 Estas micrografías fueron tomadas usando un:

Microscopio electrónico de barrido

 Que tipo de detector se uso para tomar la imagen “a”

Un detector de electrones secundarios

 Qué tipo de detector se usó para tomar la imagen “b”

Un detector de electrones retrodispersados

ORO
 ¿Cuál técnica de caracterización sería útil para medir el tamaño de la nanopartícula de oro AuNP?

Microscopia electrónica de transmisión

 ¿Qué tipo de información se podría obtener del material usando la microscopia electrónica de barrido?

La morfología de las nanopartículas del material bioconjugado

 Si se desea certificar la presencia del fármaco en la superficie del material ¿cuáles serían las técnicas más
adecuadas?

FT-IR O XPS

 En esta técnica es necesario el uso de electrones primarios para su funcionamiento:

SEM

Película delgada de una mezcla magnetita

 ¿Si se desea evidenciar las fases cristalinas presentes en el material, cuales técnicas serían las más adecuadas
dadas las características del material?

DRX

 Si se desea cuantificar la cantidad de óxido de hierro presente, una buena aproximación seria identificar y
cuantificar el hierro en los diferentes estados de oxidación. para esto, la técnica más adecuada es:

XPS

 Suponiendo que se usó vidrio común como soporte para la película ¿cuál sería la técnica más adecuada para
medir el espesor de la película?

SEM, mediante el análisis de un corte transversal de la película

 para analizar paredes celulares cual técnica de microscopia se emplearía:

TEM

GRAFICA XRD HAZ DE RADIACION X

 Según la figura anterior, diga cuales son los nombres de los respectivos ejes Y y X

Luminosidad y ángulo de difracción 2

  Por medio de la ley de Bragg es posible conocer la estructura cristalina de un elemento utilizando un
difractograma como el anterior. De las siguientes, NO son sistemas cristalinos de las redes de bravais:

Trigonal centrado en las caras

 El profesor super O esta trabajando en su laboratorio y desea conocer la nano-textura y el espesor de una
película de Langmuir-blodgett ¿qué procedimiento debería realizar?

Usar AFM y posteriormente una técnica nanolitografica

 Dentro de las aplicaciones de la difracción de rayos x se encuentra:

Todas las anteriores

LA SIGUIENTE IMAGEN CORRESPONDE A TRES EQUIPOS UTILIZADOS

 La distribución de equipos de la imagen anterior identifica las siguientes técnicas según la secuencia 1 a 3:

TEM, SEM, CRT

 Con cual técnica se adquieren imágenes con una resolución lateral a escala atómica:

Ninguna de las anteriores

 Mide cuantitativamente la escala nanométrica de superficies y permite visualizar su nano-textura:

AFM

 Analice las siguientes dos afirmaciones y responde según corresponda: un espectro IR se obtiene al pasar la
radiación a través de una muestra y determinar que fracción de radiación incidente ha sido transmitida. la
energía particular a la que aparece cada pico en un espectro FT-IR guarda relación con la frecuencia de vibración
de una parte de la molécula.

FALSO Y VERDADERO

Responda las preguntas 21 a 24 teniendo en cuenta la siguiente información: cuando un electrón con una
determinada velocidad choca contra una muestra puede ocurrir lo siguiente:

 El primer suceso es base fundamental de la técnica:

TEM

 Según el segundo suceso, si la desviación producida por la dispersión elástica es mayor a 90 el electrón se
denomina:

Electrón retrodispersado

 El tercer suceso es base fundamental de la técnica:

TEM
  En el ultimo suceso se ha dicho que el átomo queda ionizado, razón por la cual el va a volver a su estado de
equilibrio. Una forma de hacerlo es emitiendo un fotón de radiación X. lo anterior es la base de la técnica:

EDS

 Técnica bastante usada en la identificación de materiales desconocidos y en la determinación de los

componentes de una mezcla:

FT-IR

 ¿Qué tipo de información se puede obtener mediante la técnica EDS?

Análisis cuantitativo

 Imagen 1 SEM
 Imagen 2 AFM
 Imagen 3 TEM
  ¿Cuál técnica de caracterización sería útil para medir el tamaño de una nanopartícula de oro obtenida a partir de
un sistema complejo?

Microscopia electrónica de transmisión

 ¿Cuál tipo de electrones pueden ser empleados para caracterizar gases?

Auger

 La muestra no necesita ser eléctricamente conductora, la medición se puede realizar a temperatura ambiente,
en UHV, en medio líquido, y es no destructiva de la red cristalina. lo anterior son ventajas de la técnica:

STM

 Por medio de esta técnica se puede detectar y cuantificar los elementos presentes en la superficie de un
material, tal como su estado de oxidación:
XPS

 Una principal problemática de AFM es:

La aguja sufre de fatiga, puede ocasionar una fractura frágil, es decir que con solo encender el equipo este se puede
dañar.

 El proceso de Compton scattering hace parte de las interacciones de la radiación x con la materia. Dicho proceso
hace parte del fundamento de la técnica:

XPS

 Técnica que permite estudiar las propiedades ópticas de la muestra (reflectividad, transmisión de la luz,
difracción de la luz) con resolución espacial de decenas de nanómetros:

SNOM

 Cual de las siguientes afirmaciones referente a la fotoluminiscencia es la falsa.

Es una luminiscencia en la que la energía activadora tiene origen en el bombardeo de los electrones acelerados y en la
irradiación de rayos.

 Los electrones que permiten obtener información cristalográfica de la muestra son:

Retrodispersados

 Cuando un fotón es dispersado con una frecuencia menor a la del fotón incidente, se considera que se presenta
la dispersión:

STOKES

 En el efecto fotoeléctrico, la energía cinética máxima de los fotoelectrones emitidos por un metal depende de:

La frecuencia de la luz incidente.

 La anterior grafica corresponde al espectro del difluo… donde los diferentes picos indicas que parte de la
molécula junto al orbital de donde se originaron los electrones captados por el detector.
 A qué tipo de técnica podría asociarse:

XPS

 la técnica que se utiliza para obtener información sobre estructuras aromáticas es:

XPS

 la dispersión inelástica se presenta cuando los fotones dispersados e incidentes tienen:

diferente frecuencia
  la técnica ______ es altamente utilizada para la exploración de nanoestructuras, propiedades, superficies e
interfaces, además usando técnicas nanolitograficas se pueden estimar el espesor de las películas LB.

AFM

 cuáles de las siguientes técnicas de caracterización pueden ser consideradas destructivas:

TEM, SEM

 ¿Con que modo de trabajo de AFM se puede conseguir resolución atómica, presentándose daño de la muestra?

Contacto

 Si una superficie metálica emite fotoelectrones cuando se ilumina con luz verde, ¿los emitirá cuando sea
iluminada con luz azul?

Si, puesto que la longitud de onda del color azul es menor que la correspondiente al color verde

 Son usados para aumentar la intensidad del espectro dando lugar a la espectrometría raman de superficie
mejorada

Usar superficies metálicas de nanopartículas de oro o plata

 Cual señal emitida en la técnica SEM es usada para obtener la información química de la superficie de la muestra
a través del análisis del espectro generado por parte de sus electrones.

Electrones auger

 Desventaja de la técnica AFM en el modo de trabajo NCM

Menor velocidad de barrido

 Cuales nanopartículas cargadas de puede ser un potente de células de cáncer de pulmón:

Óxido de hierro superparamagneticas

 Como se evita la interacción entre

 Dentro de las aplicaciones de la difracción de rayos x se encuentra:

Todas las anteriores

 La característica principal de los de…

 Para caracterizar sustancias liquidas ¿cuál de las siguientes técnicas se emplearía ¿

XPS Y RAMAN

 Se está realizando una investigación para diferenciar las células cancerígenas de las células normales

AFM

 Si el estudio anterior se va a realizar en organismos vivos ¿cuál no sería recomendable utilizar?

TEM
  Nanoestructuras fabricadas para el transporte de O2 y sustituir la hemoglobina:

RESPIROCITOS

 Imágenes:

 Los microscopios ópticos se usan generalmente para observar micro materiales con alta resolución, pero se ven
alterados debido a su carga de trabajo de

Longitud de onda