Microscopía TEM

CLARISSÉ HERNANDEZ SANTANA

|NANOQUÍMICA|
2172359
UANL-FACULTAD DE CIENCIAS QUÍMICAS
 Introducció n
• La microscopía electrónica de transmisión (TEM) es una técnica microscópica donde el
haz de electrones se transmite a través de una muestra ultra-fina, interactuando con
la muestra a medida que pasa por ella.

• Un concepto importante en el campo de la microscopía es la resolución, la cual se define

como la distancia más pequeña que es posible observar con un instrumento óptico, y
depende de varios factores como, la longitud de onda de la fuente de iluminación y los
defectos de las lentes. A medida que se reducen la longitud de onda y los defectos de las
lentes la resolución se mejora. Actualmente, la resolución del microscopio electrónico de
barrido (SEM, por sus siglas en inglés) ha alcanzado 1 nm, mientras que el microscopio
electrónico de transmisión (TEM, por sus siglas en inglés) ha alcanzado valores menores a
0.1 nm. Por lo tanto, el microscopio electrónico es el equipo indicado si queremos estudiar y
analizar materiales nanométricos, su contribución en las nanociencias ha sido excepcional.

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 Introducció n
• La observación detallada de objetos pequeños por debajo de la resolución del ojo humano
(la cual es de aproximadamente 1 mm) siempre ha estado entre los mayores desafíos del
ser humano y, sin lugar a duda, el microscopio electrónico, tanto el TEM como el SEM, ha
figurado entre sus principales herramientas

• En especial, la microscopía electrónica de transmisión (TEM) forma imágenes que

resultan de la interacción de los electrones como radiación con el objeto o muestra. En
algunos casos, las imágenes son fruto de fenómenos de interferencia o de dispersión
incoherente. Además, el objetivo principal de la microscopía ha sido durante mucho
tiempo determinar las posiciones atómicas en las estructuras que la materia puede tener y
para ciertos objetivos relacionarlas con las propiedades de los materiales.

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 Historia
En 1742, el inglés John En 1895, Wilhelm Conrad
El microscopio de luz Röntgen descubre los rayos X
Cuff diseñó un
fue inventado por el y se inicia una vorágine de
microscopio experimentos con el objetivo
fabricante de lentes
compuesto, de determinar su origen y
holandés Zacarias naturaleza. De esta manera,
popularizado en el libro
Janssen en 1595 Joseph Thomson descubrió los
de Henry Baker The electrones estudios con tubos
microscope made easy de rayos catódicos

En 1929, Hans Busch indica que es

La invención del posible enfocar un haz de electrones En 1924, el físico francés
microscopio electrónico de con campos electromagnéticos Louis de Broglie desarrolla
(bobinas) de la misma manera en la teoría ondulatoria del
transmisión (TEM) que las ondas de luz se enfocan
correspondió a Ernst mediante las lentes de vidrio. Este electrón donde se propone
Ruska y Max Knoll en 1931 aporte fue crucial para la que una partícula se
construcción del microscopio comporta como onda.
electrónico.

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Un equipo de TEM :
El microscopio electrónico de transmisión
(TEM) es un instrumento que aprovecha los
fenómenos físico-atómicos que se producen
cuando un haz de electrones suficientemente
acelerado colisiona con una muestra delgada
convenientemente preparada.

Cuando los electrones colisionan con la

muestra, en función de su grosor y del tipo de
átomos que la forman, parte de ellos son
dispersados selectivamente, es decir, hay una
gradación entre los electrones que la
atraviesan directamente y los que son
totalmente desviados.

Todos ellos son conducidos y modulados por

unas lentes para formar una imagen final sobre
una CCD que puede tener miles de aumentos
con una definición inalcanzable para cualquier
otro instrumento.

La información que se obtiene es una imagen

con distintas intensidades de gris que se
corresponden al grado de dispersión de los
electrones incidentes.

La imagen del TEM tal como se ha descrito

ofrece información sobre la estructura de la
muestra, tanto si ésta es amorfa o cristalina.
 Funcionamiento bá sico de un equipo SEM

Paso 3:
Paso 1: Colocando una barrera física de
El microscopio Paso 2: pequeña apertura angular por
electrónico de Dichos electrones debajo del plano de la muestra, los
transmisión utiliza un atraviesan la muestra, electrones dispersados según
fino haz de electrones produciéndose la dispersión ciertos angulos, serán eliminados
acelerados a gran de los mismos en diferentes del haz, siendo la imagen formada
velocidad como fuente trayectorias menos intensa en aquellas zonas
de iluminación. correspondientes a una mayor
masa de la misma.

Paso 4:
La imagen de alta resolución es aumentada y
proyectada sobre una pantalla fluorescente para
la visualización en tiempo real, pudiendo
registrarse digitalmente.
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 TIPOS DE MICROSCOPÍA (AFM,TEM,SEM,STEM).
SEMEJANZAS Y DIFERENCIAS.

Microscopías mas difundidas

De sonda Electrónica
STM TEM
SEM
(Scannin AFM (Transmi
(Scannin
g (Atomic ssion
g
Tunnelin Force Electroni
Electron
g Microsco c
Microsco
Microsco py) Microsco
py)
py) py)

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 Características de los tipos de microscopias
La AFM sondea la superficie de una muestra con una punta muy aguda, de un par de micras de largo y menos de 100
A° de diámetro.
• La punta se localiza al final del brazo del cantiléver de 100 a 200 micras de largo.
• La fuerza entre la punta y la superficie de la muestra hace que el cantiléver se flexione.
• Un detector mide esta flexión que ocurre conforme la punta barre la superficie y con ello se obtiene un mapa
topográfico.
Este tipo de medida puede ser aplicada tanto a materiales aislantes, semiconductores o conductores.

En la STM la imagen obtenida corresponde a la densidad electrónica de los estados de la superficie.

• La corriente túnel es una función que varia de modo exponencial con la distancia.
• Se pueden obtener imágenes con resoluciones de sub-ansgtrom.
• La principal ventaja de esta técnica es la resolución a escala atómica que ofrece. Se trabaja en materiales
conductores.

En la SEM la imagen obtenida es formada a partir de los electrones secundarios que surgen de la muestra, y son
atraídos hacia el portamuestrras mediante potencial positivo. La magnificación de la imagen se produce al barrer
un área muy pequeña.
Las imágenes SEM se pueden obtener sobre cualquier especie en masa (no han de ser muy finas como en TEM)

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 VENTAJAS Y DESVENTAJAS DE LA TEM
Ventajas
•Amplia gama de muestras a analizar.
•Se pueden realizar medidas de elasticidad.
•Se pueden realizar medidas in situ en una celda liquida o en la celda electroquímico.
•Las resoluciones verticales y horizontales son muy elevadas.

Desventajas
•La punta esta en contacto con la superficie.
•Problemas de destrucción de la punta o modificación de la superficie.
•Arrastre de partículas.
•Las capas de agua absorbida generan problemas de importantes fuerzas de capilaridad.
•Cargas electrostáticas de superficie.
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 APLICACIONES DE LA TEM
• Observar y fotografiar zonas de la muestra, desde 10 aumentos a 200.00 con una resolución espacial <5nm.

• Medida de longitudes nanométricas.

• Distinción, mediante diferentes tonos de grises, de zonas con distinto numero atómico medio.

• Mapas de distribución de elementos químicos, en los que se puede observar simultáneamente la distribución de
hasta 8 elementos, asignando un color diferente a cada uno.

• Observar la ultraestructura de las células, bacterias,etc.

• Localización y diagnóstico de virus.

• Control del deterioramiento de los materiales.

• Grado de cristalinidad y morfología.

• Defectos en semiconductores.
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Imá genes obtenidas en TEM
Imá genes obtenidas en TEM
 Conclusiones

• Se presentaron de manera básica los fundamentos de la técnica de análisis morfoló gico, estructural y química llamada
Microscopia electró nica de transmisió n TEM.

• La microscopía electró nica es una herramienta importante en la caracterizació n de nanomateriales. En su modalidad de

alta resolució n, es posible obtener imá genes de las columnas de átomos que conforman una muestra, o si el espesor es
una monocapa, pueden obtenerse imágenes de átomos. Normalmente, el producto es una imagen con intensidades
específicas, que para ser interpretado correctamente, se debe considerar la interacció n del haz electró nico con la muestra.

• En este trabajo, se describen algunas características importantes de la microscopía electró nica de alta resolució n y de
resolució n ató mica. Asimismo, se proporcionan ejemplos de observaciones en materiales específicos. Se da atenció n
especial a la interacció n de los electrones con la muestra para obtener imágenes que reproduzcan la distribució n ató mica
genuina y sin modificació n por un haz electró nico demasiado intenso.

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 Referencias
1. Calderó n, H. A. (2020).Microscopía electró nica de transmisió n para observar á tomos: principios y desarrollo.
Mundo nano. Revista interdisciplinaria en nanociencias y nanotecnología, 13(25), 133-156.

2. Sandino, J. (2019). MICROSCOPÍA ELECTRÓ NICA DE TRANSMISIÓ N Y MECÁ NICA CUÁ NTICA. MOMENTO,
(59E), 48-71.

3. Reyes Gasga, J. (2020). Breve reseñ a histó rica de la microscopía electró nica en México y el mundo. Mundo
nano. Revista interdisciplinaria en nanociencias y nanotecnología, 13(25), 79-100.

4. Mendoza Ramírez, M. C., & Avalos Borja, M. (2020). Nanoestructuras y su caracterizació n por medio de
microscopía electró nica de transmisió n; ciencia y arte.

5. Mundo nano. Revista interdisciplinaria en nanociencias y nanotecnología, 13(25), 61-78.

6. Rodríguez, A., & Jiménez-Ló pez, J. C. (2022). Servicio de microscopía confocal y electró nica de

7. transmisió n de la Estació n Experimental del Zaidín (CSIC).

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