UNIVERSIDAD POLITÉCNICA DE GUANAJUATO

TÉCNICAS DE
BARRIDO DE
SONDA Nanometrología

Integrantes:
Carballido Acosta María Fernanda
Cervantes Laguna Julio César
 Introducción
◦ Conocida también como MICROSCOPIA “SPM”.
◦ Microscopio, del griego: “mikro” = pequeño y “scopeõ” = mirar
(para mirar cosas pequeñas ).

IMAGEN 1 Partes de un Microscopio

 Principios de la técnica
◦ Consiste en una familia de formas de microscopia donde una sonda
puntiaguda barre la superficie de una muestra, monitorizándose las
interacciones que ocurren entre la punta y la muestra.

◦ Esta técnica permite el estudio de superficies tanto conductoras como

aislantes y se caracteriza por su alta resolución en las tres dimensiones, la
escasa preparación de muestra necesaria, y que no es destructiva.
IMAGEN 2 Microscopia de Barrido por sonda
 Principales formas de microscopias SPM
Microscopio de efecto túnel (STM).  En esta técnica, una pequeña punta metálica
se aproxima a la superficie de un material hasta una distancia de
aproximadamente 1Å, de tal manera que si se aplica una diferencia de potencial
del orden de 10-2 V se establece, por efecto túnel, una corriente eléctrica débil (~
1nA).
◦ Se obtienen así, imágenes topográficas de la superficie de la muestra sin
utilizar campos eléctricos externos muy intensos. En el microscopio de efecto
túnel las imágenes se refieren a la muestra que no tiene porqué ser metálica,
aunque sí conductora.

IMAGEN 3 Microscopio de efecto túnel

 Características de Efecto Túnel
(STM)
◦ Esta técnica se puede utilizar en modo de altura o corriente constante

La principal ventaja de esta técnica es la resolución a escala

atómica que ofrece.

Se ha de trabajar sobre muy buenos conductores (Pt, Au, Cu,

Ag)

Se ha de trabajar in-situ (evitar oxidación-contaminación de la

superficie), al vacío o a baja temperatura, donde el ambiente
permite una adecuada preparación de las muestras

La principal limitación de la técnica está en la imposibilidad de

trabajar con muestras aislantes

Las puntas que se utilizan son de W (pulidas

electroquímicamente), Pd, Pt-Ir
◦ Microscopio de fuerza atómica (AFM). En AFM una punta situada en el extremo
de una palanca flexible barre la superficie de la muestra registrándose las
fuerzas de la interacción que hay entre la punta y la muestra cuando se
encuentran muy próximas.

◦ Una vez capturadas las imágenes se pueden tratar para obtener información
acerca del tamaño, profundidad, espesor, rugosidad, y también pueden
detectarse diferencias en propiedades tales como adhesión y viscoleasticidad
en el caso de medidas en modo de contacto intermitente
◦ . En esta se distinguen tres modos principales:

◦ i) Modo de contacto,
◦ ii) Modo de no contacto y,
◦ iii) Tapping Mode.

IMAGEN 4 Microscopia de fuerza atómica

 Características de AFM de
contacto
◦ En este modo, la punta mantiene un contacto físico suave con la muestra, La punta
se une al final del cantiléver con una baja constante de resorte, menor que la
constante de resorte efectiva que mantienen los átomos de la muestra.

Ventajas:
Amplia gama de muestras a analizar
Se pueden realizar medidas de elasticidad
Se pueden realizar medidas in sitúen
una celda líquida o en la celda electroquímica
Las resoluciones verticales y horizontales son muy elevadas

Desventajas:
La punta está en contacto con la superficie
◦ Microscopía óptica de barrido de campo cercano ( NSOM / SNOM ). Es una
técnica de microscopía para la investigación de nanoestructuras que rompe el
límite de resolución de campo lejano al explotar las propiedades de las ondas
evanescentes.

◦ La luz del láser de excitación se enfoca a través de una abertura con un

diámetro más pequeño que la longitud de onda de excitación, lo que resulta en
un campo evanescente (o campo cercano) en el lado más alejado de la
abertura.
◦ Cuando la muestra se escanea a una pequeña distancia por debajo de la abertura, la
resolución óptica de la luz transmitida o reflejada está limitada solo por el diámetro de la
abertura. En particular, la resolución lateral de 20 nm y resolución vertical de 2–5 nm se
han demostrado.

Las propiedades dinámicas también

pueden estudiarse en una escala

de sub-longitud de onda utilizando esta técnica.

IMAGEN 5 Microscopía óptica de barrido de campo cercano

 Aplicaciones
◦ Caracterización de materiales de almacenamiento de energía bajo polarización,
como electrodos de batería, membranas e interfaces electrodo-solución.
Electrodeposición y decapado de metales. Investigación de la cinética de la corrosión.
Monitorización de la morfología a lo largo del tiempo de electrodos conectados a
biocatalizadores, microorganismos y otras investigaciones biofísicas

◦ Nucleación y crecimiento de nano-partículas.

◦ Caracterización de estructuras y procesos en los campos de biofísica y biología

◦ Fotónica

◦ Ciencia de materiales microelectrónica y materiales funcionales

Aplicaciones de las técnicas SPM
◦ Bao, Wei; Borys, Nicholas J.; Ko, Changhyun; Suh, Joonki; Fan,
Wen; Thron, Andrew; Zhang, Yingjie; Buyanin, Alexander et al.
 (2015)
◦ González J. (2020). Universidad Carlos lll de Madrid. Técnicas de
Barrido con Sonda (SPM).
◦ Reguera J. (2020). Laboratorio de Técnicas Instrumentales UVa. Referencias
Microscopía de sonda de barrido.