Tecnológico Nacional de México/ Instituto

Tecnológico de Parral Ingeniería Industrial

PROPIEDAD DE LOS
MATERILES
Trabajo de Investigación Documental Ley de
Bragg y Difracción de Rayos X

POR: MAURO OCTAVIO SANCHEZ

NAVARRETE 21410020

CATEDRATICO: EMILIO YAÑEZ TERRAZAS

AGOSTO 2021
 Ley de Bragg

Cuando los rayos X son dispersados por una red cristalina, se observan picos de
intensidad dispersada, que corresponden a las siguientes condiciones:

1. El ángulo de incidencia = ángulo de dispersión.

2. La diferencia de longitud de trayectorias es igual a un número entero de
longitudes de onda.

La condición de máxima intensidad contenida en la ley de Bragg de arriba, nos

permite calcular detalles sobre la estructura cristalina, o si se conoce la estructura
cristalina, determinar la longitud de onda del rayo X incidente sobre el cristal.

Espectrómetro de Bragg

Mucho de nuestro conocimiento sobre la estructura cristalina, y la estructura de

moléculas tan complejas como la del ADN en forma cristalina, proviene de la
utilización de los rayos X en los estudios de difracción de rayos x. Un instrumento
básico para tal estudio es, el espectrómetro de Bragg.
Para obtener rayos X casi monocromáticos y producir los rayos X característicos,
se usa un tubo de rayos X. Con el fin de eliminar la mayor cantidad de radiación
continua brehmsstrahlung posible, se usan sobre el haz de rayos X filtros
emparejados, para optimizar la fracción de energía que está en la línea alfa-K. Tales
filtros, utilizan elementos que están justo por encima, y justo por debajo, del metal
objetivo de los rayos X, haciendo uso de los fuertes "bordes de absorción", justo por
encima y por debajo de la energía alfa-K del metal objetivo.

Los rayos X están colimados con aberturas en un fuerte absorbente de rayos X,

(generalmente plomo), y el estrecho haz de rayos X se hace golpear el cristal objeto
del estudio. La disposición del espectrómetro, acopla la rotación del cristal con la
rotación del detector, de manera que el ángulo de rotación del detector es el doble
que el del cristal. Esto satisface las condiciones de la ley de Bragg para la difracción
de los rayos X por los planos de la red cristalina.

(Nave, s.f.)
 DIFRACCIÓN DE RAYOS X
En 1912 se estableció de manera precisa la naturaleza de los rayos X. En ese año
se descubrió la difracción de rayos x en cristales y este descubrimiento probó la
naturaleza de los rayos X y proporcionó un nuevo método para investigar la
estructura de la materia de manera simultánea. Los R-X son radiación
electromagnética de la misma naturaleza que la luz pero de longitud de onda mucho
más corta. La unidad de medida en la región de los r-x es el angstrom (Å), igual a
10-10 m y los rayos x usados en difracción tienen longitudes de onda en el rango
0.5-2.5 Å mientras que la longitud de onda de la luz visible está en el orden de 6000
Å. De acuerdo con la teoría cuántica, la radiación electromagnética puede
considerarse tanto un movimiento ondulatorio como un haz de partículas llamadas
fotones. Cada fotón lleva asociada una energía hν, donde h es la constante de
Planck (6.63x10-34 J·s); se establece así un vínculo entre las dos teorías ya que la
frecuencia del movimiento ondulatorio puede calcularse a partir de la energía del
fotón y viceversa.

La Difracción de Rayos X está basada en las interferencias ópticas que se producen

cuando una radiación monocromática atraviesa una rendija de espesor comparable
a la longitud de onda de la radiación. Los Rayos X tienen longitudes de onda de
Angstroms, del mismo orden que las distancias interatómicas de los componentes
de las redes cristalinas. Al ser irradiados sobre la muestra a analizar, los Rayos X
se difractan con ángulos que dependen de las distancias interatómicas. El método
analítico del Polvo al Azar o de Debye-Scherrer consiste en irradiar con Rayos X
sobre una muestra formada por multitud de cristales colocados al azar en todas las
direcciones posibles. Para ello es aplicable la Ley de Bragg: nλ = 2d. sen θ, en la
que “d” es la distancia entre los planos interatómicos que producen la difracción.

Aplicaciones

La difracción de rayos-x es un método de alta tecnología no destructivo para el

análisis de una amplia gama de materiales, incluso fluidos, metales, minerales,
polímeros, catalizadores, plásticos, productos farmacéuticos, recubrimientos de
capa fina, cerámicas y semiconductores. La aplicación fundamental de la Difracción
de Rayos X es la identificación cualitativa de la composición mineralógica de una
muestra cristalina

Otras aplicaciones son el análisis cuantitativo de compuestos cristalinos, la

determinación de tamaños de cristales, la determinación del coeficiente de
dilatación térmica, así como cálculos sobre la simetría del cristal y en especial la
asignación de distancias a determinadas familias de planos y la obtención de los
parámetros de la red.

Además, uno de los equipos de difracción que posee la unidad se puede configurar
para obtener las siguientes aplicaciones:

• SAX. Esta función permite adquirir información sobre la estructura del

material, por ejemplo, el tamaño y forma de las partículas.
• Análisis de láminas delgadas. Mediante Reflectometría de rayos-X y
Difracción de Ángulo Rasante.
• Microdifracción. Posibilidad de hacer análisis puntuales con una resolución
de 100µm.
• Análisis en Transmisión. Sin necesidad de montar capilares, la muestra se
sitúa entre dos láminas de mylar por lo que el volumen de muestra irradiado
es más elevado. En esta configuración se dispone de un espejo focalizador
que garantiza medidas de muy buena calidad y resolución.
• Análisis en atmósfera y temperatura controladas (hasta 900ºC), para
medidas de cambios de fase y de composición.
 Referencias
Nave, M. O. (s.f.). Hyperphysics. Obtenido de http://hyperphysics.phy-
astr.gsu.edu/hbasees/quantum/bragg.html

UPCT. (s.f.). UPCT. Obtenido de

https://www.upct.es/~dimgc/webjoseperez/DOCENCIA_archivos/Aplicaciones_DRX_Apun
tes_y_ejercicios.pdf