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Ingenieria de Fabricación

4º Grado en Ingeniería de Tecnologías Industriales

Escuela Técnica Superior de Ingeniería Industrial, Informática y

de Telecomunicación
Universidad Pública de Navarra

Reservados todos los derechos.

No se permite la explotación económica ni la transformación de esta obra. Queda permitida la impresión en su totalidad.
 Ingeniería de fabricación Metro IV

Tema 4: Parámetros de rugosidad superficial y equipos de medida

4.1 Introducción
• El estado superficial debe tener una serie de especificaciones que vienen determinadas por las necesidades
y/o exigencias del cliente y por la función a que se destina la pieza.

• Dicho estado final de calidad superficial determina un buen número de propiedades de la pieza:
comportamiento a fatiga, resistencia a la corrosión o resistencia al desgaste.

•
• En el estudio de un acabado superficial se usan perfiles.

4.2 Parámetros de rugosidad superficial

• Parámetros de acabado superficial: letra en mayúsculas que se refieren al tipo de perfil usado (R rugosidad,
W ondulación, P perfil completo o primario) + una letra o letras en minúscula para identificar el parámetro
en concreto.

• Varios tipos de parámetros:

o Según el método de cálculo:
* Parámetros promediados: de alta (Ra) y baja (Rc) promediación.
* Parámetros no promediados: Rp o Rv.
o Según las características geométricas:
* Parámetros de amplitud: de “pico y valle” (Rp) y de valores medios de ordenadas (Ra).
* Parámetros de espaciamiento o de paso: Sm
* Parámetros combinados de paso y amplitud: Rmr (c) y curva de Abbott Firestone.
• Los parámetros de rugosidad se expresan normalmente en micrómetros o micras, 1µm= 10-6m.

• Según la norma hay muchos parámetros de rugosidad, incluso fabricantes tienen los suyos propios.
• La evaluación debe hacerse sobre la longitud básica (según la norma), muchas veces sobre la de medición.
• Los parámetros más importantes según la norma UNE-EN ISO 4287:
→ Máxima altura de pico del perfil de rugosidad (Rp): la mayor altura de los picos, Zp, comprendida en una
longitud de muestreo o básica (lr). lr es igual en valor numérico a la longitud de onda característica del
filtro de perfil (𝜆𝑐).
→ Máxima profundidad de valle del perfil de rugosidad (Rv): la mayor de las profundidades de los valles
del perfil, Zv, comprendida en una lr.

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→ Máxima altura del perfil de rugosidad (Rz): la

suma de la máxima altura de pico, Zp, y de la
máxima profundidad de valle, Zv, comprendidas en
una lr.
→ Altura media de los elementos del perfil de
rugosidad (Rc): el valor medio de las alturas de los

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elementos del perfil (conjunto formado por un
pico + el adyacente a éste), Zt, comprendidas en
una lr.
→ Altura total del perfil de rugosidad (Rt): la suma
de la mayor altura de pico, Zp, y de la mayor
profundidad de valle, Zv, comprendidas en la
longitud de evaluación (ln). ln, en la dirección x, es
la utilizada para evaluar el perfil, por lo que, puede
comprender una o varias lr. Siempre se va a
cumplir que Rt≥Rz
→ Desviación media aritmética del perfil de rugosidad (Ra): la media
aritmética de los valores absolutos de las ordenadas Z(x) (siendo Z(x) la
altura del perfil evaluado en una posición cualquiera x) que se encuentre
comprendidas en una lr. Ra es el parámetro que más se utiliza y suele
expresarse en µm.
→ Desviación media cuadrática del perfil de rugosidad (Rq): la media
cuadrática de los valores de las ordenadas Z(x) que están comprendidas en
una lr. Es un parámetro equivalente a Ra.
Ra está menos influido por errores aislados, mientras que para Rq los errores influyen más, por lo que los
detecta mejor, pero no distingue si es un defecto aislado o si se trata de un empeoramiento general de la
superficie.
→ Factor de asimetría del perfil de rugosidad (skewness) (Rsk): cociente entre la media de los cubos de los
valores de las ordenadas Z(x) y el cubo del parámetro Rq en una lr. Representa la medida de la asimetría de
la curva de distribución de amplitud y está muy influido por la existencia de picos o valles aislados.
→ Factor de aplastamiento del perfil de rugosidad (kurtosis) (Rku): cociente entre la media de los valores
de las ordenadas Z(x) elevados a la cuarta potencia y el valor del parámetro Rq elevado a la cuarta
potencia, dentro de una lr. Representa la medida del aplastamiento de la curva de distribución de amplitud
y está muy influido por la presencia de picos o valles aislados.
→ Anchura media de los elementos del perfil (Sm):
valor medio de las anchuras de los elementos del
perfil (Si), comprendidas en una lr.
→ Contador de picos (Pc): nº de picos que están
por encima de la selección superior y que caen a los
lados por debajo del nivel de selección inferior.
→ Tasa de material del perfil de rugosidad (Rmr(c)): el cociente entre la longitud de material de los
elementos del perfil MI(c) en un nivel dado c y en una ln.
→ Curva de tasa de material del perfil de rugosidad (curva de Abbot Firestone): representa la tasa de
material del perfil de rugosidad en función del nivel.

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4.3 Equipos de medida

4.3.1 Clasificación de aparatos y dispositivos
• La clasificación de aparatos y dispositivos que sirven para medir los parámetros geométricos de los
estados de superficie se apoya en las siguientes consideraciones:

➢ Naturaleza de las irregularidades: ➢ Método de medida o evaluación:

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▪ Rugosidad. ▪ Sobre un área.
▪ Ondulación. ▪ Sobre el perfil de una sección.
▪ Defectos de forma.
➢ Modo de transformación de la información
➢ Modo de interpretación: obtenida sobre el perfil real:

▪ Geométrica ▪ Progresiva.
▪ No geométrica ▪ Global.

➢ Forma de presentación de los resultados.

➢ Modo de exploración (forma de interacción
del aparato y superficie): ➢ Las propiedades de los aparatos pueden resultar de
las combinaciones de las diversas características
▪ Sin contacto.
dadas en el esquema de clasificación.
▪ Con contacto.
➢ Los aparatos recuadrados con trazo discontinuo no
existen actualmente, pero son posibles en el futuro.
4.3.2 Rugosímetro de palpador
• Existen varios métodos a la hora de medir la rugosidad superficial. Se pueden destacar los rugosímetros
electrónicos de palpador móvil. Un instrumento de palpador explora la superficie mediante un palpador,
registra las desviaciones del perfil superficial, calcula los parámetros y puede registrar gráficamente el
perfil.

• VALORES NOMINALES de las características de los

instrumentos:
1) Geometría del palpador: la forma ideal es la de un cono con
punta esférica con rpunta= 2, 5 y 10µm y ángulo de cono 60º (el
ideal) y 90º.
2) Fuerza de medida estática: valor nominal en la posición
media del palpador es 0.00075 N
3) Longitud de onda de corte del filtro de perfil:
…0.08;0.25;0.8;2.5;8… mm
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