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ANALISIS DEL MODO Y EFECTO DE FALLA (AMEF)

EL AMEF, es una herramienta que relaciona las fallas o defectos de las caractersticas del
proceso que afectan las salidas del mismo, permite:

Reconocer y evaluar las fallas potenciales de un producto o proceso y los efectos de


dicha falla.
Identificar acciones que podran eliminar o reducir la posibilidad de que ocurra fallas
potenciales.
Documentar el proceso.

De esta manera la accin puede planearse con el propsito de reducir o eliminar el riesgo. Por
lo tanto, puede ser considerado como un mtodo analtico estandarizado para detectar y
eliminar problemas de forma sistemtica y total.

TIPOS DE AMEF

El procedimiento AMEF puede aplicarse a:

PRODUCTOS: Sirve como herramienta para detectar posibles fallas en el diseo,


aumentando las probabilidades de anticiparse a los efectos que pueden llegar a tener
en el usuario o en el proceso de produccin.
PROCESO: Detecta posibles fallas en las etapas de produccin, aumentando las
probabilidades de anticiparse a los efectos que puedan a llegar a tener en el usuario o
en etapas posteriores de cada proceso.
SISTEMAS: Descubre posibles fallas en el diseo del software, aumentando las
probabilidades de anticiparse a los efectos que puedan llegar a tener en su
funcionamiento.
OTROS: El AMEF puede aplicarse a cualquier proceso en general en el que se
pretendan identificar, clasificar y prevenir fallas mediante el anlisis de sus efectos, y
cuyas causas deban documentarse.

VENTAJAS Y LIMITACIONES DEL AMEF

VENTAJAS LIMITACIONES POR FALTA DE SEGUIMIENTO


DEL EQUIPO
Una eficiente lnea de manufactura. Los requerimientos de
Disminuir las cargas de trabajo por entrenamiento en los empleados.
cambios del proceso no previsto. Impacto inicial en el programa de
Minimizar las fallas del proceso manufactura.
Aumentar la confiabilidad en el Impacto financiero requerido para
proceso. una alta calidad de manufactura
Disminuyen los costos por retornos (herramientas, equipos y
de consumidor. tecnologa).
Aade satisfaccin del cliente. Incumplimiento a las fechas de
cierre de las acciones a ser tomadas
para la mejora del proceso

El AMEF debe considerarse en cualquier compaa que desee aplicarlo a sus procesos o
productos, como parte de un sistema de calidad comprensivo, que cada compaa no tendr
beneficios de un AMEF, si el sistema no es reconocido. La falta de informacin, datos y trabajo
en equipo debe tener como resultado causas errneas y afecta el concepto de un AMEF como
un proceso no muy efectivo
LOS BENEFICIOS DE UN AMEF

La eliminacin de los modos de fallas potenciales tiene beneficios tanto a corto como a largo
plazo. A corto plazo, representa ahorros de los costos de reparaciones, las pruebas repetitivas
y el tiempo de paro. El beneficio a largo plazo es mucho ms difcil medir, puesto que se
relaciona con la satisfaccin del cliente con el producto y con su percepcin de calidad; esta
percepcin afecta a las futuras compras de los productos y es decisiva para crear una buena
imagen de los mismos.

Por lo tanto, el AMEF apoya y refuerza el proceso de diseo ya que:

Incrementa la probabilidad de que los modos de fallas potenciales y sus efectos sobre
la operacin del sistema sean considerados durante el diseo.
Proporciona una informacin adicional para ayudar en la planeacin de programas
eficientes.
Desarrolla una lista de modos de fallas potenciales, clasificndolos conforme a su
probable efectos sobre el cliente.
Identifica los modos de fallas conocidos y potenciales de que otra manera podran
pasar desapercibidos.
Detecta fallas primarias, pero a menudo minimas que puedan causar ciertas fallas
secundarias.

LINKOGRAFIAS:

https://books.google.com.pe/books?id=1r5spBbmUwQC&pg=PA76&dq=amef&hl=es&sa=X&v
ed=0ahUKEwjW7qjWtaPXAhUGzIMKHTzFA-QQ6AEINDAD#v=onepage&q=amef&f=false

http://eprints.uanl.mx/1522/1/1020150046.PDF

http://www.leansolutions.co/conceptos/amef/

http://www.icicm.com/files/CurAMEF.pdf

https://www.ingenieriaindustrialonline.com/herramientas-para-el-ingeniero-industrial/lean-
manufacturing/analisis-del-modo-y-efecto-de-fallas-amef/

http://tesis.uson.mx/digital/tesis/docs/2570/Capitulo5.pdf

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