MICROSCOPIA ELECTRNICO DE TRANSMISIN, TEM

ANA MILENA CASTAEDA VILLAMARN

EDGAR DANIEL RUIZ MARIN
NINI JOHANNA QUINTERO DURAN









UNIVERSIDAD INDUSTRIAL DE SANTANDER
FACULTAD DE INGENIERAS FISICOQUMICAS
ESTRUCTURA Y PROPIEDADES DE LOS MATERIALES
BUCARAMANGA
2013


MICROSCOPIA ELECTRNICA DE TRANSMISIN, TEM

ANA MILENA CASTAEDA VILLAMARN
EDGAR DANIEL RUIZ MARIN
NINI JOHANNA QUINTERO DURAN


Trabajo para optar por un logro en la asignatura Medicin de estructura y
propiedades de los materiales

Ing. Oscar Rey Castellanos







UNIVERSIDAD INDUSTRIAL DE SANTANDER
FACULTAD DE INGENIERAS FISICOQUMICAS
MEDICIN DE HIDROCARBUROS
BUCARAMANGA
2013
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INTRODUCCIN

La microscopa electrnica de transmisin permitir una caracterizacin a nivel
micromtrico de los materiales, y a partir de la misma puede disearse un modelo
de desarrollo de tecnologas y productos aplicables a la industria de los
Hidrocarburos. Todas las actividades petroleras se pueden ver relacionadas con
componentes nanos y micromtricos, que a su vez requieren de alta resolucin
para determinar y controlar su calidad.
La caracterizacin estructural es de suma importancia en la produccin y
aplicacin de microestructuras, con el fin de estudiar un medio para optimizar
propiedades. Es as que a pesar de que las tcnicas de microscopia requieren de
inversiones cuantiosas, el dinero y el tiempo gastados s valen la pena. En el
transcurso de este trabajo se ver reflejada la importancia de esta tcnica,
involucrando su historia, su metodologa y los equipos que permiten la formacin
de las imgenes.
OBJETIVOS:

Obtener informacin estructural y morfolgica en la ciencia de materiales,
como en ciencia biomdica.
Conocer la relacin entre la morfologa y la estructura a nivel atmico o
molecular.
Conocer los elementos que conforman el microscopio electrnico de
transmisin.
Diferenciar los diferentes tipos de preparacin de muestras.
Determinar las aplicaciones de la microscopia electrnica de transmisin.










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MICROSCOPA ELECTRNICA

La microscopa electrnica ha revolucionado el conocimiento de ciencias como la
biologa o la medicina, aunque su campo de aplicacin se ha extendido a la
mayora de disciplinas cientficas, incluidas las de materiales. La principal ventaja
de este tipo de microscopa es alcanzar una extraordinaria amplificacin de la
imagen de la muestra manteniendo un poder de resolucin casi mil veces mayor
que el ptico. Estas magnficas propiedades se deben a que la fuente de
iluminacin usada es un haz de electrones.
El objeto de este tema es la interaccin de los electrones con la materia y la forma
de obtener informacin tanto estructural como de caracterizacin de defectos. En
muchos sentidos, el microscopio electrnico ME ofrece una solucin ideal a los
problemas que presentan los microscopios pticos ( ~ 0.5 m) que no pueden
obtener resolucin atmica ya que la longitud de onda de la radiacin incidente es
demasiado grande. Con el ME se pueden obtener electrones acelerados con
asociada bastante menor de 1 , y por tanto se puede obtener, al menos
tericamente, resolucin atmica. Con las lentes adecuadas se puede transformar
los electrones difractados en la imagen real.

Esquema general del efecto del haz de electrones sobre una muestra.

Los electrones en el ME se generan por efecto termo-inico en un filamento
(ctodo) que es generalmente wolframio, y se monocromatizan acelerndolos a
travs de un potencial (E) en un sistema sometido a vaco. Para un voltaje de 100
kV, la longitud de onda asociada a los electrones es 0.037 (0.01 para 1 MV).

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HISTORIA

El microscopio electrnico es el resultado de diversos experimentos y
concepciones tericas. Tiene su origen en los experimentos de Sir J. J. Thomson
quien estudi los rayos catdicos en tubos con gases enrarecidos. En el ao 1924
de Broghe (2) propuso su teora de la naturaleza ondulatoria de las partculas
materiales. Despus de unos aos Busch demostr que un rayo de electrones
atravesando un campo magntico o elctrico converge al foco y basndose en
esto construy la primera lente magntica en 1926. Davisson y Thomson
compartieron el premio Nobel por el descubrimiento de la difraccin del electrn.
Padre e hijo J. J. Thomsoa y G. P. Thomson jugaron un papel fundamental en la
historia del desarrollo del microscopio electrnico.
Las propiedades de una partcula cargada con electrones fueron explotadas por
Knoll y Ruska y construyeron el primer microscopio electrnico de lente
magntica, utilizando un rayo de 60.000 voltios y obteniendo imgenes sobre una
pantalla fluorescente. Las primeras microfotografas de materiales biolgicos
fueron conseguidas por Marton en 1934. El primer microscopio electrnico de
transmisin que oper en Estados Unidos en 1939 fue construido en la
Universidad de Toronto por A. Prabus y J. Hiller bajo la direccin de E. Burton.
Este microscopio era muy similar al tipo desarrollado por Van Borries y Ruska
como instrumento comercial.
TIPOS DE MICROSCOPIOS

La base de la microscopa electrnica es la utilizacin como fuente de luz de un
haz de electrones acelerados y su focalizacin sobre la superficie de la muestra
mediante unas lentes condensadoras. Existen diferentes tipos de microscopios
electrnicos, pero dos son los ms conocidos y empleados: el "Transmission
electron microscope (TEM)" o microscopio electrnico de transmisin y el
"Scanning electron microscope (SEM)" o microscopio electrnico de barrido.
Ambos difieren mucho en los principios de funcionamiento as como en los
resultados que se obtienen con su uso. Existe adems una combinacin de los
dos anteriores, el STEM con el que se analiza una muestra delgada barriendo su
superficie.
Otros microscopios electrnicos menos conocidos son:
- El microscopio de emisin de iones (FIM) que permite observar la
estructura atmica de la superficie de algunas muestras (energas de
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enlace de tomos absorbidos, corrosin de superficies metlicas,
imperfecciones cristalinas de algunos metales).
- El microscopio efecto tnel (STM) con el que se obtiene una imagen
topogrfica a escala atmica (reconstruccin de numerosas superficies de
materiales de gran inters tecnolgico).

MICROSCOPIO ELECTRNICO DE TRANSMISIN, TEM

La interaccion de los electrones con la materia es un fenomeno complejo de
multiples efectos, los cuales son controlados mediante las tcnicas apropiadas y
asi aprovechados para conocer la estructura interna de los materiales. La tecnica
de microscopia electronica de transmision se ocupa de la informacion contenida
en aquellos electrones que traspasan una muestra solida sobre la que se ha
hecho incidir un haz electronico coherente y a gran velocidad. La heterogenea
distribucion de densidad electrnica presente en la muestra provoca en la
radiacion transmitida la formacion de imagenes de interferencia, que
adecuadamente interpretadas, revelan sus caracteristicas morfologicas y
estructurales. Este es asimismo el fundamento de la microscopia optica y el
avance que supone la microscopia electronica respecto a ella es en ultima
instancia una consecuencia de la distinta naturaleza de la radiacion que se emplea
en cada caso.
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Esquema simplificado ilustrando la semejanza entre microscopio ptico y
microscopio electrnico de transmisin.

Debido al fenmeno de difraccion inherente a toda interaccion onda-materia, la
resolucin que se consigue en el analisis microscopico viene limitada por la
longitud de onda de la radiacion empleada. Para el foton esta cota se encuentra
alrededor de los 200 nm mientras que para el electron, con una longitud de onda
del orden de 10'-105 veces mas pequena, llega a ser inferior a los 0.2 nm. El
desarrollo de instrumentos precisos y provistos de eficaces dispositivos
correctores ha conseguido establecer este nivel de resolucin como especificacion
tipica de los microscopios electronicos que se comercializan en la actualidad. La
microscopia electronica se configura asi como una tecnica capaz de resolver
estructuras a nivel atomico y de hecho ya comienzan a ser clasicas las
observaciones llevadas a cabo estos ltimos anos, en ]as que ha sido posible
discernir los atocnos e iones integrantes de ciertas redes cristalinas.'
Aunque la microscopia electronica de transmition ha encontrado su maxima
expresion en la observacion de materiales biologicos, su papel en el estudio de la
estructura de materiales tecnologicos es sin duda alguna sobresaliente y hoy en
dia se le considera indispensable en este sentido. Metales, ceramicos y polimeros
vienen siendo explorados con el microscopio electronico como onico medio para
conocer la relacion entre la morfologa y la estructura a nivel atomico o molecular.
La difraccion de electrones se erige por otra parte como tecnica insustituible en el
analisis estructural de muestras microscopicas de estos materiales.
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Imagen: En el caso del microscopio electrnico la formacin de la imagen se
produce por la dispersin de los electrones, mientras que en el ptico la imagen se
produce por absorcin de los fotones. Es decir la imagen que se observa en un
microscopio ptico (MO) se debe a la diferente absorcin de la luz por las distintas
estructuras de la muestra, mientras que en el microscopio electrnico la formacin
de la imagen est en funcin de la dispersin y, por consiguiente, perdida de los
electrones (figura 1). Est capacidad de dispersin va a depender de las distintas
estructuras atmicas de la muestra.

Efectos bsicos de los electrones al chocar con la materia.

Aumentos: las lentes del microscopio electrnico son electromagnticas y actan
como las de un ptico (lamina 1A), es decir, desviando la trayectorias seguidas por
los electrones en el vaco. En microscopa ptica los vidrios de superficies curvas
(lentes) pueden desviar el haz luminoso haciendo que la imagen de un objeto
parezca ms grande, en microscopa electrnica este mismo efecto se consigue
con campos magnticos. Los aumentos en este tipo de lentes se obtienen
modificando la intensidad de la corriente que se hace pasar por las bobinas que
conforman las lentes, provocando un aumento del campo de fuerza y, por tanto,
un desvo mayor o menor del haz de electrones. Mientras las lentes de un MO
tienen una distancia focal fija, las lentes electromagnticas del ME tienen una
distancia focal variable, por lo que para incrementar los aumentos no es necesario
cambiar de lente sino simplemente aumentar el campo de fuerza de la lente
electromagntica. Las lentes electromagnticas producen desviaciones no
proporcionales del haz de electrones que se manifiesta como una aberracin
denominada astigmatismo, pero que se pueden corregir mecnicamente.
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Microscopio electrnico de transmisin.

Iluminacin: El haz de electrones se obtiene por la excitacin de un filamento
metlico (ctodo) y es atrado por la diferencia de potencial producida en el nodo
(50.000-100.000 voltios). Este fenmeno se produce cuando ctodo y nodo se
encuentra en vaco (lamina 1B). Como el haz de electrones es divergente, se usa
una lente condensadora para dirigir el haz hacia la muestra, que debe ser un corte
muy fino y preparado de manera especial. Los electrones que no son totalmente
dispersados son reconducidos por la lente objetivo producindose el aumento de
la imagen que es proyectada por la lente objetivo o proyector. Como los electrones
no son visibles estos se observan en una pantalla o en un negativo impresionado
(lamina 1B y C). Las partes de la imagen donde los electrones han sido muy
desviados no resultan muy intensas, dando una tonalidad clara en el negativo, que
se rebelar oscuro cuando se positiva. Por tanto, aquellas reas de la muestra que
tienen un mayor indice de dispersin, son ms densas a los electrones,
aparecern oscuras en la imagen final; justo al contrario que aquellas reas donde
no exista prcticamente dispersin. El contraste se puede mejorar con un pequeo
diafragma que limita solamente a los electrones ms perifricos. La profundidad
de campo es ms o menos constante, dada las peculiaridades tcnicas del
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microscopio, pero sta (aproximadamente 1m) es suficiente para que est
enfocada toda el grosor de la muestra, que es inferior a 0,5m.
Poder de resolucin: en la microscopa ptica el poder de resolucin est
limitado por la longitud de onda de los fotones, pero en el microscopio electrnico
se juega con la ventaja de una pequesima longitud de onda en la propagacin
de los electrones, por lo que el poder de resolucin es muy elevado. Esto permite,
que imagen pueda ser aumentada posteriormente en una copia fotogrfica
muchas veces, para observar todos los detalles. El poder de resolucin de esta
microscopa es de 5 a 10 (0,5 milimicras) (lmina 2).

Ejemplos de microscopa ptica comparada con electrnica de barrido y de
transmisin usando huevos de un efemerptero.





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COMPONENTES DEL MICROSCOPIO ELECTRNICO DE TRANSMISIN
(TEM)


Can electrnico


El tipo ms usado de can electrnico consiste de un filamento de alambre de
tungsteno doblado en forma de V. El electrodo de control se denomina cilindro de
Wehnelt, y tiene una apertura circular de 1 a 3 mm de dimetro centrada en el
pice del filamento. La superficie cncava hace las funciones de nodo, y
utilizando una superficie convexa la imagen de la fuente electrnica puede
reducirse en tamao respecto al electrodo cncavo. La intensidad total del haz de
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ctodo a nodo puede ser de 10 a 400 microamperios, pero solamente una
pequea fraccin de ste llega hasta la muestra.
Existen otros tipos como:
TERMOINICO EMISIN DE CAMPO
Emite electrones al ser calentado.
-Termoinico de W:
Baratos, robustos y fcilmente
reemplazables.
-Termoinico de LaB6:
Densidad de corriente, brillo, tiempo de
vida, precio y requisitos de vaco
mayores que W.
Emite electrones cuando se le aplica un
campo elctrico intenso. ZrO/W




Condensadores
Los dos condensadores son capaces de dar una amplia gama de intensidad
ajustando el can electrnico. Esto reduce el rea iluminada en la muestra. Sin
embargo, otras partes de la muestra tambin sufren los efectos del haz
electrnico. El primer condensador reduce la imagen de la fuente mientras que el
segundo condensador obtiene la adecuada intensidad de iluminacin.
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Plataforma para la colocacin de la muestra
La plataforma para colocar la muestra est situada en frente del objetivo. Se
introduce la muestra en la columna del microscopio a travs de una abertura.
Objetivo
El objetivo es la lente ms importante en el microscopio electrnico. La distancia
focal de esta lente est comprendida entre 1 y 5 milmetros, siendo 1,1 mm la ms
frecuente. Cuanto menor es la distancia focal, mayor es la resolucin. Debido a
que el haz de imagen tiene la mxima apertura angular en el primer objetivo, esta
lente controla la calidad de la imagen producida. Se puede corregir la aberracin
esfrica usando un "stigmator", que es un dispositivo que permite introducir metal
para compensar la inhomogeneidad inherente de la lente, y obtener elevada
resolucin. Otro accesorio importante, permite regular la apertura del objetivo, la
cual limita la dispersin de los electrones, evitando as la degradacin de la
imagen. Esta apertura mejora el contraste siendo 20 y 40 micrmetros (pm ) los
ms frecuentes.
Lente intermedia
La lente intermedia puede aumentar o disminuir la imagen. Se puede conseguir
esto, aumentando o disminuyendo la potencia de la corriente a esta lente.
Lente de proyeccin
La lente de proyeccin corresponde al ocular del microscopio ptico. Su funcin es
la de proyectar la imagen real sobre la pantalla fluorescente, y permite una amplia
gama de aumentos. Se puede variar la ampliacin de 100 X hasta 300.000 X
usando lentes intermedias y de proyeccin.
Cmara de observacin
La cmara de observacin y la pantalla fluorescente estn situadas en el fondo de
la columna. La imagen se enfoca sobre un punto marcado y el enfoque fino se
consigue con unos binoculares de 6 y 10 X. El dimetro del punto de enfoque es
de 100 (pm ), por lo tanto la imagen debe ser mayor que este dimetro para ser
resuelta. La cmara de observacin est protegida por un vidrio grueso de plomo
para evitar la emisin de rayos X.
Cmara fotogrfica
La cmara fotogrfica est situada debajo de la pantalla fluorescente. La pantalla
fluorescente est sujetada por un lado, y al quitar el paso del haz electrnico la
imagen se centra sobre la pelcula fotogrfica. Se pueden usar varios tipos de
pelculas y placas de vidrio.

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PREPARACION DE MUESTRAS

Como la imagen que se forma en el TEM depende de que los electrones puedan
atravesar la muestra, sta ha de ser suficientemente delgada para permitirlo.
Todas las tcnicas de preparacin, tanto de muestras materiales como biolgicas,
persiguen el objetivo de adelgazar o conseguir secciones muy finas del
espcimen, menores a 100 nm., afectando al mnimo su estructura original.
Preparacin de
muestras biolgicas
para TEM
Preparacin de
muestres biolgicas a
baja temperatura
Preparacin de
muestras para Ciencia
de materiales para TEM
- Deshidratacin en
alcoholes
- Fijacin con tetraxido
de osmio
- Tincin con acetato de
uranilo
- Inclusin en resina
Epoxi
- Cortes semifinos y
ultrafinos de muestras
para Ultramicrotoma
- Criofijacin
- Criosustitucin
- Inclusin a baja
temperatura
- Crioultramicrotoma
- Preparacin de
muestras de materiales
en polvo: preparacin
sobre Rejilla TEM
- Preparacin de
muestras de materiales
compactos
- Preparacin de
muestras materiales en
capas delgadas (seccin
transversal).

Preparacin de muestras de materiales en polvo para el TEM
En la preparacin de este tipo de muestras slo hay que diluir una cantidad muy
pequea de muestra en un disolvente orgnico que no la afecte, habitualmente
dicloroetano o acetona. Tambin se puede utilizar agua si no hay alternativa. A
continuacin se busca la mxima dispersin sumergiendo la solucin en un bao
de ultrasonidos y, al cabo de un tiempo, ya se puede depositar una gota sobre una
rejilla filmada con carbono para ser observada directamente una vez se haya
secado.
En el Servicio se provee al usuario de todo lo necesario en este proceso.
Preparacin de muestras materiales compactas para el TEM
Para este tipo de muestras se sigue un proceso de adelgazamiento en el que es
necesario la utilizacin de varios aparatos. En primer lugar el usuario ha de aportar
una muestra que no supere las 200 m. de grosor. A continuacin, el primer paso
es cortar un disco de 3 mm. de dimetro con el Ultrasonic Disk Cutter pues este
es el tamao de la muestra que se puede introducir en el TEM. El siguiente paso
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es excavar el disco por ambas caras hasta obtener una zona central de unas 20
m. con el Dimpling Grinder. Una vez conseguido, se introduce este disco en el
Ion Milling para que sea atacado por ambos lados con sendos haces de iones de
argn hasta que estos realizan un pequeo orificio central, alrededor del cual
queda una zona suficientemente delgada.
MODOS DE FORMACIN DE LA IMAGEN
Existen diferentes modos de formacin de la imagen en un microscopio de
transmisin: si la imagen se forma a partir del haz transmitido, que no ha sufrido
dispersin, entonces la imagen del objeto es oscura sobre un fondo brillante. Si,
por el contrario, se utilizan los electrones dispersados en este caso la imagen
aparece brillante sobre un fondo oscuro. Por ello estas dos tcnicas se denominan
formacin de imagen en campo claro y en campo oscuro respectivamente, la
primera es la ms utilizada.
Por otra parte con este microscopio se puede obtener un diagrama de difraccin
de la muestra, lo que nos aporta una valiosa informacin sobre la estructura
cristalina de la misma. Esto es posible si hacemos incidir el haz de electrones
sobre un cristal con un ngulo capaz de satisfacer la ley de Bragg para una
determinada distancia entre planos atmicos d
hkl
. Ya que la longitud de onda de
los electrones es muy pequea ese ngulo tambin lo es por lo que el haz debe
incidir prcticamente paralelo a los planos reticulares. El diagrama de difraccin
est formado por los puntos de corte de los haces difractados y transmitido con el
plano de la pantalla. Representa, por tanto, la seccin de la red recproca del
cristal en el plano normal al haz de electrones.
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1. Seccin de fibras de asbesto
2. Precipitacin doble de Al


3. Defectos en un semiconductor
4. Defectos reticulares

MICROSCOPA ELECTRNICA DE BARRIDO (SEM) VS MICROSCOPA
ELECTRNICA DE TRANSMISIN (TEM)
El microscopio electrnico de barrido (SEM) es un instrumento que permite la
observacin y caracterizacin superficial de materiales inorgnicos y orgnicos,
entregando informacin morfolgica del material analizado (lmina 2A). A partir de
l se producen distintos tipos de seal que se generan desde la muestra y se
utilizan para examinar muchas de sus caractersticas. Con l se pueden realizar
estudios de los aspectos morfolgicos de zonas microscpicas de los distintos
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materiales con los que trabajan los investigadores de la comunidad cientfica y las
empresas privadas, adems del procesamiento y anlisis de las imgenes
obtenidas. Las principales utilidades del SEM son la alta resolucin (~100), la
gran profundidad de campo que resuelve una imagen tridimensional de la muestra
y la relativa sencillez de preparacin de las muestras.
El microscopio electrnico de barrido puede estar equipado con diversos
detectores (lmina 2 B y C), entre los que se pueden mencionar: un detector de
electrones secundarios para obtener imgenes de alta resolucin (SEI), un
detector de electrones retrodispersado que permite la obtencin de imgenes de
composicin y topografa de la superficie (BEI) y un detector de energa dispersiva
(EDS) que permite detectar los rayos X generados por la muestra y realizar
anlisis de distribucin de elementos en superficie.
El microscopio electrnico de transmisin (TEM) tiene un modo de operar similar
al del microscopio ptico, ya que est basado en el hecho de que la manera de
actuar un campo electromagntico sobre un haz de electrones es anlogo a la
accin de una lente de cristal sobre el haz de fotones. La imagen, sin embargo, se
forma sobre una pantalla fluorescente como lo hara en una pantalla de televisor.
El microscopio electrnico de barrido no tiene la resolucin que se alcanza con el
microscopio electrnico de transmisin, pero su ventaja es una excelente
impresin tridimensional, derivada de la amplificacin de seales que se generan
al irradiar la superficie de las muestras con un haz muy estrecho de electrones.











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CONCLUSIONES

Aunque la microscopia electrnica de transmisin ha encontrado su mxima
expresin en la observacin de materiales biolgicos, su papel en el estudio
de la estructura de materiales tecnolgicos es sin duda sobresaliente y hoy
en da se le considera indispensable en este sentido.
La utilizacin de la Microscopia Electrnica de Transmisin es de gran
importancia en el estudio de la estructura interna de los materiales.
Mediante esta tcnica se pude observar la muestra a distintos aumentos,
para analizar diferentes aspectos de la morfologa de esta.
Los procedimientos realizados para la preparacin de muestras constan de
un riguroso esquema que garantiza la calidad de las observaciones
realizadas con el microscopio electrnico de transmisin de modo que
garantizar el xito de esta tcnica empieza desde el adecuado manejo que
se le d al objeto de estudio.