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2-Confiabilidad de Una Linea de Produccion
2-Confiabilidad de Una Linea de Produccion
(2.1)
= 1
P {X i = 0
}=
(2.2)
pi
}= 1
pi
R = R ( p 1 , p 2 , .. . , p n )
(2.3)
Los dispositivos: cmo influye la idoneidad del dispositivo con respecto a la funcin que
debe cumplir, tomando en cuenta la calidad, oportunidad y seguridad de stos.
Las caractersticas del entorno: cmo influye el medio ambiente sobre la vida til del
dispositivo y los posibles errores en el manejo del dispositivo.
Estas fuentes, por separado o en conjunto, generan efectos al nivel de funciones y de
prestaciones, los cuales deben explicitarse con el fin de proveer las facilidades correspondientes,
para minimizar sus efectos en un marco de optimizacin de los recursos. El bloque de construccin
bsico del AMF es el mostrado en la figura 2.1.
ARBOL FUNCIONAL
FUNCIONES
MODOS DE LA
FALLA
PRESTACIONES
SERVICIOS
ACCIONES
EFECTOS DE
LA FALLA
RESTRICCIONES
DISPOSITIVOS
PARTES
MATERIALES
CAUSA DE LA
FALLA
CARACTERISTICAS
DEL ENTORNO
Fig. 2.1: Bloque bsico para el anlisis de los modos de falla y criticidad.
El AMF se confecciona a partir de las diferentes funciones a satisfacer. Los modos de fallas se
analizan y se ponen en evidencia en la investigacin de los eventos que pueden conducir a la
ausencia, la prdida, la degradacin o la declinacin intempestiva de la funcin considerada .
El principio general de la aplicacin de la metodologa del AMF consiste, despus de realizar
un recuento de los diversos modos de fallas sobre la base de la descripcin funcional o estructural
del sistema, para un elemento en particular y para el conjunto en su totalidad, en detallar en un
cuadro para cada modo de falla de cada componente :
Su efecto: el cual puede actuar simplemente sobre el comportamiento del componente (efecto
local) o propagarse hasta otro nivel (efecto grado n).
Las acciones correctoras que se ponen en marcha, en particular cuando se presenta la falla
de un modo catastrfico.
La criticidad del modo de falla: este aspecto est relacionado con el anlisis de criticidad.
Cuando se realiza en conjunto con el anlisis de falla, a este mtodo se le denomina AMFYC
(anlisis de los modos de falla y su criticidad).
Cuando se itera la aplicacin del mtodo sobre un sub-sistema, se puede revelar la omisin de
ciertos modos de falla del componente que forma parte. En efecto, los modos de falla del
componente de nivel superior aparecen ahora como una combinacin de los modos de falla de los
subsistemas. En particular, los modos de falla de los subsistemas que tienen efectos globales
deben necesariamente corresponder a los modos de falla de los componentes de nivel superior.
Los antecedentes resultantes de AMF son tiles para el diseo, en la gua de ciertas
selecciones y para permitir la deteccin (y modificacin) de todas las posibles lagunas del diseo.
Adems, este anlisis permite, en cierta forma, validar la confiabilidad requerida del equipo, ya que
identifica los puntos crticos que deben ser verificados ms a menudo y as mantener su
funcionamiento continuo. Para el desarrollo normal del mantenimiento, entrega pautas de trabajo
ya que asocia una causa a un modo normal de falla del componente.
El mtodo de falla se inicia en el nivel superior seleccionado y se debe proceder a travs
de los distintos niveles inferiores, hasta llegar al detalle planteado como subsistema terminal. La
evaluacin de las interdependencias se realiza a partir del nivel inferior, el ms desagregado, y se
va subiendo en el orden jerrquico aglutinando subsistemas hasta llegar al primer nivel, o sea el
equipo en su totalidad. El esquema generado se muestra en la figura 2.2.
El nivel de detalle con que se desarrolla este anlisis es influenciado por la experiencia
previa. Un nivel bajo de detalles se puede justificar para un subsistema que tiene un buen registro
de confiabilidad. Al contrario, un alto nivel de detalle es recomendable para un subsistema que
tiene un historial de confiabilidad cuestionable o para un diseo que an no ha sido probado.
XXXX
Subsistem a
Parte
funcin prob.
confiabilidad
XXXX
Parte
funcin prob.
confiabilidad
Subsistema
Funcin
XXXX
Subsistema
Parte
funcin prob.
confiabilidad
Parte
funcin prob.
confiabilidad
funcin
subsistema
XXXX
Subsistema
desarrollo. Al contrario, un nivel menor de detalle puede ser indicado para un tem auxiliar, el cual
no influye de forma significativa en el desempeo del sistema.
Interrelaciones de los Subsistemas. La meta del diseo del sistema es valorar la confiabilidad
del equipo, o sea la probabilidad de que el sistema ejecute las funciones especificadas, en un nivel
aceptable bajo condiciones dadas para un perodo especfico de tiempo. El sistema de informacin
debe recoger esta caracterstica y proveer una base de datos necesaria para caracterizar la
distribucin de probabilidades, la interrelacin entre los subsistemas y los antecedentes para el
mejoramiento de la confiabilidad del equipo.
La interrelacin entre los subsistemas se puede especificar mediante la convencin de
smbolos especificada en la tabla 2.1. Tales smbolos se indican en el cuadro que identifica cada
subsistema (la marca XXXX en la figura 2.2.)
El
anlisis
realizado
en
esta
parte
del
procedimiento puede agregar nuevas partes componentes a las ya definidas, dependiendo del
grado de sofisticacin que el analista desee obtener.
Tabla 2.1: Smbolos para especificar interrelaciones entre subsistemas
SIMBOLO
AND
OR
KOFN
SIGNIFICADO
La falla ocurre si todos los subsistemas y/o partes que concurren a l
fallan simultneamente.
La falla ocurre si alguno de los subsistemas y/o partes concurrentes a
este subsistema falla.
La falla del subsistema ocurre si k de los n elementos concurrentes a l
fallan.
(2.4)
R = P X 1 X 2 X 3 .... X n = 1
} = P{X 1
= 1, X 2 = 1, ...; X n = 1
(2.5)
}P {X 2
= 1\ X1 = 1
}P {X 3
}.... P { X n
= 1 \ X 1 = 1, X 2 = 1
= 1 \ X 1 = 1, ... , X n 1 = 1
(2.6)
Como ya se indic, para esta estructura la confiabilidad estar dada por:
R ( p 1 , p 2 , ... , p n ) = P { ( X 1 , X 2 , ... , X n ) = 1
= P {( X 1 X 2 . . . X n ) = 1
= P {X
= 1, X
= P X
= 1
= 1, . . . . , X
}P {X 2
= 1
= 1
(2.7)
}. . . P { X n
= 1
= p1 p 2 .... p n
(2.8)
R ( p 1 , p 2 , ... , p n ) = P {m a x ( X 1 , X 2 , ... , X n ) = 1
= 1 P { X i = 0
(2.9)
= 1 P { X 1 = 0 , X 2 = 0 , ... , X n = 0}
= 1 (1 p 1 )(1 p 2 ).... (1 p n )
1, si
( X 1 , X 2 , ... , X n ) =
0 , si
Xi k
i =1
n
i =1
(2.10)
Xi < k
R( p1 , p2 ,..., pn = P X i k
i =1
(2.11)
La evaluacin de esta expresin casi siempre es bastante difcil, excepto en el caso de que
p 1 = p 2 = . . . = p n = p . Con esta suposicin
n
R ( p1 , p2 ,..., pn ) = p i (1 p) n i
i
(2.12)
F (t ) = f ( x )dx
(2.13)
La funcin de confiabilidad que expresa la probabilidad de que dure ms del tiempo t, est
dada por:
R( t ) = 1 F ( t )
As, la probabilidad de que el componente caiga en el intervalo entre
(2.14)
t y t + t es
F ( t + t ) F ( t )
R( t )
(2.15)
ta
F ( t + t ) F ( t )
t
1
R( t )
(2.16)
Z (t ) =
F ( t )
(2.17)
R( t )
donde F(t) es la derivada de F(t) con respecto a t. Por ltimo, como f ( t ) = F ( t ) se obtiene la
relacin:
Z (t ) =
f (t )
R (t )
f (t )
(2.18)
1 F (t )
que expresa la razn de falla (llamada tambin tasa de fallas) en trminos de la distribucin del
tiempo de falla.
Una curva para la razn de falla que caracteriza a una gran variedad de equipos
electromecnicos, es la que se muestra en la figura 2.4:
Razn de fallas
Primeras
fallas
Fallas accidentales
Fallas por
desgaste
La curva est dividida en tres partes. La primera se caracteriza por una razn de fallas
decreciente y representa el perodo durante el cual los componentes de mala calidad son
eliminados. La segunda parte, que a menudo se caracteriza por una razn de fallas constante, se
considera el perodo de vida til en que slo ocurren fallas accidentales. La tercera parte se
caracteriza por un incremento en la razn de fallas, y es el perodo durante el cual las fallas se
deben principalmente al desgaste.
Ahora se puede entonces derivar una importante relacin que expresa la densidad del
tiempo de falla en trminos de la funcin tiempo de falla. Apoyndose en el hecho de que
R ( t )
R( t )
d [ln R(t )]
(2.19)
dt
R (t ) = e
Z ( x ) dx
0
(2.20)
f (t ) = Z (t ) e
Como se advierte en la figura 2.4,
Z ( x ) dx
0
(2.21)
constante durante el perodo de vida til del componente. Denotando esta razn de fallas
constante por , con
>0, y sustituyendo
f ( t ) = e t
t>0
(2.22)
1 / suele denominarse
Una
funcin til que suele usarse para aproximar tales curvas est dada por:
Z ( t ) = t 1
donde
t > 0
(2.23)
, son constantes positivas. Si < 1 la razn de falla decrece con el tiempo; si > 1
de una razn de falla constante, o sea la suposicin exponencial, queda incluida de esta manera
como un caso especial.
(t )
= t
t>0
(2.24)
R(t ) = 1 F (t ) = 1 f ( x )dx
(2.25)
Obtenindose:
t
R ( t ) = 1 e xt dx = e t
(2.26)
para la funcin de confiabilidad del modelo exponencial. Por lo tanto, si un componente tiene una
razn de falla de 0,05 por mil horas, la probabilidad de que dure al menos 10.000 horas es e-(0,05)10
= 0,607.
Modelo de Weibull en pruebas de vida. Si bien la prueba de vida de los componentes durante el
perodo de vida til se basa casi siempre en el modelo exponencial, sucede tambin que la razn
de falla de un componente no siempre es constante a lo largo del perodo que se est
investigando. En algunos casos, el perodo de falla inicial puede ser tan largo que el uso de la
mayor parte de los componentes se hace en l, en tanto que en otros el propsito principal de la
prueba de vida puede ser determinar el tiempo de falla por desgaste y no el tiempo de falla
eventual. En tales situaciones, el modelo exponencial en general no se aplica y es necesario
reemplazar la razn de falla constante por una suposicin ms general.
Si se tienen los parmetros
falla de los componentes cuando sus razones de falla crecen o decrecen con el tiempo, tiene la
forma:
f (t ) = t
t>0,
>0, >0
(2.27)
R (t ) = e t
(2.28)
Z (t ) = t 1
(2.29)
puede obtenerse
evaluando la integral:
t t
e t d t
(2.30)
(1
(2.31)
La gama de formas que puede tomar la grfica de una densidad de Weibull es muy amplia
y depende principalmente del valor del parmetro .
Variacin estadstica y anlisis de la tolerancia, usando simulacin de Monte Carlo. La
confiabilidad de un diseo de ingeniera es una funcin de varios parmetros de diseo y variables
aleatorias. La eficiencia del diseo puede ser expresada como una funcin de estas variables de
diseo y de los parmetros. El modelo para simular el comportamiento del sistema debe ser lo
suficientemente acertado para obtener resultados confiables sobre el rango de operacin.
Se asume que la eficiencia del sistema Y es una funcin de n variable aleatorias y/o
parmetros X 1 , X 2 , K , X n , por ejemplo:
Y = f ( X 1 , X 2 , ... , X
Distribucin de
probabilidad
para cada una
de las partes
Listado completo
de las partes y
sus
interrelaciones
Datos de entrada y subrutina
computacional
Repetir un
nmero
especificado
de veces
Modelo matemtico
Ingreso de los
lmites de las
especificaciones
caracteristicas
Clculo de los
valores
caracteristicos
Verificacin de
la
funcionalidad
Conteo de las
fallas, detener si es
excesivo.
Imprimir datos de
entrada y salida
Ordenamiento
en las celdas
Disponible
No disponible
Valor esperado y
desviacin
estandar
Construccin de
las distribuciones
caractersticas
Calcular primer
y segundo
momento
generalmente se comienza con nmeros aleatorios y estos se relacionan con la funcin de inters.
La mayora de los paquetes computacionales que se comercializan cuentan con un generador
0< x <1
en los demas puntos
1
f ( x) =
0
(2.32)
XXXX subsistem
confiabilidad
de la
f
i
sistema
subsistem
confiabilidad
de la
f
i
XXXX subsistem
funcin
XXXX
subsistem
o parte
confiabilidad
de la
subsistema
XXXX
o parte
confiabilidad
de la
Confiabilidad
del
equipo
Equipo 1
Equipo i
2/3
Equipo n
LINEA DE EQUIPOS
R L (t ) = Ri ( t )
i =1
(2.32)
En la lnea de produccin hay una celda de trabajo compuesta por tres equipos iguales
para los cuales la regla de funcionamiento (2/3) indica que se necesitan al menos dos de los tres
equipos funcionando para entregar la produccin definida como estndar. El clculo de la
confiabilidad de la celda de trabajo se determina segn la ecuacin 2.11 y para la lnea en su
totalidad segn la ecuacin 2.32. En la figura 2.8 se muestra el clculo de confiabilidad para un
tiempo de operacin de seis perodos.
El anlisis se centra en definir si conviene o no implementar mejores arquitecturas de los
equipos de tal forma que la confiabilidad total de la lnea de produccin aumente. El aumento de la
confiabilidad de la lnea pasa por aumentar la confiabilidad del equipo que se considere menos
confiable y para tal efecto hay que generar escenarios comparativos.
La nueva configuracin del equipo 2 influye en la confiabilidad de la lnea, pero este valor
hay que contrastarlo con el costo de implementar estas mejoras y el beneficio esperado que se
lograr. En la figura 2.10 se muestran las dos situaciones graficadas y la distribucin ajustada para
cada curva cuya expresin ser de utilidad para el clculo del beneficio esperado por la
introduccin de mejoras en los equipos.
La planilla electrnica tiene la facilidad de ajustar curvas a un conjunto de datos y mostrar
adems la bondad del ajuste. Esto es muy til ya que permite medir el desplazamiento de la curva
de confiabilidad (positivo o negativo), producto de las mejoras introducidas en el modelo de
simulacin, para un valor dado de confiabilidad que le interesa estudiar al administrador de la lnea
de produccin. Este nivel se estima como bueno si est sobre el 85% ya que exige una
confiabilidad alta a cada equipo y es un nivel que permite esperar un alto rendimiento del equipo.
Las curvas ajustadas que entrega la planilla electrnica son del tipo:
y = ae bt
(2.32)
de donde despejando el tiempo de cada ecuacin para cada escenario se realiza la diferencia y se
tiene la ecuacin para determinar la variacin del tiempo esperado de buen funcionamiento de la
lnea, para un valor dado de confiabilidad:
t =
ln ln a 2 ln ln a1
b2
b1
(2.33)
Fig. 2.11: Clculo de la variacin de tiempo esperado de buen funcionamiento para dos escenarios
de anlisis.
CONCLUSION. En este modelo donde hay que prestar mayor atencin es en la descomposicin
jerrquica del equipo para esta refleje con un alto grado de certeza la arquitectura del equipo. Es
importante ya que la finalidad de este estudio es plantearse escenarios de configuraciones de
equipo y planta, y por tanto si no es adecuado el modelo conceptual puede llevar a resultados que
no sern satisfactorios una vez que se implementen y se incurra en los gastos de adquisicin y
montaje.
Lo mostrado en los prrafos anteriores es un ejemplo de cmo se puede atacar este
estudio, pero queda en manos del analista esquematizar su real estructura de costos y as tener
una herramienta eficaz de apoyo a la decisin de introducir cambios en las facilidades de
produccin.
Un apoyo fundamental que se debe poseer es un sistema de informacin, en especial de
las mantenciones de cada equipo para tener, especialmente, una tasa real de fallas de cada parte
y un valor de los costos que se incurren en el mantenimiento.