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MUESTREO DE ACEPTACIÓN
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Muestreo de Aceptación
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Objetivos
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Contenido
Tipos de Muestreo de aceptación
• Dodge – Roming
• PDTL (LTPD) con c=0
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DODGE - ROMING
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1920 H.F Dodge desarrollaron un
conjunto de tablas
que permiten
diseñar planes de
muestreo por
H.G.Roming atributo.
1930
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Planes LCPS Para diseñar planes NCL de Dodge-Roming se aplican
los siguientes pasos:
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DIAGRAMA DE FLUJO
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EJEMPLO DEL PLAN NCL
Se usa un plan de tolerancia de 1% con muestreo simple, el tamaño del lote es de 1000 y el valor estimado de la
media del proceso es 0.25%.
Con los valores anteriores dados y
haciendo uso de la tabla obtenemos el
siguiente plan de muestreo:
n c LPS
335 1 0.17
n c LPS
645 3 0.25
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Cambio de la proporción promedio
El tamaño de muestra aumentó de unidades defectuosas o también
prácticamente el doble al llamado el promedio del proceso,
incrementar el tamaño del lote, lo en este caso si se aumenta a 0.5%
que implica que los costos de con 1000 como tamaño de lote no
inspección sean más económicos se obtiene ningún cambio en el
cuando los lotes son más grandes. plan de muestro, sigue siendo el
mismo que se presenta en la Tabla
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PLAN DE MUESTREO PDTL
(LTPD) CON c=0
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DEFINICIÓN
Método propuesto por Shilling (1978), que genera planes de muestreo para atributos con c = 0,
es decir, que la única forma de aceptar el lote es si en la muestra no salen defectuosos.
CARACTERÍSTICAS
Son muy utilizados en la
práctica, en particular en
Se debe tener cuidado de que
muestreos para verificar si se
cuando se usen se tenga
están cumpliendo
conciencia de los niveles de
especificaciones críticas o en la
calidad que se rechazan.
inspección de características
relacionadas con seguridad.
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PROCEDIMIENTO
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DIAGRAMA DE FLUJO
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EJEMPLO
Suponga que se tiene un lote de 800 piezas y que el porcentaje defectivo tolerado del
lote es de 0.025. Determine el número de piezas que se deberán de extraer del lote.
N 800
PDTL= pL 0.025
K=N*pL 20
f 0.11
n= fN 88
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Referencias
• http://iindustrialitp.com.mx/msamuel.lopezr/Control_Eest
adistico_de_la_Calidad_y_Seis_Sigma_Humberto_Gutie
rrez_Pulido.pdf
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Ms. Fiorella Vanessa Li Vega
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