1. 2. 2.1. 2.2.

Ttulo Descripcin del proyecto Planteamiento del problema Formulacin del problema a. Problema General b. Problemas Especficos

2.3.

Objetivos a. Objetivo General b. Objetivos Especficos

2.4.

Marco referencial

2.4.1. Antecedentes En el presente trabajo se describe el montaje de un reactor tipo barril excitado inductivamente, que la combinacin de la deposicin de pelculas en una descarga luminiscente de r.f (13.56 MHz), a travs de un gas orgnica, con una deposicin de un metal vaporizado a baja presin. Fueron obtenidos por esta tcnica, pelculas compuestas de polmeros plasmico (PP) y metal (Ag, Ni, Ge) en substratos de vidrio de forma cuadrada de 1 cm de lado y 1 mm de grosor, a presin de 0.1 torr y una potencia de 30 W en la descarga de r.f. Estas pelculas fueron cualitativamente por microspia analizadas

de fuerza atmica (MFA), espectroscopia infra-

rojo, microspia electrnica de barrido, difractometria de rayos x y pruebas de resistencia vs temperatura, los anlisis anteriores permitieron observar el aumento del proceso de deposicin con el tiempo en la pelculas PP e identificar la fase correspondiente al PP, reportado en trabajo anteriores, y la fase del elemento vaporizado.

Para las pelculas compuestas de PP y plata, fue observada la banda larga del polmero junto a las reflexiones (111) y (200) de las lneas ms intensas de la plata. Las pruebas de r vs t presentan un comportamiento de conductor para algunas de estas pelculas mientras otros aportan de l, permitiendo prever una conduccin d por mecanismo de impurezas, explicado por mott. El estudio de pequeas partculas es muy importante en campos como la industria cermica, la farmacutica, entre otros; en los cuales el conocimiento del tamao de la partcula es de especial inters debido a su influencia sobre la calidad del producto. Entre los mtodos ms usados para ste fin se encuentran la microscopa y la difractometra lser; ste ltimo presenta algunas ventajas frente al otro, ya que no requiere una delicada preparacin de la muestra y la obtencin de los resultados no presenta mayores dificultades. En ste trabajo se presenta la implementacin de dicha tcnica con el fin de obtener el tamao de partculas. El montaje consta de un lser de 632.8nm previamente filtrado y colimado, unas placas que albergan la muestra, un sistema ptico de acondicionamiento y una cmara CCD que captura el patrn de difraccin originado por la muestra. El tamao de las partculas es hallado a partir de las imgenes obtenidas con la ayuda de una aplicacin software, que realiza rutinas de procesamiento de imgenes y extraccin de caractersticas. (Palacios, 2008) La difraccin de electrones retro-proyectados (EBSD) es una de las tcnicas ms utilizadas en el anlisis de aspectos relacionados con la cristalografa de materiales de ingeniera. Su versatilidad y ventaja frente a otras tcnicas, como la difraccin de rayos X, ha permitido que investigadores de todo el mundo en los ms diversos

campos de la ciencia e ingeniera de materiales, la hayan comenzado a explorar y sacar el mximo provecho posible. En Colombia esta tcnica an est por ser implementada, lo que ha motivado la realizacin de una revisin terica del tema y se explica una posible aplicacin en el campo del desgaste de piezas de ingeniera. De esta manera se espera contribuir para que investigadores de nuestro pas adquieran una nocin bsica de la tcnica EBSD y se motiven a usarla. Al final del texto se presenta, a modo de ejemplo una de las aplicaciones del EBSD, en la cual se relaciona el dao por cavitacin en funcin de la orientacin cristalogrfica en un acero inoxidable dplex nitrurado a alta temperatura. (Mesa) 2.4.2. Marco terico 2.4.2.1. Difraccin Se produce cuando la onda "choca" contra un obstculo o penetra por un agujero. La mayor difraccin se produce cuando el tamao del agujero o del obstculo es parecido a la longitud de onda de la onda incidente. (Farlex) 2.4.2.2. Difraccin de rayos x La difraccin de rayos X es anloga a la de la luz, pero debido a la menor longitud de onda de los rayos X difractan redes con distancias entre planos del orden de 1, que coincide con la distancia entre dos tomos consecutivos dentro de una red cristalina. (Farlex) La difraccin de rayos X es uno de los fenmenos fsicos que se producen al interaccionar un haz de rayos X, de una determinada longitud de onda, con una sustancia cristalina. La difraccin de rayos X se basa en la dispersin coherente del haz de rayos X por parte de la materia (se mantiene la longitud de onda de la

radiacin) y en la interferencia constructiva de las ondas que estn en fase y que se dispersan en determinadas direcciones del espacio. El fenmeno de la difraccin puede describirse con la Ley de Bragg, que predice la direccin en la que se da interferencia constructiva entre haces de rayos X dispersados coherentemente por un cristal. (CSIC) a) Qu informacin nos da la DRXP? La difraccin de rayos en muestra policristalina permite abordar la identificacin de fases cristalinas (puesto que todos los slidos cristalinos poseen su difractograma caracterstico) tanto en su aspecto cualitativo como cuantitativo. Los estudios de polimorfismo, transiciones de fase, y soluciones slidas, medida del tamao de partcula, determinacin de diagramas de fase, etc., se realizan habitualmente por difraccin de rayos X. En algunos casos, es interesante realizar el estudio de la evolucin trmica de los difractogramas (termodifractometra) para conocer la evolucin de la cristalinidad de la muestra, caracterizar los procesos de descomposicin trmica, los cambios de fase que tienen lugar, etc. (ArqueoLine) b) Instrumentacin disponible: Difractmetro de rayos X Siemens D5000 con configuracin estndar y PSD (ArqueoLine) Difractmetro de rayos X Siemens D5000 para anlisis de texturas y tensiones, dotado de un gonimetro con el crculo de Euler abierto y movimiento independiente en cuatro crculos (ArqueoLine) Cmara de alta temperatura acoplable al gonimetro en difraccin estndar hasta 1500 C bajo atmsfera controlada (ArqueoLine)

 Cmara de alta temperatura acoplable al gonimetro en difraccin estndar hasta -150 C. (ArqueoLine) c) Aplicaciones: Determinacin de sales presentes en piedra, cermica y otros materiales porosos: Las sales minerales de alteracin de los materiales rocosos dan frecuentemente un aspecto blanquecino cristalino con dosis elevadas de calcio. La difraccin de rayos x permite diferenciar fcilmente los diferentes productos de alteracin: sulfatos de calcio, cloruros de calcio, nitratos de calcio, etc... (ArqueoLine) Identificacin de los productos de corrosin de metales: Casi todos los productos de corrosin de los metales arqueolgicos son compuestos minerales. Mediante difraccin de rayos x se identifica el compuesto cristalino, a diferencia de otros tipos de anlisis que slo determinan el elemento metlico. (ArqueoLine) Anlisis de soportes pictricos: Este tipo de anlisis permite determinar la estabilidad fsica y el grado de conservacin de un soporte pictrico para prevenir o restaurar la aparicin de desconchados y grietas. (ArqueoLine) Se trata de un aspecto especialmente importante para la conservacin de los pigmentos, en tanto que la alteracin del soporte implica su deterioro irreversible. (ArqueoLine) Determinacin de pigmentos y anlisis de colorantes de todos los perodos histricos: Determinacin de los procesos y componentes

de preparacin de los colorantes aplicados sobre un objeto. En conjuntos murales o parietales las caractersticas de los materiales inorgnicos permiten secuenciar diferentes momentos o fases de elaboracin. En asociacin con los mtodos de anlisis elementales (que slo identifican el elemento qumico pero no los compuestos) la difraccin permite una determinacin perfecta de los minerales constituyentes de los pigmentos. Por ejemplo la azurita y la malaquita slo dan una seal de cobre en el anlisis elemental. nicamente la difraccin de rayos x permite diferenciarlas. Lo mismo sucede con los colorantes elaborados a partir de pigmentos de plomo o hierro. Los blancos de plomo son particularmente bien identificados por este mtodo, a pesar de que en espectrometra de masas o anlisis elemental diferentes elementos obstaculizan el reconocimiento con detalle. (ArqueoLine) Caracterizacin de cermicas. (ArqueoLine) Anlisis de suelos. (ArqueoLine) d) Tipo de Muestras: Materiales alterados por corrosin (ArqueoLine) Pigmentos pictricos sobre cualquier soporte (ArqueoLine) Soportes pictricos (ArqueoLine) Cermica (ArqueoLine) Sedimento suelto (ArqueoLine) e) Requerimientos:

La muestra necesaria para la aplicacin de este tipo de analticas debe ser slida. La cantidad depende de su calidad, siendo suficiente, como norma general, una superficie del orden de 1 mm2. (ArqueoLine) f) Mtodos de difraccin de Rayos X Cuando el haz de rayos X incide sobre un cristal, provocara que los tomos que conforman a este dispersen a la onda incidente tal que cada uno de ellos produce un fenmeno de interferencia que para determinadas direcciones

de incidencia ser destructivo y para otras constructivo surgiendo as el fenmeno de difraccin. La informacin que proporciona el patrn de difraccin de Rayos X, se puede ver como dos aspectos diferentes pero complementarios: por un lado, la geometra de las direcciones de difraccin (condicionadas por el tamao y forma de la celdilla elemental del cristal) nos ofrecen informacin sobre el sistema cristalino. Y por otro lado la intensidad de los rayos difractados, estn ntimamente relacionados con la naturaleza de los atomos y las posiciones que ocupan en la red, talque su medida constituye la informacin tridimensional necesaria para conocer la estructura interna del cristal. En general, existen tres grandes mtodos de difraccin de rayos X utilizados, como lo son: (Nicasio) Mtodo de Laue Histricamente fue el primer mtodo de difraccin. Se utiliza un Policromatico de Rayos X que incide sobre un cristal fijo y perpendicularmente a este se sita una placa fotogrfica plana encerrada en un sobre a prueba de luz. El haz directo produce un ennegrecimiento en el centro de la pelcula y por lo tanto, se pone un

pequeo disco de plomo delante de la pelcula para interceptarlo y absorberlo. En sus primero experimentos us radiacin continua incidido sobre un cristal estacionario. El cristal generaba un conjunto de haces que representan la simetra interna del cristal. El diagrama de Laue es simplemente una proyeccin estereogrfica de los planos del cristal. (Nicasio)

Fig. 1 Diagrama de Laue

Mtodos de rotacin o del cristal giratorio Se emplea un monocristal. El cristal se orienta de tal manera que puede hacerse girar segn uno de los ejes cristalogrficos principales. La cmara es un cilindro de dimetro conocido, coaxial con el eje de giro del cristal, y lleva en su interior una pelcula fotogrfica protegida de la luz por una cubierta de papel negro (ver figura 04). Cuando se toma una fotografa de rotacin, el cristal gira alrededor de una de las filas reticulares principales, generalmente un eje cristalogrfico. Esta fila reticular es perpendicular al haz incidente, y por lo tanto los rayos difractados estarn siempre contenidos en conos cuyos ejes son comunes con el eje de rotacin del cristal. Este eje es el de la pelcula cilndrica, por lo que la interseccin de los conos sobre la pelcula ser una serie de crculos, que al revelar la

pelcula y aplanarse aparecer como lneas rectas paralelas. Cada una de ellas es una lnea de capa, que corresponde a un cono de rayos difractados para los cuales n tiene un cierto valor entero. De esta forma, la lnea de capa que incluye el rayo incidente se denomina capa cero o ecuador, la primera lnea es la que cumple n = 1, la segunda n = 2 y as sucesivamente. Las lneas de capa no son continuas puesto que las distintas manchas de difraccin aparecen solo cuando los tres conos se cortan. (Nicasio)

Fig. 2 Esquema del montaje del mtodo de rotacin

Fig. 04 Esquema del montaje del mtodo de rotacin La separacin de las lneas de capa viene condicionada por los ngulos de los conos, que a su vez depende de la periodicidad de la fila reticular alrededor de la cual se hace girar el cristal. Por lo tanto, conociendo el dimetro de la pelcula cilndrica, la longitud de onda de los rayos X y la distancia de la capa n sobre el ecuador en la pelcula, podemos determinar el espaciado o periodo de identidad a los largo del eje de rotacin del cristal.

Si en el mtodo del cristal giratorio se toman fotografas de rotacin con el cristal girando alrededor de cada uno de los tres ejes cristalogrficos, podemos determinar las dimensiones de la celda unidad, de modo que los periodos de identidad determinados al girar el cristal sucesivamente son las aristas de la celda unidad, lo cual es cierto sea cual fuere la simetra del cristal. (Nicasio) 2.4.2.3. Difraccin de electrones Fenmeno que experimentan los electrones cuya longitud de onda asociada es aprox. la distancia entre los tomos de los cristales que se utilizan como red de difraccin. (Farlex) 2.4.2.4. Difraccin de Luz Fenmeno de interferencia mltiple debido al carcter ondulatorio de la luz por el cual, si ponemos un objeto entre un foco puntual luminoso y una pantalla, se observa la aparicin de una serie de bandas alternativamente claras y oscuras que bordean la sombra del obstculo y que impiden que esta pueda ser delimitada perfectamente. (Farlex) 2.4.3. Difractmetro 2.4.3.1. Difractmetro de Neutrones La difraccin de neutrones es el mejor medio para obtener informacin estructural detallada a nivel atmico en muchas clases de materiales. En monocristales proporciona los datos ms precisos; sin embargo, muestras de monocristales suficientemente grandes no siempre estn disponibles y, con frecuencia, los materiales de inters tecnolgico se tienen en forma de polvo o policristales. El desarrollo de la instrumentacin y de las tcnicas de anlisis ha hecho posible

obtener informacin estructural comparativamente precisa de difraccin de neutrones sobre muestras de polvo. La aplicacin ms generalizada de este difractmetro es la determinacin de estructuras cristalinas de materiales e investigar algunos fenmenos que afectan a la estructura. Esta informacin estructural se puede obtener tambin a temperatura variable entre -245 a 20C la cual es, a menudo, suficiente para entender las propiedades de materiales de inters cientfico y tecnolgico, incluyendo entre stos a los materiales magnticos, superconductores de alta temperatura, cermicos, minerales y conductores inicos. La aplicacin ms generalizada de este difractmetro es la determinacin de estructuras cristalinas de materiales e investigar algunos fenmenos que afectan a la estructura. Esta informacin estructural se puede obtener tambin a temperatura variable entre -245 a 20C la cual es, a menudo, suficiente para entender las propiedades de materiales de inters cientfico y tecnolgico, incluyendo entre stos a los materiales magnticos, superconductores de alta temperatura, cermicos, minerales y conductores inicos. (CCHN) 2.4.3.2. Difractmetro CAD4 Bruker-Nonius consiste Sus principales componentes son: Gonimetro con geometra Kappa Generador de rayos-X FR590 (Tubo con nodo de cobre) Interfase Sistemas de cmputo Programas de control del sistema Sistemas de enfriamiento (Haskris y Cole-Parmer)

El sistema est diseado para colectar datos de difraccin de rayos-X de un monocristal con una alta precisin, flexibilidad y confiabilidad. El corazn del difractmetro CAD4 es el gonimetro Kappa, que mantiene el cristal en el centro del difractmetro. El gonimetro Kappa consiste de una combinacin de tres partes, uniendo tres ejes de rotacin. Todos los ejes intersectan en el centro del difractmetro. La cabeza del gonimetro es montada en el eje Phi (Phik), que es sostenido por el bloque kappa. El bloque kappa puede ser rotado sobre el eje kappa (Kappa), siendo (Omk), siendo ste transportado por la base del difractmetro. Este difractmetro automtico computarizado tiene cuatro movimientos angulares independientes, de ah su nombre CAD4 y es controlado por un sistema de cmputo con programas CAD4 versin 2.0 para computador personal. (Mora, Hernndez, 2012)

Fig. 3 Difractmetro CAD4 Bruker-Nonius consiste

2.4.3.3. Difractmetro de Polvo Normalmente posee una geometra de tipo Bragg-Brentano en el que, el contador electrnico puede formar un ngulo variable (2 = 3-110) con el haz incidente de rayos X.

Cuando la muestra gira un ngulo el contador gira 2, este movimiento es el que hace que el difractmetro se denomine Difractmetro de dos crculos (Figura 4). En un difractmetro comercial la muestra se sita en el centro de eje del gonimetro de precisin, cuya velocidad angular est sincronizada en la relacin anterior 2:1 con el detector. ()

Fig. 4 Difractmetro de Polvo

El registro grfico o difractograma consiste de picos distribuidos en funcin de los valores angulares, 2, y que corresponden a las de las reflexiones que representan. Las alturas de estos mximos y ms concretamente sus reas constituyen magnitudes muy representativas de las intensidades de las reflexiones

correspondientes, las cuales pueden ser medidas con gran exactitud y reproducibilidad. (Palacios, Len, 2008) 2.4.4. Difractometra Como resultado salen listados de los contenidos en minerales de la muestra. Algunas veces se puede hacer un anlisis semi-cuantitativa. Se puede detectar con este mtodo todos los minerales con estructura cristalina especialmente se aplican la difractometra para los minerales arcillosos. (Palacios, Len, 2008) 2.4.4.1. Difractometra de Rayos x

La XRD es una tcnica de caracterizacin estructural de slidos que posibilita analizar muestras monocristalinas o policristalinas, montadas en dispositivos goniomtricos. Las longitudes de onda de los rayos X que inciden sobre la muestra son del mismo orden que las distancias interatmicas de los cristales. Al incidir sobre la muestras, los rayos X se difractan en direcciones y con intensidades caractersticas de cada red cristalina. Como resultado se obtiene un difractograma que es reflejo de la estructura cristalina del material irradiado. El equipo empleado fue un difractmetro Siemens D-500 de geometra Bragg-Brentano /2, que trabaja a una longitud de onda de 1.54 (lnea K del Cu) y que est provisto de un cargador automtico de muestras, cmaras de temperatura y accesorio de incidencia rasante. Los difractogramas se obtuvieron para un barrido angular de 4 a 70 (2 ) con 40 kV y 30 mA. (Palacios, Len, 2008) 2.4.4.2. Difractometra lasser El principio de la difractometra Lser se basa en la difraccin de Fraunhofer, para la cual el tamao de la partcula es mucho mayor que el de la longitud de onda. Es decir, la difractometra lser se explica por medio del principio de Huygens; el cual toma a las partculas como emisoras de segundos frentes de onda y explica el patrn formado como su interferencia en campo lejano. Considerndose que la partcula tiene forma esfrica. (Palacios, Len, 2008)

Referencias Bibliogrficas Hernan Mesa Dario. Principios y aplicaciones de la tcnica de difraccin de electrones retro-proyectados. (EBSD, Electron Back-Scattering Diffraction). Palacios N., Len J. (2008). Grupo de ptica y Laser. Programa de Ingeniera FsicaUniversidad del Cauca. CSIC (Madrid) Instituto de Qumica Fsica Rocalosano. Curso sobre difraccin de rayos X. Recuperado de: http://www.ehu.es/imacris/PIE06/web/DRXP.htm Farlex The Free Dictionary. Recuperado de: http://es.thefreedictionary.com/difracci%C3%B3 ArqueoLine. Principales tcnicas de Anlisis. Recuperado de: http://www.arqueoline.com/esp/tecniques_analisi.php#1 Nicasio Collazo Adriana. Mtodo de difraccin de rayos X. Universidad de Guanajuato. CCHN Comisin Chilena de Energa Nuclear. Difractmetro de Neutrones. Recuperado de: http://www.cchen.cl/index.php?option=com_content&view=article&id=161:difractometrode-neutrones&catid=130:centro-de-estudios-nucleares-la-reina&Itemid=84 Mora P., Hernndez A. (2012). Qumica de Productos Orgnicos (Mxico). Recuperado de: http://www.nathan.cinvestav.mx/infraestructura/rayos_x/