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Instrumentación Electrónica
1. Introducción
2. Instrumentación electrónica en el contexto
del control de procesos
3. Sistemas de medida
4. Caracterización de los sistemas de medida
Pérez García, M.A., Álvarez Antón, J.C., Campo Rodríguez, J.C., Ferrero
Martín F.C., y Grillo Ortega, Instrumentación Electrónica, 2ª ed.,
Thomson, 2004.
Pérez García, M.A., Instrumentación Electrónica: 230 problemas
resueltos, 1ª ed., Editorial Garceta, 2012
1
1.1 Introducción
1.1.1 Definiciones (i)
La medida consiste en la determinación de una magnitud por
comparación con un estándar.
Magnitud (física), propiedad física mensurable (que puede ser
medida).
La instrumentación comprende todas las técnicas, equipos y
metodologías relacionados con el diseño, construcción y aplicación de
dispositivos físicos para mejorar, completar y aumentar la eficiencia de
los mecanismos de percepción del ser humano.
La instrumentación electrónica (IE) es la técnica que se ocupa de la
medición de cualquier tipo de magnitud física, de la conversión de la
misma a magnitudes eléctricas y de su tratamiento para proporcionar la
información adecuada (a un sistema de control, a un operador humano
o a ambos).
2
1.2 IE en el control de procesos
1.2.1 Conceptos y terminología (i)
Proceso entrada/salida
Perturbación
Sistema de MV
Consignas Proceso PV
Órdenes Control
3
1.2 IE en el control de procesos
1.2.1 Conceptos y terminología (ii)
Señales de
Sistema de mando MV
Consignas Actuadores Proceso PV
Órdenes Control
4
1.2 IE en el control de procesos
1.2.1 Conceptos y terminología (iii)
SISTEMA DE MEDIDA
Señal
Señal
eléctrica
PV medida
SENSOR ACONDICIONAMIENTO
(variable
física)
PROCESO
TRANSMISOR
Medio de
transmisión
MV
ACTUADOR SISTEMA DE CONTROL RECEPTOR
(variable Señal
física) mando
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1.2 IE en el control de procesos
1.2.2 Arquitecturas de los sistemas de medida (i)
Arquitectura centralizada
NÚCLEO INTELIGENTE Valores de
Valores
consignas
medidos
1 1
2 SISTEMA 2
SISTEMA 3 3
. DE .
DE MEDIDA . .
. .
n CONTROL n
1 2 3 n 1 2 3 m
.
.
.
.
.
.
Señales de sensores Señales de mando
Valores
reales de
P R O C E S O
ACTUADOR
las ACTUADOR SENSOR ACTUADOR m
variables 1 3 3
Topología en estrella
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1.2 IE en el control de procesos
1.2.2 Arquitecturas de los sistemas de medida (ii)
Arquitectura distribuida
BUS DE CAMPO
NÚCLEO
INTELIGENTE
M
Topología
de
BUS DE PROCESO
buses
NÚCLEO NÚCLEO NÚCLEO NÚCLEO
INTELIGENTE INTELIGENTE INTELIGENTE INTELIGENTE
1 2 3 N
P R O C E S O
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1.3 Sistemas de medida
1.3.1 Introducción (i)
Sistema de medida
ENTRADAS SALIDAS
- Temperatura - Visualización
- Presión Sistema de
- Velocidad - Almacenamiento
- Luz medida
- pH - Transmisión
etc.
magnitudes físicas
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1.3 Sistemas de medida
1.3.1 Introducción (ii)
Naturaleza y tipos de variables susceptibles de ser medidas
Naturaleza de
Tipo de variable
la variable
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1.3 Sistemas de medida
1.3.2 Elementos de un sistema de medida (i)
Entrada Salida
Sensor Acondicio- Conversión Procesador Conversión Acondicio-
(magnitud namiento AD DA namiento (valor medido)
física)
Procesamiento Transmisión de la señal
Adquisición de la señal de la señal
SISTEMA DE MEDIDA
10
1.3 Sistemas de medida
1.3.2 Elementos de un sistema de medida (ii)
11
1.3 Sistemas de medida
1.3.2 Elementos de un sistema de medida (iii)
12
1.3 Sistemas de medida
1.3.3 Selección del sistema (i)
La elección del sistema de medida depende de varios
factores:
• Características del proceso.
• Un proceso se define por el estado de una – varias señales
analógicas y/o digitales.
• Condiciones de entorno y ambientales.
• Número de señales.
• Tipos de sensores.
• Diferentes sensores necesitan distintas etapas de
acondicionamiento.
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1.3 Sistemas de medida
1.3.3 Selección del sistema (ii)
La estructura del sistema debe adaptarse a las
necesidades de medida.
• En la mayoría de las situaciones se hace necesario medir
más de una variable de entrada. En estos casos se recurre a
sistemas de medida multicanal.
• La estructura es determinada por el acoplamiento al
procesador.
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1.3 Sistemas de medida
1.3.4 Estructuras multicanal (i)
Sistema de medida multicanal con un solo CAD
• Acondicionado y procesado secuencial de las variables
Sensor
Canal 1
1
Sensor
MULTIPLEXOR
Canal 1
ANALÓGICO
2
Proce- Salida
Acondicionador CAD CDA
sador
Sensor
Canal n
n
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1.3 Sistemas de medida
1.3.4 Estructuras multicanal (ii)
Sistema de medida multicanal con un solo CAD
• Solo procesado secuencial de las variables
Sensor Acondicionador
Canal 1
1 1
Sensor Acondicionador
MULTIPLEXOR
Canal 1
ANALÓGICO
2 2
Proce- Salida
CAD CDA
sador
Sensor Acondicionador
Canal n
n n
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1.3 Sistemas de medida
1.3.4 Estructuras multicanal (iii)
Sistema de medida multicanal con un CAD por canal
PROCESADOR
Sensor Acondicionador CAD
Canal 1 2 2
2
CDA Salida
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.1 Parámetros estáticos: Curva de calibración (i)
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.1 Parámetros estáticos: Curva de calibración (ii)
Salida,Y
• Campo o margen de medida (range)
YS
• Conjunto de valores admisibles en la
Salida a fondo
entrada de un sistema de medida.
de escala
YS −YL
• Conjunto de valores de entrada
comprendidos entre los límites
YL
Magnitud superior e inferior entre los cuales de
a medir, X puede efectuar la medida [XL, XS].
X Xs
• Unidades de medida: las de la variable
L Campo de medida de entrada.
límite límite
Alcance = XS−X L superior
inferior
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.1 Parámetros estáticos: Curva de calibración (iii)
Salida,Y
• Alcance o fondo de escala (span,
YS input full scale, FS)
Salida a fondo • Es la diferencia entre los extremos del
de escala campo de medida valores máximo y
YS −YL
mínimo de la variable que se pueden
YL medir de forma fiable.
Magnitud
a medir, X
• FS = XS − XL
X
L Campo de medida
Xs
límite
• Solo coincide con XS si XL es cero.
límite Alcance = XS−X L superior
inferior
• Unidades de medida: las de la variable
de entrada.
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.1 Parámetros estáticos: Curva de calibración (iv)
Salida,Y
• Salida a fondo de escala (output full
YS scale, FSO)
Salida a fondo • Es la diferencia entre las salidas YL e
de escala YS obtenidas respectivamente para
YS −YL
los extremos del campo de medida
YL XL y XS.
Magnitud
a medir, X
• FSO = YS − YL
X
L Campo de medida
Xs • Unidades de medida: las de la
límite límite
Alcance = XS−X L superior variable de salida.
inferior
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.1 Parámetros estáticos: Curva de calibración (v)
• Sensibilidad (sensitivity)
• Es la pendiente de la curva de calibración.
• S = dY/dX
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.1 Parámetros estáticos: Curva de calibración (vi)
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.1 Parámetros estáticos: Curva de calibración (vii)
Ángulo de giro, α
• Es la región de la curva de calibración que
presenta sensibilidad nula.
0º αm
360º
• Histéresis (hysteresis)
Salida,Y
• Es la máxima diferencia en la medida
Y
1 Histéresis dependiendo del sentido en el que se ha
alcanzado.
Y
2 Magnitud a medir,X
• Las causas típicas de histéresis son la
fricción y cambios estructurales en los
X
materiales.
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.1 Parámetros estáticos: Curva de calibración (viii)
100
011
por ciento sobre el fondo de escala.
010
• Cuando se refiere a cambios en salidas
digitales se suele medir mediante el
001
Tensión de entrada, (V) número de bits que permite representar
000
0 0,500 1,00
todos los valores posibles de entrada.
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.1 Parámetros estáticos: Errores de medición (i)
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.1 Parámetros estáticos: Errores de medición (ii)
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.1 Parámetros estáticos: Errores de medición (iv)
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.1 Parámetros estáticos: Errores de medición (v)
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.1 Parámetros estáticos: Errores de medición (vi)
Diferencia a k1a b k 2 b a b k 1 a k 2 b a b k 1 a 2 k 2 b 2
a k1a
k 1 k 2
a a a a
Cociente* k 12 k 22
b k2b b b b b
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.1 Parámetros estáticos: Calibración (i)
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.1 Parámetros estáticos: Calibración (ii)
Respuesta
buscada
X X X
Xn
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.2 Parámetros dinámicos (i)
Ganancia
B
B=w
• Ancho de banda (bandwidth)
H
Desfase B'
3dB • Conjunto de frecuencias entre una
frecuencia de corte inferior (wL) y una
log w
0 frecuencia de corte superior (wH)
w
H
caracterizadas porque el error de la
B
variable de salida está dentro de una
banda especificada.
Ganancia 3dB
Desfase
B'
• El error hace referencia a la variable de
log w interés: amplitud, fase o frecuencia.
w
L B = w -w
H L
w
H • Unidades: Hz o rad/s.
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.2 Parámetros dinámicos (ii)
En el dominio de la frecuencia:
• Distorsión armónica (total harmonic distorsion, THD)
•
THD( % ) =
Vi 2
100
Vi y Vf , valores eficaces del i-ésimo armónico y del
fundamental respectivamente.
Vf • Parámetro adimensional, se expresa en porcentaje,
ppm o dB.
En el dominio temporal:
• Tiempo de retardo (delay time, td)
• Tiempo requerido para que la respuesta alcance por primera vez el 50%
del valor final.
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.2 Parámetros dinámicos (iii)
En el dominio temporal:
• Tiempo de subida (rise time, tr)
• Tiempo requerido para que la respuesta del sistema pase del 10% al 90%,
del 5% al 95 % o del 0% al 100%.
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1.4 Sistemas de medida: Características
1.4.2 Parámetros dinámicos (iv)
En el dominio temporal:
y
Mp
tp
y(t)
1.0 yfinal
0.9
td % tolerancia
0.5
td, tiempo de retardo
tr, tiempo de subida
0.1
0 tp, tiempo de pico
tr t
Mp, sobreoscilación máxima
ts ts, tiempo de asentamiento
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