UNIVERSIDAD NACIONAL JORGE BASADRE GROHMANN-TACNA

FACULTAD DE INGENIERÍA
ESCUELA PROFECIONAL DE INGENIERÍA METALÚRGICA Y MATERIALES

INTRODUCCIÓN A LA NANOTECNOLOGÍA

CAPÍTULO VI
TÉCNICAS DE CARACTERIZACIÓN DE NANOMATERIALES

DOCENTE: JULIÁN NIETO QUISPE

20109
1
 CONTENIDO

Introducción

Técnicas de microscopía: microscopía electrónica

de transmisión, microscopía de efecto túnel,
microscopía de fuerza atómica

Técnicas espectroscópicas: Espectroscopía

infrarroja y Raman, espectroscopía de fotoemisión
por rayos X, resonancia magnética

Difracción de R-X 2
 INTRODUCCIÓN
En los años 80, muchos científicos
pensaban que las posibles
aplicaciones derivadas de la visión
de Feynman o los motores
moleculares imaginados por Drexler
eran irrealizables por falta de
herramientas capaces de manipular
la materia a escala nanométrica. Sin
embargo, la aparición de una serie Prof. Richard P. Feynman Kim Eric Drexler
de técnicas permitió dar forma a Diciembre 29th 1959 25 de abril de 1955
en Oakland,
esas ideas, descubriéndonos un California
nuevo mundo lleno de posibilidades:
3
el nanomundo (FECYT, 2009 )
 INTRODUCCIÓN
Viendo lo más pequeño
La amplificación necesaria para ver los
átomos de un material con un microscopio
es análoga de la que se necesitaría para
poder ver los tornillos de la Torre Eiffel con
un telescopio desde la Luna.
Imaginémonos sentados en la Luna
con un telescopio que apunta a la
Tierra. Imaginemos que queremos ver
con este telescopio los tornillos de la
Torre Eiffel en la pantalla de un
ordenador. La amplifificación
necesaria para lograr este objetivo es
la misma que necesitaríamos si
quisiésemos ver los átomos de un
material. Gracias a la física cuántica,
podemos no sólo ver los tornillos de la
torre Eiffel desde la Luna, sino
también apretarlos o aflojarlos. En
definitiva, actuar sobre ellos (FECYT,
4
2009).
 TÉCNICAS DE MICROSCOPÍA
Herramientas tradicionales para macro / micro:
• Microscopio óptico, espectroscopios, etc.
• Microscopio electrónico de barrido (SEM) y
• Microscopio electrónico de transmisión (TEM)
Herramientas especiales para medir / caracterizar nanoestructuras.
• Instrumentos de sonda de barrido
• Instrumentos espectroscópicos
Instrumentos de sonda para escaneo
• Microscopía de fuerza lateral (LFM): Las fuerzas de fricción se miden mediante fuerzas de torsión o
"de lado" en viga voladiza.
• Microscopía de fuerza magnética (MFM): Punta magnética detecta campos magnéticos / mide
propiedades magnéticas de la muestra.
• Microscopía de fuerza electrostática (EFM): La punta de Pt con carga eléctrica detecta campos
eléctricos / medidas dieléctricas y propiedades electrostáticas de la muestra.
• Microscopía de fuerza química (QFM): La punta químicamente funcionalizada puede interactuar con
las moléculas en el superficie dando información sobre las fuerzas de unión, etc.
• Microscopía óptica de escaneo de campo cercano (NSOM): Técnica óptica en la que se escanea con
una apertura muy pequeña cerca de la muestra. La sonda es una fibra de cuarzo estirada 5 hasta un

punto afilado y recubierta con aluminio para proporcionar una abertura de longitud de onda inferior (~
100 nm)
 HERRAMIENTAS FUNDAMENTALES EN NANOTECNOLOGÍA
• Técnicas de haz de electrones
– Microscopio electrónico de transmisión
(TEM)
– Microscopio electrónico de barrido (SEM)
• Técnicas de barrido con sonda
– Microscopio de efecto túnel (STM)
– Microscopio de fuerza atómica (AFM)
• Pinzas ópticas
Evolución de la microscopía
En la fotografía puede verse claramente la diferencia de tamaños entre
un microscopio electrónico de transmisión (al fondo) y un microscopio
de efecto túnel (en la mano del investigador). A la derecha se presenta
una imagen ampliada del microscopio de efecto túnel. Ambos
microscopios pueden llegar a ver átomos, pero resulta sorprendente
6
como la física cuántica nos permite construir un microscopio tan
pequeño y tan potente.
 TÉCNICAS DE MICROSCOPÍA
Dentro de la familia de los microscopios
electrónicos, existen dos tipos
fundamentales:
• El microscopio electrónico de
transmisión (Transmision Electron
Microscopy, TEM) y
• El microscopio electrónico de barrido
(Scanning Electron Microscopy,
SEM).
En ambos instrumentos la sonda es un haz
de electrones dirigido y focalizado sobre la
muestra por una serie de “lentes” que en
este caso no son fragmentos de vidrio
pulidos, sino campos electromagnéticos 7

(FECYT, 2009)
http://www.medic.ula.ve/histologia/anexos/microscopweb/MONOWEB/capitulo5_7.htm
Transmision Electron Microscopy, TEM

8
Transmision Electron Microscopy, TEM

9
 Imagen TEM a altos aumentos y espectros del análisis
semicuantitativo de la muestra 
En la Figura se recoge
la imagen de
microscopía
electrónica de
transmisión (TEM) y el
análisis
semicuantitativo (EDS)
de la muestra LM11
donde se comprueba
que presenta una
morfología en forma de
nanoalambres
(nanowires, NWs), que
se corresponden con el
ZnO, y nanoesferas
LM11 (120˚C, 3h, [Zn2+]=1,875•10-2M, [Ag+]=3,75•10-3M, CTAB-bromuro de (nanospheres, NSs),
hexadeciltrimetilamonio-) estando estas últimas
https://www.madrimasd.org/blogs/tecnologia_polvos/2014/07/10/77566 dispersas sobre las 10
 Scanning Electron Microscopy, SEM

Microscopio Electrónico de Barrido,

Jeol, JSM 5410
11

https://metalurgia.usach.cl/laboratorio-de-microscopia-electronica
 APLICACIONES MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA
• Observar y fotografiar zonas de la muestra, desde 10 aumentos a 200.000, con una
resolución espacial < 5 nm
• Medida de longitudes nanométricas.
• Distinción, mediante diferentes tonos de grises, de zonas con distinto número atómico
medio.
• Análisis cualitativo y cuantitativo de volúmenes de muestra en un rango de una a varios
millones de micras cúbicas
• Mapas de distribución de elementos químicos, en los que se puede observar
simultáneamente la distribución de hasta ocho elementos, asignando un color diferente
a cada uno
• Perfiles de concentración, es decir, la curva de variación de la concentración de un
elemento químico entre dos puntos de la muestra
• Observar la ultraestructura de células, bacterias, etc
• Localización y diagnóstico de virus
• Control del deterioramiento de los materiales
• Control de tratamientos experimentales 12
• Grado de cristalinidad y morfología
• Defectos en semiconductores, etc.
Microscopio de efecto túnel (STM)
Técnicas de barrido con sonda
El Microscopio de Efecto Túnel (Scanning
Tunneling Microscopy, STM), inventado en
1981 por dos científicos de la compañía
IBM llamados G. Binning y H. Rohrer, fue
el primero en ser usado para visualizar
superficies a nivel atómico. En este tipo
de microscopio, la señal que recoge la
punta o sonda está relacionada con una
propiedad cuántica de la materia: el
llamado efecto túnel. Este efecto se
manifiesta como una pequeña corriente
eléctrica cuyo procesamiento electrónico
nos muestra imágenes en las que pueden
distinguirse los átomos de las superficies
13
 MICROSCOPIA DE SONDA DE BARRIDO (STM o SPM)
La microscopia de sonda de barrido, STM, consiste en una familia de formas de
microscopia donde una sonda puntiaguda barre la superficie de una muestra,
monitorizándose la interacciones que ocurren entre la punta y la muestra . Es
una herramienta de imagen que abarca los reinos de los microscopios óptico y
electrónico un perfilador con una resolución 3-D
Las aplicaciones son muy
diversas, en la medidas de
propiedades :
• Conductividad superficial
• Distribución de carga estática
• Fricciones localizadas
• Campos magnéticos 14

• Modulación elástica Imagen STM con resolución atómica

https://slideplayer.es/slide/1736975/
 FORMACIÓN DE IMÁGENES STM O SPM
El posicionador piezoeléctrico

STM HITACHI
https://www.medicalexpo.e
s/prod/hitachi-high-technol
ogies/product-80782-71230
9.html
15

https://slideplayer.es/slide/1736975/
 16

https://slideplayer.es/slide/1736975/
 MICROSCOPIO DE EFECTO TÚNEL (STM)

Imagen de una superficie de silicio (111) obtenida con un microscopio de efecto túnel. Las
imágenes obtenidas con un microscopio de SPM se pueden representar de dos maneras: en
perspectiva tridimensional o vistas desde arriba, como es el caso de esta imagen. Este último
modo es el más utilizado, y en él se suele utilizar el convenio de que cuanto más brillante
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sea un
punto, más alto se encuentra. Así, en la imagen, los puntos amarillos-blancos corresponderían a
las posiciones atómicas y los negros, a los espacios entre átomos.
Microscopio de fuerza atómica (AFM)
Con las técnicas de AFM es posible trabajar a
escala nanométrica, 0'000000001 m, eso nos
permite ver estructuras 1000 veces más pequeñas
que una bacteria, y 10000 veces más pequeñas
que las células del epitelio bucal. Esto supone
poder ver las moléculas, incluso los átomos, y
más sorprendente aún "pescar" moléculas en una
muestra y extraerlas de su entorno

Las técnicas de AFM permiten trabajar en medio

líquido o fisiológico y por lo tanto observar la
interacción de la muestra con otras moléculas.
Ahora podemos ver en detalle cómo
interaccionan un antígeno y un anticuerpo; en un
futuro se podrá ver paso a paso cómo
interacciona un medicamento con una célula
enferma.
http://stemcellizpisua.blogspot.com/2009/01/microscopio-de-
18

fuerza-atmica-afm.html
 Microscopio de fuerza atómica (AFM)
A pesar de que la aparición del STM supuso una
revolución en el mundo de la microscopía debido
a su enorme aplicabilidad, presenta una limitación
fundamental en lo referente al tipo de muestras
que permite estudiar. Puesto que la propiedad
cuántica en que se basa la medida es la aparición
de una corriente eléctrica (“la corriente túnel”)
entre la punta y la muestra, es necesario que
ambas sean conductoras de la electricidad. Hay,
por tanto, una enorme cantidad de muestras
aislantes o poco conductoras (por ejemplo, las
biológicas) que no podrán ser visualizadas por
medio de esta técnica. Este problema quedó
resuelto en 1989, año en el que G. Binning
desarrolló la herramienta idónea para el estudio
de materiales no conductores: el Microscopio de 19

Fuerzas Atómicas (Atomic Force Microscope,

AFM) (FECYT, 2009).
 Microscopio de fuerza atómica (AFM)
La base de funcionamiento de este microscopio es la
utilización como magnitud de interacción de las fuerzas
que aparecen al acercarse la sonda (una punta cuya
terminación tiene aproximadamente 20 nm de diámetro) a
la muestra objeto de estudio. A grandes distancias no se
establece ninguna fuerza entre la sonda y la muestra. Al ir
acercándose la punta y la muestra, se originan unas
pequeñas fuerzas atractivas, que según se vaya acortando
la distancia se transformarán en importantes fuerzas
repulsivas. Por tanto, la magnitud de la fuerza que se
establece entre punta y muestra depende fuertemente de la
distancia. Puesto que la aparición de estas fuerzas ocurre
por el mero hecho de la cercanía entre las nubes https://www.uam.es/gruposinv/lumila/per
electrónicas de los dos materiales involucrados (la punta y sonal/ebr/qot/leccion1/nota101.html
la muestra), el AFM es una técnica que puede aplicarse al
estudio de una gran diversidad de muestras, siendo
absolutamente independiente de si éstas son conductoras 20

de la electricidad o no (FECYT, 2009)

Microscopio de fuerza atómica (AFM)

21

http://www.linan-ipicyt.mx/Microscopio_de_Fuerza_Atomica.html
Microscopio de fuerza atómica (AFM)
Técnicas de barrido con sonda ATP - sintetasas

http://stemcellizpisua.blogspot.com/200
9/01/microscopio-de-fuerza-atmica-
afm.html 22
 ZOOM EN UN CIRCUITO INTEGRADO
¿Has visto alguna vez el corazón de
silicio de un circuito integrado? Dentro
de esas “cucarachas” negras de plástico
que están en las placas electrónicas de
cualquier ordenador está el silicio, el
material en el que se basa la electrónica
actual. Sobre la superficie de este
material se graban estructuras de
tamaño micrométrico, que son las que
permiten su funcionamiento. La figura
muestra sucesivos zooms de este
dispositivo:
(A) Lo que vemos con nuestros ojos
(B) Con una lupa
(C) Con un microscopio óptico
(D) Con un microscopio electrónico de
barrido (SEM) y
(E) Finalmente con un microscopio de
fuerzas atómicas (AFM). 23

Imágenes cortesía de Fátima Esteban (Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid, CSIC) y Carmen Ocal (Instituto de Ciencia de
Materiales de Barcelona, CSIC).
 DIFRACCIÓN DE R-X
El conjunto de técnicas que permiten obtener la mayor información estructural
sobre un sólido o un material, incluyendo el orden periódico a larga distancia,
son los métodos difractométricos.

Cuando en la interacción
cristal-radiación se produce
una situación de máxima
difracción, el fenómeno es
como si la radiación
incidente se estuviera
reflejando en la secuencia
de planos cristalinos de
índices hkl y espaciado
dhkl 24
DIFRACCIÓN DE R-X

25
https://spanish.alibaba.com/product-detail/x-ray-diffraction-
xrd-instrument-554246237.html
 DIFRACCIÓN DE R-X
Cuando un haz de rayos X monocromático y despolarizado, de ondas planas, formadas por
rayos paralelos de un frente de ondas común, perpendicular al vector unitario de propagación
S0 y que baña completamente a la muestra, el modelo cinemático de interacción indica que en
la muestra se producen haces difractados en la dirección unitaria S con una intensidad dada
que depende de la dispersada por un electrón y a interferencias externas e internas (cuadrado
del factor de estructura)

Descripción geométrica de la
dirección del máximo de
difracción debido a la
interferencia constructiva entre
los átomos de los planos de
espaciado d(hkl).

26
Difractogramas obtenidos de la
muestra de CuFe2O4 (curva roja) y
de la ficha JCPDS 01-074-8585 para
el compuesto CuFe2O4 en bulk
(curva azul). Las marcas verdes
corresponden a la fase del compuesto
de CuO según la ficha JCPDS 04-
009-2287.
Los patrones de DRX mostrados en las figura
evidencian la formación de la estructura cúbica
espinela como fase cristalina principal.
Asimismo los picos de poca intensidad,
señalados también como corresponden a la
formación de una segunda fase cristalina
identificada como CuO
https://www.redalyc.org/jatsRepo/933/9334741800
2/html/index.html 27