El trmino

microscopio electrnico
no se refiere a un instrumento con
un diseo determinado, sino mas
bien a una gama de instrumentos
que ofrecen imgenes aumentadas
de una muestra especfica.
Desde que en el ao 1931 Ruska
obtuviera las primeras imgenes con un
microscopio electrnico hasta hoy,
podemos agrupar estos aparatos en
varios tipos, cuyas siglas estn tomadas
de sus nombres en ingls:
- TEM: Transmission Electron Microscope.
- HVEM: High Voltage Electron Microscope.
- SEM: Scanning Electron Microscope.
- STEM: Scanning Transmission Electron
Microscope.
- STM: Scanning Tunnelling Microscope.
El microscopio electrnico emite un
haz de electrones que produce
magnificaciones progresivas hasta 1 milln
de aumentos, mientras que el poder de
resolucin del microscopio ptico llega
aproximadamente a 1.250 aumentos.
El poder de resolucin es la distancia
ms pequea entre dos puntos del objeto
que se puede diferenciar.
MICROSCOPA ELECTRNICA DE TRANSMISIN
(en adelante TEM, Transmission Electron
Microscopy) utiliza los electrones
transmitidos y/o difractados por la muestra,
aunque suele incorporar tambin un detector
de rayos X con fines analticos.
Las diferencias entre la luz y los
electrones y entre las lentes de vidrio y las
electromagnticas introducen notables
diferencias en cuanto a las posibilidades
de aplicacin.
Primero: Los electrones tienen una longitud de
onda muy corta, que permite alcanzar
resolucin atmica.
Segundo: Las lentes electromagnticas
permiten un cambio continuo en su potencia
con lo cual es posible variar la configuracin del
camino de los rayos segn los fines especficos
perseguidos.
La gran potencialidad del TEM, al
menos en su uso en mineraloga, radica en la
posibilidad de obtener de forma simultnea
sobre el mismo punto imgenes de gran
resolucin espacial, informacin cristalogrfica
y composicin qumica.
TEM moderno es capaz de producir
imgenes con una resolucin cercana al
, difracciones de zonas tan pequeas
como el mnimo haz del microscopio
(20) y microanlisis cuantitativos
desde el Na en adelante.
CRISTALOGRAFA ELECTRNICA
Durante cuatro dcadas la principal
utilidad del TEM en geologa ha sido el
estudio de fenmenos ligados al concepto
de cristal real como fuente de informacin
sobre transformaciones minerales y
cambios en las condiciones fsico-qumicas
de las rocas.
Una de las lneas busca conseguir imgenes
con la mejor resolucin posible. Dado que tales
imgenes son una proyeccin del potencial
atmico.

La segunda lnea es obtener difracciones
con las caractersticas necesarias para poder
aplicar la misma metodologa clsica de
cristalografa de rayos X con el fin de resolver y
refinar estructuras.
Nanopartculas de plata en
esferas de SiO2
Seccin cruzada
Difraccin de electrones
J EOL J EM-2010F
Philips CM20
J EOL J EM-1010
MICROSCOPIO ELECTRONICO DE BARRIDO
El fundamento del SEM radica en que los
electrones emitidos por un ctodo de tungsteno
pasan a travs de una columna en la que se ha
hecho un vaco de alrededor de 10
7
Torr.

El haz inicial es concentrado por una serie
de lentes electromagnticas (condensadora,
objetivo) desde unos 25.000 - 50.000 nm hasta
unos 1O nm; es decir, su dimetro va
disminuyendo hasta hacerse casi puntual.
Microscopio
Electrnico de
Barrido (SEM):
Se muestran los
diferentes
Componentes
Del mismo.
LP: light pipe,
F: fotomultiplicador,
ORC: osciloscopio de
rayos catdicos,
GB: generador de barrido,
BA: bobinas de amplificacin.
JEOL JSM-6700F
Philips XL30