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Los rayos X interactúan con los electrones que rodean los átomos por ser su longitud de
onda del mismo orden de magnitud que el radio atómico. El haz de rayos X emergente
tras esta interacción contiene información sobre la posición y tipo de átomos
encontrados en su camino. En un cristal, donde la disposición de los átomos o moléculas
se repite periódicamente, los haces de rayos X dispersados elásticamente por los átomos
en ciertas direcciones resultan amplificados gracias al fenómeno de interferencia
constructiva, dando lugar a un patrón de difracción.n. 1 Los rayos X difractados son
interceptados por detectores y su intensidad y posición analizadas por medios
matemáticos para obtener una representación de las moléculas del material estudiado a
escala atómica.
Max von Laue realizó los primeros experimentos de cristalografía de rayos X en 1912.
La teoría de difracción de cristales fue desarrollada por von Laue, William Henry Bragg
y William Lawrence Bragg. En la actualidad es una de las técnicas más usadas para
determinar las propiedades estructurales de todo tipo de moléculas: sales, hielo,
proteínas y hasta orgánulos celulares como los ribosomas. Es posible trabajar con
monocristales o con polvo microcristalino, consiguiéndose diferentes datos en ambos
casos. Para las aplicaciones que requieren solo una caracterización precisa de los
parámetros de la red cristalina, puede ser suficiente la difracción de rayos X en polvo;
para una dilucidación precisa de las posiciones atómicas es conveniente la difracción de
rayos X por monocristales.
Contenido
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1 Historia
o 1.1 Primeros experimentos
o 1.2 El desarrollo de la técnica: 1920-1960
o 1.3 Avances en cristalografía de macromoléculas: 1960-1980
o 1.4 Expansión y madurez: 1980-2010
2 Aspectos físicos
o 2.1 Cristales y redes cristalinas
o 2.2 Rayos X
o 2.3 Dispersión elástica de rayos X
o 2.4 Difracción cristalina
2.4.1 Ley de Bragg
2.4.2 Índices de Miller
2.4.3 La red recíproca
2.4.4 La esfera de Ewald
2.4.5 El factor de estructura cristalino
3 El problema de las fases
o 3.1 Métodos directos
o 3.2 Reemplazamiento isomorfo
o 3.3 Dispersión anómala
o 3.4 Reemplazamiento molecular
4 Adquisión de datos
o 4.1 Fuentes de rayos X
o 4.2 Detectores
o 4.3 Geometrías de difracción
4.3.1 Método de Laue
4.3.2 Métodos de rotación de cristal
4.3.3 Método del polvo
5 Difracción de rayos X de la fracción arcilla
6 Análisis de metales preciosos en el difractómetro de rayos X
7 Véase también
8 Notas
9 Referencias
o 9.1 Bibliografía
[Historia
Primeros experimentos
La idea de que los cristales podían describirse como una repetición periódica de un
grupo de moléculas ya existía anteriormente a que Wilhelm Conrad Röntgen
descubriera los rayos-X en 1895. Aunque las distancias típicas entre los planos del la
red cristalina se desconocían, se sabía que debían ser muy pequeñas comparadas con la
longitud de onda de la luz visible. Esto dio la idea al físico alemán Max von Laue de
utilizar cristales de sulfato de cobre para determinar si los rayos X se componían de
partículas u ondas, al intuir que si fueran ondas deberían generar un patrón de difracción
al atravesar los cristales. Los experimentos se realizaron en 1912, con la ayuda de
Walter Friedrich y Paul Knipping, ambos antiguos estudiantes de Röntgen. Estos
experimentos confirmaron la presencia de difracción.
Poco después, los británicos William Henry Bragg y William Lawrence Bragg (padre e
hijo respectivamente) reprodujeron el experimento y W.L. Bragg interpretó los
resultados como la interferencia de los rayos X reflejados por el cristal, introduciendo la
descripción conocida desde entonces como la ley de Bragg1 En 1913 Paul Ewald,
demostró que las dos interpretaciones de los resultados publicadas respectivamente por
von Laue y Bragg eran equivalentes.2 Von Laue recibió el premio Nobel de Física en
1914 por su descubrimiento del fenómeno, y los Bragg recibieron el premio un año más
tarde por su trabajo en las aplicaciones prácticas.n. 2 3 Hacia el final de la década, se
había logrado determinar las longitudes de onda de los rayos X y la estructura de varios
compuestos inorgánicos simples y las bases teóricas de la técnica se habían establecido
gracias al trabajo de los ya mencionados investigadores, Charles Galton Darwinn. 3 y
Peter Debye, entre otros.
Durante la década de los 20, los avances de la teoría cuántica sirvieron para caracterizar
más precisamente la interacción entre los rayos X y los átomos del cristal; esto
posibilitó el análisis correcto de la intensidad de la difracción. En la misma época se
confeccionaron las tablas para determinar la simetría cristalina a partir de la distribución
de reflexiones en el patrón de difracción, y se empezaron a usar series de Fourier para
representar la distribución de electrones en la estructura; los avances en la
representación matemática de la densidad electrónica continuaron hasta la Segunda
Guerra Mundial, facilitando la obtención de las primeras estructuras de moléculas
orgánicas. El descubrimiento en 1935 por Arthur Patterson de un truco matemático para
obtener las distancias interatómicas directamente de los datos experimentales constituyó
un importante avance.4
Un adelanto técnico que facilitó en gran medida el éxito de las técnicas cristalográficas
tanto en los casos más complejos como en el de moléculas de menor tamaño fue el
desarrollo de ordenadores digitales, que permitieron el uso de programas para medir y
analizar más fácilmente los datos en los experimentos de cristalografía.7 Sin embargo, al
final de este periodo el estudio de proteínas estaba limitado por la ausencia de fuentes
de rayos X intensos y el uso de película fotográfica para medir los patrones de
difracción en dos dimensiones;n. 5 como consecuencia de estas limitaciones, y a pesar del
reconocimiento generalizado del potencial de la cristalografía para estos experimentos,
a finales de los años 70 el Banco de Datos de Proteínas solo contaba con unas 60
entradas.8
El primer tubo de rayos X se construyó en los años 20. Este tipo de aparato, con
sucesivas mejoras, se utilizaba como la fuente primordial de rayos X para los
experimentos de cristalografía hasta los 70, en los que se empezó a experimentar con los
rayos X producidos por radiación sincrotrón. Los primeros sincrotrones dedicados a la
producción de rayos X se construyeron en los 80 y su número no ha dejado de
aumentar.n. 6 En la primera década del siglo XXI se empezaron a construir los primeros
láseres de electrones libres de rayos-X, capaces de producir haces de luz pulsada de una
intensidad de órdenes de magnitud mayor que la disponible en fuentes de luz sincrotrón
convencionales. La duración de los pulsos de luz, del orden de femtosegundos ofrece la
posibilidad de observar cambios en los cristales a escalas temporales inalcanzables hasta
entonces.7
Durante estos años también se desarrollaron nuevos detectores bidimensionales o «de
área», capaces de generar directamente una imagen digitalizada del patrón de
difracción. Estos nuevos detectores facilitaron la rápida medición y análisis de la
difracción y sustituyeron totalemente a las películas fotográficas usuadas hasta
entonces.
Aspectos físicos
La teoría de la difracción cristalina y las construcciones utilizadas para la interpretación
de los patrones de difracción mencionadas a continuación se describen en detalle en
numerosos libros de texto. Ver, por ejemplo, Luger (1980)10 , Stout y Jensen (1989)11 o
Drenth (1999)12
Los cristales están formados por una repetición periódica de moléculas en tres
dimensiones. El cristal se puede representar matemáticamente como una red
tridimensional en la que todas las intersecciones son idénticas. El paralelepípedo
definido por las líneas entre las intersecciones de la red se conoce como la celda unidad.
La celda unidad se define por la longitud de sus lados , y en la dirección de los tres
ejes espaciales y los ángulos , y que los ejes de la red forman entre sí. Las
coordenadas de cualquier punto de la red cristalina se pueden expresar como una
combinación lineal de los vectores , y .
Rayos X
Los rayos X son un tipo de radiación electromagnética con longitudes de onda menores
de 10 nm o energías del orden de 0.1 keV; para obtener difracción cristalina se suelen
usar rayos X duros o de alta energía, del orden de 10 keV, correspondiente a longitudes
de onda del orden de 0.1 nm.
Los rayos X se pueden describir como una onda sinusoidal propagándose a través del
espacio. Tomando un punto arbitrario como origen, el valor del campo eléctrico en
función del tiempo se puede escribir como:
La diferencia de fase depende de la distancia entre el punto de origen y los átomos del
material, ie, la fase de los rayos X emergentes contiene información sobre la estructura
atómica del material que han atravesado.
La dispersión elástica por un grupo de átomos en una dirección dada se puede describir
por una cantidad conocida como factor de estructura y es igual a la suma de los rayos
reflejados por cada átomo que interactúa con los rayos X:
es una función llamada factor de forma atómico que describe la dispersión por todos
los electrones del átomo en conjunto. Depende del número atómico y del ángulo de
incidencia de los rayos X. El cambio de fase durante la interacción viene dado por el
producto escalar de , el vector entre el origen y cada átomo y , el vector de
dimensión en la dirección perpendicular al plano imaginario de reflexión.
Difracción cristalina
Adición de ondas: Cuando las ondas están desfasadas, se aniquilan mutuamente; cuando
entán en fase, se amplifican.
Ley de Bragg
Ley de Bragg: Los átomos o grupos de átomos en la red cristalina están representados
por esferas (para simplificar el diagrama, la tercera dimensión del cristal no se
representa). Las esferas se sitúan sobre planos imaginarios paralelos, perpendiculares al
diagrama, separados por . En el diagrama de la izquierda, la diferencia en en camino
recorrido por las ondas de rayos X dispersadas por los dos planos es un múltiplo entero
de la longitud de onda; por lo tanto, las ondas emergentes están en fase y se observa
difracción. A la derecha, con un ángulo de incidencia diferente, la Ley de Bragg no se
cumple para esta familia de planos cristalinos; las ondas emergentes están desfasadas y
no se observa difracción.
La condición para que las ondas estén en fase es que la diferencia de sus caminos
ópticos sea cero o un número entero de la longitud de onda. En un cristal, la diferencia
en el camino óptico entre átomos situados en posiciones equivalentes en distintas celdas
unidad es donde es la distancia entre los planos imaginarios que unen puntos
equivalentes de la red cristalina. Es decir, para que se observe difracción de rayos X en
un ángulo de observación , se debe cumplir la expresión conocida como Ley de
Bragg:
Como en el caso particular de dispersión elástica por un átomo, la difracción cristalina
se puede interpretar como la reflexión especular de los rayos X, en este caso por todos
los planos del cristal paralelos entre sí separados por la distancia que cumple la ley de
Bragg. Por este motivo, los puntos del patrón de difracción se denominan «reflexiones».
Índices de Miller
Para que se cumpla la ley de Bragg para un grupo de planos de reflexión paralelos, debe
haber un número entero de ellos en cada celda unidad, es decir, deben cruzar los ejes la
celda unidad un número entero de veces; esto implica que se puede caracterizar cada
reflexión por tres números enteros , y iguales al número de intersecciones del los
planos con los ejes , y de la celda unidad. Los números , y reciben el nombre de
índices de Miller.
La red recíproca
La red recíproca es una construcción matemática que facilita la representación de los
diversos planos de reflexión y la visualización de la relación entre la orientación del
cristal y el patrón de difracción.
Las coordenadas de cada punto de la red recíproca coinciden con los índices de Miller,
es decir, cada punto de la red recíproca representa a una familia de planos de Miller en
el espacio real de la red cristalina; la distancia del origen a cada punto de la red es .
Al igual que en el caso de la red cristalina en el espacio real, los puntos de la red
recíproca se pueden expresar como una combinación lineal de vectores , y :
; ;
La esfera de Ewald
Para visualizar fácilmente los planos de Miller que contribuyen a la difracción en una
dirección dada, se utiliza la construcción conocida como esfera de Ewald, que ilustra
todas las posibles direcciones en que los rayos X pueden ser reflejados por el cristal. El
radio de esta esfera es y su extremo en la dirección del haz de rayos X incidente
coincide con el origen de la red recíproca.
donde son las coordenadas del átomo en el sistema definido por la celda
unidad y la suma se realiza para todos los átomos. En lugar de sumar las contribuciones
de cada átomo, también se puede realizar una integración sobre los electrones presentes
en el volumen de la celda unidad, cuya distribución está representada por la función
de densidad electrónica .
Representación vectorial de la Ley de Friedel en la ausencia de absorción
Métodos directos
Dispersión anómala
Reemplazamiento isomórfico
Reemplazamiento molecular
Métodos directos
Reemplazamiento isomorfo
Dispersión anómala
El factor total de forma atómica no solo contiene el término que describe la dispersión
elástica de los rayos X por los electrones , sino que también consta de una
componente «anómala» compleja que describe el efecto fotoeléctrico;
en este tipo de interacción los electrones no re-emiten los rayos X sin intercambio de
energía, sino que usan la energía absorbida para pasar a un estado cuántico diferente. La
componente real del factor de forma anómalo altera la magnitud de los factores de
estructura. La componente imaginaria además introduce un cambio de fase que
introduce una diferencia en la magnitud del factor de estructura y el factor
inverso , que serían exactamente idénticas en la ausencia de este
efecto.
Aunque en muchos casos el efecto del factor de forma anómalo es muy pequeño
comparado con y no es preciso tomarlo en cuenta al analizar los datos de difracción,
la magnitud del efecto aumenta dramáticamente cuando la energía de los rayos X es
similar a la energía del nivel atómico de los electrones. En esta caso, los cambios en la
magnitud y fase de los factores de estructura son significantes. Si solo una fracción de
los átomos en la molécula resultan afectados por este tipo de interacción, se pueden
hallar sus posiciones en la celda unidad analizando bien las diferencias en la intensidad
de las mismas reflexiones medidas a distintas longitudes de onda o bien entre una
reflexión y su inversa a la misma longitud de onda. Esta información se usa a su vez
para resolver el problema de las fases; el método recibe el nombre de MAD
(Multiwavelength Anomalous Dispersion o ‘dispersión anómala a múltiples longitudes
de onda’) o SAD (Single-wavelength Anomalous Dispersion o ‘dispersión anómala a
una sola longitud de onda’)n. 10
Una desventaja de este método en comparación con las técnicas descritas anteriormente,
que se basan enteramente en los datos de difracción experimentales y consideraciones
químicas o estructurales generales, es que las fases obtenidas están sesgadas hacia la
estructura utilizada como punto de partida, hasta el punto de que algunas diferencias
críticas entre las dos moléculas pueden pasar desapercibidas. El éxito de este método
depende en procedimientos sofisticados para detectar y eliminar este sesgo durante el
refinamiento de las fases.21
Adquisión de datos
Fuentes de rayos X
Detectores
A partir de los años 90 empezaron a aparecer nuevos detectores, como las «placas de
imagen» (image plates). Las placas de imagen están recubiertas de un material
forforescente, donde los electrones incrementan su energía al absorber los rayos X
difractados y son atrapados en este nivel en centros de color. Los electrones liberan la
energía al iluminarse la placa con luz láser, emitiendo luz con intensidad proporcional a
la de la reflexión. Estos detectores son un orden de magnitud más sensibles que la
película fotográfica y con un margen dinámico superior en varios órdenes de magnitud,
lo que facilita la medición de las reflexiones más intensas y la más débiles. Otros
detectores usados en la actualidad son detectores electrónicos bidemensionales
(conocidos como detectores «de área» , que procesan la señal inmediatamente tras la
detección de los rayos X. Pueden ser cámaras de ionización o una placa fosforescente
acoplada a una cámara CCD.12 En los años 2000 se empezaron a utlizar fotodiodos
alineados formando una placa, conocidos como PAD (Pixel Array Detectors). Estos
detectores se caracterizan por un gran margen dinámico y un tiempo muerto entre
imágenes muy bajo —del orden de milisegundos.22
Geometrías de difracción
Existen tres métodos para producir difracción de rayos X: Método de Laue, el método
de rotación de cristal y método de polvo.
Método de Laue
Se hace incidir un haz de rayos X monocromáticos sobre un cristal, que rota a una
velocidad constante alreadedor de un eje perpendicular a los rayos X. La rotación del
cristal causa que todos los puntos de la read recíproca atraviesen consecutivamente la
esfera de Ewald, logrando así medir las reflexiones necesarias.
Véase también
Espectroscopia de rayos X
Notas
1. ↑ El término 'difracción de rayos X' se utiliza a menudo para referirse a la
aplicación de este fenómeno a cristalografía; sin embargo, es posible observar
difracción por materiales no cristalinos. Por ejemplo, la estructura de la doble hélice de
ADN se elucidó por primera vez usando datos de difración de rayos X por fibras
deshidratadas de ADN.
2. ↑ Debido al comienzo de la Primera Guerra Mundial, en la que Suecia deseaba
mantenerse estrictamente neutral, los premios no fueron otorgados hasta después de la
guerra.
3. ↑ Nieto de Charles Darwin, autor de El origen de las especies
4. ↑ Rosalind Franklin también realizó aportaciones muy importantes a esta
investigación, pero falleció antes de que se concediera el premio. 5
5. ↑ La medición individual de reflexiones de rayos X emergentes en diferentes
direcciones con un fotodetector unidimensional, que facilitó la casi-automatización de
los experimentos con moléculas pequeñas durante este periodo no resultaba práctica en
el caso de moléculas con muchos átomos, debido a la enorme cantidad de reflexiones
presentes en este caso.
6. ↑ Véase la lista en Anexo:Fuentes de luz sincrotrón.
7. ↑ Desde el punto de vista de la electrodinámica cuántica, la dispersión elástica
es simplemente un caso especial del efecto Compton
8. ↑ El factor de forma atómico f0 aumenta con el número atómico, por lo cual la
contribución al factor de estructura de un átomo pesado es significantemente mayor que
la de los átomos ligeros (carbono, oxígeno, nitrógeno e hidrógeno) predominantes en las
macromoléculas orgánicas.
9. ↑ En ocasiones, si hay errores en los datos debidos a un isomorfismo imperfecto
entre los cristales u otros factores, es necesario usar más de dos derivados para obtener
fases lo suficientemente exactas.
10. ↑ Se necesitan al menos dos longitudes de onda diferentes para resolver el
problema de las fases solamente por este método, pero una longitud de onda basta si se
aplican restricciones adicionales sobre la función de densidad electrónica. 19
11. ↑ Es posible usar positrones u otra partícula con carga eléctrica para este fin,
pero se usan electrones en la mayoría de los casos.
Referencias
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Ripoll. Cristalografía. 26. CSIC. pp. 199-. ISBN 8400075579, 978-8400075576.
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Bibliografía
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IGAC (Instituto Geográfico Agustín Codazzi). Métodos Analíticos del
Laboratorio de Suelos. Mineralogía de la Fracción Arcilla. 6ta Edición.
Colombia (2006).
Thorez, J. Phyllosilicates and Clay Minerals,A Laboratory Handbook for Their
X-Ray Diffraction Analysis.Editions G. LELOTTE (1975).