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Apunte general
Wels, Ariel M.
arielmw87@gmail.com
Sistemas de control Capitulo 0
3
Sistemas de control Capitulo 0
Control Automático
Allı́ donde una velocidad, un movimiento, temperatura, presión, nivel, etc. se mantie-
nen regulados, hay un controlador que realiza este trabajo.
El objetivo del control es medir el valor de la variable controlada del sistema para
aplicar correcciones a través de la variable manipulada para obtener un valor deseado.
Planta: La planta es el conjunto de partes que trabajan juntas con el objetivo de realizar
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Sistemas de control Capitulo 1
una operación en particular. Se le llama planta a cualquier sistema fı́sico que se desea
controlar.
Controlador: este bloque recibe una señal a su entrada y la convierte en una señal que consiga
que el sistema alcance la referencia deseada, determinando el comportamiento del sistema.
Perturbación: Una perturbación es una señal que normalmente afecta a la variable controlada
del sistema. Las perturbaciones pueden ser internas o externas al sistema y actúan como
otra entrada.
Sistema de control en lazo cerrado: Los sistemas de control en lazo cerrado alimentan al
controlador la señal de error e(t) que es la diferencia entre la señal de entrada r(t) y la
señal de realimentación h(t) , a fin de reducir el error y llevar la salida del sistema a un
valor deseado. El término control de lazo cerrado siempre implica el uso de una acción de
control realimentado para reducir el error del sistema; es por eso que los términos “control
realimentado” y “lazo cerrado” se usan indistintamente.
Temporizador
1.2.3 Conclusión
En los sistemas en lazo abierto se puede controlar que el sistema reciba más o menos
accionamiento (se varı́a la variable manipulada), pero no se puede controlar con exactitud
el punto en el que se encontrará la variable controlada. Por ejemplo en el caso del horno
microondas, no se puede estar seguro de que la leche no hervirá. Tampoco con el caloventor
se puede conocer con exactitud la temperatura que alcanzará la habitación. En ambos casos el
resultado final dependerá del tamaño del vaso o de la habitación, de la temperatura ambiente,
el aislamiento, la potencia total del calentador, etc. Esta gran desventaja de los sistemas en
lazo abierto no impide que se utilicen con mucha frecuencia por su bajo costo, gran sencillez y
robustez.
Este tipo de sistema de control soluciona el problema de los sistemas en lazo abierto,
que dependen de las condiciones ambientales. El nombre de lazo cerrado proviene de la señal
del sensor que vuelve al controlador, cerrando el lazo de control. Los elementos del sistema de
control en lazo cerrado son los mismos que los del sistema en lazo abierto con dos añadidos:
• El Acondicionador de señal: toma la señal de salida y la adapta de modo de poder ser uti-
lizada como realimentación. Este elemento consta del sensor que mide el estado o variable
a controlar en el sistema (posición, temperatura, humedad, etc.) y en caso de ser necesa-
rio, el circuito que adecua el nivel de este al nivel requerido por el restador/comparador.
Por ejemplo, en un control de temperatura, el sensor y el amplificador que adecua los
niveles de tensión, en una cisterna, el sensor es la boya y el acondicionado es la conversión
del nivel a la rotación del eje que acciona la válvula de agua.
• El restador o comparador: Este elemento está representado por un cı́rculo en el esquema.
Su función es comparar la señal de referencia r(t) y la señal de realimentación h(t) y
calcular el error e(t) que existe entre la respuesta deseada y el estado real del sistema,
este error será la señal que se evalúe para determinar si es necesario un cambio sobre la
variable manipulada u(t) .
Este tipo de control busca conseguir que la salida del sistema se encuentre en el estado
deseado, independientemente de las condiciones ambientales.
ya que de caso contrario u(t) oscilaria rápidamente provocando un desgaste prematuro y una
muy corta vida útil de los actuadores.
Como se puede apreciar, partiendo del reposo se aplica un escalón en el setpoint, a los
fines prácticos es una situación equivalente a prender el equipo, el sistema actúa inmediatamente
encendiendo el actuador. La variable controlada comienza a acercarse al valor deseado, hasta
que lo alcanza, donde se apaga la salida, la inercia del sistema hace que y(t) se pase del valor
deseado, aun cuando la salida ya se apagó, al regresar el valor de y(t) al valor del setpoint o por
debajo, el sistema actúa nuevamente, manteniéndose oscilando entre la posición de prendido y
apagado.
B
e(t) >⇒ u(t) = U1 (on)
2
B B
− < e(t) < ⇒ u(t) La Salida no cambia
2 2
B
e(t) < − ⇒ u(t) = U2 (of f )
2
El error debe llegar a un cierto valor para conmutar la salida, es decir, u(t) no cambia
mientras el error esté dentro de la zona muerta, dicho comportamiento se muestra en el siguiente
gráfico:
Figura 1.6: grafico U(t) en funcion de et() para un controlador con banda muerta.
Como se mencionó anteriormente a mayor brecha, será menor la oscilación del actua-
dor, pero por consiguiente menor precisión en el control de y(t) .
Otro método de generar este retraso entre en on y off que se utiliza comúnmente,
en vez de utilizar una brecha diferencial, obliga al controlador a mantener u(t) en cada estado
por un mı́nimo de tiempo establecido, de esta forma independizamos la frecuencia máxima de
conmutación del comportamiento del sistema, pero generamos variaciones en y(t) difı́ciles de
predecir.
Conclusiones
• Este algoritmo de control no es el más adecuado cuando se desea una variable controlada
constante y uniforme.
• Este tipo de control se adecua a plantas donde, o bien no se requiera un control exacto o
las variaciones no sean un problema.
1.4.3 proporcional
u(t) = Kp × e(t)
Esta acción de control intenta minimizar el error del sistema pero evitando las oscila-
ciones causadas por un control on/off. Cuando el error es grande, la acción de control es grande
y tiende a minimizar este error.
Los dos primeros efectos son positivos y deseables. El último efecto es negativo y hay
que intentar minimizarlo. Por lo tanto al aumentar la acción proporcional existe un punto de
equilibrio en el que se consigue suficiente rapidez de respuesta del sistema y reducción del error,
sin que el sistema sea demasiado inestable. Aumentar la acción proporcional más allá de este
punto producirá una inestabilidad indeseable. Reducir la acción proporcional, reducirá la velo-
cidad de respuesta del sistema y aumentará su error permanente.
Tomemos como ejemplo las siguientes gráficas de y(t) en función del tiempo en un
controlador de posición con control proporcional, aumentando progresivamente Kp :
Con ganancias mayores se consigue disminuir todavı́a más el error permanente, pero
la velocidad de respuesta no aumenta porque el sistema se vuelve tan inestable que la posición
tarda mucho en establecerse en su estado final.
Llegado a este punto, puede verse que la acción proporcional no puede mejorar más
la respuesta del sistema. La mejor opción con Kp = 20 presenta un sobreimpulso de unos 30
milı́metros y un error permanente de 5 milı́metros. Si se desea mejorar esta respuesta hay que
incorporar otro tipo de control.
1.4.4 derivativa
Como su nombre indica, esta acción de control genera una salida proporcional a la de-
rivada de la señal de error e(t) . La derivada del error es otra forma de llamar a la ”velocidad”del
error, recordemos que la derivada nos da como resultado de la operación la tasa de cambio de
la señal de entrada, la pendiente de la función, es decir, cuán rápido, y en qué sentido cambia
una señal o función.
∂e(t)
u(t) = Kd ×
∂t
∂e(t)
u(t) = Kp × e(t) + Kd ×
∂t
En las gráficas del control proporcional, cuando la posición se encuentra por debajo
de 150mm, la acción de control proporcional siempre intenta aumentar la posición. El problema
viene al tener en cuenta las inercias. Cuando el sistema se mueve a una velocidad alta hacia
el punto de referencia, el sistema se pasará de largo debido a su inercia. Esto produce un
sobreimpulso y oscilaciones en torno a la referencia. Para evitar este problema, el controlador
debe reconocer la velocidad a la que el sistema se acerca a la referencia para poder frenar
con antelación a medida que se acerque a la referencia deseada y evitar que la sobrepase,
es por este comportamiento que se dice que esta acción de control reacciona prediciendo el
comportamiento futuro de la planta. Recordemos que la velocidad es la derivada de la posición
respecto del tiempo, es decir que, si nuestro sistema realimenta posición, estamos convirtiendo
esta señal es una que nos represente la velocidad, si la velocidad al llegar al valor deseado es
alta, lo más probable es que la inercia haga que el sistema se pase (sobreimpulso).
Esta acción de control servirá por lo tanto para estabilizar una respuesta que oscile
demasiado.
En este ejemplo la acción derivativa se ha escalado de forma que sus valores se en-
cuentren entre 0 y 100.
Un problema que presenta el control derivativo consiste en que amplifica las señales
que varı́an rápidamente, como ser el ruido de alta frecuencia. Debido a este efecto, el ruido de
la señal de error aparece amplificado en el accionamiento de la planta, lo cual es problemático.
Para poder reducir este efecto es necesario reducir el ruido de la señal de error, ya sea median-
te un filtro paso bajos en la señal de error, o mediante otras técnicas que reduzcan el ruido.
Al utilizar un filtro la acción derivativa se encuentra limitada, ya que estamos modificando el
comportamiento de la señal, por lo que es deseable reducir el ruido de la señal de error por
otros medios antes de tener que recurrir a un filtro paso bajos.
Llegado a este punto, el sistema es rápido y estable, pero mantiene todavı́a un pequeño
error en régimen permanente. Esto significa que la posición real del sistema no es exactamente
la posición deseada.
1.4.5 integral
Esta acción de control calcula la integral de la señal de error e(t) . La integral se puede
ver como la suma o acumulación de la señal de error. A medida que pasa el tiempo pequeños
errores se van sumando para hacer que la acción integral sea cada vez mayor, es por ello que se
dice que esta acción de control mira lo que pasó, el pasado. Con esto se consigue reducir el error
del sistema en régimen permanente. ya que si un pequeño error se mantiene durante mucho
tiempo, el valor de la integral irá creciendo hasta lograr una acción que elimine totalmente el
error. La desventaja de utilizar la acción integral consiste en que esta añade una cierta inercia
al sistema y por lo tanto le hace tendiente a la oscilación, y por consiguiente más inestable.
Z t
u(t) = Ki e(t) dt
0
Sin embargo, esta acción de control no se implementa por sı́ sola, ya que serı́a inhe-
rentemente inestable, comportándose, en caso de Ki muy elevadas prácticamente como un
controlador on/off. La aplicación práctica mı́nima de esta acción de control es en un control
proporcional/derivador, cuya expresión es:
Z t
u(t) = Kp × e(t) + Ki e(t) dt
0
En las gráficas anteriores se ha añadido una señal de error ampliada, de color verde,
para apreciar mejor cómo se reduce el error a medida que aumenta la acción integral. Otro
efecto visible es el aumento de la inestabilidad del sistema a medida que aumenta Ki . Por esta
razón el control integral se suele combinar con el control derivativo para evitar las oscilaciones
del sistema.
1.5 PID
Figura 1.10: diagrama de un sistema de control de lazo cerrado con acción de control PID
La relación entre la salida del controlador u(t) y la señal de error e(t) de la acción de
control Proporcional Integral Derivativo está dada por:
t
∂e(t)
Z
u(t) = Kp × e(t) + Ki e(t) dt + Kd ×
0 ∂t
Z t
1 ∂e(t)
u(t) = Kp e(t) + × e(t) dt + Td ×
Ti 0 ∂t
Donde Ti es la constante de tiempo integral y Td es la constante de tiempo derivativa.
Notese que la señal ut se forma exclusivamente partiendo del error, no hay ningún
termino que aplique feedforward 2 .
1
Extrapolación significa crear una lı́nea tangente al final de los datos conocidos y extendiéndola más allá de
ese lı́mite. La Extrapolación lineal proveerá buenos resultados solo cuando se use para extender la gráfica de
una función aproximadamente lineal o no muy lejana de los datos conocidos.
2
El Feedforward, también llamado prealimentación, es un control que mide las perturbaciones que llegan al
sistema y actúa controlando al sistema para compensar las perturbaciones y que no modifiquen su salida.
En los sistemas reales existen limitaciones que reducen la capacidad del controlador
para conseguir la respuesta deseada. Por mucho que se aumente la acción proporcional, llegará
un momento en el que el accionador se saturara. Por ejemplo en un sistema de control de
temperatura cuya resistencia calefactora tiene una potencia de 2000 vatios. Si el controlador
intenta entregar más potencia para conseguir más velocidad de calentamiento, no se podrá y
el sistema no conseguirá mayor rapidez. Aunque se aumente la acción de control el lı́mite del
accionador de 2000 vatios limita la velocidad máxima de calentamiento.
Por lo tanto hay que tener en cuenta que la velocidad de respuesta de los sistemas
reales tiene ciertos lı́mites que el control no podrá superar.
Los controladores de parámetros optimizados, tales como los PID, son lineales y su di-
seño se basa en técnicas para sistemas lineales. Este es un dispositivo simple y funciona bien en
la practica cuando todas las partes del sistema son lineales. Cuando el rango de funcionamiento
es relativamente amplio, puede ocurrir que el actuador sature, produciendo una no linealidad
en el sistema y un funcionamiento diferente al esperado.
Estas oscilaciones deterioran notablemente la respuesta del sistema (??) por lo que es
conveniente evitarlas cuando sea posible
Métodos Anti-windup
Limitacion del termino integral En este método se limita la acción integral entre dos limi-
tes preestablecidos, limitando de esta forma el máximo de corrección que se puede aplicar
debido a la acción integral. podemos observar un diagrama en la Fig. ??
Integracion condicional En este método se integra siempre y cuando el valor absoluto del
error este dentro de un cierto rango como se observa en la Fig. ??
Seguimiento integral Esta suele ser la solución mas elegante, en vez de limitar el valor de la
acción integral, se fuerza a llevar la salida del controlador a valores en que el actuador es
lineal. Cuando el actuador no satura el sistema se comporta normalmente, pero al llegar
a su limite, se fuerza la entrada del integrador a 0 impidiendo que este acumule (integre)
mas error, limitando ası́ los sobre picos y oscilaciones y forzando al sistema a actuar en
sus zonas lineales.
t
∂h(t)
Z
u(t) = Kp × e(t) + Ki e(t) dt + Kd ×
0 ∂t
punto de comparación del desempeño de diversos sistemas de control. Para lograrlo se utilizan
señales de entrada de prueba particulares para luego comparar las respuestas de varios sistemas
a estas señales de entrada.
Muchos criterios de diseño se basan en tales señales o en la respuesta del sistema a los
cambios en las condiciones iniciales. El uso de estas señales de prueba se justifica porque existe
una correlación entre las caracterı́sticas de respuesta de un sistema para una señal de entrada
de prueba y la capacidad del sistema de manejar las señales de entrada reales.
Las señales de prueba que se usan regularmente son funciones escalón, rampa, parábo-
la, impulso, senoidales, etc. Con estas señales de prueba, es posible realizar con facilidad análisis
matemáticos y experimentales de sistemas de control, dado que las señales son funciones del
tiempo muy simples. La forma de la entrada a la que el sistema estará sujeto con mayor fre-
cuencia bajo una operación normal determina cuál de las señales de entrada tı́picas se debe
usar para analizar las caracterı́sticas del sistema. Si las entradas para un sistema de control
son funciones del tiempo que cambian en forma gradual, una función rampa serı́a una buena
señal de prueba. Asimismo, si un sistema está sujeto a perturbaciones repentinas una función
escalón serı́a una buena señal de prueba. Una vez diseñado un sistema de control con base en
las señales de prueba, por lo general el desempeño del sistema en respuesta a las entradas reales
es satisfactorio. El uso de tales señales de prueba permite comparar el desempeño de todos los
sistemas sobre la misma base.
Nota: no todas las funciones utilizadas son continuas y/o pueden definirse de la tan
conocida forma:
∀x ∈ R y(x) = x2
0 si x < 0
∀x ∈ R y(x) =
1 si x ≥ 0
A su vez también se puede definir por partes la función rampa, aunque esta es posible
de definir de diversas maneras:
0 si x < 0
∀x ∈ R y(x) =
x si x ≥ 0
td : El tiempo de retardo td se define como el tiempo requerido para que la respuesta al escalón
alcance el 50 % de su valor final.
Se pueden aplicar unas reglas sencillas para sintonizar un controlador PID de forma
manual.
3. Acción Integral: En el caso de que el error en estado estable del sistema sea mayor que el
deseado, se aumentará Ki Ki hasta que el error disminuya con la rapidez deseada. Si el
sistema se vuelve inestable antes de conseguir la respuesta deseada, se debe aumentar la
acción derivativa.
Con estas sencillas reglas es sencillo afinar poco a poco el controlador PID hasta con-
seguir la respuesta deseada, sin embargo este es un método empı́rico de ajuste que requiere
tener el sistema en régimen, por lo que no siempre eso es viable. El procedimiento llega a un
ajuste por aproximación que depende en gran medida de la pericia de quien realice el ajuste,
por lo tanto no es el procedimiento mas fiable.
Existen múltiples procedimientos para el ajuste de un control PID, desde los mera-
mente analı́ticos a los meramente prácticos, los mas extendidos son variantes del procedimiento
Zieglers-Nichols.
Este método de sintonización se adapta bien a los sistemas que son estables en lazo
abierto y que presentan un tiempo de retardo desde que reciben la señal de control hasta que
comienzan a actuar.
Figura 1.18: Diagrama de sistema de control con lazo abierto y escalón unitario aplicado.
Figura 1.19: respuesta al escalón de un sistema térmico a lazo abierto, con indicación de tiempo
muerto T1
señal c(t) . En azul se representa la salida del sistema medida por el sensor o señal h(t) . El
escalón de entrada c(t) debe estar entre el 10 % y el 20 % del valor nominal de entrada. Como
puede apreciarse, la respuesta del sistema presenta un retardo, también llamado tiempo muerto,
representado por T1 .
Para calcular los parámetros se comienza por trazar una lı́nea recta tangente a la
señal de salida del sistema (curva azul). Esta tangente está dibujada en la imagen con una
recta punteada.
Figura 1.20: respuesta al escalón de un sistema térmico a lazo abierto, con T1 y T2 indicados
Además de estos dos tiempos caracterı́sticos también hay que calcular la variación de
la señal escalón dX y la variación de la respuesta del sistema dY . En el caso de ejemplo que
aparece en las imágenes, la variación de la señal escalón corresponde a dX = 5V olts de señal
de control c(t) y la variación del sistema corresponde a dY = 200◦ C medidos por el sensor h(t) .
A partir de estos valores se puede calcular la constante del sistema Ko :
dX × T2
Ko =
dY × T1
con acción solo proporcional (P), proporcional e integral (PI), proporcional y derivativa (PD)
o proporcional, integral y derivativa (PID):
Control Kp Ki Kd
P Ko
Ko
PI 0,9 × Ko 0,27 × T1
PD 1,6 × Ko 0,60 × Ko × T1
Ko
PID 1,2 × Ko 0,60 × T1
0,60 × Ko × T1
Este método no requiere retirar el controlador PID del lazo cerrado. En este caso
solo hay que reducir al mı́nimo la acción derivativa y la acción integral del regulador PID
(Ki = 0 y Kd = 0). El ensayo en lazo cerrado consiste en aumentar paulatinamente la ganan-
cia proporcional hasta que el sistema oscile de forma mantenida ante cualquier perturbación.
Esta oscilación debe ser lineal, sin saturación. En este momento hay que medir la ganancia
proporcional, llamada ganancia crı́tica o Kc , y el periodo de oscilación Tc en segundos.
Figura 1.21: Sistema térmico con control proporcional oscilando, con Tc indicado
Una vez medidos estos dos valores, se pueden calcular los parámetros del controlador
PID con acción solo proporcional (P), proporcional e integral (PI), proporcional y derivativa
(PD) o proporcional integral y derivativa (PID):
Control Kp Ki Kd
P 0,50 × Kc
Kc
PI 0,45 × Kc 0,54 × Tc
PD 0,80 × Kc 0,075 × Kc × Tc
Kc
PID 0,59 × Kc 1,18 × Tc
0,075 × Kc × Tc
2.1.1 Tiristores
Los tiristores constituyen una familia de dispositivos de tres terminales, entre los que
se encuentran: el rectificador controlado de silicio (SCR), el TRIAC, el tiristor de bloqueo por
puerta (GTO) y el tiristor MCT o tiristor controlado por MOS (metal-óxido-semiconductor).
Muchas veces, se utilizan los términos tiristor y SCR como sinónimos. Los tiristores
pueden soportar altas corrientes y altas tensiones de bloqueo en aplicaciones de alta potencia,
pero las frecuencias de conmutación están limitadas a valores de entre 10 y 20 kHz, aproxima-
damente.
Para que el SCR entre en conducción, hay que aplicar una corriente de gate (puerta)
cuando la tensión ánodo-cátodo sea positiva. Una vez que el dispositivo haya entrado en con-
ducción, la señal de gate deja de ser necesaria para mantener la corriente de ánodo, el SCR
continuará conduciendo mientras la corriente de ánodo siga siendo positiva y esté por encima
37
Sistemas de control Capitulo 2
Los tiristores han sido históricamente los interruptores electrónicos de potencia pre-
feridos, debido a los altos valores nominales de tensión y corriente disponibles. Los tiristores
todavı́a se utilizan, especialmente en aplicaciones de alta potencia pero, dado que las carac-
terı́sticas nominales de los transistores de potencia han aumentado notablemente, el transistor
resulta ahora más conveniente para muchas aplicaciones.
2.1.2 TRIAC
Posee tres electrodos: MT1, MT2 (en este caso pierden la denominación de ánodo y
cátodo) y gate (G). El disparo del TRIAC se realiza aplicando una corriente al gate.
M T2 M T1
El TRIAC siempre tiene una pequeña corriente que fluye directamente desde el gate a
MT1 a través del silicio. Esta corriente es la razón por la cual un TRIAC necesita más corriente
de gate para encenderse que un SCR comparable en caracterı́sticas.
M T 2[V ]
Q2 Q1
G[V ]
Q3 Q4
La sensibilidad relativa depende del TRIAC en particular, pero por regla general, el
cuadrante Q1 es el más sensible (menor corriente de puerta requerida), y el cuadrante Q4 es el
menos sensible (más corriente de puerta requerida).
Cuadrante 1
La operación del Cuadrante 1 ocurre cuando la puerta y MT2 son positivas con res-
pecto a MT1.
M T2
+V
G +V
0V
M T1
Cuadrante 2
M T2
+V
G −V
0V
M T1
Cuadrante 3
La operación del Cuadrante 3 ocurre cuando la puerta y MT2 son negativas con
respecto a MT1.
M T2
−V
G −V
0V
M T1
Cuadrante 4
M T2
−V
G +V
0V
M T1
Aplicación
Figura 2.2: Circuito de disparo tı́pico de un TRIAC para conmutar corriente alterna
Figura 2.3: Circuito de disparo tı́pico de un TRIAC para conmutar corriente alterna utilizando
un optotriac
Figura 2.4: Circuito de disparo tı́pico de un TRIAC para controlar la potencia por medio de
un control de fase
La función del diac2 en este circuito es bajar la sensibilidad del gate para lograr un
mejor control de fase. Es importante notar que este circuito trabaja en alterna, por lo que el
capacitor debe ser bipolar.
Figura 2.5: Circuito de disparo tı́pico de un TRIAC para controlar la potencia por medio de
un control de fase
s
1 sen2α
VL(rms) = Vs(rms) × (π − α) +
π 2
Donde:
2.1.3 DIAC
Un dipositivo de funcionamiento muy similar al DIAC pero con una tension de disparo
mas alta y diseñados para manejar mayor potencia, tambien de la familia de los tiristores, se
denomina SIDAC
A1 A2
2.1.4 MOSFET
D S
G
MOS N MOS P
G
S D
Funcionamiento
Existen dos tipos de transistores MOSFET. Los primeros son los MOSFET de enri-
quecimiento los cuales se basan en la creación de un canal entre el drain y el source, al aplicar
una tensión en el gate. La tensión de gate atrae portadores minoritarios hacia el canal, de
manera que se forma una región de inversión, es decir, una región con dopado opuesto al que
tenı́a el sustrato originalmente. El término enriquecimiento hace referencia al incremento de
la conductividad eléctrica debido a un aumento de la cantidad de portadores de carga en la
región correspondiente al canal. El canal puede formarse con un incremento en la concentración
de electrones (en un NMOS), o huecos (en un PMOS). De este modo un transistor NMOS se
construye con un sustrato tipo p y tiene un canal de tipo n, mientras que un transistor PMOS
se construye con un sustrato tipo n y tiene un canal de tipo p.
Figura 2.6: Corriente de drain vs. tensión drain-source para distintos valores de VGS − Vth ;
el lı́mite entre la región lineal (óhhmica) y la región de saturación (activa) se indica por la
parábola en rojo.
antiguas, sin embargo en los MOSFET modernos se requieren modelos computacionales ya que
exhiben un comportamiento mucho más complejo.
Región de corte
Se da cuando VGS < Vth , donde VGS es la tensión Gate-Source y Vth es la tensión de
umbral de encendido del transistor
De acuerdo con el modelo básico del transistor, en esta región el dispositivo se en-
cuentra apagado. No hay conducción entre el source y el drain, de modo que el MOSFET se
comporta como un interruptor abierto. Sin embargo un modelo más exacto considera el efecto
de la energı́a térmica descrita por la distribución de Boltzmann3 para las energı́as de los elec-
trones, en donde se permite que los electrones con alta energı́a presentes en el source ingresen
al canal y fluyan hacia el drain. Esto ocasiona una corriente subumbral, que es una función
exponencial de la tensión entre gate-source, como puede verse en la siguiente expresión que la
modela aproximadamente:
VGS −Vth
Id ≈ ID0 e nVT
4
donde: ID0 es la corriente que existe cuando VGS = Vth , VT es el voltaje térmico
Al polarizarse el gate con una tensión mayor que la tensión de umbral, se crea una
región de agotamiento en la región que separa source y drain. Si esta tensión crece lo suficiente,
aparecerán portadores minoritarios (huecos en PMOS, electrones en NMOS) en la región de
agotamiento, que darán lugar a un canal de conducción. El transistor pasa entonces a estado
de conducción, de modo que una diferencia de potencial entre drain y source dará lugar a una
corriente. El transistor se comporta como una resistencia controlada por la tensión de gate.
La corriente que entra por el drain y sale por source es modelada por medio de la
ecuación:
3
La distribución de Maxwell-Boltzmann es la función de distribución clásica, para la distribución de una
cantidad de energı́a entre partı́culas idénticas pero distinguibles.
4
En los semiconductores, la ecuación del diodo de Shockley, la relación entre el flujo de corriente eléctrica y
el potencial electrostático a través de una juntura P–N, depende de un voltaje caracterı́stico llamado voltaje
térmico, denominado VT . El voltaje térmico a temperatura normal (25.00 °C) es de aproximadamente 25.69
mV. pero puede obtenerse con la expresión: VT = kT /q, donde Q es la magnitud de carga eléctrica del electrón.
2
W VDS
ID = µn Cox (VGS − Vth ) VDS −
L 2
Cuando la tensión entre drain y source supera cierto lı́mite, el canal de conducción
bajo la puerta sufre un estrangulamiento en las cercanı́as del drain y desaparece. La corriente
que entra por el drenador y sale por la fuente no se interrumpe, ya que es debida al campo
eléctrico entre ambos, pero se hace independiente de la diferencia de potencial entre ambos
terminales.
• Tamaño muy inferior al transistor bipolar, lo que permite una mayor integración.
• Funcionamiento por tensión, son controlados por voltaje por lo que tienen una impedancia
de entrada muy alta. La Ig se expresa en nanoamperios. Permite lograr circuitos integrados
con consumo en modo estático muy bajo.
• Los circuitos digitales realizados con MOSFET no necesitan resistencias, lo que conlleva
a un ahorro de superficie, por tanto una mayor integración.
dispositivos bipolares.
A diferencia del coeficiente de temperatura de −2, 2mV /◦ C de una unión P-N, los
MOSFET exhiben un coeficiente de temperatura positivo de aproximadamente 0,7 %/◦ C a
1 %/◦ C. Este coeficiente de temperatura positivo del MOSFET lo convierte en un candidato
ideal para el funcionamiento en paralelo en aplicaciones de mayor potencia donde el uso de un
solo dispositivo no serı́a práctico o posible. Debido al coeficiente de temperatura positivo de la
resistencia del canal, los MOSFET conectados en paralelo tienden a compartir la corriente de
manera uniforme entre ellos. Esta manera de compartir corriente funciona automáticamente en
los MOSFET, ya que el coeficiente positivo actúa como un sistema lento de retroalimentación
negativa.
El dispositivo que lleva una corriente más alta se calentará más, los voltajes de drenaje
a fuente son iguales, por estar en paralelo, y la temperatura más alta aumentará su valor de
RDS(on) . El aumento de la resistencia hará que la corriente disminuya y, por lo tanto, la tem-
peratura disminuya. Eventualmente se alcanza un equilibrio donde los dispositivos conectados
en paralelo llevan niveles de corriente similares. La tolerancia inicial en los valores de RDS(on)
y resistencia termica de juntura a ambiente pueden causar un error significativo (de hasta un
30 %) en la distribución de corriente.
Modelos
Hay numerosos modelos disponibles para ilustrar cómo funciona el MOSFET, sin em-
bargo, encontrar la representación correcta puede ser difı́cil. La mayorı́a de los fabricantes de
MOSFET proporcionan modelos Spice y/o Sabre para sus dispositivos, pero estos modelos dicen
muy poco sobre los problemas de aplicación que los diseñadores deben enfrentar en la práctica.
Proporcionan incluso menos pistas sobre cómo resolver los desafı́os de diseño más comunes.
Un modelo MOSFET realmente útil que describa todas las propiedades importantes
del dispositivo desde el punto de vista de la aplicación serı́a muy complicado. Por otro lado,
se pueden derivar modelos muy simples y significativos del transistor MOSFET si limitamos la
aplicabilidad del modelo a ciertas áreas problemáticas.
La Figura ??(b) se puede utilizar de manera muy eficaz para modelar la caracterı́stica
de ruptura inducida por ∂V
∂t
de un MOSFET.
Cabe mencionar también que el transistor bipolar parásito juega otro papel impor-
tante. Su unión base-colector forma el famoso body diode del MOSFET.
La Figura ??(c) es el modelo para conmutación del MOSFET donde se pueden observar
los principales componentes parásitos que afectan las prestaciones del transistor en conmuta-
ción.
Parámetros Importantes
Referimos nuevamente a los modelos del MOSFET de la Fig. ??, podemos ver que
todos los modelos incluyen capacitores conectados entre los 3 terminales del MOS, en ultima
instancia, la performance de conmutación obtenida depende directamente de cuan rápido se
logre cambiar la tensión sobre esos capacitores. Por lo tanto, en aplicaciones de conmutación
de alta velocidad, los parámetros mas importantes son las capacidades parásitas del MOSFET.
Dos de esos capacitores, CGS y CGD , corresponden con la geometrı́a interna del transistor,
mientras que CDS es la capacidad del diodo base-colector del transistor bipolar parásito (body
diode).
El capacitor CGS se forma por la superposición del electrodo del gate con el source y
el canal. Su valor esta definido por la geometrı́a de estas regiones y se mantiene constante bajo
las diferentes condiciones de operación.
CDS tambien es no lineal, debido a que es la capacidad de juntura del body diode.
CGD = CRSS
CGS = CISS − CRSS
CDS = COSS − CRSS
El capacitor CGD causa mas complicaciones, porque esta colocado entre la entrada
y la salida del dispositivo (generando un tipo de realimentación), coincidentemente, el valor
efectivo puede ser mucho mas grande dependiendo de la tension Drain Source del MOSFET.
Este fenómeno se llama efecto Miller. 5 .
Como las capacidades CGS y CDS son dependientes de la tensión, los valores dados
en la hoja de datos solo son validos en las condiciones de prueba en las que fueron obtenidos.
Las capacidades promedio para determinada aplicación deben ser calculadas basándose en la
carga requerida para obtener el voltaje deseado sobre dichas capacidades. Para la mayorı́a de
los MOSFET de potencia se pueden utilizar las siguientes aproximaciones:
s
VDSspec
CGDaverage = 2 × CRSSspec ×
VDSof f
s
VDSspec
COSSaverage = 2 × COSSspec ×
VDSof f
Lógicamente la tensión umbral de gate es una caracterı́stica critica (Vth :gate threshold
voltage). Es importante identificar que el valor de Vth en las hojas de datos están definidos a
25°C y con una corriente muy baja, tı́picamente del orden de los 250µA. Por lo tanto, no es
igual a la región de la meseta de miller (Miller plateau región) que se puede observar en las
formas de onda del gate. Otro hecho raramente mencionado es que Vth posee un coeficiente de
temperatura de aproximadamente -7 mV/°C. Este tiene particular significado en circuitos de
manejo de gate para MOSFETs para niveles lógicos donde Vth ya esta bastante por debajo de
las condiciones de prueba usuales.
∂ID
gf s =
∂VGS
ID = (VGS − Vth ) × gf s
ID
VGS,miller = Vth +
gf s
Procedimiento de encendido
1 La capacidad de entrada se carga de 0V hasta Vth . Durante este intervalo la mayor parte
de la corriente de gate esta cargando el capacitor CGS . Una pequeña corriente circula a
través del capacitor CGD también a medida que la tensión aumenta en el terminal de
gate y la tensión sobre CGD se reduce ligeramente. Este periodo es llamado retraso de
encendido (turn-on delay), ya que la tensión y corriente de drain permanecen sin cambios.
Una vez alcanzado Vth , el MOSFET esta listo para conducir corriente.
2 La tensión de gate aumenta de Vth hasta el nivel de la meseta de Miller (Miller plateau),
VGS,miller . En este momento el MOSFET esta en la región lineal, y la corriente es propor-
cional a la tensión de gate. La corriente circula por CGS y CGD , y al igual que en el primer
intervalo, VGS esta aumentando. La corriente de drain comienza a aumentar, mientras la
tensión drain-source se mantiene. Esto se explica por que estas gráficas corresponden a
la conmutación de una fuente buck, donde el inductor actúa, para este pequeño tiempo,
como una fuente de corriente.
Procedimiento de apagado
1 Es el retraso de apagado (turn-off delay), tiempo requerido para descargar las capacidades
de entrada desde el valor inicial hasta la meseta de Miller. Durante este periodo la corriente
fluye desde CGS y CGD hacia el driver. La tensión de drain aumenta ligeramente junto
con la RDS a medida que la tensión de drive va disminuyendo.
2 VDS comienza a disminuir desde su valor (ID × RDSON ) hasta su valor normal apagado
(VDS ). Durante este periodo, correspondiente a la meseta de Miller, la corriente de gate
corresponde estrictamente a la corriente sobre CGD mientras la VGS,M iller se mantiene
constante.
3 La corriente de gate vuelve a bajar desde VGS,M iller hasta Vth . La mayorı́a de la corriente
proviene de GGS . El MOSFET esta en su zona lineal de operación y la ID disminuye
proporcionalmente a la disminución de la tensión de gate llegando casi a 0.
en resumen, se puede concluir que un MOSFET puede conmutarse entre sus estados de
mayor y menor impedancia pasando por 4 intervalos de tiempo. la duración de estos intervalos
depende directamente de las capacidades parásitas, el cambio de tensión de gate requerido y la
capacidad de corriente del driver que maneja el gate. De ahi la gran importancia de la correcta
selección de los componentes y un diseño del driver del gate correcto para aplicaciones de alta
frecuencia o velocidad.
Cabe destacar la existencia de un capacitor entre VCC y GND del controlador, este
se encarga de asegurar la estabilidad en la tensión de alimentación y la capacidad de proveer
picos de corriente al gate sin generar transitorios en la fuente.
velocidad de carga. El driver debe ser capaz de manejar los picos de corriente en los momentos
de descarga.
Cuando el controlador o el driver utilizado posee una salida totem pole BJT, es im-
portante incluir una protección contra las oscilaciones que se pueden dar por el circuito RLC
del gate, ya que los transistores BJT solo pueden conducir en un sentido y pueden destruirse
por las oscilaciones. En la Fig. ?? podemos ver como implementar una protección para el driver
con la utilización de 2 diodos schottky, que destacan por su muy alta velocidad.
a través de RGAT E y DON , en cambio cuando el controlador pone su salida a GND, y el gate
del MOSFET se encuentra cargado, la descarga comienza a través del diodo E-B del transistor
PNP y RGAT E , esta corriente enciende el transistor haciendo que el Gate también se descargue
a source a través del transistor.
En los casos en que el controlador no pueda manejar las corrientes requeridas para
manejar el gate, o la distancia entre el controlador y el MOSFET no puedan reducirse, se suele
implementar un driver Totem-Pole discreto, lo mas cercano posible al MOSFET, este debe
tener su propio capacitor de bypass o desacople. Una posible implementación se muestra en la
Fig. ??.
En los casos donde se quiere utilizar un MOSFET referenciado a la fuente para con-
trolar el lado superior de la rama de carga, es necesario utilizar un circuito de drive particular,
en la Fig. ?? podemos observar un circuito manejando un MOSFET de canal P. Este tipo de
circuito no suele utilizarse en etapas de mucha potencia ya que por una caracterı́stica construc-
tiva, un MOSFET de canal N posee una menor RDSON y un menor costo que un dispositivo
comparable de canal P.
En la Fig. ?? nos encontramos con una fuente buck en su mı́nima expresión haciendo
énfasis en el manejo del gate. El principal problema se da cuando el MOSFET esta saturado,
Las tensiones en Drain y Source son prácticamente iguales, sin embargo para mantener el MOS-
FET conduciendo la VGS debe ser mayor a Vth lo que implica una tensión sobre el gate superior
a VIN , y cobra aun mayor dificultad cuando VIN > VDRV . Para subsanar este impedimento
técnico, se emplea un capacitor de bootstrap para alimentar el driver Totem-Pole del gate. En
la condición inicial, con el MOSFET apagado, el source esta a un nivel de tensión cercano a
GND, CBST se carga a través de DBST a la tensión VDRV , proveyendo la tensión de alimentación
En este caso el manejo de la entrada del Totem-Pole se realiza con un mosfet, sin
embargo, existen múltiples variantes, todas ellas poseen a la entrada del totem pole, una re-
sistencia de pull up hacia el terminal positivo de CBST que proveerá tensión para encender el
transistor NPN y un transistor que permita tirar a GND la entrada o bien dejarla flotando para
que la comande el pull up.
Figura 2.17:
Figura 2.18:
aislación.
Figura 2.19:
Figura 2.20:
Los diodos entre Drain y Gate, hacen las veces de protección por sobretension, y en
general no se incluyen de manera discreta, sino que vienen integrados en ciertos MOSFET
para aplicaciones automotrices o aeroespaciales. en este caso, cuando la tensión de drain supera
cierto umbral, los zener conducen hacia el gate, encendiendo el transistor y enclavando las sobre
tensiones en el drain.
Falla por avalancha: Si la máxima tensión de operación del mosfet es excedida, se produce
lo que se llama ruptura por avalancha (Avalanche breakdown). Este fenómeno no es ne-
cesariamente destructivo. Las especificaciones del MOSFET describen la energı́a máxima
que el MOSFET puede resistir en modo avalancha. La energı́a de avalancha se se puede
aproximar como:
1
EAS = LI 2
2
Esta formula es una aproximacion, y deberá ajustarse en función del circuito concreto,
sin embargo nos ayuda al análisis.
Afortunadamente, en muchos casos prácticos las cargas no son inductivas, la energı́a que
el MOSFET debe enclavar es la contenida en las pequeñas inductancias parásitas de la
fuente y el ruteado y/o cableado de la rama de carga. En estos casos las energı́as de
avalancha suelen ser mucho menores que las máximas especificadas por lo que este tipo
de falla por exceso de energı́a de avalancha son muy difı́ciles de encontrar con cargas
resistivas.
Es mas común encontrar este tipo de fallo en sistemas de control industrial, donde se
tiende a cablear los tableros tomando en cuenta la apariencia, las normativas y la man-
tenibilidad, lo que induce a utilizar cableados mas largos y donde la distribución tiende
a ser mala. Ademas suelen existir fuentes de ruido, como relés y contactores.
La causa de estas fallas es un pulso transitorio de muy alta tensión y muy alta velocidad
(positivo o negativo). Si dicho pulso existe en el drain, se acopla a través de CDG . Si su-
ficiente energı́a es transferida, la tensión en el gate puede sobrepasar los niveles máximos
Pero, de donde provienen dichos picos? Ruido eléctrico o interferencias de radio frecuencia
(RFI). Las chispas que se ven en torno a los carbones de un motor eléctrico son excelentes
generadores de ruido eléctrico de banda ancha. No es casualidad que Marconi utilizara
un arco eléctrico y un circuito sintonizado para transmitir señales cruzando el océano
atlántico. El ruido causado por un arco eléctrico tiene, estadisticamente, probabilidades de
contener un pico de energı́a con las cara—cterı́sticas necesarias para destruir determinado
MOSFET. Las probabilidades siempre estarán ahı́, pero se pueden reducir a un bajo nivel.
Falla por exeso de disipacion: Lo que pasa cuando existe un exceso de potencia, depende
de cuan excedida este. Puede ser una cocción sostenida, en cuyo caso el MOSFET puede
calentarse lo suficiente como para literalmente desoldarse del PCB. Gran parte del calor
al controlar grandes corrientes se genera en las patas, lo que puede fácilmente desoldar el
componente aun sin que el MOSFET falle. Si el calor es generado en el chip, el componente
se calentara, pero la temperatura máxima usualmente no esta determinada por el silicio,
sino por el proceso de fabricación y encapsulado. el chip de silicio esta pegado al sustrato
con soldadura blanda y puede derretirse y fluir entre el encapsulado epoxy y el cuerpo
metálico. El MOSFET puede funcionar luego de esto, pero las caracterı́sticas térmicas se
ven degradadas.
Falla por exeso de corriente: Si se hace circular demasiada corriente a través del MOSFET,
este fallara. El como falle dependerá de cuan alta sea dicha corriente, por cuanto tiempo
se mantenga y las circunstancias en ese momento.
La potencia esta dada por I 2 R, pero el calor disipado ademas tiene que ver con el tiempo.
una pequeña sobrecarga puede llevar a una falla por exceso de disipación. Con corrientes
realmente elevadas, los alambres internos que unen las patas al silicio se funden en una
explosión tipo flash, lo que suele causar la ruptura del epoxi del encapsulado. Perforaciones
tipo crater en el encapsulado también son comunes, pero es difı́cil discernir si son causados
por la explosión de los cables o del chip.
2.1.5 IGBT
C E
G IGBT N G IGBT P
E C
Al igual que un tiristor, esta construido por 4 capas alternadas (P-N-P-N) que son
controladas por un gate de estructura Metal-Oxido-Semiconductor (MOS). Aunque la estruc-
tura del IGBT es topológicamente la misma que la de un tiristor con una puerta ”MOS”, la
acción del tiristor se suprime por completo y solo se permite la acción del transistor en todo el
rango de funcionamiento del dispositivo.
Dado que está diseñado para encender y apagar rápidamente, el IGBT puede sintetizar
formas de onda complejas con modulación de ancho de pulso y filtros de paso bajo, por lo que
también se usa en amplificadores clase D y sistemas de control industrial. En las aplicaciones
de conmutación, los dispositivos modernos cuentan con tasas de repetición de pulsos que se
encuentran en el rango de frecuencias ultrasónicas, que son al menos diez veces más altas
que las frecuencias de audio que maneja el dispositivo cuando se usa como un amplificador
de audio analógico. Por su tipo de construcción y desarrollo orientado a la conmutación, posee
caracterı́sticas que lo convierten en un dispositivo no muy aptos para trabajar de manera lineal.
Tensión Alta < 1KV Alta < 1KV Muy alta > 1KV
Corriente Alta < 500A Alta > 500A Alta > 500A
Velocidad
Lento (µs) Rápido (ns) Medio
de conmutación
Modelos
transistor. También aparece un mosfet que permite encender el transistor bipolar, y una resis-
tencia (Drift Region) que es resultado de la construcción del IGBT.
Dado que el IGBT se construye de modo que nunca se active el transistor parásito,
se puede dibujar un circuito equivalente simplificado, como se ve en la Fig. ??, alli se ve que
se puede interpretar al IGBT como un transistor Darlington construido con un transistor PNP
de potencia y un MOSFET.
No se suelen utilizar modelos equivalentes simplificados como los utilizados con tran-
sistores MOSFET debido a que las caracterı́sticas que presenta suelen ser mas complejas. Sin
embargo, por tener un MOSFET a la entrada, posee caracterı́sticas de manejo del Gate muy
similares y las hojas de datos presentan de igual forma los valores de capacidades de entradas
y salidas. Diversos fabricantes proveen diferentes modelos para la simulación, en general para
SPICE, que aproximan bastante bien las caracterı́sticas y el comportamiento del dispositivo.
IGBT vs MOSFET
El IGBT combina las caracterı́sticas de manejo de Gate del MOSFET con la capaci-
dad de manejar altas corrientes con una baja tensión de saturación de los transistores bipolares.
Los Módulos IGBT mas grandes tienen grandes capacidades de manejo te tensión y corriente
en el orden de los cientos de amperes y con tensiones máximas de bloqueo que pueden alcanzar
los 6500V, lo que permite que puedan manejar cargas del orden de los cientos de kiloWatts.
ser un diodo parásito, suele tener mucho mejores caracterı́sticas que el diodo del cuerpo de los
MOSFET.
La capacidad de soportar tensiones en inversa de los IGBT es del orden de las decenas
de Volts, por lo que en caso de necesitar aplicar tensiones de esta forma, debe utilizarse un
diodo en serie adicional.
El IGBT enciende y apaga mas lentamente que los MOSFET, lo que produce mayores
perdidas por conmutación.
2.1.6 Optoacopladores
Un sensor de paso óptico es un tipo de optoacoplador pero con el canal lumı́nico abier-
to, permitiendo modular el haz de luz con elementos externos para ser utilizado como sensor.
El optoacoplador contiene una sola barrera fı́sica que provee la aislación, pero provee
Optoacoplador resistivo
Figura 2.25: Esquemas estilo europeo de optoacopladores resistivos con lampara incandescente,
neón y led respectivamente
El optoacoplador mas sencillo, aparecion en los años 1960s, y utilizaban una pequeña
luz incandecente o de neon acoplado con un LDR. Para aplicaciones donde no era necesaria la
linealidad o no existia corriente suficiente para iluminar una luz incandecente, se utilizaba una
lampara de neon como fuente de luz. Sin embargo estos dispositivos eran bastante voluminosos
y lentos, lo que limitaba las aplicaciones practicas a unos pocos hertz. Con el surgimiento de los
leds en los años 1970s, se lograron dispositivos con tiempos de respuesta de cerca de 5 mSeg.
Desde los años 1990s, este tipo de dispositivos solo se fabrican en pequeñas canti-
dades, por lo que es muy comun encontrarlos fabricados con un led y un LDR envueltos por
termocontraible. en especial en equipos de audio de poca fabricacion o que pretenden emular
el sonido de equipos de los años 1960s y 1970s.
Este tipo de Optoacopladores utilizan LEDs como fuentes de luz y fotodiodos como
sensores. Cuando el fotodiodo es polarizado inversamente con una fuente externa, la luz inci-
dente provoca un incremento en la corriente que circula por el diodo. Este modo de operacion
6
Doble aislación refiere a equipos eléctricos clase II, diseñados de manera de no requerir conexión de tierra.
Los dispositivos mas rapidos de este tipo, utilizan diodos PIN en modo fotoconduc-
tivo, logrando respuestas en el diodo por debajo del nanosegundo, limitando la velocidad del
dispositivo por los retardos de emisión del led y el circuito de bias. Para minimizar estos retar-
dos, los optoacopladores digitales utilizan suelen integrar la circuiteria necesaria para manejar
el led ası́ como el amplificador de la señal producida por el fotodiodo. La familia de optoacopla-
dores digitales de Hewlett-Packard 6N137/HPCL2601 introducida a finales de los años 1970s
lograban velocidades de hasta 10Mbit/seg, y fueron el standard de facto de la industria hasta
la introducción en 2002 por parte de Agilent Technologies de una familia capaz de manejar
transferencias de hasta 50Mbit/Seg.
Este tipo de optoaisladores pueden utilizarse para transmitir señales analógicas, aun-
que debido a su nolinealidad, inevitablemente distorsiona dichas señales. Múltiples técnicas se
han aplicado a lo largo de los años para limitar dicha distorsión.
Los fototransistores son inherentemente mas lentos que los fotodiodos. Esto se eviden-
cia en los primeros, pero aun comunes, optoacopladores 4N35, que poseen tiempos de subida
y bajada del orden de los 5µSeg con cargas de 100ω y cuyo ancho de banda se limita a unos
10KHz. Esto puede ser suficiente para aplicaciones como la electroencefalografia, o el control
PMW de motores.
El diseño con estos dispositivos requiere generosas tolerancias debido a las amplias
fluctuaciones en sus parámetros que se observan en los dispositivos comerciales. Dichas fluctua-
ciones pueden ser destructivas, por ejemplo, cuando se utiliza en la red de realimentación de
una fuente DC-DC, puede provocar cambios en su transferencia y causar oscilaciones espureas,
O provocar cortocircuitos cuando aparecen retrasos inesperados al utilizarlos para el manejo
de puentes H. Las Hojas de datos tı́picamente solo listan los valores para el peor caso en los
parámetros crı́ticos, los dispositivos reales pueden sobrepasar dichos estimados de maneras im-
predecibles.
Pruebas experimentales han demostrado que una partida de 4N28 puede variar su
relación de transferencia entre un 15 % y un 100 % cuando la hoja de datos especifica una
variación del 10 % y los transistores en la misma partida obtuvieron ganancias de entre 300 y
3000, lo que resulto en variaciones de 10 a 1 en el ancho de banda.
Existen también, aunque es muy raro encontrarlos, optoacopladores que utilizan tran-
sistores de efecto de campo (FET), y tal como los optoacopladores resistivos se pueden utilizar
en controles de ganancia, algo ası́ como ”potenciometros.en aplicaciones que no exceden las
centenas de milivolts. Ademas son particularmente útiles para la implementación de circuitos
”Sample and Hold”
2.1.7 TL431
Entrada Salida
R
D-1
+ A
Vref
−
Para poder ajustar la tensión de cátodo del TL431, un divisor resistivo debe colocarse
entre los pines de Ánodo y Cátodo con el pinto medio al pin de referencia, Tal como observamos
en el siguiente circuito:
Rsupply
Entrada Salida
R1
K
R
D-1 C1
A
R2
R1
VO = 1 + × VRef − IRef × R1
R2
Donde VRef son los 2.5V de la tensión interna de referencia e IRef es la corriente de
entrada del pin de referencia. Para que dicha ecuación sea valida, el TL431 debe estar com-
pletamente polarizado (asegurando que la IM in sea mayor a la especificada en la hoja de datos ).
En aquellos casos donde la corriente a través del divisor resistivo supere por al menos
un factor de 15 a IRef , la expresión puede simplificarse de la siguiente manera obteniendo
resultados con diferencias mı́nimas:
R1
VO = 1+ × 2,5V
R2
Si bien el TL431 es estable sin la necesidad de una capacidad entre Ánodo y cátodo,
el agregado de C1 mejora la respuesta a los transitorios y sirve como desacople de la fuente.
Notese que dicha capacidad genera en el circuito un retardo en la estabilización de la tensión
de salida dado por el circuito RC formado por Rsupply y C1
Control de industrial
3.1 Evalución
3.1.1 Consignas
Consignas
71
Sistemas de control Capitulo 3
Robótica
4.1 Evalución
4.1.1 Consignas
Consignas
c
c
b
hi e Ib × hf e 1/ho e hi e Ib × hf e 1/ho e
e e
73