Difracción de rayos X

Docente
Dr. Carlos Andrés Hernández Barrios

Alumnos
Angélica Arango Martínez

Curso
Ciencia de los materiales

Universidad de san Buenaventura

Facultad de Ingeniería
Programa de Ingeniería Química
Cartagena de Indias
Septiembre 09, 2019
Definición

La diffraction de rayos X es uno de los fenómenos físicos que se producen al interaccionar un haz
de rayos X, de una determinada longitud de onda, con una sustancia cristalina. La difracción de
rayos X se basa en la dispersion coherente del haz de rayos X por parte de la materia (se mantiene la
longitud de onda de la radiación) y en la interferencia constructiva de las ondas que están en fase y
que se dispersan en determinadas direcciones del espacio. [1]

Antes de concretar la definición de esta técnica, enfocándonos en la aplicación para la

determinación del tipo de estructuras cristalinas, se deben definir conceptos básicos en los
cuales se basa la teoría:

Difracción: Es un fenómeno que experimentan los distintos tipos de ondas. Cuando una
onda se propaga a través de un medio, ya sea físico o el vacío, y esta se encuentra con una
barrera sólida que posee al menos una abertura cuyo tamaño es relativo al de la longitud de
onda de la onda, entonces, esta última, al atravesar dicha abertura, se propagara con sus
mismas propiedades, pero, ondulatoriamente. [2]

Rayos X: Son ondas electromagnéticas capaces de propagarse a través de medios físicos o

el vacío, y poseen una longitud de onda comprendida entre 10 a 0.01 nanómetros. [3]

Con base a lo anterior, y acorde a las lecturas previas sobre la cristalografía, se puede
afirmar que la difracción de rayos X es una técnica experimental utilizada para reconocer la
estructura cristalina de algunos materiales(ver figura 1), mediante la emisión de un haz
intenso de ondas electromagnéticas que atraviesan la estructura cristalina del material y al
hacer contacto con los electrones de los átomos situados en las celdas unitarias, produce
interferencias constructivas que provocan la difracción del haz bajo condiciones
específicas.

Imagen 1. Proceso de difracción

Fuente. https://www.xtal.iqfr.csic.es/Cristalografia/parte_02.html
Fundamentos de las técnicas

Ley de Bragg: El fenómeno de la difracción puede describirse con la ley de Bragg, que pre
predice la dirección (índices de Miller) en la que se da interferencia constructiva entre
haces de rayos X dispersados coherentemente por un cristal [1]

Cuando un haz de rayos X es emitido de los electrones de un átomo a otro, se genera una
interferencia entre las ondas, la cual puede ser constructiva si estas ondas se combinan en
una onda de mayor amplitud a cada una, o destructiva, si al combinar se genera una onda de
menor amplitud a la saliente.

Si un haz de rayos X de longitud de onda λ, penetra con un ángulo θ respecto a una serie de
planos separados por una distancia d(ver figura 2), la relación entre estas propiedades es
descrita por la ley de Bragg.

n λ=2 d Sen θ

Donde n es un numero entero especifico.

Imagen 2. Ley de Bragg.

Fuente. http://servicios.fis.puc.cl/rayosx/teoria.html
Equipo y sus partes

Los rayos X son altamente energéticos debido a su baja longitud de onda. a partir un tubo
de rayos X (Ver figura 3).

Imagen 3. Equipo de rayos X

Fuente. https://www.equiposylaboratorio.com/sitio/contenidos_mo.php?it=3087

Para un equipo de Rayos X:

Ánodo: también conocido como blanco o anticátodo, se encuentra generalmente formado

por una pieza de cobre (Cu) con un blanco de tungsteno (W) o molibdeno (Mo). El blanco
de W o Mo debe ser altamente refractario (Ver figura 4), pues deberá conservar sus
propiedades a altas temperaturas, mientras que debe estar adherido a un material como el
Cu que funcione de disipador del calor al que es sometido.

Cátodo: compuesto por un filamento metálico, es calentado por una corriente eléctrica, lo
que imparte calor a sus átomos y genera una “nube” de electrones libres en su superficie
(Ver figura 4). Para generar esta nube, es necesario que el filamento alcance temperaturas
muy elevadas, por lo que, aprovechando su alta temperatura de fusión, el filamento suele
también ser de W, y la cantidad de electrones en la nube dependerá de la corriente en el
filamento.
Imagen 4. Tubo de rayos X.

Fuente. https://www.famaf.unc.edu.ar/~pperez1/manuales/cdr/tubos-de-rayos-x.html

Al aplicarse un diferencial de potencial ∆V entre el ánodo y el cátodo sabiendo que ánodo

ces positivo (+), los electrones (de carga negativa) que han sido desprendidos del cátodo
por el calentamiento (se encuentran libres) se dirigirán al ánodo acelerándose por el campo
eléctrico. Así, alcanzarán su velocidad máxima al llegar al ánodo. La energía cinética
(asociada a la velocidad) de los electrones alcanzará un máximo dependiente del voltaje
aplicado. Al tratarse de electrones, se puede expresar esta energía en electronvoltios (eV) y
la máxima energía alcanzada corresponde numéricamente a la diferencia de potencial. Así,
para una variación de potencial en 100 kV, tendremos electrones con una energía máxima
de 100 kV.

Al impactar (y frenar bruscamente) contra el blanco de W, y perder toda su energía

cinética, los electrones producen rayos X, principalmente por dos procesos físicos:

Bremsstrahlung: por frenado por interacción colombiana del electrón incidente y el campo
nuclear de los átomos del ánodo.

Rayos X característicos: el electrón incidente interactúa con un átomo blanco, eyecta un

electrón de una de las capas y genera una vacancia que es ocupada por un electrón de
energía superior; el que libera un fotón con energía cinética correspondiente a la diferencia
de energía entre las capas. [4]
MÉTODOS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X

Existen tres métodos para producir difracción de rayos X. Método de Laue, Método de rotación de
cristal y método Powder.

Método de LAUE: Consiste en hacer incidir en un cristal un espectro continuo de rayos X, de tal
manera que, para cada longitud de onda, existirá un determinado ángulo. Inicia colocando una
película detrás del cristal; La película se interpone entre la fuente y el cristal, esta posee un agujero
Que deja pasar los haces de rayos X. En el método de transmisión de Laue los haces difractados
forman un patrón de machas circular o elíptico como se muestra en la figura 5, los patrones
formados en este método se ven como hipérbolas.

Imagen 5. Método de LAUE.

Fuente. https://www.equiposylaboratorio.com/sitio/contenidos_mo.php?it=3087

Método de rotación de cristal: Se hace incidir un haz de rayos X monocromáticos sobre un cristal.
Para detectar los haces difractados, la película es envuelta de forma cilíndrica de tal manera que
rodee al cristal. El cristal se hace girar sobre el eje perpendicular al haz incidente, el cual coincide
con el eje del cilindro. Para encontrar el ángulo al cual se cumple la ley de Bragg, el giro del cristal
se hace sucesivamente de 0° a 90°, hasta encontrar el patrón de difracción mostrado en la figura 6.

Imagen 6. Método de ROTACION DE CRISTAL.

Fuente. https://www.equiposylaboratorio.com/sitio/contenidos_mo.php?it=3087
Método de Polvo: El cristal a estudiar es reducido a polvo de tal manera que forme un conjunto de
pequeños cristales. Si se tuviese un cristal y en él se hiciera incidir un haz monocromático, el haz se
difractaría a un ángulo en particular. Al hacer girar este cristal de 0° a 360°, el haz formará un cono
cuyo eje coincide con el del haz incidente. El interés de este método en tomar varios cristales, es
formar este cono con las distintas orientaciones posibles de los diversos cristales
Aplicaciones

Los rayos X son utilizados en numerosos campos de estudio de la ciencia, puesto que
gracias a ellos han habido avances transcendentales empíricos tal y como en el estudio del
ADN, la medicina, la química, entre otros.

Específicamente en la cristalografía, los rayos X son utilizados para conocer la estructura

de las celdas unitarias que conforman a un material, ya que, como es bien sabido, se
necesita conocer el patrón mínimo de una estructura cristalina homogénea para determinar
la estructura completa, y todo esto es debido al carácter repetitivo que poseen los
materiales.

En la práctica, una de las técnicas utilizadas para el reconocimiento de la estructura de

materiales cristalinos es el método del polvo cristalino. Este método consiste en una
maquina productora de rayos X, un objeto giratorio y un receptor de rayos X. La muestra a
analizar es pulverizada finamente, y luego, es colocada en el porta muestras, de manera que
quede dispersa en una capa delgada. Posteriormente, un haz de rayos X se le aplica a la
muestra, y debido al fenómeno de difracción, este haz es captado por el receptor, paralelo al
punto de origen de los rayos X. El efecto giratorio del portamuestras tiene la finalidad de
descubrir el patrón completo del haz difractado en el receptor. La realización de un análisis
completo conlleva a la variación en la intensidad de la frecuencia del haz de rayos X y en la
del ángulo de incidencia en la muestra. [5]

Imagen 5. Ilustración de la difracción de rayos X.

Fuente. https://franchsebs.files.wordpress.com/2007/12/5.pdf
Interpretación de resultados

Todos los datos obtenidos mediante el uso de la técnica del polvo cristalino son ilustrados
en una tabla conocida como difractograma. Esta tabla grafica el comportamiento de la
muestra, en un plano donde las abscisas indican el ángulo de incidencia del haz, y las
ordenadas, la intensidad del mismo. [6]

Imagen 6. Difractograma del carburo de titanio.

Fuente. https://www.researchgate.net/figure/FIGURA-5-Difractograma-de-rayos-X-de-un-deposito-
caracteristico-de-carburo-de-titanio_fig3_233733622

Tal y como se puede ver en la imagen 4, para cada pico de la gráfica, hay asociado un
plano, cuyos índices son obtenidos mediante la ley de Bragg.

Los datos obtenidos representan un patrón particular que, al ser introducidos en una base de
datos, se puede obtener la información suficiente para determinar, mediante comparación,
el tipo de material al que pertenece la muestra, ya sea homogéneo, como un elemento puro,
o heterogéneo, como una mezcla de componentes. [6]

¿Cómo hallar los índices de Miller de los planos situados en los picos?

Para cada pico de intensidad, hay asociado un plano, cuyo valor en los índices de Miller
aumenta a medida que aumenta el número de picos.
Para poder hallar lo índices de Miller, se debe tener en cuenta datos previos del material a
analizar, tales como:

-Densidad
-Masa atómica
-Estructura cristalina

Con dichos datos, se puede obtener el parámetro de red mediante la ecuación:

ρ=m¿ átomos /Vcelda NA

Y, utilizando la ecuación de Bragg, se puede hallar la distancia interplanar, teniendo en

cuenta el ángulo de incidencia y la longitud de onda:

n λ=2 d Sen θ

d=n λ/2 Sen θ

Una vez tenido el parámetro de red y la distancia interplanar, se puede hallar la suma de los
cuadrados de los índices de Miller:

d=a/(h ²+k ²+l ²)½

h ²+ k ²+l ²=(a /d)²

Si bien, nos hemos acercado a el valor de los índices de Miller, es matemáticamente

imposible hallar los valores exactos de 3 variables en una única ecuación. Es por ello que se
recurre a la lógica cristalográfica para deducir los índices de Miller. [7]
Experimentalmente se conocen ciertas relaciones de los índices en base a la estructura
cristalina del material:

Si h + k + l = número par, se trata de una CCCu.

Si h, k y l son todos números pares o impares, entonces, se trata de una estructura CCCa.

Se tiene en cuenta que el cero es un numero par.

Importante: Lo anterior no indica que dichos planos sea imposible que existan en la
estructura cristalina a la que no pertenecen, sino que, dichos planos son los que se pueden
observar dependiendo de la estructura que se tenga. [8]

Para plantear los índices de los planos, se adiciona la unidad, plano por plano, al plano (0 0
0), de tal manera que se sigue el orden h, k, l, hasta que todos los índices tengan el mismo
valor de h. Una vez h cambia de valor, se reinicia el conteo para los otros índices de Miller,
a partir de cero, hasta que vuelvan a alcanzar todos el mismo valor de h.

En base a lo anterior, se deducen ordenadamente planos para CCCu, y para CCCa, y

también planos compartidos por ambos.

Finalmente, en base al difractograma obtenido, se asignará, de izquierda a derecha, un

plano a cada pico, respectivamente, dependiendo de si el material es CCCa o CCCu.

Excepcionalmente, si, de manera experimental, se obtuvo:

h + k + l = 2,

siendo la estructura de la forma CCCa, se evidenciará que no se puede cumplir la condición

anterior de que, para CCCa, todos los índices deben ser pares o impares, y se puede
confundir con la estructura CCCu.
Los índices de Miller para los posibles planos que cumplen dicha condición son:

(1 1 0), (1 0 1) y (0 1 1).

Como necesariamente debe haber un plano de CCCa que cumpla con el dato experimental
anterior, se deduce que el único plano indicado es el (1 1 0), puesto que, a pesar de que
cumple la regla empírica de distinción entre CCCa y CCCu, es el único que cumple el
orden indicado inicialmente para el planteamiento de los planos, ya que sigue el orden h, k
y l. [8]

Caso inverso

En caso de que se obtenga el plano

(2 0 0),

y se necesite saber si pertenece a una CCCu o CCCa, se procede a un artificio de

diferenciación analítica:

Si CCCu: d (2 0 0)/d (1 10)=(a /2)/( a/2½)=0.707

Si CCCa: d (2 0 0)/d (1 11)=( a/2)/(a /3½)=0.866

Donde el denominador es el plano anterior perteneciente a la estructura, ya sea CCCu o

CCCa. [8]
Referencias
[1] http://www.ehu.eus/imacris/PIE06/web/DRXP.htm
[2] e-ducativa. Visitado el 01/09/19. 4.1 Reflexión, refracción y difracción. [Online]
Disponible en: http://e-
ducativa.catedu.es/44700165/aula/archivos/repositorio/3000/3210/html/41_reflexin__refrac
cin_y_difraccin.html

[3] Wikipedia. Visitado el 01/09/19. Rayos X. [Online] Disponible en:

https://es.m.wikipedia.org/wiki/Rayos_X

[4] P. Pérez. (2018). Tubos de rayos X. [Online] Disponible en:

https://www.famaf.unc.edu.ar/~pperez1/manuales/cdr/tubos-de-rayos-x.html

[5] Servicio Geológico Mexicano. (marzo 22, 2017). [Online] Disponible en:

https://www.sgm.gob.mx/Web/MuseoVirtual/Minerales/Difraccion-de-rayos-X.html

[6] Olga Payán. (abril 25, 2018). DIFRACCIÓN DE RAYOS X (ANÁLISIS DE

DIFRACTOGRAMAS). [Online] Disponible en:
https://assesmentandpreservation.blogspot.com/2018/04/difraccion-de-rayos-x-analisis-
de.html?m=1

[7] Franchino Viñas, S. A., Hernández Maiztegui, F., Muglia, J., Panelo, M., Salazar
Landea, I. Visitado el 08/09/19. Determinación de los índices de Miller de
planos en cristales de Cu y GaP. [Online] Disponible en:
https://franchsebs.files.wordpress.com/2007/12/5.pdf

[8] El Curso de Ciencias de los Materiales. Visitado el 08/09/19. 4.2 DETERMINACIÓN

DE LAS DISTANCIAS INTER-PLANARES EN REDES CUBICAS. [Online] Disponible
en: http://personales.upv.es/~avicente/curso/unidad3/determinacion2.html