UNIVERSIDAD DE PANAMÁ

FACULTAD DE CIENCIAS NATURALES, EXACTAS Y TECNOLOGÍA

ESCUELA DE QUIMICA

ESTUDIANTE:
JENNIFER CORDOBA A.

2-737-1528

PROFESOR: JUAN A. JAEN

ASIGNATURA:
QUIMICA FISICA III

PANAMA 21 DE JULIO DE 2023

1
 Introducción

La fluorescencia de rayos x es una técnica de análisis muy utilizada para la

determinación de análisis elemental de diversos materiales. Principalmente se basa
rayos X irradiados en alta intensidad a la muestra, que al final pasa a un detector
generando un espectro con señales características de cada elemento.

Los átomos excitados emiten un tipo de radiación de menor energía cuando los
electrones mas cercanos al núcleo regresan a su estado fundamental. Cada átomo
tiene un tipo de radiación distinta. Luego de que la muestra pasa al detector, la
lectura del espectro se hace en base a la intensidad de la señal presente. La
intensidad de la señal es característica para cada elemento en particular por lo que
esta técnica hace sencillo el análisis, además que requiera poca preparación de la
muestra.

Adicionalmente también se presentará el tema de la espectroscopia de rayos x, que

es una técnica similar en cuanto al tipo de radiación por el cual se hace pasar la
muestra. Permite obtener información sobre el comportamiento atómico y molecular
de la muestra. Esta técnica también puede combinarse con microscopio electrónico
de barrido y permite analizar muestras a escalas más pequeñas.

Resumen:

En este trabajo monográfico nos enfocaremos en la revisión de diversos artículos

científicos sobre la fluorescencia de rayos x y la espectroscopia de rayos x para la
comprensión de dichas técnicas y entender sus aplicaciones e importancia de
aplicarlas en los diversos campos como, por ejemplo: la medicina, geofísica e
incluso la construcción y fabricación de productos farmacéuticos.

Palabras claves: fluorescencia, rayos x, espectroscopia, monocromático, transición, órbita,

estados, microscopía. Emisión, cuantificación, análisis elemental, longitud de onda, método
analítico, técnica, espectro.

2
 INDICE
Introducción ............................................................................................................................. 2
Resumen .............................................................................................................................. 2
Palabras Claves............................................................................................................................ 2
Indice ................................................................................................................................................... 3
Fluorescencia de Rayos X ................................................................................................................... 4
Fluorescencia de rayos X por dispersión de energía ................................................................ 5
Fluorescencia de rayos X por dispersión de longitud de onda ............................................. 8
Fluorescencia de Rayos X por reflexión total .................................................................................. 10
Microfluorescencia de Rayos X ........................................................................................................ 12
Microscopia de Fluorescencia de Rayos X ....................................................................................... 13
Espectroscopia por pérdida de energía de electrones .................................................................... 14
Aplicaciones ...................................................................................................................................... 16
Conclusión ......................................................................................................................................... 16
Referencias bibliográficas ................................................................................................................ 17

3
 A. Fluorescencia de rayos X.
Fuorescencia de rayos x (XRF) para el análisis químico de minerales en la
isla Buton, Indonesia.

Es una técnica analítica de tipo cuantitavo y cualitativo que se utiliza para el análisis
elemental de material. Generalmente se utiliza para la medición de materiales en
estado sólido para la medición de diversos parámetros como el grosor, y la
composición de estos, en ese caso brinda información acerca de la concentración
elemental de la muestra. El sistema se compone de una fuente de rayos X de alta
intensidad y el sistema de detección de rayos X que emite la muestra al ser
analizada.
El estudio se basa principalmente en la determinación del contenido y porcentaje de
minerales, la fluorescencia de rayos X nos proporcionará datos sobre el porcentaje
de cuarzo y calcita (Jamaijamluddin, et al, 2017).
Se seleccionó el lugar objeto de estudio debido a que indonesia posee la mayor
reserva de asfalto natural del mundo pudiendo alcanzar hasta 677 millones de
toneladas contribuyendo a la industria del asfalto de ese país (Jamaijamluddin, et
al, 2017).
A continuación, se muestra la tabla de resultados obtenidas del análisis de las
muestras de rocas mediante fluorescencia de rayos X.

4
Figura 1. Resultados de la medición de la composición mineral de las muestras de
prueba mediante rayos X. (Jamaijamluddin, et al, 2017).

Se muestran los resultados de las siete muestras analizadas, dando como resultado
un promedio de 37.86% de contenido de asfalto y un promedio de 43.28% de
carbonatos en la roca tipo abustón. El contenido de CaO disminuye conforme otros
óxidos se hacen presentes en las muestras. También junto a estos valores obtenidos
deben considerarse las interferencias o impurezas como sulfatos, sulfuros y óxidos.
Además de la lixiviación del calcio durante el tratamiento de la muestra.

A.1Fluorescencia de rayos X dispersión de energía

Análisis de elementos basado en fluorescencia de rayos X de dispersión de

energía.

Es un tipo de análisis no destructivo, preciso, rápido, multielemental preciso y eco

amigable. Permite medir diversos tipos de muestra para diversos requisitos
medición y realizar análisis simultáneos.

El principio de esta técnica se basa en la excitación directa que es un proceso

mediante el cual los átomos de una muestra son excitados por fotones primarios de
fuentes externas, como un tubo de rayos X, una fuente radiactiva y un haz de
sincrotrón, para producir fluorescencia primaria. Un proceso alternativo es la
excitación indirecta, en la que la fluorescencia observada se produce como un
proceso secundario mediante fotones o partículas que se originan a partir de la
excitación directa u otros procesos secundarios dentro de la muestra.

El espectrómetro consta de una fuente de alimentación, un subsistema de

trayectoria de luz, un circuito de control y una computadora personal. Se suministra
energía de alto voltaje al tubo de rayos X para emitir un rayo X primario, que irradia
la muestra. Luego, la muestra se estimula para que emita XRF, que es recibida por
un detector de XRF. El detector clasifica los fotones recibidos según la energía y
cuenta el número de fotones que corresponden a diferentes niveles de energía.

5
Luego, el detector envía los resultados a la computadora que mediante el software
permite completar el análisis (min yao et al, 2015)

Figura 2. Diagrama de funcionamientos de fluorescencia de rayos x por dispersión

de energía. (min yao et al, 2015)

Análisis cualitativo:

El análisis cualitativo es la base del análisis cuantitativo para este tipo de técnica:
El análisis cualitativo generalmente se divide en tres pasos que resumiré a
continuación:

a. Señal máxima de los picos: La incertidumbre de un pico grande es de

aproximadamente ±10 keV, mientras que la de un pico pequeño es de hasta
±50 eV. Los picos pequeños pueden despreciarse cuando se superponen con
un pico grande, particularmente cuando su nivel de energía es inferior a 12
keV. Por lo tanto, aunque este paso puede incluirse dado que los picos
pequeños pueden despreciarse tampoco puede obviarse la interferencia
espectral.
b. Reconocimiento de picos. La incertidumbre de la posición del pico
generalmente aumenta la dificultad del reconocimiento del pico. Más de un

6
 pico corresponde al pico de energía en el espectro en varios casos. Los picos
acumulados, de escape y de dispersión también pueden interferir con el
reconocimiento.
c. Determinación de elementos: A excepción de los elementos ligeros, como
Na, Mg, Al, Si, P y S, la identificación de un elemento normalmente requiere
más de dos picos espectrales característicos. Además, también se deben
considerar las intensidades relativas en diferentes picos espectrales

Análisis cuantitativo

Este paso depende de las curvas de calibración estándar que se han realizado para
el método y posterior solamente el valor de intensidad del pico medido del elemento
desconocido en una medición real se introduce en la curva estándar para obtener
los contenidos elementales por interpolación. Para asegurar una correcta lectura,
las muestras estándar y el elemento desconocido deben medirse en condiciones
similares.

Por el método cuantitativo se realizó un total de 15 mediciones de Mn (manganeso)

en hierro fundido.

El error relativo para el contenido de Mn del hierro fundido está dentro del 5 %. Por
lo tanto, se concluye que el método funciona correctamente para la cuantificación
de dicho elemento. Los resultados obtenidos del experimento se presentan a
continuación.

7
Figura 3. Resultados obtenidos mediante fluorescencia de rayos X por dispersión
de energía para el análisis de Mn en Fe. (min yao et al, 2015)

A.2. Fluorescencia de rayos x por dispersión de longitud de onda

Análisis multielemental de suelos por espectrometría de fluorescencia de

rayos X de dispersión de longitud de onda.

Es uno de los dos tipos generales de

fluorescencia de rayos x utilizado.Sigue siendo
un tipo de fluorescencia no destructiva que
también proporciona información sobre la
composición elemental de las muestras
seleccionadas en un rango de longitud de onda
menor y única. Los rayos x se miden después 1Esquema de fluorescencia de rayos x por
dispersión de longitud de onda.
de ser difractados por un cristal analizador o tipo
8
monocromático y luego llegan al detector que se encuentra colocado en cierto
ángulo para facilitar la medición de la intensidad de los rayos X.

En el estudio se utilizó la técnica por su precisión instrumental, disminución de

largos procesos de preparación de muestras y la longevidad de las calibraciones,
es decir una vez calibrado el espectrómetro no es necesario realizar calibraciones
tan seguidos si se utilizan los materiales de referencia certificados adecuados.
(Khrisna, et al 2007).

El principal propósito de la investigación fue el desarrollo de un método analítico

cuantitativo por medio de fluorescencia de rayos X para análisis de rutina de
muestras de suelo preparadas. (Khrisna, et al 2007).

Se debe tomar en cuenta la correcta homogenización y el tamaño de partícula a

utilizar durante la preparación de la muestra, que se prepararía en forma de gránulos
prensados. Por otra parte, tomar en cuenta la metodología de calibración correcta
que cumpla con todos los pasos establecidos y el uso de 22 materiales de referencia
certificados, ya que una calibración deficiente puede influir significativamente en la
obtención de los resultados. (Khrisna, et al 2007).

9
Figura 4. Resultados analíticos obtenidos ediante XRF en muestras de suelo.
(Khrisna, et al 2007).

En la tabla se pueden observar cada una de las muestras analizadas, los resultados
obtenidos y su incertidumbre asociada que fue calculada durante el análisis. La
incertidumbre incluye la suma de lo siguiente: estadísticas de conteo, errores
sistemáticos,corrección espectral y sensibilidades utilizadas para calibrar el
espectrofotómetro. Todos los resultados se encuentran dentro de los límites de
prueba de aptitud para el propósito del programa internacional de mapeo
geoquímico (IGCP). La calibración del equipo con coeficientes empíricos es un paso
crítico porque los efectos de la matriz son bastantes severos y dan como resultado
un proceso lento con un amplio rango de concentración de los analitos. (Khrisna,
et al 2007).

B. Fluorescencia de rayos X de reflexión total.

Análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total con un sustrato de

vidrio tratado con un chorro de plasma a presión atmosférica de He.

El análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF) es una técnica bien

conocida para el análisis de elementos traza. Los rayos X primarios se irradian sobre
un sustrato plano con un pequeño ángulo de mirada inferior al ángulo crítico para la
reflexión total. Dado que los rayos X primarios se reflejan totalmente en el sustrato,
los rayos X dispersos no se detectan. Esto conduce a una disminución de la
intensidad de fondo del espectro de rayos X. Además, la fluorescencia de rayos X
emitida por la muestra sobre el sustrato es detectada con un gran ángulo sólido por
el detector de rayos X, que se coloca justo encima del sustrato. Por lo tanto, las
muestras como las partículas contaminantes en el sustrato se pueden analizar con
una alta sensibilidad mediante esta técnica. (tsuji et al, 2021).

10
Para optimización de la técnica y disminución de interferencias por matriz, residuo
de muestra o auto absorción en esta investigación se utilizó un tratamiento con
chorro de plasma a presión atmosférica de He a un sustrato de vidrio para la
obtención de una superficie hidrófila.

Se preparó una solución estándar de Ca, Cr, FE, Pb, Ba y Ga en ácido sulfúrico y
nítrico. Se preparó el sustrato de vidrio en ácido nítrico para la eliminación de los
contaminantes de la superficie metálica y luego fueron enjuagados con agua pura.

Otros sustratos se prepararon mediante secado durante 20 min para la formación

de una capa de revestimiento de silicona hidrofóbica en la superficie del sustrato, lo
que contribuye a la no autoabsorción. (tsuji et al, 2021).

En la figura 5 se muestra los espectros de la solución estándar adquiridos utilizando

un tiempo de medición de 600 segundos. Se observaron picos claros con un fondo
bajo. La intensidad de los picos de dispersión de rayos X y el fondo no cambiaron
debido al tratamiento del sustrato.

muestra. Se confirmó que los parámetros de rendimiento analítico del análisis de

fluorescencia, es decir, la recuperación, los RSD y los límites de detección,
mejoraron con el uso del sustrato de vidrio tratado previamente.

Figura 5. Espectros de los residuos de solución estándar (a) y vino tinto (b) en el
vidrio de cuarzo tratado con chorro de plasma. (tsuji et al, 2021).
11
 C. Microfluorescencia de rayos X.
Análisis de microfluorescencia de rayos X confocal como nueva herramienta
para el estudio no destructivo de las distribuciones elementales en tabletas
farmacéuticas.

También es una técnica no destructiva pero que, a diferencia, puede medir áreas de
muestras muy pequeñas. Utiliza la excitación directa de rayos X para la emisión
característica de la muestra y medir su composición elemental.

En este estudio se eligieron dos problemáticas para demostrar la eficacia de la

fluorescencia de rayos X en la determinación de la composición elemental de las
tabletas. Primeramente, se utilizaron tabletas que contenían estearato de zinc para
probar la capacidad de ese lubricante en el mapeo de distribución mediante el
estudio del contenido de zinc en la tableta. En segundo lugar, se estudió una tableta
comercial con diferentes tipos de iones inorgánicos. (Mazel et al, 2011).

Figura 6. Espectros de fluorescencia de rayos X de la tableta. (Mazel et al, 2011).

En la figura 6 se muestra el espectro de fluorescencia de rayos X global, que es la

suma de todos los espectros medidos mientras se obtienen imágenes de la muestra.

12
Los diferentes elementos que tienen una masa mayor que el Ca descritos en el
prospecto se detectaron claramente utilizando estas medidas (Ti, Mn, Fe, Cu, Zn,
Ca). Básicamente, debido a los factores de transmisión de la óptica policapilar, el
dispositivo no es adecuado para la detección de elementos más ligeros (Mazel et
al, 2011).

D. Microscopia de fluorescencia de rayos X.

Microscopía de fluorescencia de rayos X: un método para medir las

concentraciones de iones en el oído.

Los rayos X de longitud de onda corta pueden ionizar elementos al expulsar uno o
más electrones de las órbitas internas de un átomo irradiado, lo que permite que los
electrones de las órbitas externas caigan en la capa interna. Cuando los electrones
de las órbitas exteriores se mueven para llenar las órbitas interiores vacías, se libera
energía en forma de radiación y la longitud de onda se mide mediante diferencia de
energía del electrón entre órbitas. Según la órbita a la que se dirige la energía de la
radiación de rayos X incidente, las principales transiciones se producen de la
segunda a la primera órbita y de la tercera a la primera órbita.

Figura 7. Concentraciones en las diferentes estructuras auditivas. (Brister et al,

2020).

Para la mayoría de las regiones presentadas en esta tabla, no existen valores de

referencia comparables. Sin embargo, reportaron que, para las neuronas del ganglio

13
espiral, se espera un alto contenido de cloruro intracelular en los animales que no
escuchan. Para el hueso, las concentraciones se reportan típicamente en términos
de composición porcentual en masa. Como no se conocía la masa total de las
muestras de hueso descritas en la publicación, se compararon las proporciones de
las concentraciones de masa de los elementos. (Brister et al, 2020).

La endolinfa y la perilinfa están ampliamente estudiadas, siendo ambas accesibles

por métodos anteriores y presentando una diferencia fisiológicamente importante en
la concentración de K.

En el caso de las regiones de interés dentro de grandes espacios fluidos donde se

esperaba endolinfa o perilinfa, las concentraciones estaban dentro del ruido de
fondo. Esto es indicativo de una pérdida de fluidos cocleares o la difusión de iones
no contenidos ya sea en espacios intracelulares o extracelulares. Las
concentraciones de K no varían significativamente esto puede deberse a que tiene
un comportamiento similar al cloruro o puede ser un producto de la preparación de
la muestra que contenía iones de potasio difundiéndose durante el procesamiento.
(Brister et al, 2020).

E. Espectroscopia por pérdida de energía de electrones.

Explorando las capacidades de la espectroscopia de pérdida de energía de

electrones monocromáticos en el régimen infrarrojo.

La espectroscopia de pérdida de energía de electrones es la técnica utilizada para

estudiar las propiedades de materiales con energías bajas (bandas prohibidas,
plasmones y excitones) que presenten una resolución espacial a nanoescala. En
esta investigación se evalúa la espectroscopía de rayos x en el rango infrarrojo y la
evaluación de diferentes variables como la resolución, relación señal-ruido y
resolución espacial.

Esta técnica está condicionada por la dispersión de energía de los electrones que
salen del compartimento emisor de electrones. Además, presenta dos puntos clave:
una pérdida de núcleo donde se obtiene información electrónica y de composición
14
a partir de la interacción del haz de electrones con estados profundos del núcleo y
baja pérdida donde la información óptica se determina en estados de excitación
bajos. El principio básico de la espectroscopia es que el haz de electrones se
transmite a través de una muestra, donde pierde energía generando excitaciones,
luego el haz transmitido es dispersado por un prisma magnético para crear un
espectro de los eventos de pérdida de energía que ocurrieron en la muestra.

Figura 8. Efectos de la monocromación en las colas de ZLP. El ZLP es el pico

compuesto por electrones que se transmiten a través de la muestra sin perder
energía. (Hachtel et al, 2018).

El espectro b muestra los ZLP normalizados del espectro a en una escala

logarítmica para ilustrar mejor el impacto de la monocromación en las colas. En el
espectro cFEG, la cola ZLP todavía se encuentra aproximadamente al 1% de su
intensidad máxima con una pérdida de energía de 1 eV. Este trasfondo es
problemático, porque se ha demostrado que las firmas EELS son difíciles de
observar hasta que la intensidad de la cola ZLP cae por debajo de 10 −3 de su
máximo. El aumento de la monocromación da como resultado colas ZLP que caen
por debajo del límite de Kimoto con pérdidas
de energía mucho menores, lo que permite
resolver las características en el régimen
infrarrojo. (Hachtel et al, 2018).

Figura9.Imágenes de microscopía electrónica.

15
Aplicaciones.

1. En aplicaciones que contribuyen a la medicina, por ejemplo, determinación

de zinc en el oído medio. Se ha demostrado que el zinc juega un papel muy
importante en distintas funciones biológicas como la respuesta inmunológica,
síntesis de proteínas y lípidos. (Brister et al, 2020).
2. Determinación de porcentaje de minerales en rocas para mantener una
calidad continua de los productos de asfalto que se producen, por ejemplo,
en el estudio hecho en Indonesia mediante fluorescencia de rayos.
(Jamalauddin et al, 2017).
3. Estudio de metales pesados en suplementos dietéticos mediante
espectroscopia de fluorescencia de rayos x de reflexión total. (Beltran et al,
2020).
4. Determinación de iones contenidos en tabletas farmacéuticas lo cual también
brinda información acerca del comportamiento físico del producto y su
proceso de fabricación. (Mazel et al, 2011).
5. Monitorio de la contaminación de los suelos mediante el análisis elemental
de los mismos. (Khrisna, et al 2007).

Conclusión

La fluorescencia y espectroscopia de rayos x son técnicas muy versátiles y

funcionales que permiten obtener información acerca de la composición elemental
de diversos tipos de muestras o materiales. Es una técnica no destructiva que
permite eliminar los largos procesos de preparación de reactivos para el tratamiento
preliminar de muestras y a su vez la reducción de costos. Adicionalmente permite
utilizar pequeñas cantidades de muestras y en diferentes estados físicos.

16
Luego de analizar y leer los artículos expuestos en este trabajo monográfico queda
demostrado que son técnicas eficaces en diversos campos, desde la medicina,
investigación científica, validación de métodos y control de calidad en la
construcción.

Referencias bibliográficas:

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