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Diseño de Nanodispositivos ll

Nombre: Castro Rojas Ricardo Antonio Código: 217753509


Turno: Matutino Fecha: 11/10/20 Reporte #: 4
Continuamos con caracterización y recordando del video pasado, las características del
material atribuyen a las propiedades de este, que pueden ser determinadas por
microscopia. Tenemos los microscopios ópticos, pero estos no son los óptimos para
caracterización de nanomateriales y el microscopio de fuerza atómica, el cual consta de un
cantilever y una punta muy fina, e ira recorriendo la topografía de la muestra, que
posteriormente un software nos interpretará gráficamente. Realmente no hacemos solo
una prueba, sino hacemos una estadística de pruebas y esto en un microscopio
electrónico es muy costoso y mucho tiempo invertido. Para eso tenemos el Dynamic Light
Scattering (DLS), un equipo portátil, barato y más sencillo, a comparación con un
electrónico, con el que podemos hacer nuestra estadística. Su principio es un haz de luz
que pasa a través de la muestra (coloide) y gracias a la dispersión de luz que hubo por las
partículas, esta es detectada y analizada por un software. Las nanoestructuras son
nanomateriales más complejos y con métodos de síntesis podemos hacer estas mismas.
Un ejemplo el Core-Shell, donde obtenemos el núcleo y con grupos funcionales creamos
un envolvente del núcleo. En un material poroso también podemos utilizarlo como una
plantilla donde en dichos poros colocaremos reactivos y al momento del crecimiento,
estos tomaran la forma de la plantilla. Tenemos nanoestructuras autoensambladas y su
principio es de la mínima energía, esto es, que tienden a arreglarse de manera que la
energía producida es la mínima. La nanolitografía es utilizada para tener un diseño muy
específico de una nanoestructura, esta está integrada a un microscopio electrónico el cual
tiene plantillas que actúan como filtro donde pasarán el reactivo hasta el sustrato donde
quedarán listas, o también por contacto con plantillas.

Fig. 1. Equipo DLS Fig. 2. Principio del DLS


Fig. 3. Nanocápsulas Au/ZnS Fig. 4. Matriz de nanoalambres

Espectroscopia de Dispersión de Energía


La espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (EDS, también abreviado EDX o
XEDS) es una técnica analítica que permite la caracterización química/análisis elemental
de materiales. Una muestra excitada por una fuente de energía (como el haz de
electrones de un microscopio electrónico) disipa parte de la energía absorbida expulsando
un electrón de núcleo-capa. Un electrón de capa exterior de mayor energía procede a
ocupar su lugar, liberando la diferencia de energía como un rayo X que tiene un espectro
característico basado en su átomo de origen. Esto permite el análisis de la composición de
un volumen de muestra dado que ha sido excitado por la fuente de energía. La posición de
los picos en el espectro identifica al elemento, mientras que la intensidad de la señal
corresponde a la concentración del elemento. Como se dijo anteriormente, un haz de
electrones proporciona suficiente energía para expulsar electrones núcleo-capa y
provocar la emisión de rayos X. La información de composición, hasta el nivel atómico, se
puede obtener con la adición de un detector EDS a un microscopio electrónico. A medida
que se escanea la sonda de electrones a través de la muestra, se emiten y miden los rayos
X característicos; cada espectro de EDS registrado se asigna a una posición específica en la
muestra. La calidad de los resultados depende de la intensidad de la señal y la limpieza del
espectro. La intensidad de la señal depende en gran medida de una buena relación señal /
ruido, particularmente para la detección de elementos traza y la minimización de la dosis
(lo que permite una grabación más rápida y resultados sin artefactos). La limpieza afectará
el número de picos falsos observados; esto es una consecuencia de los materiales que
componen la columna de electrones.

Fig. 5. Compuestos del material


distinguidos por diferentes colores (EDS)
Espectroscopia de Fotoelectrones emitidos por rayos X
La espectrometría fotoelectrónica X o espectrometría de fotoelectrones inducidos por
rayos X (XPS) es un método de espectrometría fotoelectrónica que implica la medición de
los espectros de los fotoelectrones inducidos por fotones de rayos X. Es una
espectroscopia semi-cuantitativa y de baja resolución espacial que habitualmente se
utiliza para estimar la estequiometría (con un error del 10% aproximadamente), estado
químico y la estructura electrónica de los elementos que existen en un material.
Los espectros XPS son obtenidos cuando una muestra es irradiada por rayos X
(habitualmente el ánodo puede ser de Al o Mg) al tiempo que se mide la energía cinética y
el número de electrones que escapan de la superficie del material analizado. Para una
medición de XPS se requieren condiciones de ultra-alto vacío debido a que a presiones
mayores la tasa de adsorción de contaminación sobre la muestra puede ser del orden de
varias monocapas atómicas por segundo, impidiendo la medición de la superficie que
realmente se quiere analizar.

Fig. 6. Principio XPS

Referencias:
https://www.jove.com/t/53383/sntesis-caracterizacin-y-funcionalizacin-de-hbridos-au-
cds-y-au-zns?language=Spanish
https://www.thermofisher.com/mx/es/home/materials-science/eds-technology.html
https://es.wikipedia.org/wiki/Espectroscopia_de_fotoelectrones_emitidos_por_rayos_X
http://www.scai.uma.es/areas/aqcm/xps/xps.html

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