1. ¿Qué tipo de información proporciona el SEM?

Con gran resolución, proporciona información morfológica, topográfica, cristalográfica

y de composición, siendo muy ú6l para una gran variedad de aplicaciones científicas e
industriales.
2. ¿Cuáles son los elementos básicos del SEM?
Columna, cámara del espécimen, detectores y ordenador de control.
3. ¿En qué parte del SEM se encuentra el cañón de electrones?
En la columna encontramos el cañón de electrones que es la fuente de iluminación.
4. ¿Cuál es la profundidad que alcanza a penetrar el haz de electrones en el SEM?
El haz de electrones penetra hasta una profundidad de unas pocas micras, dependiendo
de la tensión de aceleración y la densidad del espécimen.
5. ¿Cuáles son los tipos de detectores del SEM?
El detector de electrones secundarios, el detector de electrones retrodispersados, El
detector de rayos X.
6. ¿Qué tipo de análisis permite realizar el SEM?
Esto permite realizar análisis tanto cualitativos como cuantitativos.
7. Sí la muestra a analizar es no conductora ¿qué tratamiento requiere?
Es necesario hacer un recubrimiento metálico o de carbón muy delgado, en función del
tipo de muestra y del análisis que se pretenda realizar.
8. ¿Cuál es el paso previo en el SEM antes bombardear de electrones a la muestra?
Abriremos la cámara y situaremos la muestra en el portamuestras, volveremos a cerrar
la cámara y ac6varemos el sistema de vacío para obtener la presión adecuada. Dentro de
la cámara la muestra queda situada justo debajo de la pieza polar de la lente objetivo.
9. ¿Con qué microscopio se puede observar un virus?
El microscopio electrónico de transmisión.
10. El haz de electrones en el SEM, luego de chocar con la muestra ¿qué tipos de
señales produce?
Estas señales revelan una valiosa información acerca de la muestra como la morfología
y topografía de la superficie, la composición elemental, la conductividad eléctrica, la
estructura cristalográfica, etc.
11. ¿Con qué metal se puede recubrir las muestras de SEM si se requiere imágenes
de calidad?
Si lo que se pretende es adquirir imágenes de calidad, se u-liza el recubrimiento con oro
(Au).
12. ¿Qué recubrimiento se requiere si se desea analizar una muestra en el SEM con
rayos X?
Rayos X, entonces resulta mejor opción el carbono ya que la señal de éste elemento no
interferirá tan drásticamente con el resto de elementos.
13. En un microscopio SEM convencional la presión de vacío es alrededor de.
La presión de un SEM convencional suele estar alrededor de 10-4 Pa.
14. ¿Cuáles son las ventajas del SEM?
• Proporciona una gran profundidad de campo.
• Gran versatilidad y amplia gama de aplicaciones.
• Aporta información versátil mediante los diversos detectores.
• Operación rápida y fácil manejo.
• Posibilidad de observar objetos más grandes que en un TEM, incluso en condiciones
de bajo vacío en algunos casos para evitar alteraciones de la muestra.
• No resulta preceptivo cortar o adelgazar la muestra para la observación y, en una gran
mayoría de casos, no requiere prácticamente preparación.
15. ¿Cuáles son las desventajas del SEM?
• Aunque existen versiones de sobremesa con un precio algo más asequible, un
microscopio SEM conlleva un alto coste económico.
• Solamente se pueden examinar estructuras superficiales y con menor resolución que
un microscopio de transmisión, a pesar de que los actuales microscopios dotados con
cañones FEG han mejorado este último aspecto notablemente.
• Supone una mínima formación específica, tanto para su uso como para la preparación
de muestras.
• La preparación de muestras puede provocar artefactos sobre todo en muestras
biológicas.
• Las condiciones de vacío y espacio limitado de la cámara del espécimen condicionan
el tamaño máximo de la muestra y la preparación, sobre todo en el caso de los
materiales orgánicos.
1. ¿En qué rango de longitud de onda se trabaja en el TEM?
Por la longitud de onda de la luz visible, que está entre los 400 y 800 nanómetros.
2. ¿De qué parámetro depende la longitud de onda en el microscopio TEM?
Esta longitud de onda dependerá del voltaje de operación del microscopio, usualmente
entre 120 y 300 kilovoltios.
3. ¿Cuáles son las partes básicas de un TEM?
Son el cañón de electrones, los detectores, el ordenador de control y la columna.
4. ¿Qué tipos de lentes están en la columna del TEM?
Lentes condensadoras, lente objetivo, lentes intermedia y proyectoras así como las
aperturas y el brazo portamuestras.
5. ¿Que es necesario tener para lograr un vacío en la columna del TEM?
El microscopio dispone de sistemas de refrigeración por agua y de bombas de ultra alto
vacío.
6. ¿Qué presión se encuentra en la columna del TEM?
Necesita tener una presión de 10-5 Pa.
7. ¿Qué permite modificar la trayectoria de los electrones en el TEM?
El campo magnético que se genera en su interior.
8. ¿Hasta qué distancia se pueden apreciar imágenes en el TEM?
Para que las muestras puedan observarse en transmisión, los electrones tienen que poder
atravesarlas. Por este motivo no pueden ser más gruesas que unos 50 nanómetros.
9. ¿Qué fenómeno físico se da en el microscopio óptico y en el electrónico?

Por los fenómenos de difracción de la luz en las aperturas de las lentes.

10. ¿Cuál es el espesor de la rejilla donde se coloca la muestra para el TEM?
Tiene que tener un espesor de 25 micras
11. ¿De qué material está hecha la rejilla del TEM?

La rejilla está hecha de cobre que soporta carbono amorfo con agujeros
12. ¿Qué les pasa a los electrones al llegar a la muestra-rejilla?

Veremos el haz transmitido y la red de difracción de dicha zona

13. ¿Qué significa HRTEM?

Microscopía eléctrica de alta resolución
14. El teorema físico que indica que las partículas se pueden comportar como
ondas y viceversa se llama…

Dualidad onda partícula.

15. ¿En qué año se construyó el primer microscopio electrónico?
En el año de 1930.
16. El conjunto de puntos de un cristal desde los cuales se ve le mismo entorno
atómico se llama….
La red de Bravais.
17. ¿Cuántas redes de Bravais en tres dimensiones existen?
Sólo hay 14 clases de redes de Bravais en tres dimensiones.
18. La dispersión elástica se caracteriza porque la energía….
No tiene pérdidas
19. El campo claro se obtiene con los electrones
Se obtiene con los electrones que no han sido difractados.
20. ¿En el microscopio TEM se pueden observar planos cristalinos?

si
1. ¿Cuál es la diferencia del STEM con el SEM?

2. ¿Qué información puede proporcionar el STEM?

3. ¿El STEM puede cuantificar la composición química de una muestra?

Podemos cuantificar la composición química del material, los estados de oxidación de

los elementos y otras propiedades de la muestra.
4. Las imágenes en le TEM se obtienen por la …………………de electrones

la muestra difractan e interfieren entre sí

5. ¿El AFM permite tomar imágenes superficiales de la muestra con resolución

nanométrica?
Si
6. ¿En qué tipo de fluido pueden estar las muestras para analizarlas en el microscopio
AFM?

En una gran variedad de medios líquidos, principalmente acuosos.

7. ¿Cuál es la diferencia entre el AFM con los microscopios TEM y SEM?

El AFM nos permite generar imágenes superficiales de las muestras con resolución
nanométrica.
8. ¿Cuáles son los elementos básicos del AFM?

Escáner para el movimiento de la muestra, Sonda del AFM, Láser, fotodetector y

sistema óptico, Sistema de retroalimentación electrónico y Ordenador con soJware de
control.

9. Los colores de las imágenes del AFM son……………los colores de las imágenes no
son verdaderos porque no esun microscopio que funcione con luz.

10. El microscopio confocal es un microscopio……….. que permite la medición de la

altura de las superficies para una amplia gama de texturas.