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EMPRESA NWA
PRODUCTO.
Faros de automóvil que se ensamblan tanto para primer equipo como para recambios. Se
reciben de 5 proveedores distintos los siguientes componentes
COMPONENTES.
a) Carcasa: Recubrimiento exterior de todo el conjunto. De material plástico.
b) Espejo reflector: Recubrimiento interior de la carcasa. Hoja metálica con
recubrimiento plateado que aumenta la luminosidad de la bombilla a base de
múltiples reflexiones.
c) Cristal: Cierre exterior delantero de todo el conjunto, permite el paso de la luz. En
material plástico a pesar de su nombre. Es la única pieza visible desde el exterior
del vehículo.
d) Bombilla: Fuente de luz.
e) Contactos: Puntos de conexión del casquillo a la red eléctrica del vehículo.
Contactos metálicos a los que se conectan las terminales correspondientes.
LABORATORIO Nº 4
NOMBRE: C.I.: MATERIA:
BAPTISTA TORREZ 7321696 LABORATORIO DE CALIDAD Y
JHONATHAN MARCELO PRODUCTIVIDAD
LAB 1447 sem1-21
INSPECCIÓN POR ATRIBUTOS
PLAN DE MUESTREO
CONSIDERACIONES.
Para poder realizar el plan de muestreo, se debe de identificar y clasificar los defectos que
se pueden presentar en las piezas, de acuerdo a su seriedad. Se tiene entonces:
PIEZA D.CRÍTICO D.MAYOR D.MENOR
…………………… -Dimensionado -Rayadura
CARCASA -Rajadura -Descoloramiento
-Mal acoplamiento -Manchas
ESPEJO …………………… -Recubrimiento no -Manchas
REFLECTOR uniforme
CRISTAL …………………… -Mal montaje -Descoloramiento
-Rayadura -Manchas
BOMBILLA -Rotura de filamento …………………… -Rayadura
-Bombilla fundida
……………………. -Mala instalación ………………….
CONTACTOS -Cortes en el
recubrimiento
Entonces, se tiene:
LABORATORIO Nº 4
NOMBRE: C.I.: MATERIA:
BAPTISTA TORREZ 7321696 LABORATORIO DE CALIDAD Y
JHONATHAN MARCELO PRODUCTIVIDAD
LAB 1447 sem1-21
INSPECCIÓN POR ATRIBUTOS
Entonces, se tiene:
DEFECTO MAYOR
ESPEJO REFLECTOR
Lote(unid) 1200
AQL (%) 1.0%
Nivel de inspección General III
Letra código K
Plan de muestreo Simple
Rigurosidad Normal
TAMAÑO DE MUESTRA
𝒏𝟏 = 𝟏𝟐𝟓 𝐴𝑐 𝟑 𝑅𝑐 𝟒
DEFECTO MENOR
ESPEJO REFLECTOR
LABORATORIO Nº 4
NOMBRE: C.I.: MATERIA:
BAPTISTA TORREZ 7321696 LABORATORIO DE CALIDAD Y
JHONATHAN MARCELO PRODUCTIVIDAD
LAB 1447 sem1-21
INSPECCIÓN POR ATRIBUTOS
Lote(unid) 1200
AQL (%) 4.0%
Nivel de inspección General I
Letra código G
Plan de muestreo Simple
Rigurosidad Normal
TAMAÑO DE MUESTRA
𝒏𝟏 = 𝟑𝟐 𝐴𝑐 𝟑 𝑅𝑐 𝟒
Entonces, se tiene:
DEFECTO MAYOR
CRISTAL
Lote(unid) 1500
AQL (%) 1.0%
Nivel de S-2
inspección
Letra código D
Plan de muestreo Simple
Rigurosidad Normal
TAMAÑO DE MUESTRA
𝒏𝟏 = 𝟖 𝐴𝑐 𝟎 𝑅𝑐 𝟏
DEFECTO MENOR
CRISTAL
Lote(unid) 1500
AQL (%) 4.0%
LABORATORIO Nº 4
NOMBRE: C.I.: MATERIA:
BAPTISTA TORREZ 7321696 LABORATORIO DE CALIDAD Y
JHONATHAN MARCELO PRODUCTIVIDAD
LAB 1447 sem1-21
INSPECCIÓN POR ATRIBUTOS
Nivel de General II
inspección
Letra código K
Plan de muestreo Simple
Rigurosidad Normal
TAMAÑO DE MUESTRA
𝒏𝟏 = 𝟏𝟐𝟓 𝐴𝑐 𝟏𝟎 𝑅𝑐 𝟏𝟏
Entonces, se tiene:
DEFECTO CRÍTICO
BOMBILLA
Lote(unid) 2000
AQL (%) 1.0%
Nivel de inspección S-2
Letra código D
Plan de muestreo Simple
Rigurosidad Reducida
TAMAÑO DE MUESTRA
𝒏𝟏 = 𝟑 𝐴𝑐 𝟎 𝑅𝑐 𝟏
DEFECTO MENOR
BOMBILLA
Lote(unid) 1200
AQL (%) 4.0%
LABORATORIO Nº 4
NOMBRE: C.I.: MATERIA:
BAPTISTA TORREZ 7321696 LABORATORIO DE CALIDAD Y
JHONATHAN MARCELO PRODUCTIVIDAD
LAB 1447 sem1-21
INSPECCIÓN POR ATRIBUTOS
5. CONTACTOS. Lotes de 8 000 unidades (la última entrega llegó con 1 hora de
retraso, pero ningún lote ha sido rechazado en 12 lotes consecutivos) el ensayo de
funcionalidad se realiza en 3 segundos.
Entonces, se tiene:
DEFECTO MENOR
CONTACTOS
Lote(unid) 8000
AQL (%) 4.0%
Nivel de inspección General II
Letra código L
Plan de muestreo Simple
Rigurosidad Reducida
TAMAÑO DE MUESTRA
𝒏𝟏 = 𝟐𝟎0 𝐴𝑐 𝟏𝟐 𝑅𝑐 𝟏𝟑