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Diego Quiroz Ortiz, Lorena Portilla, Ruth Rodrguez, Ing. Fernando Lloret.
Cuando las partculas tienen tamaos diferentes, la figura de difraccin obtenida se basa en una
superposicin de imgenes de AIRY cada una de las cuales corresponde a un dimetro diferente
de la partcula.
Y cuya intensidad disminuye con la distancia al centro. A partir de esta figura de difraccin se
obtiene la distribucin granulomtrica de una muestra, mediante una serie de tratamientos y
aproximaciones matemticas.
Teora de Mie
TEORIA DE MIE: Tiene stas caractersticas:
Provee una solucin exacta para una esfera de absorcin parcial
Predice todas las sendas de luz a travs y alrededor de partculas que van de opacas a
transparentes.
Los equipos modernos de anlisis se basan en la teora de Mie.
Describe la radiacin en y alrededor de una partcula esfrica en un medio homogneo y no
absorbente en todas las direcciones espaciales. Las partculas pueden ser transparentes o
completamente absorbentes.
Postula que la difraccin de luz es un fenmeno de resonancias. Si un rayo de luz con una longitud
de onda determinada incide sobre una partcula, esta partcula crea oscilaciones electromagnticas
en la misma frecuencia que la luz incida, dependientes de la relacin entre la longitud de onda de
la luz con el dimetro de la partcula y el ndice de refraccin entre las partculas y el medio
DIFERENCIACIN POR TAMAO DE PARTCULAS
La muestra puede ser una suspensin lquida o gaseosa de partculas o de gotas diminutas de
concentracin acerca de 0,1% en volumen. El tiempo promedio de un anlisis es alrededor de
unos 2 min, lo cual permite el anlisis en serie. El rango de partculas posible de analizar con esta
tcnica es aproximadamente entre 1 y 1800 (m, sin embargo el rango de trabajo analtico de los
instrumentos vara segn el modelo, lo que permite cierta seleccin. Esta tcnica es independiente
de la densidad de las partculas y es factible de calibrar. Partculas ms finas que el lmite de
deteccin no son registradas. El anlisis de partculas submicromtricas puede realizarse
empleando luz polarizada y filtrada de una fuente lumnica de W-halgeno y analizando la imagen
de dispersin en ngulos grandes para luces de diferentes longitudes de onda. La difusin de
instrumentos de difraccin de luz para el anlisis granulomtrico ha crecido rpidamente en aos
recientes, debido a su precisin, rapidez, fcil operabilidad, versatilidad y de fcil mantenimiento.
Una fuente lser es filtrada para generar un haz de rayos paralelos. Las partculas pasan a travs
del haz y difractan la luz. El resultado es un patrn de luces de intensidad variable y de ngulos
que dependen del tamao de las partculas.
La luz dispersada se colecta y enfoca sobre detectores. Las seales de los detectores las analiza
una computadora para producir una distribucin de tamao de partculas.
El mtodo emplea la dispersin que es una de las interacciones de la luz con la materia.
Las teoras de dispersin
describen las alteraciones del
campo electromagntico cuando
se encuentra con una partcula
material producindose:
Reflexin
Refraccin
Difraccin o,
Tamao de partcula
Los modelos propuestos para convertir los patrones de dispersin en distribuciones estn basados
principalmente es dos teoras:
Como ventajas de la Difraccin Lser podemos mencionar:
El tamao de la muestra a medir (0.5 a 1.0 g), es muy pequeo respecto al volumen
de cemento que va a representar
Si se emplea un medio de medicin lquido como el alcohol, resulta costoso respecto
al Blaine o al Tamizado
No est normalizado.
El equipo est conectado a una computadora que tiene instalado un programa para su control, el
procesamiento de la informacin y la entrega de resultados.
Para procesar los datos, el programa asume partculas esfricas utilizando el dimetro equivalente.
Los resultados pueden configurarse de varias maneras:
Puede entregar distribuciones en volumen (o masa si se da la densidad)
Distribuciones en nmero
rea total superficial
El valor de superficie especfica calculado
El valor de la media, la mediana y la desviacin estndar.
Tabla de presentacin de datos acumulados "oversise", "undersise" o histograma.
Adems de los datos tabulados, presenta los datos graficados, mostrando el histograma de
frecuencias y la curva de frecuencias acumuladas.
El programa tambin calcula los modelos de ajuste de la distribucin por la Ley de Rosin
Rammler y por la Ley Logartmica Normal, muestra los grficos respectivos, los parmetros
Bibliografa consultada:
http://materconstrucc.revistas.csic.es/index.php/materconstrucc/article/viewFile/823/878
http://digital.csic.es/bitstream/10261/40110/1/MATERIALESDECONSTRUCCION_1990_40_
217_04.pdf
http://www.asocem.org.pe/bivi/re/IC/MO/aplicaciones_granulometro_industria.doc