Universidad Politécnica de Sinaloa

Ingeniería en Nanotecnología

Caracterización de materiales

Técnicas de difracción de rayos X

Velazquez Vázquez Humberto

Nanotecnología 7-1
2017030238

Mc. Tirado Lizarraga Alan Joshemar

29 de octubre de 2019
 Resumen

La difracción de rayos X son técnicas utilizadas para el estudio de las características y

propiedades de los materiales, tales como cristales o hablando biológicamente el ADN o las
proteínas. Existen múltiples métodos de difracción de Rayos X, como el de oscilación,
Weissenberg, Laue y el de Precesión, estos métodos son muy útiles para conocer la geometría
de un material y así poder generar un mapa estructural del mismo. En cada técnica el
resultado obtenido es debido a la difracción generada por la dispersión de la radiación
producida por una disposición regular de la muestra. Cada técnica nos da una visión diferente
de la estructura de la materia.
 Introducción

Los Rayos X se descubrieron en 1895 por el físico alemán

Röntgen y recibieron ese nombre porque se desconocía su
naturaleza en ese momento. En 1912 se estableció de manera
precisa la naturaleza de los rayos X. En ese año se descubrió la
difracción de rayos x en cristales y este descubrimiento probó
la naturaleza de los rayos X y proporcionó un nuevo método
para investigar la estructura de la materia de manera
simultánea.[1]
Ilustración 1William Rotgen,
La difracción de rayos X o como es también conocida la descubridor de los Rayos X
cristalografía de rayos X son técnicas experimentales para el
estudio y el análisis de materiales. Esta técnica esta basada como su nombre lo indica en el
estudio de los rayos incidentes de la muestra cristalina. Existen muchas formas de utilizar la
difracción de rayos X para identificar la estructura cristalina de los materiales, en este ensayo
se nombrarán algunas de ellas. [1]

La difracción es el resultado de la dispersión de la radiación producida por una disposición

regular de los centros de dispersión, cuyo espaciado es aproximadamente a la longitud de la
onda de la radiación.[1]

El fenómeno de la difracción
puede describirse con la Ley de
Bragg, que predice la dirección
en la que se da interferencia
constructiva entre haces de rayos
X dispersados coherentemente
Ilustración 2: Representación grafica de la ley de Bragg
por un cristal: n  = 2 d sen 
siendo:

 n es un número entero,
 λ es la longitud de onda de los rayos X,
 d es la distancia entre los planos de la red cristalina y,
 θ es el ángulo entre los rayos incidentes y los planos de dispersión.

La difracción es esencialmente un fenómeno de dispersión en el que cooperan un gran

número de átomos. Puesto que los átomos están dispuestos periódicamente en una red los
rayos dispersados por ellos tienen unas relaciones de fase definidas entre ellos; estas
relaciones de fase son tales que en la mayoría de las direcciones se produce una interferencia
destructiva, pero en unas pocas direcciones se produce una interferencia constructiva y se
forman rayos difractados.[2]

Todo experimento de difracción de rayos X requiere una fuente de rayos X, la muestra que
se investiga y un
detector para recoger
los rayos X difractados.
Para ello hay diferentes
tipos de técnica como lo
son:

Diagrama 1 Muestra de los tipos de difracción que hay.

Nosotros hablaremos de solo 4 métodos, que son:

 Método de Laue
 Método de Weissenberg
 Método de precesión
 Método de Oscilación
 Fundamentos/ Marco teórico

La cristalografía de rayos X nos proporciona la imagen más adecuada que podemos tener de
las estructuras cristalinas. Los métodos de difracción de rayos X constituyen la herramienta
más poderosa de que se dispone para el estudio de la estructura íntima de la materia cristalina,
dotando de una extensa base de resultados estructurales a la química, mineralogía y biología.
La mayor parte de la información que poseemos de las estructuras internas cristalinas es
mediante la técnica de difracción de rayos X. Pero ¿Como se generan los rayos X?

Generación de los rayos X por parte del difractómetro

Los r-X se generan en un dispositivo conocido como tubo de r-X cuyo esquema se representa
en la ilustración 3. Un generador convencional consiste de un cátodo con un filamento de W
que emite e- que son
acelerados bajo vacío por
un alto voltaje aplicado a lo
largo del tubo (del orden de
30kV). El haz de electrones
incide sobre un blanco
metálico, ánodo o
anticátodo (habitualmente
Cu o Mo y menos
frecuentemente Cr, Fe o
Ilustración 3 Tubo de Rayos X
Ag) y se emite el espectro
de r-x descrito anteriormente. En los generadores de ánodo rotatorio, el área donde golpean
los e- se renueva continuamente porque el ánodo está rotando continuamente. En este caso
se puede aplicar potencias más altas y por tanto se pueden obtener intensidades de r-X más
altas.[2]

Detectores: Existen cuatro tipos de detectores: proporcionales, Geiger, de centelleo y

semiconductores.
 Contadores proporcionales: Consisten en un cilindro metálico lleno con un gas que
contiene un fino alambre metálico (ánodo) a lo largo de su eje.
 Detectores de centelleo: En este tipo de detector la radiación x se hace incidir sobre
un material fluorescente..
 Detectores semiconductores: Se han
utilizado tanto Si como Ge. Los r-x causan
una excitación originando electrones libres
en la banda de conducción y huecos en la
banda de valencia, manteniendo un elevado
voltaje entre las caras opuestas del cristal se
crea un pequeño pulso en un circuito externo
que es amplificado hasta el orden de
Ilustración 4 Difractómetro de Rayos X
milivoltios.
 Detector PSD: Este tipo de detector permite determinar la intensidad de varias líneas
de difracción de manera simultánea.

Portamuestras: En un difractómetro convencional la muestra se mantiene en posición

horizontal y se rota para minimizar los efectos de orientación preferente y favorecer la
orientación de los cristales al azar. El portamuestras convencional tiene una profundidad
de 1 mm y es adecuado para muestras del orden de gramos.

Ventanas y monocromadores: Con objeto de obtener una buena resolución al mismo

tiempo que una buena intensidad en un difractómetro convencional se utilizan los
siguientes dispositivos.

 Ventana de divergencia: se coloca en el camino del haz incidente, antes de la

muestra. Limitan la divergencia del haz incidente y por tanto el área “iluminada”
en la muestra. Su principal función es disminuir el background aunque a costa de
disminuir la intensidad de los haces difractados.
 Ventana de dispersión: se coloca inmediatamente después de la muestra
 Ventana del detector: se coloca antes del detector. Cuanto menor es su abertura
mayor es la resolución obtenida pero menor la intensidad obtenida.
  Ventanas Soller: consisten en un conjunto de finas placas metálicas paralelas al
círculo del difractómetro. Estas placas eliminan una gran proporción de rayos
inclinados respecto al plano del círculo del difractómetro.
 Monocromador secundario: el más utilizado es de grafito. Consisten en un cristal
orientado de manera que la difracción se produce únicamente para una λ
determinada.[2]

Método de Laue

El método de Laue se utiliza para determinar la orientación de la celda de un monocristal de

estructura conocida. Para determinar la estructura se prefiere utilizar otra técnica más
adecuada para el efecto. En el método de Laue se estudia un cristal con una orientación que
es fija (no rota) con respecto a un haz de rayos X policromático (luz blanca, espectro no
filtrado).

Hay dos técnicas de Laue básicas, ver Ilustracion 5: en una, se estudian los haces reflejados
en direcciones cercanas a las del haz de rayos X incidentes; en la otra, se estudia el haz
reflejado que pasa
a través del cristal.
El último método
no se puede
aplicar a cristales
de espesor
apreciable (1 rnm
o más) a causa de
la pérdida en
intensidad de los Ilustración 5 Reflexión de los rayos X en el método de Laue

rayos X por su
absorción en el metal. El método reflectante de Laue es especialmente valioso para
determinar la orientación de la red de grandes cristales que son, en consecuencia, opacos a
los rayos X.
La ilustración 6 muestra el montaje de una cámara reflectante de Laue típica. Los rayos X
procedentes de un tubo de rayos X, se coliman en un haz angosto por un tubo de varios
centímetros de largo con un diámetro interior de cerca de 1 mm. El haz de rayos X incide
sobre el cristal a la derecha de la figura, donde es difractado como haces reflectados que
inciden sobre una película fotográfica. En esta forma, las posiciones de los haces reflectados
se registran sobre la película fotográfica como un conjunto de pequeños puntos oscuros. [3]

Ilustración 6 Cámara reflectante de Lau

Método de Weissenberg
El método de Weissenberg está basado en la cámara
del mismo nombre, desarrollada por K. Weissenberg
(1924). Consta de un cilindro metálico que contiene en
su interior una película fotográfica sensible a los rayos
X. El cristal se monta sobre un eje coaxial con dicho
cilindro y se hace girar según el modelo de Ewald, de
Ilustración 7 Cámara tipo Weissenberg usada
tal modo que los puntos recíprocos que intersectan la hasta 1970 en los laboratorios de Cristalografía.

superficie de la esfera de Ewald son los responsables

de los haces de difracción. Estos haces generan un ennegrecimiento (mancha) sobre la
película fotográfica. El tipo de diagramas Weissenberg que se obtienen del modo descrito se
denominan de rotación o de oscilación, dependiendo de que el giro del cristal sea de 360º o
parcial (aprox. 20º), respectivamente.
 El montaje del cristal debe ser tal que su eje de giro coincida con un eje directo de la celda
elemental. De ese modo, por definición de la red recíproca, existirán planos recíprocos
perpendiculares a dicho eje.[1]

Método de precesión

El método de precesión fue desarrollado por

Martin J. Buerger, a principios de la década
de 1940, como alternativa muy ingeniosa
para poder impresionar placas fotográficas
de planos recíprocos sin distorsionar. Al
igual que el método de Weissenberg, se trata
de un método en el que cristal se mueve,
Ilustración 8 Muestra de una cámara de precesión. pero el movimiento del cristal (y como
consecuencia el de los planos recíprocos solidarios) es como el de precesión de los planetas,
de ahí su nombre. La película fotográfica se
coloca sobre un soporte plano y se mueve
solidariamente con el cristal. El cristal debe
orientarse de tal modo que el plano recíproco que
se desee recoger sea perpendicular al haz directo
de los rayos X, es decir, que un eje directo
coincida con la dirección de los rayos X
incidentes.[4]

Ilustración 9 Dos visiones esquemáticas del principio en el que

se basa la cámara de precesión. El ángulo m es el ángulo de
precesión del plano recíproco seleccionado del cristal y de la
película fotográfica, que se mantiene paralela al plano
recíproco y solidaria en el movimiento al cristal.
 Método de oscilación

Originalmente, los métodos de monocristal, con giro amplio de la muestra, como los
mencionados anteriormente, se impusieron por su facilidad de interpretación. Sin embargo,
cuando se llegó a experimentar con redes directas con periodos de traslación grandes, es
decir, con redes recíprocas con periodos de traslación pequeños (puntos recíprocos muy
cercanos), los tiempos de recogida se disparaban y por lo tanto se recurrió al método de
oscilación con ángulos pequeños. Esta metodología permitía recoger varios niveles
recíprocos a la vez sobre cada posición del cristal. Repitiendo estos diagramas, a distintas
posiciones de partida del cristal, se conseguían obtener suficientes datos en un tiempo
razonable. La geometría de recogida está descrita en las figuras que vienen a continuación.

Hoy en día, con generadores de ánodo rotatorio o sincrotrones, y detectores de área que
aumentan la intensidad de los máximos de difracción y reducen los tiempos de recogida con
gran fiabilidad, se ha impuesto este método para los estudios de macromoléculas, en
particular de proteínas.[5]

Ilustración 10 Esquema de la geometría de las condiciones de máximo de difracción en el método de oscilación.

El cristal, y por tanto la red recíproca, están oscilando un pequeño ángulo alrededor de un eje perpendicular al
plano de la figura y que pasa por el centro. En la figura de la derecha, el área que pasa por condición de máximo
de difracción está denotada por el área amarillenta, delimitada por la esfera de Ewald en los dos extremos de
oscilación de la red, y la esfera de resolución máxima que se puede alcanzar con la radiación empleada y con
el detector que se haya usado.
 Resultados

Método de Laue

La ilustración 11A muestra la imagen de difracción de un cristal de Mn (HC) orientado

para que el haz de rayos X incidente sea perpendicular al plano basal del cristal. Cada
punto (mancha) corresponde a una reflexión desde un plano cristalográfico de bajos
índices, y la simetría séxtuple de la red reticular, cuando se mira en dirección
perpendicular al plano basal, es evidente. En esta figura hay 6 líneas de puntos; cada
línea corresponde a varios planos en zona con un mismo eje. Se trata de los ejes que
constituyen el hexágono sobre un plano basal. Si se gira ese cristal en una dirección que
lo aleje de la configuración de la ilustración 11A, cambia el ordenamiento de los puntos
(ver ilustración 11B); no obstante, todavía se observa la orientación cristalina en el
espacio. Nótese que las 6 rectas de la ilustración 11, que pasan por el centro de la
película, se han transformado en 6 curvas que ya no pasan por el centro de la película.
Así, la orientación del cristal se puede determinar en términos de diagramas de Laue.

Ilustración 11 Resultados obtenidos con el método de Laue

Método de Weissenberg

El tipo de diagramas Weissenberg que se obtienen del modo descrito se denominan de

rotación o de oscilación, dependiendo de que el giro del cristal sea de 360º o parcial (aprox.
20º), respectivamente.

Ilustración 12 Esquema que explica la producción de un diagrama de Weissenberg del tipo rotación-oscilación

Tal como muestra el esquema de arriba, cada

línea horizontal de puntos representa la
proyección sobre la placa fotográfica de un
plano recíproco perpendicular al eje de giro.
La figura de la izquierda muestra el aspecto
real de un diagrama de Weissenberg de tipo
rotación-oscilación.
Tal como se explica más abajo, la distancia
Ilustración 13 Imagen obtenida con el método de
entre las líneas de puntos horizontales Weissenberg
proporciona información sobre el periodo de
repetición del cristal en la dirección vertical de la foto.

Pero, además, en la práctica, este tipo de diagramas se utilizaban para centrar los cristales en
la cámara de Weissenberg, para conseguir que el eje de giro del cristal fuera perpendicular a
los planos recíprocos, representados aquí por las alineaciones de puntos que se muestran.[2]
Método de precesión
Este tipo de diagramas son mucho más simples de interpretar que los de Weissenberg, ya que
muestran el aspecto de un plano recíproco sin distorsión. La separación de un plano recíproco
determinado se consigue mediante el uso de pantallas que seleccionan los haces difractados
de dicho plano. Del mismo modo a como ocurre en el caso de Weissenberg, se pueden medir
las distancias recíprocas y las intensidades de difracción. Sin embargo, aquí es mucho más
facil observar los elementos de simetría del espacio recíproco.
La desventaja del método de precesión es consecuencia de que la película es plana en lugar
de cilíndrica, y el ángulo sólido explorado es menor. Este método se ha usado con éxito
durante muchos años.

Ilustración 14 Diagrama de precesión de un cristal de lisozima en el que fácilmente se distingue un eje de simetría
cuaternario perpendicular al diagrama. Debido a que los ejes de la celdilla elemental son grandes, la separación entre los
puntos recíprocos es pequeña

Método de oscilación
Cuando la red recíproca oscila un pequeño ángulo,
alrededor del eje de giro, pequeñas zonas de los diferentes
niveles de la red recíproca entran en contacto con la esfera
de Ewald, alcanzando las condiciones de máximo de
difracción. De este modo, sobre la pantalla del detector, la
geometría de oscilación produce máximos de difracción
procedentes de diferentes niveles de la red recíproca y
formando lúnulas sobre el diagrama (Ilustración 15).[3]
Ilustración 15
 Conclusión
La difracción de rayos X es un área compleja con múltiples ramificaciones que nos ayudan
en a encontrar respuestas a los problemas científicos en cuanto a estructuras respecta, con
estos métodos de difracción de rayos X tenemos la oportunidad de poder ver más allá de lo
que imaginamos, esto abre nuevas puertas en el área de la nanotecnología, la física y la
química en general, con los distintos métodos vistos anterior mente nos ayudan a tener una
visión clara para poder conocer las propiedades y características de los materiales, que al
final de todo para ello están diseñados. Con este trabajo comprendemos la importancia de las
técnicas de difracción de rayos X así como su funcionamiento, conocimos las partes de un
difractómetro de rayos X y además de analizar los resultados posibles de los métodos de
Laue, Weissenberg, Oscilación y Preseción.
 Bibliografía

[1] Introducción a la ciencia e ingeniería de materiales para ingenieros,

Shackelford,6ta Edicion, Pearson Education. México 2009

[2] Fisicoquimica, David Ball, 7ma Edición, Thompson Editorial, Mexico

2013

[3] Método de monocristal, Antonio Gomez, UNAM, Mexico 2011

[4] Introduccion a la critalografia, Gerardo Benez, SOFD editorial,

España 1998

[5] Mundo de cristal Principios de cristalografía, Veronica Moreno,

CIMAV, Chihuahua Mexico 2009