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Fundamentos de la Difraccin de rayos X

Andrs Felipe Guerrero


Programa de Fsica, Universidad del Quindo.
Resumen
En el siguiente trabajo se muestran los fundamentos terico-prcticos que se deben
conocer para entender y aplicar la tcnica de difraccin de rayos X (DRX) como una
tcnica de caracterizacin de slidos cristalinos.
1. Introduccin.
La difraccin es un fenmeno caracterstico de las ondas (y de las partculas cuando
manifiestan su carcter ondulatorio) que se da siempre que el frente de onda se
encuentra un obstculo en su propagacin. Este fenmeno se manifiesta claramente
cuando las dimensiones del obstculo se acercan a las de la longitud de onda de la
perturbacin, lo que permite estudiar la estructura de la materia con . La
difraccin se puede entender fcilmente a partir del principio de Huygens, en el que
se considera que cada punto del frente de ondas se puede tratar como un emisor
puntual. De esta forma, en ausencia de obstculo las interferencias de las distintas
ondas emitidas reconstruyen el frente con la misma geometra

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Los rayos X pueden ser usados no solo para determinar parmetros estructurales de
un cristal, sino tambin para medir desviaciones de la estructura peridica y observar
los defectos de un cristal. Como es sabido, el fenmeno de interferencia pude ser
observado en la superposicin de ondas de igual frecuencia y diferencia de fase
constante,

condiciones muy especiales que permiten por la teora general de difraccin
determinar factores como: composicin Qumica de una muestra, estructura
cristalina, parmetros de red, calidad y espesores de recubrimiento de pelculas, entre
otras.
Esta capacidad de los rayos X de darnos informacin de la estructura misma de la
materia, es la que vuelve a la tcnica (DRX) de conocimiento obligatorio en la
comunidad cientfica en general, y es la que motiva este trabajo.

Para comprender en su totalidad a la DRX como una tcnica de caracterizacin,
resulta importante conocer algunos conceptos previos. Esta claridad es la que se
pretende en este trabajo en la que se hace una introduccin a fundamentos de

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Solid-State Physics An Introduction to Principles of Materials Science; Harald Ibach l Hans Luth
cristalografa, la teora geomtrica (ley de Bragg), la Teora general de Difraccin, y
conceptos experimentales de produccin y deteccin de rayos X.

2. Fundamento Terico
Para comprender cmo puede existir un patrn de difraccin, resulta pertinente
presentar al fenmeno cmo la interferencia de un nmero infinito de fuentes
puntuales de radiacin coherente, por lo que a continuacin se muestran los
resultados terico-prcticos de la interferencia de dos fuentes puntuales con el
propsito de ver las ventajas y limitaciones del modelo.

2.1. Interferencia De Ondas Luminosas (Teora Geomtrica)
Cuando se habla de interferencia asociada a ondas luminosas, se est haciendo
referencia a la combinacin de campos electromagnticos que constituyan las ondas
individuales. Para realizar observaciones de interferencia sostenida en ondas
luminosas se debe cumplir ciertas condiciones:
1. Proceder de focos que sean coherentes, es decir, que las fuentes de luz tengan una diferencia
de fase en la emisin que sea constante en el tiempo.
2. Ser de frecuencia iguales o muy prximas, ya que diferencias apreciables en la frecuencia dan
lugar a diferencias de fase que varan con el tiempo y por lo tanto a figuras no estables.
3. tener la misma polarizacin.
En la figura 1 se presenta un esquema del montaje experimental. S1 y S2 son dos
ranuritas separadas por una distancia d, siendo B el punto medio. La pantalla P se
ubica a una distancia L perpendicular a la pantalla que tienen las ranuritas, F es la
fuente monocromtica. De este modo las ondas que emergen de S1 y S2 tienen la
misma frecuencia, amplitud y estn en fase.


Figura 1. Interferencia de doble rendija.
Una onda de la ranura inferior viaja una distancia ms lejos igual ,
llamada diferencia de trayectoria, esta ecuacin supone que r1 y r2 son paralelas, lo
que es aproximadamente cierto por ser L >> d, L es del orden en metros y d en
dcimas de milmetro.
Supongamos que las ondas emitidas por cada uno de los focos son:

) ()

) ()
Despus de un tratamiento algebrico, asumiendo que se cumple el principio de
superposicin al final se obtiene: con

( ) (3)


Los mximos de intensidad se producen cuando el argumento del coseno es un
mltiplo entero de , es decir, cuando


(4)
Los mnimos de intensidad se producen en los puntos cuya diferencia de caminos es
un nmero impar de semilongitudes de onda
( )

(5)
Lo ms aproximado experimentalmente al modelo anterior es conocido como el
experimento de la doble rendija, del que se muestran resultados a continuacin:
Figura 2, Grfica del patrn de intensidad terico modelo geomtrico


Figura 3, resultados de la doble rendija en inversin de color, mostrando el mximo de orden cero en negro.
El modelo anterior resulta apropiado para la visualizacin de cmo la superposicin
de fuentes de luz puede producir luz u oscuridad bajo ciertas condiciones especiales.
Cuando se comparan los resultados tericos y experimentales para la doble rendija, lo
que se nota es que el modelo puede predecir las posiciones de los mximos y mnimos,
pero lleva implcito un problema al analizar la distribucin de la energa, ya que
muestra todos los mximos igual de intensos. Es por ste problema que se propuso el
modelo general de difraccin, con el propsito de hacer las correcciones
correspondientes.

2.2. Ley de Bragg
La ley de Bragg es una consecuencia del modelo anterior en la que se puede pensar
que en vez de hacer incidir el haz de forma perpendicular al plano de las rendijas, se
hace de forma oblicua, la diferencia de caminos ahora es simtrica respecto del plano
de las rendijas y hace que la diferencia de camino sea: .


Figura 4. Representacin grfica de la ley de Bragg
Cmo ya vimos antes, la interferencia es constructiva cuando la diferencia de fase
entre la radiacin emitida por diferentes fuentes (tomos) es proporcional a . Esta
condicin se expresa en la ley de Bragg:

() ()

es la longitud de onda de los rayos X,
d es la distancia entre los planos de la red cristalina
es el ngulo entre los rayos incidentes y los planos de dispersin.

Esta ley permite relacionar la longitud de onda de la radiacin con la constante de
red y el ngulo incidente. Controlando la longitud de onda y el ngulo se puede ver
el comportamiento de los mximos en funcin del lo que permite determinar la
distancia interplanar,

2.3. Teora General de Difraccin
Consideremos ahora una fuente Q de radiacin X monocromtica de ondas planas
que incide sobre la estructura cristalina, escogemos un tomo de origen al que se le
asigna un verctor nico R. A cada tomo P con el que interacte la radiacin,
(despreciando oscilaciones del tomo) le corresponde un vector r fijo, una vez la nube
electrnica difracte la radiacin, se podr considerar entonces a cada tomo como
una fuente puntual de ondas esfricas de igual frecuencia a la incidente
(aproximacin de dispersin elstica), diferencindose en la fase y amplitud,
determinadas por la posicin de cada tomo en la red.

Figura 5. Ilustracin de la difraccin en dos tomos
La amplitud de la radiacin incidente en el punto P tiene entonces la forma:


Donde K0 y w0, estn determinados por la frecuencia de la radiacin incidente. La
radiacin observada en B, tiene entonces la forma:

(7)
(8)
Donde la funcin AP(r,t) carga la informacin de la posicin de cada uno de los
r) carga la informacin de la amplitud
y fase relativas a la onda incidente y se conoce como funcin de dispersin.

A grandes R se puede aproximar R>>r:

Donde ahora tiene la misma direccin para todas las posiciones P en el material
objetivo (aproximacin de ondas planas). Ahora integrando en todo el espacio de
dispersin se obtiene una expresin de proporcionalidad:

Y lo medido en los detectores es la intensidad:

Se puede ver entonces que la intensidad en cada punto se puede interpretar como la
(r) respecto a K.

Usando el modelo general de difraccin se puede resolver el problema de la doble
rendija, para el que se obtiene:

Figura 6. Modelo para la doble rendija: lnea punteada (interferencia); lnea continua (difraccin)
(9)
(10)
(11)
Vemos entonces que el problema de distribucin energtica que presenta el modelo de
interferencia, se resuelve teniendo en cuenta la modulacin por difraccin, obteniendo
algo mucho ms cercano al experimento Fig 3.

2.4 Estructura Cristalina y redes de Bravais
La estructura cristalina es la forma slida cmo se ordenan y empaquetan
los tomos, molculas, iones. Estos son empaquetados de manera ordenada y con
patrones de repeticin que se extienden en las tres dimensiones del espacio.
La cristalografa es el estudio cientfico de los cristales y su formacin.
El estado cristalino de la materia es el de mayor orden, es decir, donde las
correlaciones internas son mayores. Esto se refleja en sus propiedades anisotrpicas y
discontinuas. Suelen aparecer como entidades puras, homogneas y con formas
geomtricas definidas (hbito) cuando estn bien formados. No obstante, su
morfologa externa no es suficiente para evaluar la denominada cristalinidad de un
material.
i


En geometra y cristalografa las redes de Bravais son una disposicin infinita de
puntos discretos cuya estructura es invariante bajo cierto grupo de traslaciones. En
la mayora de casos tambin se da una invariancia
bajo rotaciones o simetra rotacional. Estas propiedades hacen que desde todos los
nodos de una red de Bravais se tenga la misma perspectiva de la red. Se dice
entonces que los puntos de una red de Bravais son equivalentes.
A toda estructura cristalina se le puede asociar una red de la forma:


Donde a los vectores ai, se les denomina vectores primitivos. En el caso de una red
cristalina real n=3.
Uniendo la teora general de difraccin con las redes de Bravais, se puede construir
una nueva red, denominada red recproca, donde sus unidades naturales son
[1/m]. Esta construccin matemtica se sigue:

Siendo a,b y c, vectores base de la red real, los vectores base de la red recproca se
definen cmo:


(12)
(13)
De esta definicin se desprende que los vectores ai*, son perpendiculares a los planos
definidos por bc,ac,ab. Estos cumplen una propiedad importante:


De manera general, un plano o conjunto de planos paralelos queda determinado
cuando indicamos un vector normal al plano. Sea G un vector normal a cierto plano.
Entonces, dicho plano es generado por el conjunto de vectores r que descansan sobre
este plano y que son perpendiculares al vector G, esto es, cuyo producto escalar con
G sea cero (r . G = 0). Si se elige G = h a
*
+ k b
*
+ l c
*
y r = n1 a + n2 b + n3 c,
se puede demostrar fcilmente que r . G = 2N, que representa la ecuacin de un
plano y donde N es un nmero entero. A los nmeros enteros h, k, y l, se les
denomina ndices de Miller y a cada plano con vector normal G se le denomina el
plano (hkl). Geomtricamente es posible determinar los ndices de Miller de manera
fcil.
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3. Fundamento Prctico
3.1. Generacin de Rayos X
Los rayos X se pueden observar cuando un haz de electrones muy energticos (del
orden de 1 keV) se desaceleran al chocar con un blanco metlico. Segn la mecnica
clsica, una carga acelerada emite radiacin electromagntica, de este modo, el
choque produce un espectro continuo de rayos X a partir de cierta longitud de onda
mnima dependiente de la energa de los electrones. Este tipo de radiacin se
denomina Bremsstrahlung, o radiacin de frenado. Adems, los tomos del material
metlico emiten tambin rayos X monocromticos, lo que se conoce como lnea de
emisin caracterstica del material. Otra fuente de rayos X es la radiacin
sincrotrn emitida en aceleradores de partculas.
Para la produccin de rayos X en laboratorios, hospitales, etc. se usan los tubos de
rayos X, que pueden ser de dos clases: tubos con filamento o tubos con gas.
El tubo con filamento es un tubo de vidrio al vaco en el cual se encuentran dos
electrodos en sus extremos. El ctodo es un filamento de tungsteno y el nodo es un
bloque de metal con una lnea caracterstica de emisin de la energa deseada. Los
electrones generados en el ctodo son enfocados hacia un punto en el blanco (que por
lo general posee una inclinacin de 45) y los rayos X son generados como producto
de la colisin. El total de la radiacin que se consigue equivale al 1% de la energa
emitida; el resto son electrones y energa trmica, por lo cual el nodo debe estar
refrigerado para evitar el sobrecalentamiento de la estructura.
iii


Figura 6 Esquema de un tubo de rayos X

3.2. Deteccin de RayosX
Existen muchos otros tipos de detector de radiacin que no operan con la ionizacin
de un gas. Uno de los ms empleados es el llamado detector de centelleo. En l se
aprovecha el hecho de que la radiacin produce pequeos destellos luminosos en
ciertos slidos. Esta luz se recoge y transforma en un pulso elctrico.
Los detectores de centelleo tienen algunas ventajas sobre los de gas. En primer lugar,
un slido, por su mayor densidad, es ms eficiente en detener la radiacin que un
gas. Por lo tanto la eficiencia de un detector de centelleo es muy superior a la de uno
de gas, especialmente para rayos gamma. En segundo lugar, el proceso de
luminiscencia, o sea la absorcin de radiacin y la posterior emisin de luz, es muy
rpido, disminuyendo el tiempo muerto.
El material que produce el destello se llama cristal de centelleo. Se selecciona para
que tenga una alta eficiencia en absorber radiacin ionizante y emitir luz
(luminiscencia). Debe ser transparente para poder transmitir la luz producida, y debe
estar a oscuras para que la luz ambiental no le afecte.
El material ms empleado como cristal de centelleo es el yoduro de sodio activado
con talio, NaI (T1). Es de costo bajo y es muy estable. Otro muy comn es el yoduro
de cesio activado con talio, CsI (T1), y hay otros materiales inorgnicos de usos
especiales. Por otro lado, especialmente para detectar neutrones, suelen emplearse
materiales orgnicos como plsticos. De stos los ms importantes son el antraceno y
el estilbeno. Para ciertas aplicaciones son tiles tambin los lquidos orgnicos.
Con objeto de transformar la pequea cantidad de luz producida por un cristal de
centelleo en una seal elctrica que se puede manejar con ms comodidad, se pone en
contacto con un dispositivo llamado fotomultiplicador, esquematizado en la figura 7.

Figura 7. Detector de centelleo fotomultiplicador
3.3. Diagrama de difraccin de rayos X
Un difractograma de r-x recoge los datos de intensidad en funcin del ngulo de
difraccin (2) obtenindose una serie de picos. Los datos ms importantes obtenidos
a partir de un difractograma son los siguientes:
- posicin de los picos expresada en valores de , 2, d q = 1/d2
- intensidad de pico. Las intensidades se pueden tomar como alturas de los picos o
para trabajos de ms precisin las reas. Al pico ms intenso se le asigna un valor de
100 y el resto se reescala respecto a ste.
- perfil de pico. Aunque se utiliza menos que los anteriores la forma de los picos
tambin proporciona informacin til sobre la muestra analizada.
iv


Figura 8. Ejemplo de difractograma




i Wikipedia, Estructura cristalina
ii Manual Bsico de Operacin del equipo de Difraccin de Rayos-x Rigaku DMAX
iii Wikipedia, Generacin de Rayos X
iv DRX, Universidad politcnica de catagena.

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