“Año de la unidad, la paz y el desarrollo”

UNIVERSIDAD NACIONAL DE SAN ANTONIO

ABAD DELCUSCO

FACULTAD DE CIENCIAS ESCUELA

PROFESIONAL DE QUIMICA

TEMA:
PRACTICA DE LABORATORIO

LABORATORIO DE QUIMICA DE ANALISIS DE MENAS

Y MINERALES

Docente:

HUAHUASONCCO CONDORI, Wilber

JUCULACA ARAPA, Ruth 164657
Semestre:
2023-II

Fecha de entrega:
17/01/24
CUSCO-PERU
PRACTICA: IDENTIFICACIÓN DE MINERALES POR DRX
Objetivos
 Analís de estructural de minerales de talara con los datos recopilados
de M1 y M2

Marco teórico
La difracción de rayos X (DRX)
Es una de las técnicas de caracterización más potentes y más comúnmente
utilizadas para el análisis estructural de cristales. Sus características principales son
consecuencia de ser una “sonda” electromagnética de la materia con una longitud
de onda (X — 1.5 Á) de magnitud muy parecida al espaciado interpíanar de los
sólidos (típicamente del orden de unos pocos A). Por ser los fotones partículas de
masa en reposo nula y libres de carga, interactúan con la materia de una forma
“suave”, lo que produce que la DRX sea una técnica de caracterización no
destructiva. Otra ventaja importante es que no requiere ningún proceso específico
de preparación de muestras para ser analizadas. Los experimentos presentados en
esta memoria han sido realizados con un difractómetro de polvo (Siemens D-500) y
con un difractómetro de doble cristal diseñado originalmente en el Instituto Max
Planck de Stuttgart y desarrollado en el Centro Nacional de Microelectrónica de
Madrid (MAZUELAS,2002)
Difractómetro de polvo
En este tipo de difractómetros los rayos X provienen de un tubo sellado
convencional con anticátodo de cobre. El haz es colimado por un juego de rendijas
antes y después de incidir en la muestra. El juego de rendijas usado generalmente
fue el 0.1 x 0.1 x 0.1 x 0.15 (grados). El barrido se realiza sincronizadamente 0-20
(es decir que mientras la muestra avanza un ángulo O el detector avanza un ángulo
20). De esta forma en todo momento se mantiene la geometría 0-20 y el haz
difractado es recogido por el detector cuando se alcanza la condición de Bragg.
(MAZUELAS,2002)
Patrón de difracción
el patrón de difracción no sería otra cosa que el resultado de la superposición de la
luz que proviene de estos emisores secundarios, que al poderse considerar
emisores puntuales, actúan como fuente de ondas coherentes, dando lugar a un
fenómeno de interferencia.
 0
1000
1200

200
400
600
800
1
110
219
328
437
546
655
764
873
982
1091
1200
1309
1418
1527
1636
1745
1854
1963
MUESTRA 1: HEMATITA

2072 Series1
Series2
MAGNETITA

140

120

100

80
|F|
60 2θ

40

20

0
1 4 7 101316192225283134374043464952555861646770
 M2

GALENA

PIRITA