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Guía7 Labo Microscopía Avanzada PDF
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LABORATORIO 2 B&G
Recomendaciones
NUNCA daar, rayar, dejar caer las lentes u otros componentes pticos.
NUNCA forzar los controles de foco.
NUNCA tocar las superficies pticas. Durante la clase se discutir cul es el
procedimiento para limpiar las lentes objetivos correctamente.
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El sistema de iluminacin est constituido por las partes del microscopio que
producen o captan, reflejan y regulan la intensidad de la luz que se utiliza para la
observacin microscpica. Uno de los aspectos crticos a considerar en la
microscopa ptica es la fuente de luz que se emplea para iluminar el espcimen.
Si la muestra es iluminada de manera inadecuada, la calidad de la imagen que
se obtiene se ver afectada, an cuando se disponga de un excelente sistema
ptico. La iluminacin ptima debe ser brillante, sin resplandores y en lo posible
debe dispersarse de manera uniforme en el campo de observacin. En el ao
1893, el profesor August Khler propuso un mtodo de iluminacin para
optimizar la observacin microscpica y la microfotografa, que permite
aprovechar al mximo las capacidades de las lentes (objetivos) iluminando la
muestra en estudio con un campo de luz uniforme cuyo dimetro sea igual al del
rea de captura del objetivo. Los microscopios modernos estn diseados para
utilizar la iluminacin Khler.
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Micrmetro objeto
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Este clculo da por resultado el valor real de la longitud de cada subdivisin del
retculo ocular (VR):
Esto significa que cada subdivisin nominal del la Retculo Ocular vale 0,15 mm
vista con un lente objetivo de 40X. Nota: Para convertir el valor de milmetros
(mm) a micrmetros (m) realizar el siguiente clculo:
b)
Contar el nmero de intervalos del retculo que corresponden
al tramo que se desea medir.
c)
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DAPI
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REFERENCIAS
[1] Douglas B. Murphy, Fundamentals of light microscopy and electronic imaging. Eidtorial Wiley-Liss,
Inc., 2001.
[2] Axioskop 2 Routine Microscope, Operating Instructions. Carl Zeiss Mikroscopie.
[3] Medicin, Manual de empleo de Leica Microsystems Ltd.
[4] Jos L. Cabrera T., Jos A. Salas, Juan A. Guardado, Jos M. Jurez. Simposio de Metrologa
2008, Santiago de Quertaro, Mxico.
[5] ASTM (American Society for Testing and Materials) Standards: E 1951 -02, Standard Guide for
Calibrating Reticles and Light Microscope Magnifications.
[6] Davison, M., Abramowitz, M. Optical Microscopy. Olympus Microscopy Resource Center.
http://www.olympusmicro.com