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Principios de

difracción de
rayos X
Ramos Curiel Lizbeth Guadalupe
Razo Torres Linda Maria
Tlachino Martinez Jorge Emilio
Un poco de historia…
En 1895, Wilhelm Conrad Röntgen, científico alemán de la Universidad de
Würzburg, descubrió un tipo de radiación (entonces desconocida y de ahí su
nombre rayos X) que tenía la propiedad de penetrar los cuerpos opacos.

Los rayos X son invisibles a nuestros ojos, pero producen imágenes visibles
cuando usamos placas fotográficas o detectores especiales para ello.
¿Cómo se generan los rayos X?
La mayor parte de la energía cinética de los electrones que golpean el ánodo se
convierten en calor y menos del 1% se convierte en rayos X.
Dentro de todo el espectro de rayos X para cristalografía solo se usa la zona
comprendida entre 0.5 y 3 Ǻ (conocidos como rayos X “duros”), dado que su
absorción es moderada (la penetración disminuye al aumentar la longitud de
onda) y su dispersión puede ser fácilmente detectada.
Radiación de rayos X
Generalmente para los rayos x se utiliza la radiación de
mayor intensidad que es kα que tiene una longitud de
onda para Mo de 0.7 A y para Cu de 1.54 A
Cuando los rayos X alcanzan un átomo interactúan con sus
electrones exteriores. Estos reemiten la radiación
electromagnética incidente en diferentes direcciones y con la
misma frecuencia. Los rayos X reemitidos desde átomos cercanos
interfieren entre sí constructiva o destructivamente
Fenómeno de difracción
¿Cómo funciona el fenómeno
de la difracción?
Cuando incidimos una longitud
de onda y tenemos una rejilla
con dos orificios cada uno de
ellos va a funcionar como un
nuevo emisor y por lo tanto
vamos a tener interferencia
constructiva en estos puntos
máximos de difracción e
interferencia destructiva en
medio.
Fenómeno de difracción
Difracción: es un fenómeno característico de las ondas que se basa en la
desviación de estas al encontrar un obstáculo o al atravesar una rendija
¿Cómo se puede utilizar este fenómeno para hacer

mediciones?
intro
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Ley de Bragg
William Henry Bragg y William Lawrence Bragg estudiaron este fenómeno de difracción
y lograron predecir las direcciones en las cuales un cristal podría tener interferencias
constructivas, denominando esta fórmula como la ley de Bragg, que nos indica que
cuando una longitud de onda interacciona con un átomo y es reemitida va a
interaccionar con la longitud de onda que interacciona con otro átomo y la única
manera en que esta segunda onda interaccione de una forma constructiva es que viaje
2 veces o un múltiplo de 2 veces la longitud de onda de tal manera que cuando lleguen
a la misma distancia que van a interaccionar se encuentren en fase y se encuentre una
interferencia constructiva.
¿Cómo se aplica la ley de Bragg?
§¿Como se aplica esta ley al cristal? Cuando irradiamos con rayos X a un cristal vamos a tener ciertos
puntos donde se va a cumplir la ley de Bragg y para que podamos recolectar todas las reflexiones posibles lo
que debemos de hacer es estar girando el cristal para que las reflexiones que no se encuentran permitidas
por la ley de Bragg en esa posición específica del cristal lo estén cuando se está girando.

§¿Porque funciona en los cristales? Cuando tenemos un cristal lo que observamos físicamente es algo
como en la imagen, una muestra que tiene caras y vértices bien definidos, sin embargo de forma interna los
cristales se encuentran bien ordenados, por ejemplo el cristal de NaCl y estos átomos que están
perfectamente bien ordenados forman un conjunto de planos. Si observamos la capa de arriba forma un plano
de átomos y capa de abajo forma otro plano de átomos. Si observamos únicamente los átomos en verde
forman un plano de átomos, cada uno está formando diferentes familias de átomos y son estos los que van a
interaccionar con los rayos X y van a remitir y formar las interferencias constructivas y destructivas
Planos en los cristales
Estos planos en los cristales van a tomar ¿Cómo se forma un cristal?
cierta nomenclatura dependiendo en donde
Si tenemos una molécula que se ordena por
estén cortando este plano a la celda
unitaria, que es la unidad más pequeña que así decirlo una pequeña caja mediante
se repite dentro de un cristal. diferentes operaciones de simetría esta caja
que nosotros vamos a definir se va a llamar
como la celda unitaria y esta es la unidad
más pequeña que se repite dentro de un
cristal dentro de las 3 dimensiones.
Tipos de celdas unitarias en 3D
Cómo caracterizar un compuesto químico?
Se puede realizar de dos modos:

Propiedades físicas: Propiedades químicas:

Color. Fórmula.

Olor. Peso molecular.

Estado de agregación.

Aspecto.

Densidad.
También se puede hacer por la manera en la que interactúa con el espectro electromagnético.

Espectroscopia de infrarrojo: Medida de la interacción de la radiación infrarroja de la materia por


absorción, emisión o reflexión.

Resonancia magnetica nuclear.


Difracción de rayos X
Para este caso es específico debemos obtener:

Unidad asimetrica (en este caso la molécula)

Los parámetros de la celda unitaria o bien las distancias como en el caso del ejemplo anterior, pero en
este caso al ser tridimensional debemos tener todos los parámetros de celda… A, B y C al igual que los
ángulos y el volumen
¿Cómo se determina una estructura cristalina?
Se obtiene una muestra en forma de monocristales

Se toma un solo cristal de la misma y se coloca en el portamuestras.

Se hacen incidir rayos X y se obtiene el patrón de difracción.

Mediante cálculos matemáticos de obtiene el mapa de densidad electrónica.

Después de una interpretación y diferentes ciclos de refinamiento se obtiene el modelo atómico, esa
unidad asimetrica que se va a repetir dentro de la celda unitaria.
¿Que caracteristicas debe tener una muestra
para que se realice un experimento de rayos X
de monocristal?
Con diferentes imágenes recolectadas se puede calcular lo que se denomina celda unitaria
Difracción de rayos X de polvos

Técnica que permite rápidamente identificar


substancias tanto en su forma pura como en una
mezcla, además de proveer información acerca de la
estructura cristalina la ausencia de cristalinidad de
un polvo desconocido
Requerimientos de la muestra y su preparación

Orientacion preferencial

Un requerimiento importante impuesto a


la muestra de alta calidad es lograr un
número infinito de orientaciones posible
de las partículas unas con respecto a
otras lo que implica orientaciones
completamente aleatorias

Los dos casos críticos de la no aleatoriedad en las distribuciones de la orientación de las


partículas debida a la distinta anisotropía de la forma de las partículas ya sea en forma de
placas o en forma de agujas. En la imagen muestra que las flechas indican las direcciones
entorno a las cuales las partículas podrían rotar libremente
Requerimientos de la muestra y su preparación
Ejemplos de portamuestras planos usados en difractómetros de polvos con geometría de
reflexión. El portamuestras de la izquierda tiene una cavidad, la cual se llena con el polvo.
El portamuestra de la derecha tiene un área rugosa en la cual se deposita una capa fina
del polvo.
Requerimientos de la muestra y su preparación
Una vez depositada la muestra en el portamuestra el exceso de polvo se remueve de un
solo barrido con una placa de vidrio. La dirección del barrido depende de las propiedades
físicas del polvo y es usualmente establecida por prueba y error
Interpretación de
los datos de
difracción de polvos
Interpretación de los datos de la difracción de
polvos
Dada la naturaleza del método de difracción de polvos, los datos resultantes
pueden ser empleados para obtener y/o confirmar la siguiente información

➔ Composición de fases del material, incluyendo análisis cualitativo y


cuantitativo acoplado con la búsqueda de varias bases de datos
➔ Indexado de las reflexiones de bragg, integración de las intensidades
observadas y parámetros precisos de red
➔ Distribución de átomos en la celda unitaria, esto implica la estructura cristalina
para verificar si el material posee una estructura ya conocida o resolver esta
de “primeros principios”
➔ Detalles precisos incluyendo posiciones de equilibrio de los átomos en la celda
unitaria, desplazamientos atómicos individuales y parámetros de población
empleando el método Rietveld
➔ Varias características estructurales microscópicas del espécimen
Evaluación de calidad del espécimen

Fragmentos de los patrones de difracción de tres diferentes


materiales
Bases de datos cristalograficas

La identificación de fases usando datos de difracción de


polvos requiere la comparación de características clave
presentes en su patrón digitalizado con compuestos/fases
conocidos. Esto es usualmente logrado buscando en bases
de datos, registros que coincidan con el patrón medido
experimentalmente
Ejemplo de un registro de la PDF
Aplicaciones de la
técnica de
difracción de rayos
X de polvos
Geología
➢ Identificacion y cuantificacion de minerales
➢ Medición de propiedades de hidratación
➢ Determinación de la pureza de un espécimen
➢ Determinación del grado de cristalinidad y desviación de la
estructura nativa
Ciencias de los materiales
➢ Identificación de materiales desconocidos
➢ Provee evidencia de transiciones de fase
➢ Estudio de estres residual
➢ Determinación de tamaño promedio de la partícula
➢ Estudio de distorsiones de red e imperfecciones de apilamiento
Industria de los polímeros
➢ Determina el grado de orientación
➢ Determinación de cristalinidad
➢ Determinación de la resistencia
➢ Estudio de polimorfismo
➢ Medición de la orientación de las cadenas por la función de Herman
Industria de los polímeros
Polizzi y colaboradores desarrollaron
un método para determinar la
cristalinidad de polímeros
semicristalinos a partir del patrón de
difracción en cual es aplicado en
varias industrias como herramienta
de control de calidad para medir
características del polímero como
termoestabilidad, opacidad,
resistencia mecánica entre otras
Materiales composito
● Conformación de la presencia de los componentes de interés
● Dirección de transformación de fases
● Identificación de fases detección de impurezas
● Detección de fases amorfas
● Conservación de la estructura nativa después de un proceso
● Detección de orientación de fases cristalinas
● Determinación de distancias entre capas estructurales usando la ley
de Bragg
Remediación material
● Determinación de concentraciones de minerales en partículas de
polvos y sedimentos
● Identificación de minerales en suelos urbanos
● Caracterización de sensores de contaminantes (ejemplo: nanotubos
con CuS)
Farmacéutica
● Determinación/confirmación de la forma final de los ingredientes
farmacéuticamente activos
● Determinación del tipo de muestras (cristalina o amorfa)
● Identificación de impurezas
● Cuantificación de ingredientes en los fármacos terminados
● Monitoreo de los cambios estructurales que podrían ocurrir durante
la formulación de los fármacos
● Estudio de polimorfismo / Caracterizacion y cuantificacion de
polimorfos
● Evaluación de las temperaturas y humedad que afectan a la calidad y
estabilidad del fármaco (mediante temperatura variable)
Laboratorios forenses
● Utilizado para el análisis de diferentes sustancias de interes forense
tales como: Piezas de tela, manchas de lapiz labial, explosivos,
materiales de construcción, polvos, minerales, drogas, pinturas, papel,
pigmentos, etic.

Aventaja a otras técnicas de análisis por su carácter no destructivo y por


permitir tanto la identificación de la sustancia y forma de la misma (fase)
como la detección de sustancias adulterantes.
Bibliografia
Bibliografia
★ de Alicante, S. T. D. I. U. (2020, 11 abril). DIFRACCIÓN DE RAYOS X. Servicios
Técnicos de Investigación. Servicios técnicos de información.
https://sstti.ua.es/es/instrumentacion-cientifica/unidad-de-rayos-x/difraccion-de-
rayos-
x.html#:%7E:text=La%20Difracci%C3%B3n%20de%20Rayos%20X,de%20onda%20de
%20la%20radiaci%C3%B3n.
★ https://www.upct.es/~minaeees/difraccion_rayosx.pdf
★ Pecharsky V. K., Zavalij P. Y., Fundamentals of powder diffraction and structural
characterization of materials, Springer Science+Business Media, Inc., USA, 2003
★ Sanchez G. E., Jung C. H., Yépez M. L., Hernández-ABAD V., Revista Mexicana de
Ciencias Farmaceuticas

Videos mostrados
https://www.youtube.com/watch?v=e0ojoyUCtPc → Difracción de rayos X
https://www.youtube.com/watch?v=NOQJ-NLixj4 → Determinación de las estructuras
cristalinas: Difracción de rayos X | 4/22 | UPV

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