristal se hace girar sobre el eje perpendicular al haz incidente, el
cual coincide con el eje del cilindro. Para encontrar el ángulo al cual se cumple la
ley de Bragg, el giro del cristal se hace sucesivamente de 0° a 90°, hasta encontrar
el patrón de difracción mostrado en la figura.
Método de Polvo Cristalino
• En el método de polvo cristalino o de Debye-Scherrer,​ el cristal a
analizar es pulverizado de tal manera que forme un conjunto de micro
cristales en todas las posibles orientaciones de la red recíproca. Con
esta geometría todas las reflexiones se pueden medir en un solo
patrón de difracción, consistente en círculos, uno para cada reflexión.
Aunque el método de rotación de cristal resulta en valores más
exactos de la intensidad de las reflexiones, el método de polvo es a
veces la única opción cuando el material a estudiar no forma
monocristales de un tamaño suficiente para producir difracción
detectable. Este método se usa mayoritariamente cuando no es
necesario determinar la estructura; por ejemplo, en el análisis de
minerales presentes en una muestra
Patrón de difracción de
polvo. Debido al uso de
múltiples cristales en
múltiples orientaciones los
puntos de difracción
correspondientes a los
puntos de la red recíproca
a la misma distancia del
origen d se unen para
formar un anillo.
EL DIFRACTÓMETRO
• El difractómetro de rayos X es capaz de detectar la radiación que emana una
muestra determinada al ser excitada por una fuente de energía. La respuesta
generada depende del ordenamiento interno de sus átomos. El difractómetro está
compuesto de un porta muestras móvil que irá moviendo el objeto estudiado con el
fin de variar el ángulo de incidencia de los rayos X. De este modo la estructura
atómica de la muestra quedará registrada en un difractograma.
GRUPOS ESPECIALES
• Se pueden definir los grupos espaciales como grupos de
transformación del espacio tridimensional homogéneo y discreto en
si mismo.
El principio de homogeneidad de una sustancia en estado cristalino
considerándolo a nivel microscópico, es decir, considerando la
atomicidad de la sustancia cristalina, incluye los grupos de simetría (la
sustancia cristalina contiene un infinito numero de puntos iguales por
simetría) y de discreción (no todos los puntos de una sustancia
cristalina son idénticos).
Tipos de grupos espaciales
Hay dos tipos
• Grupos espaciales Simorfos
• Grupos Espaciales No Simorfos
Grupos Espaciales Simorfos
Grupos Espaciales No Simorfos

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