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FLUORESCENCIA DE RAYOS X
(RX)
CRISTALOGRAFIA DE RAYOS X
Los rayos X son radiacin electromagntica de longitud de onda corta que se produce cuando se desaceleran los electrones
de alta energa.
La aplicacin de los rayos X al estudio de los cristales constituyo el mayor impulso dado jams en la cristalografa. Antes los
cristalografos haban deducido correctamente las propiedades pticas y la regularidad de la forma externa. Gracias al empleo
de los rayos X se pudo determinar la posicin de los tomos o iones del mismo, permitiendo ello determinar estructuras
cristalinas.
ESPECTROS DE RAYOS X
Se basa en la medida de la emisin, absorcin, difusin, fluorescencia y difraccin de la
radiacin electromagntica. Todas las formas de radiacin electromagntica tienen
ciertas propiedades comunes: propagacin en lnea recta a una velocidad de 300000
km/s en el vaco, la reflexin, refraccin segn la ley de Snell, la difraccin por bordes o
por rendijas, y una relacin entre energa y longitud de onda dada por la ecuacin de
Einstein.
Donde:
E es la energa
C la velocidad de propagacin
V la frecuencia
H la constante de Planck
Los rayos x que se emplean en la investigacin de los cristales tienen
longitudes del orden 1 y los 0.002; la luz visible tiene longitud de
ondas comprendidas entre 7200 y 4000 lo que la hace menos
penetrante y de mayor energa que estos.
De la capa M a la capa k k
De la capa L a la capa K k
EFECTOS DE DIFRACCION
Y
ECUACION DE BRAGG
EFECTOS DE DIFRACCION
Difraccin :Fenmeno por el cual se produce una desviacin de los rayos
luminosos cuando pasan por un cuerpo opaco o por una abertura de dimetro
menor o igual que la longitud de onda
LEY DE BRAGG
Proceso experimental
Difractometro de rayos X
MTODO DEL MONOCRISTAL O DE LAUE
Mtodo de Laue
En sus primeros experimentos, Max von Laue (Premio Nobel de Fsica en
1914) us radiacin contnua (con todas las longitudes de onda posibles)
incidiendo sobre un cristal estacionario. De este modo, el cristal generaba
un conjunto de haces que representan la simetra interna del cristal. En
estas condiciones, y teniendo en cuenta la ley de Bragg, las constantes del
experimento son los espaciados d y la posicin del cristal respecto al haz
incidente, y las variables son la longitud de onda y el entero n:
n = 2 dhkl sen nh,nk,nl
Mtodo de Laue en modo transmisin
La difraccin de rayos X de polvos (DRX) sirve para analizar un amplio rango de materiales, tales como minerales,
polmeros, catalizadores, plsticos, compuestos farmacuticos, cermicos y semiconductores, entre otros.
La DRX ha llegado a ser un mtodo indispensable para la caracterizacin y control de calidad de diversos
materiales. Por ejemplo: anlisis de fases cualitativo, determinacin de estructura por comparacin con la base de datos
PDF-2, nanomateriales y polimorfismo.
Algunos casos de difraccin :
Uno de los ejemplos mas comunes donde se aplica una concisa caracterizacin de
los materiales son las dos cristalizaciones del carbono : el grafito , el diamante , los
cuales poseen propiedades totalmente distintas pero tienen la misma composicin
qumica .
Partes del DPRX:
Tubo de rayos x
Portador de la muestra de polvo
Detector de Rayos X
Mecanismo del gonimetro
Controles del generador de rayos X
Preparacin para la utilizacin del difractometro de
polvo de rayos X :
La muestra para el anlisis difractomtrico se prepara reducindola a polvo fino que se extiende
uniformemente sobre la superficie de un porta de vidrio, usando una pequea cantidad de
aglomerante adhesivo.
El instrumento est construido de tal forma que el porta , al ser situado en posicin , gira segn la
trayectoria de un haz colimado de rayos X , mientras que un detector de estos rayos montado
sobre un brazo , gira a su alrededor para captar las seales difractadas de rayos X.
Cuando el instrumento se sita en posicin cero, el haz de rayos X es paralelo al porta y pasa
directamente al detector.
El porta y el tubo contador se mueven mediante engranajes distintos, de tal manera que
mientras el porta gira un angulo x , el detector gira 2x.
Cuando se opera, la muestra, el detector de rayos X y el papel del registrador automtico
entran simultneamente en movimiento, si un plano atmico tiene un espaciado d que refleje
con x = 20, no aparece evidencia de esta reflexin hasta que el tubo contador ha girado 2x , o
sea 40, en ese momento el rayo reflejado entra en el tubo contador y lo hace conductor . El
impulso as generado se amplifica y mueve la pluma del registrador. As a medida que el tubo
detector recorre la zona, el registrador de cinta de papel inscribe el pico de la reflexin
procedente de la muestra.
El ngulo 2x al cual se ha producido la reflexin se puede leer directamente de la
posicin del pico en el papel. Las alturas de los picos son directamente
proporcionales a las intensidades de los efectos de difraccin que los causaron.
El papel sobre el cual se registra esta dividido en decimas de pulgada y se mueve a
velocidad constante , generalmente , 1.27 cm por minuto , con esta velocidad el
papel y con una velocidad de barrido del tubo contador de 1 por minuto , 1.27 cm
en el papel equivalen a 2x de 1.
Las posiciones de los picos en el papel pueden leerse directamente y los espaciados
de los planos atmicos que los han originado pueden ser determinados mediante la
ecuacin.
n = 2dsenx
- n = orden de reflexin
- = longitud de onda
- D = distancia entre planos paralelos
- X = angulo entre el rayo incidente y el plano enrejado (angulo de bragg)
Ventajas :
Aun cuando el difractmetro suministra datos similares a los que se obtienen por el mtodo del
polvo clsico, tiene ventajas claras como por ejemplo el tiempo es mucho ms reducido que el
mtodo antes mencionado ya que el mtodo del polvo requiere varias horas de exposicin, ms
el tiempo necesario de revelado , fijado , lavado y secado de la pelcula ; un registro por
difractmetro puede hacerse en un periodos de 10 a 30 minutos segn la velocidad de barrido de
este .
Con frecuencia es difcil estimar la intensidad de las lneas en una fotografa de polvo , mientras
que la altura del pico en una carta difractomtrica puede ser determinada grficamente con
gran exactitud ( las cuentas de intensidades se puede guardar en un ordenador y analizar
estadsticamente).
Otras tcnicas de refraccin :
En el libro de Klein se incluyen varios ejercicios para estudiantes sobre pelculas
de difraccin de polvo de rayos X y tcnicas difractomtricas .
Recientemente la mayor parte de los estudios estructurales de los materiales
cristalinos estaban basados en experimentos de difraccin de rayos X sobre
monocristales y difraccin de neutrones.
Otra tcnica nueva de difraccin de polvo de rayos X es el mtodo de
refinamiento de rietveld , que permite obtener informacin a partir de muestras
en polvo en lugar de monocristales , este es un importante avance en la
determinacin de estructuras minerales tpicamente cristalinos pero que no se
consiguen en monocristales bien desarrollados . Ejemplos de estos minerales
cristalinos, pobremente ordenados , son los minerales de arcilla.
FLUORESCENCIA DE RAYOS X (XRF)
Donde:
:intensidad de la lnea
fluorescente
:constante de probabilidad
:concentracin
:intensidad medida cuando
Para obtener esta curva dada una muestra, se fabrican varias muestras de composicin
similar pero con diferentes concentraciones y se mide la intensidad de la lnea
caracterstica del elemento de inters en cada una de ellas.
Pero debido a efectos de matriz, la curva que relaciona intensidad con concentracin
no siempre es una lnea recta: la curva se ve afectada por efectos de auto absorcin (la
radiacin emitida sufre absorcin en la muestra) y de reforzamiento (cuando la
radiacin caracterstica de un elemento tiene suficiente energa para excitar radiacin
caracterstica de otros elementos presentes en la muestra)