Microscopia de Barrido

El Microscopio electrónico de barrido o SEM (Scanning Electron Microscope), es aquel

que utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen. Tiene
una gran profundidad de campo, la cual permite que se enfoque a la vez una gran parte
de la muestra. También produce imágenes de alta resolución, que significa que
características espacialmente cercanas en la muestra pueden ser examinadas a una alta
magnificación. La preparación de las muestras es relativamente fácil pues la mayoría de
SEMs sólo requieren que estas sean conductoras.

Técnica: La interacción entre un haz de electrones con un potencial de aceleración muy

alto (50-30 Kv) produce una respuesta de la muestra que se traduce en electrones
secundarios (SE), electrones retro difundidos (BSE), radiación X y otros. Recoger la
información que dan los electrones SE y BSE permite obtener una imagen topográfica
(tridimensional) producida por el rastreo del haz de electrones sobre la muestra, mientras
que en el caso de la Radiación X nos ayudará a conocer la composición elemental de la
muestra. Aplicaciones

1. Estudios morfológicos de tejidos y organismos vivos tanto en el campo de la

biología con en el de la medicina:
2. Anatomía patológica: biopsias, pelo...
3. Odontología: estudio de dientes, empastes, etc.
4. Traumatología: biomateriales
5. Urología: litiasis
6. Ecología: plancton, etc.
7. Microbiología: diferenciación de bacterias, hongos, etc.
8. Botánica: taxonomía y catalogación de flores, semillas, polen.
9. Zoología: taxonomía de insectos, etc.
10. En el área del campo inorgánico y de la ciencia de materiales:
11. Micropaleontología: catalogación de fósiles, foraminíferos, etc.
12. Investigaciones mineralógicas y petrología
13. Estudio macro i micro estructural de materiales: inorgánicos, plásticos, piel,
metales, aleaciones metálicas, cerámicas, cementos, etc.
14. Estudio de fenómenos de corrosión en materiales.
15. Estudio y medida del tamaño y forma de partículas de cualquier material.
16. Medida de grosores de recubrimientos.
17. Estudio de la presencia de defectos en materiales de construcción,
semiconductores, etc.
18. Estudio micro estructural y por microanálisis R-X EDS de piezas de arqueología,
obras de arte, etc.

Microscopia de Transmisión

Es un instrumento científico con un peso aproximado de una tonelada y con una columna
de alrededor de 1.5 metros de altura donde se utiliza alto voltaje para producir y enfocar
un haz de electrones acelerados en alto vacío que al impactar en una de las caras de una
muestra de tejido ultra delgada forman una imagen al emerger por la cara contraria. Con
este instrumento que alcanza aumentos de 1000 000x hoy en día es posible ver desde los
cromosomas y las moléculas de ADN (ácido desoxirribonucleico) hasta átomos con un
poder de resolución de 0.2 nm.

Difractograma

Cuando la interferencia es constructiva obtenemos una respuesta, que se conoce con el

nombre de difractograma, y que nos proporciona información para identificar y cuantificar
los componentes presentes en los materiales, ya que cada componente tiene un
patrón/difractograma único, es decir, su huella dactilar.

INTERPRETACIÓN DE DIFRACTOGRAMAS DE RAYOS X Obtenido el

DIFRACTOGRAMA se determinan las distancias interplanares (usando la Ley de Bragg) e
intensidades relativas (áreas bajo el pico) de cada uno de los picos generados por los
distintos planos atómicos de los cristales que forman la muestra.

¿Qué es la difracción de rayos X?

La difracción de rayos X se basa en la dispersión coherente del haz de rayos X por parte
de la materia (se mantiene la longitud de onda de la radiación) y en la interferencia
constructiva de las ondas que están en fase y que se dispersan en determinadas
direcciones del espacio.

¿Qué se obtiene con la difracción de rayos X?

Esta función permite adquirir información sobre la estructura del material, por ejemplo el
tamaño y forma de las partículas. Análisis de láminas delgadas. Mediante Reflectometria
de rayos-X y Difracción de Ángulo Rasante.

¿Cómo se produce la difracción?

La difracción es un fenómeno característico de las ondas, que es observable cuando una

onda atraviesa una rejilla cuyo tamaño es del orden de su longitud de onda. Para
entender este fenómeno, podemos comparar el comportamiento de una onda con el de
una partícula en un experimento idéntico.

ÍNDICES DE MILLER

Notación utilizada para identificar direcciones y planos en un cristal. La ventaja de su uso

reside en que con ella, y sobre todo en los sistemas cúbicos, resulta fácil evidenciar las
simetrías del cristal. Los valores de los índices se determinan basándose en un sistema
de coordenadas cuyo origen está situado en un vértice de la celdilla unitaria y cuyos ejes
(x,y,z) coinciden con las aristas de la celda unitaria como lo indica la Figura