REALIZADO POR:

Eros Illescas

DIFRACCIÓN DE
RAYOS X (XRD)

INTRODUCCIÓN PROCESO XRD

La cristalografía se dedica al estudio de El rayo incide en un cristal e interactúa con los electrones que
la estructura atómica y molecular de dispersan la radiación en todas direcciones gracias a la carga
los cristales. Un cristal es un sólido en que poseen ya que los rayos son radiación electromagnética
el que los átomos se encuentran de
manera ordenada y periódica en una
red. La difracción nos permite
determinar la estructura atómica
tridimensional de materiales los
cristalinos.
cristalinos

DIFRACTÓMETRO
La radiación dispersada se combina en el espacio donde
DE RAYOS X (XRD) dependiendo de la dirección, pueden sumarse o destruirse
Aquí entra la Ley de Bragg que establece las condiciones para
una interferencia constructiva en el cristal. La distancia entre
los átomos en la estructura cristalina debe ser igual a un
número entero de veces la longitud de onda de los rayos

Instrumento que mide y analiza los

patrones de difracción de rayos X
producidos cuando un haz de estos
incide en una muestra cristalina. De
este modo, permite determinar la
estructura atómica y molecular del
cristal
COMPONENTES
Cuando se cumple la Ley de Bragg, los máximos formados se
presentan como puntos brillantes, donde, según su disposición e
intensidad proporcionan información sobre la estructura
INTERPRETACIÓN
Toma en cuenta diversos factores como lo son la intensidad,
posición y forma de las manchas formadas en el detector, los
ángulos de difracción con los que se determina la separación
entre los planos atómicos y la fase de la onda difractada según
su longitud.

APLICACIÓN
Determinación de la estructura cristalina, esto es, la
El XRD se compone por (1) la fuente de distancia entre átomos, ángulos entre planos y otros detalles.
rayos X, (2) la rendija de dispersión que Identificación de fases donde cada una representa un cristal
controla y ajusta la dispersión de diferente.
radiación en una dirección específica, Analizar las imperfecciones o defectos que presentan.
(3) el sujetador de muestra, (4) la Estudio de propiedades físicas.
rendija antidispersión que minimiza la Diseño de materiales.
dispersión de partículas en direcciones Investigación en nanotecnología.
no deseadas, (5) la rendija del detector
limita la radiación que pasa a una sola
dirección, (6) el monocromador solo
deja pasar una longitud de onda, (7) el
detector captura los rayos dispersados y
(8) el goniómetro rota la muestra en y
registrar los patrones de difracción
según la orientación de la muestra

Referencias:

INSTITUTO POTOSINO DE INVESTIGACIÓN CIENTÍFICA Y TECNOLÓGICADIVISIÓN DE MATERIALES

AVANZADOS. “Manual de Operación del difractómetro de rayos X”. LINK
Espectrometría (2020). “Ventajas de espectrómetro de rayos X”. LINK