Técnica analítica Difracción de rayos X
Dania Novoa*
Facultad de Ingeniería y Ciencias Geológicas, Universidad Católica del Norte, Avenida Angamos 0610, Antofagasta, Chile
* email: dania.javieraa@gmail,com
Resumen. La difracción de rayos X (XRD) es una
poderosa técnica no destructiva para caracterizar
materiales cristalinos. Proporciona información sobre
estructuras, fases, orientaciones de cristales (textura) y
otros parámetros estructurales, tales como tamaño de
grano promedio, cristalinidad y defectos cristalinos. Los
picos de difracción de rayos X se producen por
interferencia constructiva de un haz monocromático de
rayos X. dispersos en ángulos específicos de cada
conjunto de planos de enrejado en una muestra. Las
intensidades máximas están determinadas por la
distribución de átomos dentro del enrejado. En
consecuencia, el patrón de difracción de rayos X es la
huella digital de los arreglos atómicos periódicos en un
determinado material. Esta revisión resume las
características de principales de la técnica DRX, su teoría,
instrumento para la medición de difractograma,
aplicaciones y un ejemplo asociado a dicha técnica.
Palabras Claves: Difracción de rayos X, difractograma.
aplicaciones, interferencia constructiva
Rayos X.
1 Introducción
Entre las diversas técnicas de investigación en el campo de
la caracterización mineralógica, la técnica de Difracción de
Rayos X (DRX) ocupa un lugar muy importante debido al
tipo de información que proporciona en las investigaciones
geológicas, mineras y metalúrgicas.
Desde el descubrimiento de los rayos X, en 1895 por el
físico alemán Roentgen, hasta hoy en día se han logrado
importantes avances en el desarrollo tecnológico de
aquella técnica que ha permitido incrementar el área de
aplicación en la industria en general.
La DRX, se basa en la interferencia constructiva de rayos
X monocromáticos y una muestra cristalina. Estas
radiografías son generadas por un tubo de rayos catódicos,
filtrado para producir radiación monocromática, colimado
para concentrarse, y dirigido hacia la muestra.
2 Difracción de rayos X
La difracción de rayos X (XRD) es una técnica no
destructiva que ha sido ampliamente utilizada en la
caracterización de materiales, que cumplen con la
condición de tener una estructura cristalográfica definida,
pues la información obtenida entre la interacción de los
rayos X y los cristales se basa en la difracción producida
por un conjunto de átomos en un arreglo ordenado. Así, se
puede comparar un diagrama de una muestra desconocida
con el de una muestra patrón, y determinar su identidad y
composición química.
En el sentido teórico, la difracción es un fenómeno de
dispersión de rayos X en el cual participan todos los
átomos que constituyen el material irradiado. Debido al
ordenamiento periódico de los átomos en una estructura
cristalina, los rayos dispersados en distintos átomos llevan
entre si un cierto desfase, interfiriendo en su trayectoria
posterior, solo algunos de estos presentarán interferencia
constructiva. Tal como se muestra en la figura 1, las
condiciones para tener una interferencia constructiva, entre
ondas diferentes se cumple solo cuando:
nλ = 2d Senθ (1)
donde:
λ es la longitud de onda del haz incidente de rayos X.
d es la distancia interplanar de la familia de planos que
producen la interferencia constructiva.
θ es el ángulo de incidencia medido entre los planos en
consideración y el haz incidente.
Esta fórmula corresponde a la llamada Ley de Bragg
y es la ecuación fundamental de DRX.
Figura 1. Esquema del modelo de Bragg.
En la técnica DRX, la λ de los rayos X es fija, y cada plano
de átomos produce un pico de difracción en un ángulo θ
específico. En el difractograma, cada pico de difracción es
producido por una familia de planos atómicos, la posición
de cada pico de difracción indica la distancia interplanar d
entre los planos atómicos del cristal. La intensidad del pico
de difracción está asociado a los átomos que están
presentes y la ubicación de éstos en los planos atómicos
(Figura 2).
 2.1 Técnicas de difracción de rayos X

Las técnicas básicas de difracción de rayos X, son las

siguientes:

• Técnica de Laue, para el estudio de monocristales,

particularmente para establecer la orientación de
la celda de un monocristal de estructura ya
conocida.
• Técnica del monocristal rotatorio, para determinar
la estructura cristalina de un monocristal
• Técnica de polvos o de Debye-Scherrer, para el
estudio de una muestra de polvos de un material
originalmente en polvo o de un policristal que
habrá que moler.

2.2 Difractómetro de rayos X

Los principales componentes son el tubo de rayos x con

ánodo de cobre, con un sistema cerrado de enfriamiento
Figura 2. Difractograma que muestra la posición de cada pico (agua), rejillas, monocromador y el detector. El detector
asociado al plano de átomos que corresponder a la especie contiene xenón; este tipo de gas es adecuado para detectar
mineral identificada. la radiación de longitud de onda Cu Ká o longitud de onda
larga. Los rayos x se generan en el tubo, que es una
Cuando el voltaje de un tubo de rayos X supera cierto ampolla al vacío que alberga al electrodo positivo (ánodo)
valor crítico, aparecen picos de difracción estrechos y y el negativo (cátodo). El cátodo contiene un filamento de
agudos a ciertas longitudes de onda superpuestos sobre el tungsteno por donde viajan los electrones, producidos por
espectro continuo. Dado que son picos estrechos y que la una diferencia de potencial de 45,000 voltios, que chocan
longitud de onda depende del metal usado como blanco se con el blanco de cobre (puede ser de Mo, Fe, Co, etc.). Los
denominan líneas características. Estas líneas se agrupan electrones que chocan con el blanco producen los rayos x
en conjuntos denominados K, L, M, etc. en orden de λ de fondo que atraviesan por una ventana de berilio que,
creciente y todas juntas forman el espectro característico debido a su bajo número atómico, permite el paso de los
del metal usado como blanco. Normalmente las líneas K rayos x.
son útiles en difracción, las de λ más larga son absorbidas
con demasiada facilidad. Hay varias líneas en el conjunto La selección del tipo de radiación depende de la
K, pero sólo las tres más intensas se observan en el trabajo composición de la muestra y el objetivo del estudio. Para
de difracción habitual. el análisis de DXR normalmente se utilizan radiaciones de
Cu, Co, Fe y Cr, cada uno de ellos tienen diferente poder
Mediante la técnica DRX, como resultado de las de difracción al poseer longitudes de ondas características,
intensidades y posiciones de los rayos difractados, es donde las de Cu son las más utilizadas en análisis de
posible obtener un mapa tridimensional de densidades arcillas (Brindley y Brown, et al., 1980).
electrónicas de la muestra después del tratamiento
matemático de los datos recogidos. A partir de este mapa
se infiere un modelo atómico que posteriormente debe ser
comparado con los datos experimentales y refinado hasta
que se alcancen unos buenos factores en común,
permitiendo identificar las estructuras cristalográficas
presentes en las muestras, y a través de éstas, la
composición química, es decir, es posible determinar
estructuras cristalinas de composición química compleja y
de baja simetría (Kraus, et al., 1965), además se utiliza
para determinar estructuras cristalinas usando Rietveld
refinamiento, determinar cantidades modales de minerales
(análisis cuantitativo), caracterizar muestras de película
Figura 3. Esquema del funcionamiento de un difractómetro,
delgada, y hacer medidas de textura, como la orientación donde se muestra la trayectoria del haz de rayos X.
de granos, en una muestra policristalina (Brindley y
Brown, 1980).
2.3 Preparación de muestras
Para estudios de difracción de rayos X, la muestra
cristalina se muele hasta obtener un polvo fino
homogéneo. De esta manera, el enorme número de
pequeños cristales está orientado en todas las direcciones
posibles; y, por tanto, cuando un haz de rayos X atraviesa
el material, se puede esperar que un número significativo
de partículas esté orientado de tal manera que cumpla la
condición de Bragg para la reflexión de todos los
espaciados inter-planares posibles. Las muestras se colocan
en tubos capilares de paredes finas de vidrio o de celofán y
éstos se introducen en el haz. Alternativamente, se puede
mezclar la muestra con un soporte adecuado no cristalino y
moldearla dándole una forma adecuada.
En un difractómetro convencional la muestra se mantiene
en posición horizontal y se rota para minimizar los efectos
de orientación preferente y favorecer la orientación de los
cristales al azar.
escala microscópica), por medio de difractómetro de
polvos.
3.5 Orientación de cristales
Se determina la orientación de un monocristal en relación
con sus superficies o características exteriores. Se utiliza
difractómetro de monocristales.
3.6 Textura cristalográfica
Determinación de la distribución de la orientación especial
de los cristalitos que conforman un sólido. Se utiliza el
difractómetro de polvos.
3.7 Análisis estructural
Determinación de la posición de todos los tomos dentro de
la celda unidad. Se utiliza difractómetro de polvos.

4 Ejemplo utilizando la DRX

3 Aplicaciones
En la actualidad, la DXR tiene muchas aplicaciones en el
estudio de la materia sólida, dependiendo de la técnica que
se utilice, ya sea a partir de mezclas de polvo o
policristalinas y otras a partir de cristales con menos de un
milímetro de diámetro, pueden realizarse estudios no
destructivos de diversos tipos:
3.1 Análisis cuantitativo de fases
El análisis cualitativo es una de las principales aplicaciones
de la DRX en las diferentes ramas de estudio de los
sólidos. El objetivo del análisis cualitativo es identificar la
fase o fases presentes en un patrón de difracción de rayos
X, por comparación con patrones de una
colección(biblioteca) de patrones de difracción que forman
una base de datos.
Se realizo un análisis por medio de DRX, para 15 muestras
en polvo, de rocas provenientes de la región esmeraldífera
colombiana, con el objetivo de poder determinar la
presencia de berilio, grupo al cual pertenecen las
esmeraldas.
En la figura 4, se muestra el difractograma experimental de
una muestra clasificada en el grupo de rocas grises (M-9),
identificada claramente como berilo. Así mismo, en la
figura 5 se presenta el difractograma de una muestra,
aparentemente similar a la anterior (grupo de rocas grises)
en donde se determinó mediante el análisis de DRX la
diferencia en su composición.

3.2 Tensiones residuales

Determinación de los esfuerzos internos que soporta el

material sin aplicación de cargas externas. Se utiliza el
difractómetro de polvos.

3.3 Análisis estructural

Se obtiene la geometría de la celda unidad (sistema

cristalino), el grupo espacial y la posición de todos los
átomos dentro de la celda. Para determinar el análisis
estructural se utiliza difractómetro de monocristales.
3.4 Tamaño del cristal y microdeformaciones
Figura 4. Difractograma de rayos X tomado a una muestra
rocosa (M-9), y la ficha reportada para el berilo, en donde se
observa una excelente coincidencia.

Es posible la determinación del tamaño de cristal y las

microdeformaciones (deformaciones inhomogéneas en

Figura 5. Difractograma de rayos X tomado a una muestra
rocosa (M-13), y la ficha reportada para la pirita, en donde
se observa una excelente coincidencia.
A través del análisis por medio de la DRX, se observa que
existe una alta posibilidad de encontrar esmeraldas en estas
rocas, dado que algunas muestras evidencian la presencia
del berilo, cuya fórmula química coincide con la de la
esmeralda, habitualmente reportada como Be3Al2(SiO3)6.
Este procedimiento de análisis permite determinar no sólo
la presencia de los elementos químicos que forman la
esmeralda, si no también se constata que estos elementos
estén asociados de acuerdo a la estructura cristalográfica
deseada.
5 Conclusión
La difracción de rayos X es una técnica alternativa para la
identificación de minerales, presentando ventajas sobre las
técnicas de análisis químico, tanto a nivel de simplicidad
para la preparación de las muestras como en la mayor
información suministrada. Los análisis químicos requieren
de utilización de disolventes, mientras que el método de
polvos DRX requiere sólo de la pulverización de la
muestra.
Cabe destacar que es una técnica mucho más rápida a la
vez más económica, sin embargo, no detecta minerales en
bajas concentraciones, solo detecta los minerales mayores.
Los tipos de información que pueden ser extraídos de un
difractograma son: la geometría de la celda y las
dimensiones, determinadas a partir de la posición de las
reflexiones; la distribución de los átomos dentro de la
celda unitaria y las cantidades de los compuestos cuando
se trata de mezclas que se estiman tomando en cuenta la
intensidad de las reflexiones (picos); analizando la
geometría de las reflexiones es posible determinar el
tamaño de los cristales.
Además, es factible aplicar esta técnica para la
caracterización de minerales arcillosos (como las
esmectitas) y laminares (como micas, cloritas, etc.) con el
fin de evaluar los cambios estructurales que son
característicos para ciertas arcillas.
Es un método práctico y útil para los análisis
mineralógicos de las fases metálicas y no metálicas. La
información en la que se basa la identificación de los
minerales es de carácter estructural, con lo cual esta sería
aplicada en diferentes temas de investigación. Finalmente,
otra de las aplicaciones es la investigación de las materias
primas, evaluando los cambios estructurales de las fases
cristalinas, bajo diferentes condiciones de temperatura,
presión, molienda, entre otros.
Referencias
Betancourth G. Diana et at 2010, Análisis por difracción de rayos x
de rocas provenientes de region esmeraldifera. Scientia et
Technica XV1, No 44: 0122-1701.
Bunaciu Andrei A., Udristioiu Elena., Hassan Y., Aboul-Enein.2015,
X-Ray Diffraction: Instrumentation and Applications. Critical
Reviews in Analytical Chemistry, Vol: 45: 289-299.
Brindley, G. W y Brown, G.1980, Crystal Structures of Clay Minerals
and their X-Ray identification. Mineralogical Scociety,
London,Cap 5.
Chauhan Ashish., Chauhan Priyanka 2014, Powder XRD Technique
and its Applications in Science and Technology. Journal of
Analytical & Bioanalytical Techniques, Vol.5: 1000212.
D. M. Moore y R. C. Reynolds. 1997, X-Ray Diffraction and The
Identification and Análisis of Clay Minerals, Oxford University
Press.
Gandarilla F., Moreno G., Aviles M. 2005, Aplicaciones de la
Difraccion de rayos X a metariales policristalinos, Sociedad
Mexicana de Cristalografia A.C.
Moore, D. M.; Reynolds, R. C. 1989. X-ray Diffraction and the
Identification and Analysis of Clay Minerals; Oxford University
Press: Oxford.
Newman, A. 2011. X-ray Powder Diffraction in Solid Form
Screening and Selection. Am. Pharm. Vol.14: 44–51.
Trzybinski, D.; Niedzialkowski, P.; Ossowski, T.; Trynda, A.;
Sikorski, A. 2013, Single-Crystal X-ray Diffraction Analysis of
Designer Drugs: Hydrochlorides of Metaphedrone and
Pentedrone. Forensic Sci. Int. Vol: 232: 28–32.
Yao, Z.; Yang, Y.; Ying, H.; Dong, Y. 2014, Mineral Characteristics
and Their Geological Significance of Black Shales in
Southeastern Ordos Basin by X-ray Diffraction Analysis. Chin. J.
Geochem. Vol. 33: 119–124.
Zaidi, S. R.; Sitepu, H.; Al-Yami, N. M. 2012, Application of X-ray
Powder Diffraction Techniques in Identification of Unknown
Materials Formed in Equipment Parts of Sulfur Recovery Unit
Plants. Saudi Aramco J. Technol. Winter, 2–12.