UNIVERSIDAD INDUSTRIAL DE SANTANDER

Facultad de Ciencias - Escuela de Química

Laboratorio II de Inorgánica
Semestre I-2020

Difracción de rayos X: monocristal y de polvo

La cristalografía de rayos x es una técnica analítica común utilizada en ciencia de materiales y bioquímica
para determinar las estructuras de cristales ya que, para estudiar los enlaces en las moléculas, es importante
usar una longitud de onda de luz que coincida con la longitud de esos enlaces. Los rayos X tienen longitudes
de onda en el rango de Å, que coincide perfectamente con las distancias de enlace típicas (1-3 Å). Un cristal
es una configuración periódica de átomos, es decir, un patrón geométrico de los átomos que se repiten a
intervalos regulares y la complejidad de un objeto se simplifica cuando existe como un cristal, donde el
contenido de una celda unitaria se puede utilizar para describir la estructura completa; la celda unitaria de
un cristal es el volumen mínimo que contiene una unidad repetitiva de un sólido permitiendo describir el
contenido de un cristal utilizando una fracción o un pequeño número de átomos o moléculas. De modo que,
al repetir la celda unitaria en el espacio, se puede generar una representación 3D del sólido. Rutinariamente
se lleva a cabo con muestras de monocristal y en polvo; el XRD monocristalino permite la determinación
absoluta de la estructura ya que se pueden observar las posiciones atómicas exactas y, por lo tanto, se pueden
determinar las longitudes y ángulos de enlace. Para este tipo de difracción se requiere cristales de alta calidad
sin impurezas, límites de grano u otros defectos interfaciales. En este caso se traen los cristales del
compuesto (Mo2(ArNC(H)NAr)4, Ar = p-MeOC6H5) para el microscopio óptico para analizar. Luego se
agrega una gota de aceite paratone a un portaobjetos de vidrio limpio y se añade una pequeña cantidad de
aceite paratone a una espátula sacando algunos cristales del frasco de cristalización en una diapositiva. Una
vez elegido un cristal ideal, se utiliza un bucle de Kapton para recoger el cristal, garantizando que poco
aceite se pegue al cristal. A continuación, se abren las puertas del difractómetro para cargar la muestra, se
fija el Kapton lazo a la cabeza de gonoimeter, centrando el cristal con respecto a la viga de radiografía. El
patrón de difracción obtenido se compone de puntos que corresponden a cortes 2D de esferas
tridimensionales. Los cristalógrafos utilizan un programa de computadora para integrar los puntos
resultantes a fin de determinar la forma y la intensidad de los rayos X difractados. Con base en los datos
recopilados de rayos X de monocristal, se genera un modelo estructural del mapa de densidad de electrones,
que se utiliza para obtener longitudes de enlace determinadas experimentalmente y ángulos dentro de la
estructura. Por otro lado, el XRD en polvo es una técnica de caracterización a granel; el patrón de polvo se
considera una "huella digital" para un material dado proporcionando información sobre la fase (polimorfo)
y la cristalinidad del material. En primer lugar, se debe elegir un soporte de muestra de tamaño adecuado y
una placa de difracción que no afectarán las lecturas en los ángulos de interés. Ahora bien, se coloca un
colador de malla fina sobre la placa de difracción y se añaden 20 mg de muestra para el tamiz, manteniendo
la muestra sobre la placa. Se fija la placa de difracción en el portamuestras, se abren las puertas del
difractómetro y se monta la muestra. Finalmente, se utiliza un software adecuado, un método de colección
de datos estándar de la carga y se ingresa un rango de ángulos de análisis adecuados para el material; a
continuación, se introduce el tiempo de la exploración (mejor resolución) y se pulsa "start". Ya que, en una
muestra de polvo, los rayos X interactúan con muchos cristales diminutos en orientaciones aleatorias, se
observa un patrón de difracción circular; este patrón proporciona adicionalmente información sobre el
compuesto. La base plana del espectro indica, que la muestra utilizada es altamente cristalina, mientras que
curva las líneas de base son indicativos de materiales amorfos. A modo de conclusión, la difracción de rayos
x es una herramienta valiosa de caracterización en prácticamente todos los campos de la ciencia material y,
por lo tanto, desempeña un papel en diversas aplicaciones como el estudio de corrosión por prueba
destructiva en menos de 1 mg de muestra o el estudio de películas de material entre nanómetros y
micrómetros de espesor que tienen habilidades únicas de protección, eléctricas y ópticas que difieren de las
de materiales a granel.