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Causas de Variación
3. Decidir la línea central que deben usarse y la base para calcular los límites. La
línea central puede ser el promedio de los datos históricos o puede ser el
promedio deseado.
Una vez que se determina este nivel de variación aceptable, se supone que
cualquier desviación respecto de ese nivel es el resultado de causas asignables que
es necesario identificar y eliminar o reducir.
Si se ensanchan los límites de control se incrementará el riesgo del error tipo II.
El error tipo II, es el riesgo de que un punto se localice dentro de los límites de
control cuando el proceso está fuera de control.
Si LSC y LIC se colocan más cerca de la LC, el riesgo del error tipo I se incrementa
y la del tipo II se reduce.
Por variables:
~
X Controla el centramiento del proceso.
R Controla la dispersión utilizando el rango.
σ Controla la dispersión utilizando la desviación.
Por Atributos:
p Controla la fracción o porcentaje defectuoso.
np Controla el número de defectuosos.
c Controla el número de defectos.
u Controla el número de defectos por unidad.
Permiten establecer las capacidades del proceso de una manera confiable, para
que sean confrontadas con las especificaciones de tal manera que se puedan
orientar las estrategias de la empresa.
1. Tendencias
N
5. Recálculo de los límites de control.
LSC = D4 R
6. Trazado del gráfico. LIC = D3 R
Una alternativa del uso de límites de control de anchura variable, es basar los
cálculos de los límites en un tamaño promedio de la muestra n.
LSC = X + A1 = i
Número total de puntos: Cantidad de puntos que fueron graficados en una carta
de control en cierto periodo.
Se parte de que el valor ideal es cero, que ocurre cuando no hay puntos
especiales.
Si todos los puntos graficados son especiales, entonces el valor del índice St es
100.
Valores de pocas unidades porcentuales del índice St, indican un proceso con
poca inestabilidad, lo que se considera estable.
No son tan informativas como las cartas para variables, pero son útiles en
industrias de servicios y esfuerzos de mejoramiento de calidad fuera de la
manufactura.
En el caso en el que la muestra varía entre cada sub grupo, se deben calcular
límites de control separados. Cuanto más pequeños sea el tamaño del subgrupo,
más amplias serán las bandas de control y viceversa.
k = número de muestras n 50 o n p 4
LC = p
p (1 − p )
LSC = p + 3
n p=
unidades defectuosas
unidades inspeccionadas
p (1 − p )
LIC = p − 3
n
Si los valores de n se encuentran en el rango n 0.1n, entonces n se considera
constante. Si n no es constante, se calculan los límites muestra a muestra.
LC = c
Total número de defectos
c=
LSC = c + 3 c Total muestras
LIC = c − 3 c
LC = u
u
LSC = u + 3 _
c Total de defectos
n u= =
n Total unidades inspeccionadas
u
LIC = u − 3
n
La forma tradicional de medir la velocidad con la que una carta de control detecta un cambio
es a través del ARL (Average Run Lenght).
1 n=2
n=2 n=3
n = 10 n=4
0,8
n=3 n=5
n=4
n=5 n=6
0,6
n=7
n=6
n=8
0,4 n=9
n = 10
n = 15
0,2
n = 20
0
0 0,5 1 1,5 2 2,5 3 3,5
∞
1
𝐴𝑅𝐿 = 𝑟𝛽 𝑟−1 1−𝛽 =
1−𝛽
𝑟=1
ATS = ARL h
h = Intervalos de tiempo entre mediciones.
I = nARL
1
ARL =
(1 − )
= PD nLCS / p− PD nLCI / p
= Px LCS / c− Px LCI / c
= Probabilidad de no detectar el corrimiento en la primera muestra después de ocurrido.
n = Tamaño de la muestra.
Carta en la cual se grafica la suma acumulada de las desviaciones con respecto a la media
global.
Se usa cuando se requiere identificar una variación pequeña en el proceso (media) y es
particularmente efectiva con muestras de tamaño igual a 1.
Hay dos formas de representar cusums:
▪ Cusum tabular (o algorítmica). Es preferible sobre la otra.
▪ Máscara V de la cusum.
Las cartas de suma acumulada son más efectivas para detectar corrimientos pequeños en el
proceso porque combinan información de varias muestras.
▪ Ci+ y Ci- se les llama cusums unilaterales superior e inferior. Acumulan las desviaciones del
valor objetivo µ0 que son mayores que k y cuando se hacen negativas, se reinician en
cero.
▪ Si Ci+ o Ci- excede el intervalo de decisión H, se considera que el proceso está fuera de
control.
+
C
o + K + N + Si Ci H
i +
ˆ = −
o − K − Ci Si Ci − H
N −
Valores de k y los valores correspondientes de h que producen ARL₀ = 370 para la cusum
tabular bilateral:
k 0,25 0,5 0,75 1 1,25 1,5
h 8,01 4,77 3,34 2,52 1,99 1,61
1 es muy utilizado en la práctica.
k=
2
Nota:
Las pruebas para corridas, y otras reglas de sensibilidad como las reglas de zona, no pueden
aplicarse con seguridad a la cusum, ya que los valores sucesivos de Ci+ y Ci- no son
independientes.
yi − 0,822
+
Si = máx 0, vi − k + Si+−1
vi =
= máx 0,−k − v + S
− −
0,349 Si i i −1
Z i = xi + (1 − ) Z i −1
Si las observaciones Xi son variables aleatorias independientes:
2
= 2
1 − (1 − )
2i
2−
Zi
0,05 0,25
Linea central = 0
Valores usados en
LCS = 0 + L
(2 − )
1 − (1 − )
2i
la práctica
= 0,05
LCI = 0 − L
(2 − )
1 − (1 − )
2i
= 0,10
= 0,25
Las cartas de control tradicionales no son rápidas para detectar “cambios pequeños” en el
proceso.
Las cartas especiales como CUSUM y EWMA son capaces de detectar brincos de magnitudes
0.8 ~x y 0.1 ~x al menos cuatro veces más rápido que las cartas tipo Shewhart.
La diferencia fundamental entre estas cartas con respecto a la carta tradicional es la manera
en que ponderan los datos. Las cartas Shewhart sólo considera la información obtenida en el
tiempo t, mientras que CUSUM y EWMA toman en cuenta toda la información.
ES − EI
Cp =
6
Cp compara el ancho de las especificaciones o la valoración tolerada para el proceso
con la amplitud de la variación real de éste:
Variacióntolerada
Cp =
Variación real
6σ : variación real
Se requiere que la variación real siempre sea menor que la variación tolerada.
% FUERA DE LAS DOS PARTES POR MILLÓN % FUERA DE UNA PARTES POR MILLÓN
ESPECIFICACIONES FUERA (PPM) ESPECIFICACIÓN FUERA (PPM)
6
Cr = , Cr 1
ES − EI
Cr representa la proporción de la banda de especificaciones que es ocupada por el
proceso.
− EI ES −
Cpi = Cps =
3 3
− EI ES −
Cpk = Mínimo ,
3 3
Cpk > 1,25 es satisfactorio, indica que el proceso es capaz.
Cpk < 1 el proceso no cumple con por lo menos una de las especificaciones.
Cpk ≤ Cp cuando son próximos, indica que la media del proceso está muy cerca del
punto medio de las especificaciones, por lo que Cp y Cpk son similares.
Cpk es mucho más pequeño que Cp, indica que la media del proceso está alejada del
centro de las especificaciones. El índice Cpk estará indicando la capacidad real del
proceso , y si se corrige el problema de descentrado se alcanzará la capacidad
potencial indicada por el índice Cp.
Es posible tener valores del índice Cpk iguales a cero o negativos, e indican que la
medida del proceso está fuera de las especificaciones.
−N
K= *100
1 ( ES − EI )
2
Interpretación de K
Si el signo del valor de K es positivo la media del proceso es mayor al valor nominal
μ >N.
Si es negativo, μ< N.
= 2 + ( − N )2
N: valor nominal de la característica de calidad; por lo general N= 0,5 (ES-EI).
Si el proceso está centrado, es decir si μ = N entonces Cp, Cpk y Cpm son iguales.
Cpm > 1: El proceso cumple con especificaciones, la medida del proceso está dentro
de la tercera parte central de la banda de las especificaciones.
Cpm > 1,33: El proceso cumple con especificaciones y la media del proceso está
dentro de la quinta parte central del rango de especificaciones.
Se calcula a partir de muchos datos tomados durante un período corto para que no
haya influencias externas en el proceso, o con muchos datos de un período largo, pero
calculando σ con el rango promedio (σ = R/d₂).
d₂: Depende del tamaño del subgrupo (se encuentra en las tablas).
Se calcula con muchos datos tomados de un período muy largo para que los factores
externos influyan en el proceso, y σ se estima mediante la desviación estándar de
todos los datos (σ=S).
S: desviación estándar
ES − EI
Pp =
6L
Pp no toma en cuenta el centrado del proceso, por ello suele complementarse con el
índice de desempeño real del proceso Ppk, que se obtiene con:
− EI ES −
Ppk = mínimo −
3L 3L
ÍNDICE Z
Es la métrica de capacidad de procesos de mayor uso en Seis Sigma. Se obtiene
calculando la distancia entre la media y las especificaciones, y esta distancia se divide
entre la desviación estándar.
ES − − EI
Zs = Zi =
Z = mínimo [Zs, Zi]
Índice ZL
Valor del índice Z que utiliza σ de largo plazo.