MORFOLOGIA DE ZEOLITAS

Bayona Solano, Jaime Enrique; Lezcano Zapata, Dallan Katherine

jaenbaso@hotmail.com, dayanlezcano54@gmail.com

Estudiantes de ingeniera qumica, Universidad de Pamplona, Km 1 va Bucaramanga,

Pamplona, Norte de Santander, Colombia

RESUMEN: En la prctica de laboratorio se realiz una serie de estudios a diferentes difractogramas de

catalizadores para analizar e identificar el comportamiento de la estructura cristalina segn el patrn de zeolita
establecido, por el mtodo experimental de difraccin de rayos X en polvo con radiaciones CuK, el cual incluye
la ley de Bragg, identificando que la zeolita AB presenta un comportamiento similar al patrn ZSM-5 Y tamao de
partcula de 0,044 , la zeolita CD se asemeja al patrn Ferrierite Siliceous con un tamao de partcula de
0,0117 y la Zeolita de la imagen se conforma por el catalizador ZSM-5 Y la fase activa que es el mineral
Busenite (NiO). De acuerdo a las imgenes SEM de las muestras analizadas se concluy que no presentan valores
similares de los tamaos de cristal halladas por el mtodo de SCHERRER.

Palabras Claves: Difraccin de rayos X, Zeolitas, Morfologa, SEM, Catalizador.

ABSTRACT: In laboratory practice a series of studies were carried out on different catalyst diffractograms to
analyze and to identify the behavior of the crystalline structure according to the established zeolite pattern, by the
experimental method of X-ray powder diffraction with CuK radiations, which Includes the Bragg law, identifying
that the zeolite AB exhibits a behavior similar to the ZSM-5 pattern AND particle size of 0.044 m, the CD zeolite
resembles the Ferrierite Siliceous pattern with a particle size of 0.0117 m and Zeolite Of the image is formed by
the catalyst ZSM-5 and the active phase which is the mineral Busenite (NiO). According to the SEM images of the
analyzed samples, it was concluded that they do not present similar values of the glass sizes found by the
SCHERRER method.

Key words: X-ray diffraction, Zeolites, Morphology, SEM, Catalyst.

1. Introduccin
Para el reconocimiento de una zeolita a partir de un difractograma de rayos X es necesario tener caros los conceptos acerca
del tema, as como para poder analizar la morfologa de la sustancia por media de la microscopia electrnica de barrido;
tcnicas estas analticas de gran aplicacin a nivel experimental e industria. Estas mismas nos llevan a identificar cual era a
sustancia problema llegando su morfologa y deferentes componentes presentes en ella.
La difraccin des un fenmeno caracterstico de las ondas, que consiste en a dispersin de las ondas cuando se interaccionan
con un objeto ordenado. Ocurre en todo tipo de ondas, desde las sonoras, hasta las ondas electromagnticas como la luz, y
tambin los rayos X.
Los rayos X tienen longitudes similares a las distancias interatmicas en los materiales cristalinos, por lo que podemos
utilizar la difraccin de rayos x como mtodo para explorar a naturaleza de la estructura molecular. Los rayos X son
radiaciones electromagnticas, como lo es la luz visible, y lo nico que los distingue de las dems radiaciones es su longitud
de onda, del orden de 10-10 metros, que equivale a un ngstrom.[1]
Todas las propiedades fsicas y qumicas de cualquier sustancia dependen de cmo se encuentran organizadas las unidades de
menor tamao, tomos y molculas, que identifican un determinado material. El conocimiento preciso de la situacin
relativa de los tomos y de la fortaleza de las interacciones o enlaces entre ellos permite entender las propiedades fsicas,
color, conductividad elctrica, propiedades magnticas, y qumicas de las sustancias. En algunos casos tambin nos

1
permiten planear la modificacin de estas propiedades, hacer que un plstico sea ms resistente, o el catalizador de un motor
de combustin ms eficaz, etc.
Todas las propiedades fsicas y qumicas de cualquier sustancia dependen de cmo se encuentran organizadas las unidades de
menor tamao, tomos y molculas, que identifican un determinado material. El conocimiento preciso de la situacin
relativa de los tomos y de la fortaleza de las interacciones o enlaces entre ellos permite entender las propiedades fsicas,
color, conductividad elctrica, propiedades magnticas, y qumicas de las sustancias. En algunos casos tambin nos
permiten planear la modificacin de estas propiedades, hacer que un plstico sea ms resistente, o el catalizador de un motor
de combustin ms eficaz, etc.[2]
MEB
Un microscopio electrnico de barrido crea una imagen ampliada de la superficie de un objeto. No es necesario cortar el
objeto en capas para observarlo con un SEM, sino que puede colocarse en el microscopio con muy pocos preparativos. El
SEM explora la superficie de la imagen punto por punto, al contrario que el TEM, que examina una gran parte de la muestra
cada vez. Su funcionamiento se basa en recorrer la muestra con un haz muy concentrado de electrones, de forma parecida al
barrido de un haz de electrones por la pantalla de una televisin. Los electrones del haz pueden dispersarse de la muestra o
provocar la aparicin de electrones secundarios. Los electrones perdidos y los secundarios son recogidos y contados por un
dispositivo electrnico situado a los lados del espcimen. Cada punto ledo de la muestra corresponde a un pxel en un
monitor de televisin. Cuanto mayor sea el nmero de electrones contados por el dispositivo, mayor ser el brillo del pxel en
la pantalla. A medida que el haz de electrones barre la muestra, se presenta toda la imagen de la misma en el monitor. Los
microscopios electrnicos de barrido pueden ampliar los objetos 200.000 veces o ms. Este tipo de microscopio es muy til
porque, al contrario que los TEM o los microscopios pticos, produce imgenes tridimensionales realistas de la superficie del
objeto. [3]
Las zeolitas son minerales que poseen propiedades fisicoqumicas excepcionales debido a sus peculiares caractersticas
qumicas y estructurales. Los yacimientos ms importantes se asocian a rocas volcnicas y se originan por transformacin de
cenizas volcnicas o por diagnesis de sedimentos que contengan componentes vulcanoclsticos. Las zeolitas son
tectosilicatos microporosos hidratados, cuya estructura contiene cavidades abiertas de dimensiones moleculares, comnmente
ocupadas por cationes intercambiables. [4]
2. Materiales y Mtodos
Dada las muestras problema de catalizadores se procede a identificar las zeolitas patrn con la herramienta de la bibliografa
(Collection of simulated XRD power patterns of zeolites). Inicialmente se inicia identificando la intensidad del pico mas alto.
De acuerdo a este valor se procede a analizar las posibles zeolitas en un rango de precisin del 10% .Se preselecciona las
posibles candidatas zeolitas hasta seleccionar y obtener la indicada de acuerdo a la similitud en intensidad de los tres picos
ms altos con el catalizador patrn.
Luego utilizando el software ORIGIN se grafica el espectro intensidad vs posicin (2 ) junto al espectro de comparacin
del catalizador, Se analiza los resultados obtenidos

Tamao del cristal

Se determin por el mtodo de SCHERRER el tamao promedio del cristal, tomando los tres picos ms altos. Suponiendo
una constante de k igual a 1 para tamaos cbicos y una longitud de onda propia para el Cu, con la ayuda del software PEAK
FIT se hallaron los valores de posicin (2) y FWHM (ancho de pico a media altura) para cada difractograma de zeolita.

SEM
Dada las imgenes de las muestras de microscopia electrnica de barrido propia para cada zeolita, se inici observando las
partculas y realizando la medicin de estas de tal manera para corroborar su tamao segn los resultados tabulados por el
mtodo de sherrer.

3. Resultados y Anlisis
Al analizar cada una de las grficas de difraccin proporcionadas para su estudio, se le dio aplicacin a diferentes
tipos de leyes matemticas que rigen los comportamientos o modelamientos especficos como lo son la ley de
Bragg haciendo la conversin del ngulo de difraccin de partir de la longitud de onda utilizada, el mtodo de
2
polvo o Debye Scherrer, mtodo aplicado para la preparacin de la muestra creando la placa en la que incide el haz
de luz difractado, mtodo Hanawalt ste se basa en contrastar los valores de los espaciados y de las intensidades de
los picos con valores ms altos del diagrama de la fase cristalina que se quiere identificar, con los recogidos en la
base de datos PDF, entre otras que sirvieron para poder obtener los resultados para este anlisis. Al identificar las
coordenadas proporcionadas por los picos ms altos y las distancias entre picos, se pude comparar con los datos
con tericos obtenidos experimentalmente ya estandarizados y publicados en diferentes libros, de las cuales
haciendo una revisin exhaustiva para poder identificar cual sera el patrn al que se asemeja el difractograma,
pudiendo inferir sobre sus componentes de una manera cualitativa.
Es de gran importancia la identificacin tanto de los picos ms altos, el distanciamiento entre estos y los
ensanchamientos que estos presentan; as mismos como el comportamiento cercano a lo lineal o muy disperso, de
los espacios entre los picos altos; pues cada uno de estos representan una parte fundamental para la identificacin
de la sustancia problema. As como los grupos funcionales, la morfologa de los cristales, el distanciamiento de los
poros, etctera.
Se observa que la zeolita AB presenta un tamao de poro un poco mayor a la zeolita CD, basndose en la teora se
presentan prototipos de poros posiblemente mesoporosos con dp entre 3 a 50 nm para los dos casos, tamaos
ptimos para la impregnacin y fijacin del catalizador. Adems observando los picos del difractograma para cada
caso se presentan picos angostos indicando que los cristales son de tamao relativamente grandes.

La morfologa para el tamao del cristal se nota algo dispersa en comparacin con el mtodo cuantitativo de
Scherrer, para la zeolita AB, el cristal de la imagen midi aproximadamente 600 nm y con el mtodo fue de 43,13
nm, es notable el gran cambio, comparando las zeolita CD por el mtodo arrojo un valor de 44,21 nm y midiendo
la imagen el valor fue de 600 nm, razn por la cual no es aceptable, siguiendo con la zeolita GH la imagen midi
un cristal de 0,86 um y por el mtodo se determin un tamao de 0,04437 um otro caso que presenta error pero un
poco menor, finalmente la zeolita EF por el metodo sse hallo un valor del tamao del cristal en 0,0117 um pero la
imagen midio un cristal de 0,6 um un error relativamente bajo en comparacin de las primeras zeolitas.

4. Conclusiones
Por medio de esta prctica se puede concluir que a partir de un difractograma, se puede conocer los diferentes
compuestos presentes en la sustancia analizada, as como su composicin, morfologa y caractersticas qumicas.
La experiencia que se obtuvo para identificar las zeolitas patrn fue exitosa, ya que los difractogramas presentados
se puede observar la precisin al compararlas con los catalizadores problema. Tambin resaltar la efectividad y
utilidad de los software al momento de determinar los datos de las muestras como por ejemplo la red de
informacin para identificar las fases (web mineral) arrojo resultados confiables y preciso, de igual forma los
cuales se evidencian en los tres difractogramas para los catalizadores.
Tambin resaltar el software Peak fit ya que presento un r= 0,9737 para la zeolita AB y r = 0,88 en el caso de la
zeolita CD los cuales nos confirma la confiabilidad para el trabajo en este programador
Este tipo de prcticas son de gran importancia pues sern herramientas muy funcionales en el campo profesional,
puesto que no siempre se tiene conocimiento completo de las sustancias a analizar.
Se considera que por la tcnica SEM es menos precisa para determinar el tamaa de poro debido a que su lente
detecta poco muestra, entonces se necesitara ms fotos para llegar a un anlisis ms preciso, en cambio la tcnica
de DRX es ms completa ya que hace un barrido por toda la muestra.

3
5. Referencias Bibliogrficas

[1] https://www.upct.es/~minaeees/difraccion_rayosx.pdf (citado: 04/17)

[2] http://www.unizar.es/icma/divulgacion/pdf/pdfdifraccionrayos.pdf (citado: 04/17)
[3] http://www.biologia.edu.ar/microscopia/meb.htm (citado 04/07)
[4]. Geologa y geoqumica del yacimiento de zeolita Los Murcianos (Cabo de Gata, Almera) (PDF Download Available).
Available from:
https://www.researchgate.net/publication/288991309_Geologia_y_geoquimica_del_yacimiento_de_zeolita_Los_
Murcianos_Cabo_de_Gata_Almeria [accessed Apr 19, 2017].

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 ANEXOS
LISTA DE GRAFICAS
Grafica 1. Difractograma, zeolita AB patrn ZSM-5
Intensidad

0 5 10 15 20 25 30 35 40 45
2

Grafica 2. Difractograma la zeolita CD patrn Ferrierite Siliceous

Intensidad

0 5 10 15 20 25 30 35 40 45
2

5
Grafica 3. Difractograma, la Zeolita conforma por el catalizador ZSM-5 y fase activa NiO

45

40

35

30
Intensidad

25

20

15

10

5
5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
0
2 0 5000

LISTADO DE TABLAS
Tamao de partcula:

Tabla1. Posicin (2 ) y FWHM (ancho de pico a media altura (zeolita AB) por el software PEAK FIT.

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Tabla 2. Posicin (2 ) y FWHM (ancho de pico a media altura (zeolita CD) por el software PEAK FIT.

Tabla 3. Tamaos promedios del cristal para la zeolita AB y zeolita CD.

Zeolitas Tamao promedio Tamao promedio

[] [ ]

Zeolita AB 442,149276 0,04421493

Zeolita CD 117,175142 0,01171751