Estado Cristalino

Autores: MSc. Karen Martínez

MSc. Rolvideer González

Parte 2
Departamento de Ciencias Básicas
Facultad Politécnica
Universidad Nacional de Asunción

Índice
1. Distancia entre planos cristalinos........................................................................................ 2
2. Densidad lineal y planar ...................................................................................................... 2
3. Física de la difracción de los Rayos X................................................................................... 3
3.1. Ley de Bragg .................................................................................................................... 4
3.2. Método de análisis de polvo por difracción de rayos X. ................................................. 5
Bibliografía..............................................................................................................................................................7

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1. Distancia entre planos cristalinos

Para el sistema cúbico y el sistema hexagonal, la distancia entre planos cristalinos, pueden
ser determinadas a partir de los índices de Miller, por medio de las siguientes expresiones:

Cúbico:
𝑎
𝑑ℎ𝑘𝑙 = (𝟏)
√ℎ2 +𝑘 2 +𝑙 2

Hexagonal:
1
𝑑ℎ𝑘𝑙 = 2
(𝟐)
√[4(ℎ2 +𝑘 2 +𝑙 2 )+𝑙 2 (𝑎) ]. 12
3 𝑐 𝑎

2. Densidad lineal y planar

Las densidades lineales y planares poseen gran importancia para explicar los
deslizamientos.

La deformación plástica en la mayoría de los cristales tiene lugar por deslizamiento, el

cual basa en que una parte del cristal se desliza como un todo respecto a otra parte
adyacente. La superficie en donde tiene lugar, se denomina plano de deslizamiento.

Los deslizamientos por lo general ocurren en la mayoría de los planos cristalográficos de

máximo empaquetamiento a lo largo de las direcciones que tienen a su vez, el mayor
empaquetamiento atómico.

La fracción de longitud de línea de una dirección cristalográfica particular, que pasa a

través del centro de los átomos, puede expresarse como factor o como densidad lineal,
en átomos/m (SI).

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La fracción del área del plano cristalográfico ocupada por átomos, puede expresarse como
factor o como densidad planar, en átomos/m2 (SI).

3. Física de la difracción de los Rayos X

Los rayos X pueden ser producidos de manera fácil, permitiendo que electrones de alta
energía colisionen contra un ánodo metálico que constituye el blanco. En un tubo de rayos
X en el que los electrones son acelerados mediante un potencial de unas decenas de
kilovoltios, pueden considerarse satisfactorios para producir rayos X útiles para la
difracción cristalográfica.

Cuando los átomos de un cristal se someten a una radiación electromagnética –por

ejemplo, los rayos X— se ejercen sobre ellos fuerzas de naturaleza eléctrica debidas a la
interacción de las partículas cargadas de los átomos con el campo eléctrico de la onda.
Debido a esto, los electrones atómicos vibran a la frecuencia de la radiación incidente
sufriendo una aceleración y vuelven a irradiar energía electromagnética, a la misma
frecuencia de la incidente; así, la difusión de los rayos X por una red se considera como
una difusión elástica. Nos interesan los rayos X difundidos de manera coherente, para
hacer uso de la interferencia producida por los haces difundidos por los diferentes
átomos, pues tales fenómenos de interferencia proporcionan información sobre la
estructura cristalina.

Los rayos X son útiles debido a que, a sus frecuencias, la longitud de onda incidente es del
orden del espaciamiento interatómico, así que se puede observar la difracción de la
radiación por los átomos del cristal. Esto no sucede a las frecuencias de la luz visible, en
donde la longitud de onda incidente es mucho mayor que las distancias interatómicas, por
lo que los fenómenos observados son solo refracción y la reflexión, ópticas.

La conocida Ley de Bragg, a pesar de su simple expresión, reproduce resultados que son
correctos. W. L. Bragg proporcionó una explicación sobre la difracción por cristales,
suponiendo que las ondas que inciden se reflejan especularmente en los planos de átomos

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—paralelos—del cristal. De esta manera, cada plano refleja una pequeña fracción de la
radiación, tal como si fuese un espejo ligeramente plateado.

Como bien sabemos, en la reflexión que es especular, ángulos de incidencia y reflexión son
iguales, y además se consideran dispersiones elásticas —la energía de los rayos X no
cambia en la reflexión—Los haces difractados aparecen cuando las reflexiones que
proceden de planos que son paralelos interfieren de manera constructiva.

3.1. Ley de Bragg

La Ley de Bragg es una consecuencia de la periodicidad de la red. Consideremos planos

paralelos de la red cristalina, cuya distancia interplanar es d (Figura 1). Es fácil notar con
ayuda de la figura, que la diferencia de trayectos de los rayos reflejados, correspondientes
a planos adyacentes es 𝟐𝒅𝒔𝒆𝒏𝜽 —θ es medida a partir del plano—

Figura 1. Planos reticulares paralelos. Diferencia de camino recorrido por los haces reflejados por dos planos
adyacentes con distancia d entre ellos.
Fuente: Martínez, K. (2020)

Cuando la diferencia de caminos recorridos de la radiación procedente de planos

consecutivos, representa un número entero 𝑛 de la longitud de onda λ, se produce una
interferencia constructiva, tal que:

𝟐𝒅𝒔𝒆𝒏𝜽 = 𝒏𝝀 (𝟑)

Sólo para ciertos valores de ángulos incidentes, las reflexiones provenientes de planos que
son paralelos se sumarán en fase para proporcionar un haz reflejado que es intenso –se
observará un máximo de difracción—

La ecuación (3) proporciona la relación entre las posiciones angulares de los haces difractados
reforzados en función de la longitud de onda 𝝀 de la radiación de rayos X incidente y del
espaciado interplanar 𝑑ℎ𝑘𝑙 de los planos cristalinos. En muchos casos se utiliza el primer orden
de difracción, donde n = 1.

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3.2. Método de análisis de polvo por difracción de rayos X.

La técnica más utilizada en difracción de rayos X es el método del polvo cristalino, en la cual
se utiliza una muestra pulverizada de muchos cristales para que tenga lugar una orientación
al azar y asegurar que algunas partículas estarán orientadas en el haz de rayos X para que
cumplan las condiciones de difracción de la ley de Bragg. En la actualidad se utiliza un
difractómetro de rayos X que tiene un contador de radiación el cual detecta el ángulo y la
intensidad del haz difractado. Se obtiene automáticamente una gráfica de la intensidad de
este haz, mientras el contador se desplaza por un goniómetro circular (Figura 2) que se halla
sincronizado con la muestra en un intervalo de valores 2θ.

Figura 2. Esquema del método de difracción.

Fuente: Recuperado de “Fundamentos de la ciencia e ingeniería de los materiales” Smith, W.,& Hashemi, J. (2004). Mc Graw Hill.

De esta forma, los ángulos de los haces difractados y sus intensidades pueden ser registrados
simultáneamente. En la figura 3 se muestra una gráfica de este tipo, un difractograma o
espectro de difracción.

Figura 3. Ejemplo de diagrama de difracción.

Fuente: Recuperado de “Fundamentos de la ciencia e ingeniería de los materiales” Smith, W.,& Hashemi, J. (2004). Mc Graw Hill.

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Las técnicas de difracción de rayos X permiten determinar las estructuras de los sólidos
cristalinos, pero la interpretación de los resultados de difracción por lo general es compleja
para la mayoría de las sustancias cristalinas. En esta asignatura no la estudiaremos a detalle,
solo se considerarán casos en donde la muestra es un elemento puro, del sistema cúbico.

Para la red cúbica simple, todos los planos (ℎ𝑘𝑙) son planos de reflexión. Sin embargo, para la
estructura BCC la difracción tiene lugar sólo en los planos cuyos índices de Miller sumados
(ℎ + 𝑘 + 𝑙) dan un número par. Por lo tanto, para la estructura cristalina BCC algunos de los
planos de difracción principales son {110}, {200}, {211}. En el caso de la estructura cristalina
FCC, los principales planos de difracción son los que sus índices de Miller son todos pares o
todos impares (el cero se considera par). En la tabla 1 se resumen estas condiciones.

Tabla 1. Planos de reflexión para algunas redes del sistema cúbico.

Fuente: Recuperado de “Fundamentos de la ciencia e ingeniería de los materiales” Smith, W.,& Hashemi, J. (2004). Mc Graw Hill.

Si se cuenta con una muestra con estructura cristalina y se pueden identificar los planos de
difracción principales y los valores de 2θ correspondientes, por ejemplo a partir del
difractograma, es posible determinar si una estructura es cúbica centrada en el cuerpo o en
las caras.

Combinando las ecuaciones (1) y (3) es posible obtener:

(4)

Dado que la longitud de onda de la radiación incidente y la constante de red a son constantes,
se pueden eliminar estos valores a partir de la relación de dos valores dados:

(5)

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Donde se deben tomar los ángulos con sus planos principales correspondientes.
Tomando las dos primeras series de los planos de difracción se obtienen las relaciones para
una red BCC y una red FCC, respectivamente:

Bibliografía
Kittel, C. (2003). Introducción a la Física del Estado Sólido. España: Editorial Reverté.

Smith, W. & Hashemi, J. (2004). Fundamentos de la ciencia e ingeniería de los materiales.

Editorial: Mc. Graw-Hill.