ALDACO CUEVAS MARIA DE JESUS

El fenmeno de la difraccin de Rayos X consiste en un proceso de interferencias constructivas de ondas de rayos X que se produce en determinadas direcciones de espacio. Significa que las ondas tienen que estar en fase, lo que ocurre cuando su diferencia de trayectoria es cero o un mltiplo entero de longitudes de onda.

Mtodos fotogrficos (cmaras DebyeScherrer). Difractmetro de polvo. La diferencia es en las cmaras de polvo, el espectro se registra en una pelcula fotogrfica, en la que la densidad de ennegrecimiento indica la intensidad de las radiaciones reflejadas. En el difractmetro de polvo, se obtiene un registro grfico de las seales que las reflexiones originan en detectores electrnicos de radiacin.

posee una geometra de tipo Bragg-Brentano en el que, el contador electrnico puede formar un ngulo variable (2 = 3-110) con el haz incidente de RX. Cuando la muestra gira un ngulo el contador gira 2, y se denomina Difractmetro de dos crculos. En un difractmetro la muestra se sita en el centro de eje del gonimetro de precisin, cuya velocidad angular es 2:1 con el detector. El difractograma consiste de picos distribuidos en funcin de valores angulares, 2, y corresponden a las reflexiones que representan. Las alturas de estos mximos y sus reas constituyen magnitudes de intensidades de reflexiones.

La identificacin de una fase cristalina por este mtodo se basa en que cada sustancia cristalina tiene un diagrama de RX caracterstico. Estos diagramas estn coleccionados en fichas, libros y bases de datos del Joint Committee on Powder Difraction Standards y agrupados en ndices de compuestos orgnicos, inorgnicos y minerales. Se trata, de encontrar el mejor ajuste del diagrama problema con uno de los coleccionados.

Un mtodo adecuado es el de Hanawalt, en el que cada diagrama aparece caracterizado por los tres picos de difraccin ms intensos. Contiene un sistema de subgrupos resultante de dividir el rango de los valores de d en 47 regiones, cada una contiene un nmero igual de diagramas. Cada diagrama con sus tres lneas ms fuertes est asignado a un grupo. Todos los diagramas asignados a cada Grupo Hanawalt estn ordenados de forma que en la primera columna aparece el valor de d correspondiente a la lnea ms intensa, en la segunda columna aparece el valor de d correspondiente a la siguiente lnea en intensidad y en la tercera columna aparece el valor de d correspondiente a la tercera lnea ms intensa y en las cinco columnas restantes aparecen los valores de d siguiendo el mismo orden decreciente, tanto en su valor como en el de la intensidad.

A continuacin de las columnas correspondientes a los valores de d, ordenados segn valores decrecientes de intensidad, aparece la frmula qumica, el nombre y el nmero de la ficha de la sustancia correspondiente. Al analizar diagramas desconocidos, los pasos a seguir son los siguientes: Se ordenan los valores de d en orden decreciente de intensidad. Se busca el grupo Hanawalt adecuado en el manual de bsqueda con el valor de d correspondiente a la lnea ms intensa.

Se comprueba que la d de la segunda lnea ms intensa se ajuste con el valor de d de la segunda columna del grupo Hanawalt correspondiente del manual de bsqueda. Se toma el valor de d de la tercera lnea ms intensa del diagrama desconocido y se comprueba si se ajusta con el valor de d la tercera columna Hanawalt del manual de bsqueda.

Si se ajustan los valores de d del diagrama desconocido con los del grupo de Hanawalt del manual de bsqueda se toma la ficha correspondiente y se acaba de comprobar el ajuste de todos los valores de d del diagrama desconocido con los de la ficha. Si las lneas seleccionadas no dan juntas buen ajuste, se eligen otras combinaciones de lneas del diagrama desconocido.

En el caso de que el diagrama desconocido corresponda a una mezcla de sustancias se sustrae el diagrama encontrado del experimental y se repite de nuevo el proceso (pasos 1 a 6) hasta que todas las lneas significantes del diagrama experimental se ajusten a algn diagrama de las fichas. A la hora de repetir el proceso hay que tener en cuenta que un mismo pico de difraccin puede corresponder a ms de una sustancia y uno se da cuenta observando las intensidades del pico del diagrama experimental y de la ficha, pues cuando el experimental muestra una intensidad muy superior al de la ficha hay que sospechar que corresponde a ms de una sustancia

ALDACO CUEVAS MARIA DE JESUS

En este mtodo se utiliza un monocristal estacionario, y se sita una placa fotogrfica o pelcula plana encerrada en un sobre a prueba de luz a una distancia conocida, generalmente a 5 cm del cristal. Un haz de rayos X blancos se hace incidir en el cristal perpendicularmente a la placa fotogrfica. El haz directo produce un ennegrecimiento en el centro de la pelcula y, por tanto, generalmente se pone un pequeo disco de plomo delante de la pelcula para interceptarlo y absorberlo. .

El ngulo de incidencia entre el haz de rayos X y los distintos planos atmicos con su espaciado caracterstico es un dato fijo. Sin embargo, como todas las longitudes de onda se hallan presentes, se puede satisfacer la Ley de Bragg para cada familia de planos atmicos si la relacin 2*d*sen q / n est comprendido en el rango de longitudes de onda que produce el tubo. Alrededor del punto central en una fotografa Laue aparecen manchas de difraccin, cada una de ellas el resultado de la reflexin de los rayos X sobre una serie dada de planos atmicos.

El mtodo de Laue, aunque de gran inters histrico, ha sido en gran parte reemplazado por otros mtodos ms potentes de anlisis. Hoy da se emplea generalmente para determinar la simetra: si un cristal se orienta de tal manera que el haz incidente sea paralelo a un elemento de simetra, la disposicin de las manchas en la fotografa revela su simetra. Una fotografa segn este mtodo de un mineral tomado con el haz incidente paralelo al eje binario de un cristal monoclnico, mostrar una disposicin binaria de manchas; si el haz es paralelo al plano de simetra, la fotografa presentar una lnea de simetra; si es un cristal rmbico mostrar una distribucin doble de las manchas, con dos ejes de simetra

Un inconveniente que surge con esta tcnica es que los rayos X no distinguen entre extremos opuestos de un eje polar, y por eso los efectos de difraccin introducen siempre un centro de simetra

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En el mtodo del cristal giratorio y las tcnicas que derivan de l, se emplea un monocristal. El cristal debe orientarse de tal manera que pueda hacerse girar segn uno de los ejes cristalogrficos principales. Si aparecen las caras, la orientacin se realiza ms fcilmente en un gonimetro ptico; sin caras, la orientacin es posible pero laboriosa. La cmara es un cilindro de dimetro conocido, coaxial con el eje de giro del cristal, y que lleva en su interior una pelcula fotogrfica protegida de la luz por una cubierta de papel negro. El haz de rayos X monocromticos entra en la cmara a travs de un colimador e incide sobre el cristal. En estas condiciones, con el cristal quieto, solo se producen reflexiones fortuitas. Sin embargo, si el cristal se hace girar lentamente, varias familias de planos reticulares sern llevados a posiciones tales que para ellos el ngulo q con una l dada cumpla la ecuacin de Bragg. Una familia de planos dada producir reflexiones separadas cuando N = 1, 2, 3, etc. o

Cuando se toma una fotografa de rotacin, el cristal gira alrededor de una de las filas reticulares principales, generalmente un eje cristalogrfico. Esta fila reticular es perpendicular al haz incidente, y por lo tanto los rayos difractados estarn siempre contenidos en conos cuyos ejes son comunes con el eje de rotacin del cristal. Asimismo, este eje es el de la pelcula cilndrica, por lo que la interseccin de los conos sobre la pelcula ser una serie de crculos, que al revelar la pelcula y aplanarse aparecen como lneas rectas paralelas.

Cada una de ellas es una lnea de capa, que corresponde a un cono de rayos difractados para los cuales n tiene un cierto valor entero. De esta forma, la lnea de capa que incluye el rayo incidente se denomina capa cero o ecuador, la primera lnea es la que cumple n = 1, la segunda n = 2 y as sucesivamente. Las lneas de capa no son continuas puesto que las distintas manchas de difraccin aparecen solo cuando los tres conos se cortan.

La separacin de las lneas de capa viene condicionada por los ngulos de los conos, que a su vez depende de la periodicidad de la fila reticular alrededor de la cual se hace girar el cristal. Por lo tanto, conociendo el dimetro de la pelcula cilndrica, la longitud de onda de los rayos X y la distancia de la capa n sobre el ecuador en la pelcula, podemos determinar el espaciado o periodo de identidad a los largo del eje de rotacin del cristal.

Si en el mtodo del cristal giratorio se toman fotografas de rotacin con el cristal girando alrededor de cada uno de los tres ejes cristalogrficos, podemos determinar las dimensiones de la celda unidad, de modo que los periodos de identidad determinados al girar el cristal sucesivamente son las aristas de la celda unidad, lo cual es cierto sea cual fuere la simetra del cristal. No obstante, en el sistema cbica basta una sola fotografa para determinar la magnitud de la arista; en el hexagonal y tetragonal hacen falta dos.

Es deseable identificar con frecuencia aquellas manchas especficas que aparezcan en la pelcula y, por tanto, los planos atmicos correspondientes. Este proceso de correlacin, llamado numeracin del diagrama no puede hacerse con una fotografa de rotacin, puesto que la orientacin cristalina no se conoce completamente. Sin embargo, se han ideado varias modificaciones del mtodo de rotacin para permitir una numeracin completa de las rotaciones. Las ms corrientemente utilizadas son los mtodos de Weissenberg y de precesin.

En el mtodo Weissenberg, la cmara se traslada acercndose y alejndose durante la rotacin del cristal, y las manchas de una lnea de capa se esparcen en festones sobre la pelcula, de modo que aunque es muy laborioso, cada mancha puede ser numerada. El mtodo de precesin suministra la misma informacin en una forma ms directa; en este mtodo, un cristal y una pelcula plana se mueven con movimiento giratorio complejo, compensando mecnicamente las distorsiones producidas por el mtodo anterior. De este modo, se obtiene una gran cantidad de datos de una manera fcilmente utilizable, dejando claro que se puede obtener informacin valiosa de una fotografa de rotacin sin necesidad de identificar las reflexiones individuales.

FIN