NTC Iso 2859-0 1995

NORMA TCNICA NTC-ISO
COLOMBIANA 2859-0

1998-10-28

PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO PARA INSPECCIN
POR ATRIBUTOS. PARTE 0. INTRODUCCIN A LA
SERIE NTC-ISO 2859. SISTEMA DE MUESTREO POR
ATRIBUTOS

E: SAMPLING PROCEDURES FOR INSPECTION BY
ATTRIBUTES. PART 0. INTRODUCTION TO THE ISO 2859
ATRIBUTE SAMPLING SYSTEM

CORRESPONDENCIA: esta norma es una adopcin equivalente
(EQV) de la ISO 2859-0: 95

DESCRIPTORES: anlisis estadstico; control de calidad;
inspeccin por atributos.

I.C.S.: 03.120.30

Editada por el Instituto Colombiano de Normas Tcnicas y Certificacin (ICONTEC)
Apartado 14237 Bogot, D.C. - Tel. 6078888 - Fax 2221435

Prohibida su reproduccin Primera actualizacin

PRLOGO

El Instituto Colombiano de Normas Tcnicas y Certificacin, ICONTEC, es el organismo Nacional
de normalizacin, segn el Decreto 2269 de 1993.

ICONTEC es una entidad de carcter privado, sin nimo de lucro, cuya Misin es fundamental
para brindar soporte y desarrollo al productor y proteccin al consumidor. Colabora con el sector
gubernamental y apoya al sector privado del pas, para lograr ventajas competitivas en los
mercados interno y externo.

La representacin de todos los sectores involucrados en el proceso de Normalizacin Tcnica
est garantizada por los Comits Tcnicos y el perodo de Consulta Pblica, este ltimo
caracterizado por la participacin del pblico en general.

La NTC-ISO 2859-0 (Primera actualizacin) fue ratificada por el Consejo Directivo de 1998-10-28.

Esta norma est sujeta a ser actualizada permanentemente con el objeto de que responda en
todo momento a las necesidades y exigencias actuales.

A continuacin se relacionan las empresas que colaboraron en el estudio de esta norma a travs
de su participacin en Consulta Pblica y que pertenece al Comit Tcnico 000004 "Aplicacin de
mtodos estadsticos".

ASISTENCIA TCNICA PARA LA CALIDAD
Y LA PRODUCTIVIDAD
COMPAA NACIONAL DE VIDRIOS
INDUSTRIA COLOMBIANA DE LLANTAS
PVC GERFOR
PROQUINAL
SUPERINTENDENCIA DE INDUSTRIA Y
COMERCIO
INTERQUIM
COLTAVIRA
EMPRESAS PBLICAS DE MEDELLN
INCOLBESTOS
INGEOMINAS
PETROQUMICA COLOMBIANA
SIKA ANDINA
SIDERRGICA DE MEDELLN
PLASTILENE

ICONTEC cuenta con un Centro de Informacin que pone a disposicin de los interesados
normas internacionales, regionales y nacionales.

DIRECCIN DE NORMALIZACIN

NORMA TCNICA COLOMBIANA NTC-ISO 2859-0 (Primera actualizacin)

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PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO PARA INSPECCIN
POR ATRIBUTOS. PARTE 0. INTRODUCCIN A LA SERIE
NTC-ISO 2859. SISTEMA DE MUESTREO POR ATRIBUTOS

0. INTRODUCCIN

Esta introduccin general a la inspeccin por muestreo describe los modelos de muestreo por atributos
indicados en la NTC-ISO 2859 Parte 1, 2 y 3 e ISO 8422. Se contempla la inspeccin mediante el
muestreo por atributos, as como los procedimientos esenciales de aplicacin y la forma como se
disearon los modelos que se van a utilizar. Para una amplia comprensin de los conceptos y de sus
aplicaciones, es til tener en la mano los siguientes documentos: NTC-ISO 2859-1, NTC-ISO 2859-2,
NTC 2859-3, ISO 8422, ISO/TR 8550.

Las normas anteriores aplican los conceptos de este documento a aspectos ms concretos de
las normas correspondientes.

Es importante recalcar que la NTC-ISO 2859-1 proporciona modelos de muestreo basados en
el NAC, Nivel aceptable de calidad. La medida de la calidad puede expresarse bien como el
porcentaje de no conformidades o bien como el nmero de no conformidades por cada cien
tems. La NTC-ISO 2859-1 se desarroll fundamentalmente para la inspeccin de una serie
continua de lotes todos provenientes de una misma fuente, ya que con esta situacin con dicha
norma es posible lograr una proteccin adecuada (del mximo porcentaje promedio de tems no
conformes del proceso) mediante el uso de reglas de cambio, es decir, para el cambio de una
inspeccin normal a una inspeccin estricta. Para llevar a cabo dicha modificacin se deber
encontrar un determinado nmero (lmite) de lotes no conformes en una serie corta de lotes
sucesivos.

La NTC-ISO 2859-2 establece planes de muestreo para lotes aislados o individuales, que, en
muchos casos, son idnticos a los que se presentan en la NTC-ISO 2859-1. Todas las tablas
correspondientes a los planes de muestreo de la NTC-ISO 2859-2 incluyen informacin que
tiene en cuenta el nivel de calidad requerido para asegurar una probabilidad elevada de
aceptabilidad de los lotes. Se recomienda que en el caso de lotes aislados o individuales, se
emplee la NTC-ISO 2859-2 en lugar de la NTC-ISO 2859-1.

La NTC-ISO 2859-3 establece procedimientos de muestreo intermitente, adecuados para el caso
en el que la calidad del proceso es marcadamente superior al NAC, en un perodo definido de
produccin o verificacin. Cuando el nivel de calidad es as de excelente, en algunas
ocasiones, es ms econmico el empleo de la NTC-ISO 2859-3 que el uso del procedimiento


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de muestreo reducido de la NTC-ISO 2859-1. La NTC 2859-1 y la NTC-ISO 2859-3 se aplican a
una serie continua de lotes de un mismo proceso.

La norma ISO 8422 presenta un mtodo destinado a establecer planes de muestreo secuencial
con un poder de diferenciacin esencialmente equivalente al de los planes particulares de
NTC-ISO 2859-1 y NTC-ISO 2859-2.

La NTC-ISO 3951, "procedimiento de muestreo y grficos de inspeccin por variables para
porcentaje de no conformidades, proporciona un sistema complementario de planes de
muestreo por variables, tambin dependiente del NAC, as como la ISO 8422, planes de
muestreo secuencial para inspeccin por variables del porcentaje de tems no conformes
(conociendo la desviacin estndar).

SECCIN 1: GENERALIDADES

1.1 OBJETO

En esta parte de la norma se explican los trminos empleados, se describen los diferentes
modelos y planes, se dan consejos prcticos sobre la inspeccin por muestreo y se analizan
algunos aspectos tericos.

La Seccin 2 presenta informacin de carcter general sobre los mtodos de inspeccin por
muestreo para aceptacin, haciendo referencia especial a los procedimientos de muestreo y a
las tablas de inspeccin por atributos que se dan en las NTC-ISO 2859-1, NTC-ISO 2859-2,
NTC-ISO 2859-3 y la ISO 8422.

La Seccin 3 amplia los conceptos presentados en la introduccin al muestreo de aceptacin de
la Seccin 2 y amplia el texto de introduccin y las instrucciones contenidas en la NTC-ISO 2859-1
presentado comentarios y ejemplos detallados que ayudan en la utilizacin del mtodo de
inspeccin del sistema de muestreo en la NTC-ISO 2859-1.

1.2 NORMAS QUE DEBEN CONSULTARSE

Las siguientes normas contienen disposiciones que, mediante la referencia dentro de este texto,
constituyen disposiciones de esta norma. En el momento de la publicacin eran vlidas las
ediciones indicadas. Todas las normas estn sujetas a actualizacin; los participantes, mediante
acuerdos basados en esta norma, deben investigar la posibilidad de aplicar la ltima versin de
las normas mencionadas a continuacin.

NTC-ISO 2859-1:1994, Procedimiento de muestreo para inspeccin por atributo. Parte 1.
Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (NAC) para inspeccin lote por
lote (ISO 2859-1: 1989).

NTC-ISO 2859-2:1994, Procedimiento por muestreo para inspeccin por atributo. Parte 2. Planes de
muestreo determinados por la calidad lmite (CL) para la inspeccin de un lote aislado (ISO 2859-2:
1985).

NTC-ISO 2859-3:1994, Procedimiento de muestreo para inspeccin por atributo. Parte 2.
Procedimientos de muestreo para lotes salteados. (ISO 2859-3: 1991)


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Otras normas

ISO 8422:1991, Sequential Sampling Plans for Inspection by Attributes.

ISO/TR 8550:1984, Guide for the Selection of an Acceptance Sampling System, Scheme or Plan
for Inspection Discrete Items in Lots.

1.3 DEFINICIONES

Para los propsitos de esta norma, se aplican las definiciones establecidas en las NTC-ISO 2859-1 y
NTC-ISO 2859-3.

SECCIN 2: INTRODUCCIN GENERAL AL MUESTREO DE ACEPTACIN

2.1 PROPSITO DE LA INSPECCIN POR MUESTREO

El propsito fundamental de la inspeccin por muestreo de aceptacin es la de verificar que el
productor entrega una calidad igual o superior a la establecida de comn acuerdo, de modo que
el consumidor reciba una calidad aceptable.

El productor puede emplear estos procedimientos de muestreo para asegurar que el nivel de
calidad ser aceptable para el consumidor. En todos estos procedimientos se ha de tener
presente que los recursos econmicos son limitados. El costo del artculo lo reflejar tanto el
costo de la inspeccin como el costo de produccin.

Se recomienda realizar un verdadero esfuerzo para asegurar que el sistema est diseado de tal
manera que la calidad es responsabilidad exclusiva del productor. La inspeccin puede desviar la
responsabilidad de la calidad del productor al inspector; esto puede suceder cuando se piense
que el inspector se encuentra en ese puesto slo con el propsito de escoger los tems, de
manera que, dentro de ciertos lmites, lo que suceda durante la produccin ser detectado en la
inspeccin. Esta manera de pensar es totalmente errnea y puede resultar en un trabajo duro y
costoso y conducira a un bajo nivel de calidad tanto para el consumidor como para el productor.
El inspector no tiene ninguna forma de aadir calidad en un producto si el propio productor no lo
ha hecho.

2.2 MUESTREO DE ACEPTACIN

La inspeccin por muestreo de aceptacin tiene el mrito de otorgar la responsabilidad por la
calidad, a quien realmente debe tenerlo, es decir, el productor. En estas condiciones el inspector
ya no se considera como la persona encargada de separar los tems de los que no lo son. El
productor debe velar porque la calidad de su producto sea la indicada; de otra forma, habran
muchos problemas y sobrecostos con lotes inaceptables. La inspeccin por muestreo puede, y
debe conducir, a un menor trabajo de inspeccin, un costo inferior y un nivel de calidad aceptable
para el consumidor.

Los modelos de inspeccin por muestreo de los esquemas de las Partes 1, 2 y 3 de las
NTC-ISO 2859 e ISO 8422, contemplan la cuantificacin de los riesgos de aceptacin de
un producto no satisfactorio (conocido como el riesgo del consumidor) y de los riesgos de
no aceptacin de un producto satisfactorio (riesgo del productor), y para la seleccin de un
plan que permita tener un riesgo no mayor que el aceptable.


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Adems de los planes de muestreo de las normas, basados en la teora matemtica de la
probabilidad, existen algunos otros mtodos, como son:

a) Muestreo basado en la experiencia que se tiene con el producto, el proceso, el
productor y el consumidor; (vase el numeral 2.2.1)

b) Muestreo ad hoc, por ejemplo, el que se lleva a cabo en la inspeccin de un porcentaje
fijo, o en procesos de verificacin aleatoria ocasional; (vase el numeral 2.2.2)

c) Inspeccin al 100 %; (vase el numeral 2.2.3)

d) Otras prcticas de muestreo; (vase el numeral 2.2.4).

2.2.1 Muestreo estadstico

El muestreo basado con la experiencia con el producto, el proceso, el productor y el consumidor,
se puede evaluar estadsticamente.

Un ejemplo es el procedimiento expuesto en la NTC-ISO 2859-1, que emplea un conjunto de
reglas de cambio. Cuando la calidad es muy buena, es posible llegar a una inspeccin reducida.
De esta manera, se ofrece un procedimiento en donde, si se emplean muestras ms pequeas,
el riesgo del productor se reduce, pero el riesgo del consumidor aumenta. Si la experiencia que
se tiene es buena, esto se justifica, en particular cuando el promedio de un proceso ha arrojado
un valor consistente mejor que al NAC especificado. Cuando el promedio de un proceso en al
menos 10 lotes ha sido mucho menor que el valor del NAC, algunos consumidores optan por
procedimientos para lotes intermitentes. Vase la NTC-ISO 2859-3. Esto puede ser an ms
econmico que la inspeccin reducida de la NTC-ISO 2958-1.

En algunos casos, en particular en procesos de rutina o cuando se tiene el caso de tems que no
tienen un carcter crtico, algunos confan en la inspeccin de pequeas muestras del producto y,
siempre y cuando se presenten cero tems no conformes, aceptan el lote. Por ejemplo, para el
caso de una muestra de tamao 8, esto es equivalente a un plan de muestreo simple de un lote
pequeo con un NAC de 1,5 % con inspeccin normal, o de 0,65 % con inspeccin reducida.
Vanse las Tablas IIA y IIC de la NTC-ISO 2859-1.

Por otra parte, de acuerdo con la NTC-ISO 2859-1, cuando se han rechazado dos lotes de cinco,
la inspeccin normal se interrumpe y se lleva a cabo la inspeccin estricta. Una vez comenzada
la inspeccin estricta, no se puede regresar a la inspeccin normal hasta que se hayan
aceptados cinco lotes sucesivos. Este requisito es intencionalmente severo, ya que se ha
encontrado evidencia de una calidad inaceptable. El productor, pierde el derecho al beneficio de
la duda. Si, cinco lotes consecutivos no son aceptados, la inspeccin por muestreo debe
interrumpirse en espera de que el productor tomen las medidas necesarias para mejorar la
calidad y de que stas se hagan efectivas. (Vase el numeral 2.11).


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2.2.2 Muestreo ad hoc

El muestreo ad hoc no se recomienda, ya que implica riesgos no calculados que pueden llegar a
ser injustificadamente altos; adems, no proporciona una base lgica de aceptacin o no
aceptacin de un producto.

2.2.3 Inspeccin al 100 %

La inspeccin al 100 % puede convertirse en una tarea abrumadora, a menos que se ejecute con
un equipo automtico de inspeccin. Adems, no siempre es un mtodo exitoso, en particular
cuando un gran nmero de tems tienen una o ms caractersticas que difieren muy poco
dimensionalmente en apariencia o en desempeo (es decir, que sus magnitudes se encuentren
cercanos o concentrados sobre los valores lmites de tolerancia, de configuracin o de
desempeo). Bajo estas condiciones la seleccin por medio de mtodos automticos o manuales
probablemente clasificaran algunos tems conformes como no conformes o viceversa.
Adicionalmente, la inspeccin al 100 % con mtodos manuales, visuales o automticos, puede no
ser satisfactoria. Algunas veces puede degenerar en una inspeccin superficial al 100 %, cuando
de hecho no se dispone de suficiente personal, tiempo o recursos econmicos. Por ltimo, la
inspeccin al 100 % no es factible si el mtodo implica un procedimiento destructivo.

Sin embargo, es necesario entender que la inspeccin al 100 % puede constituir un elemento
esencial de los procesos de inspeccin tanto del consumidor como del productor. Existen
situaciones en las cuales es imposible evitarlo, como por ejemplo, cuando se trata de
inspeccionar no conformidades crticas, lo cual se har evidente a partir del estudio de esta
norma. Algunos tipos de no conformidades son tan importantes que se deben examinar todos
los tems siempre y cuando los ensayos no sean destructivos. Cuando los ensayos son
destructivos, es necesario asumir algn riesgo. (Vase el numeral 2.15).

2.2.4 Otras prcticas de muestreo

A pesar de que existen diferentes sistemas de muestreo, se considerarn en esta norma
solamente aquellos contemplados por las normas NTC-ISO. Esto no quiere decir que los dems
carezcan de importancia, sino solamente que el propsito de esta norma es el de servir de apoyo
para el uso de la NTC-ISO 2859: Partes 1, 2 3 o de la norma ISO 8422.

En muchos casos, los consumidores no llevan a cabo muestreos regulares sino que confan en
su experiencia y en la evidencia sustentada de que el productor mantiene un control estadstico
de su proceso de produccin y es franco en su evaluacin de lo que est despachando.

Si en una situacin particular, se dispone de informacin relacionada con los costos reales de la
no aceptacin errnea de tems conformes o la aceptacin de los no conformes, y si por
experiencia se conoce cuan frecuente se presentan lotes de una calidad determinada, sta
puede ser una de las ocasiones en las cuales el compromiso no es deseable. Es posible calcular
un esquema ms eficiente sobre la base de la informacin econmica disponible.

2.3 SELECCIN ENTRE ATRIBUTOS E INSPECCIN POR VARIABLES

El mtodo de inspeccin por atributos consiste en examinar un tem o una caracterstica y
clasificarla como "conforme" o "no conforme". La decisin con relacin al lote, se toma contando
el nmero de tems no conformes o de no conformidades hallados en una muestra aleatoria.


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En el mtodo de variables comienza con la seleccin de una muestra de un nmero de tems, y
midiendo dimensiones o caractersticas, de tal manera que se tiene la informacin, del valor
mismo de la dimensin y no solamente si una dimensin esta dentro de ciertos lmites. La
decisin de la aceptacin del lote se hace con base en el clculo del promedio y de la variabilidad
de las mediciones, de acuerdo con los procedimientos de la norma NTC-ISO 3951 o la ISO 8423.

El mtodo de inspeccin por variables tiene la ventaja, bajo ciertos supuestos, de requerir una
tamao de muestra menor al que se necesita en el mtodo de los atributos para obtener un
mismo grado de proteccin contra decisiones incorrectas. Tambin proporciona una mayor
informacin en cuanto a si la calidad se ve afectada de manera adversa por la media del proceso,
la variabilidad del proceso o ambas. El mtodo de inspeccin por atributos tiene la ventaja de que
es ms slido (no se encuentra sujeto a supuestos relacionados con la forma de su curva de
distribucin) y su empleo es ms sencillo. Por estas razones se pueden justificar los tamaos
mayores de muestra as como los costos ms elevados asociados con los mtodos de muestreo
por atributos.

Tambin es conveniente anotar que el empleo del calibrador pasa no pasa es ms rpido y
exige menos habilidades que llevar a cabo una medicin.

Ambos mtodos tienen sus ventajas y sus aplicaciones tpicas.

Si bien en las siguientes clusulas se hace referencia a las normas NTC-ISO 3951 e ISO 8423
stas incluyen guas para su uso.

2.4 INSPECCIN DEL LOTE

2.4.1 Lote

Para los propsitos de las NTC-ISO 2859, NTC-ISO 3951, ISO 8422 e ISO 8423, los tems se
presentan a la inspeccin en grupos, en lugar de una a una. Cada grupo de tems se denomina
lote.

Cada lote, en tanto sea factible, estar compuesto por tems de producto fabricados
esencialmente bajo las mismas condiciones durante un perodo de tiempo determinado. Esto es
de gran importancia si se adopta el concepto de nivel aceptable de calidad y hay una serie de
lotes que han de ser entregados.

Si se mezclan dos o ms fuentes de suministro, la presencia de un gran nmero de tems no
conformes de una de las fuentes puede dar lugar a una aceptacin del producto de todas las
fuentes. De otro lado, un producto de calidad marginal de una fuente puede resultar
enmascarado por un producto de excelente calidad producido por otra fuente.

De cada lote se toma una muestra; y es inspeccionada por atributos, se clasifica el lote
correspondiente como aceptable o no aceptable, con base en el nmero de tems no conformes
o en el nmero de no conformidades encontrados en la muestra; cada lote sucesivo, se trata
como una unidad ms o menos independientes (aunque las reglas para la inspeccin pueden
variar de acuerdo con los resultados obtenidos en lotes anteriores).

Para los lotes individuales suministrados aisladamente, (vase el numeral 2.5.2)


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2.4.2 Tamao del lote

La autoridad responsable (vase el numeral 3.10 de la NTC-ISO 2859-1 tiene la facultad de
especificar cul ha de ser el tamao del lote; sin embargo es lgico que, mientras sea posible,
ste debe consultarse con el productor, de tal manera que se pueda escoger una cantidad que
sea conveniente para las partes. En efecto, la especificacin del tamao del lote (as como la de
otros parmetros del plan de muestreo) no se debe llevar a cabo desconociendo el proceso de
produccin. No es esencial establecer una cantidad inmodificable; algunas veces puede
permitirse alguna variacin, aunque siempre es aconsejable especificar los lmites mximo y
mnimo del tamao del lote.

Desde el punto de vista de la inspeccin por muestreo, hay una ventaja en los lotes grandes, ya
que a partir de un lote grande es posible tomar una muestra grande, logrando de esta manera,
una mejor discriminacin entre los lotes buenos y los malos. En el caso de lotes grandes para un
mismo NAC, el tamao requerido de la muestra es una proporcin menor del lote comparado con
la proporcin requerida para los lotes pequeos.

Sin embargo, esta poltica de "lotes grandes" no debe exagerarse. Si la conformacin de un gran
lote implica la reunin de lotes pequeos que podran permanecer separados, entonces un gran
lote es ventajoso solamente si los lotes pequeos son de una calidad similar. En caso de que
exista la probabilidad de una diferencia sustancial entre los diferentes niveles de calidad de los
lotes pequeos, sera mucho mejor mantenerlos separados. Por esta razn, los lotes deben estar
constituidos por tems producidas esencialmente de acuerdo a las mismas condiciones.

En el numeral 2.4 se dan ejemplos de conformacin de lotes. En la norma ISO/TR 8550 se brinda
informacin ms amplia sobre la relacin del tamao del lote con respecto al tamao de la
muestra.

2.5 INSPECCIN DE LOTES, CONSECUTIVOS O AISLADOS

2.5.1 Inspeccin lote por lote

Esta es una inspeccin de un producto presentado en una serie de lotes.

Si se presenta al proceso de aceptacin una serie de lotes en forma consecutiva, a medida que
se van produciendo, se puede disponer de los resultados de la inspeccin de los primeros lotes
antes de la produccin de los ltimos, por lo que es posible que la inspeccin realizada influya
positivamente en la calidad de la produccin posterior. Los lotes deben someterse a inspeccin
en el mismo orden en el que se van fabricando y su inspeccin debe llevarse a cabo
rpidamente. La informacin obtenida de un lote puede indicar que el proceso se est
deteriorando. La informacin obtenida de una secuencia de lotes puede emplearse para
determinar una modificacin de la inspeccin, lo cual implicar el empleo de procedimientos de
muestreo ms estrictos en caso de que se deteriore el proceso. Es importante, ya que, a la larga,
brinda al consumidor la mejor proteccin contra una calidad mala. Si la calidad contina siendo
mala, entonces, bajo prcticas ms estrictas, se devolvern ms lotes para que el proveedor le
practique inspeccin 100 %. El muestreo, ms estricto, eleva el riesgo del productor de que un
lote bueno sea considerado como inaceptable. La identificacin del deterioro probable de la
calidad del producto es una seal destinada a poner en marcha acciones correctivas.

Si la calidad es mucho mejor a la acordada inicialmente, el consumidor puede, previo permiso de
la autoridad competente, adoptar un muestreo reducido o un muestreo salteado.


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Las NTC-ISO 2859-1, NTC-ISO 2859-2, NTC-ISO 3951, ISO 8422 e ISO 8423 se disearon
fundamentalmente para emplearse en una secuencia de lotes.

2.5.2 Inspeccin de lotes aislados

Algunas veces la inspeccin puede realizarse en un lote aislado, unos pocos lotes aislados, o
bien sobre lotes que han estado almacenados una vez terminado el proceso de produccin. Bajo
estas condiciones, no hay suficiente oportunidad para aplicar las reglas de cambio y as influir
sobre la calidad a ser ofrecida.

Si se ha de despachar un lote nico, es til saber si es uno de muchos lotes similares enviados a
otros consumidores y compuestos de material perteneciente a un proceso controlado, o si es un
lote mixto compuesto de tems de procesos diferentes y de diferentes perodos de tiempo. (Vase
tambin las normas NTC-ISO 2859-2 e ISO/TR 8550).

Si bien las NTC-ISO 2859-1 y NTC-ISO 2859-3 exigen la determinacin previa de los valores de
NAC y del nivel de inspeccin. La norma NTC-ISO 2859-2 requiere la determinacin de la
Calidad Lmite (CL). Para poder brindar una proteccin apropiada tanto al consumidor como al
productor al realizar un muestreo a los lotes segn el procedimiento de calidad lmite, es
necesario disponer de la informacin relativa a la proveniencia del lote: si es de una serie
continua de lotes aceptables, o si, por el contrario, es un lote mixto, constituido por productos
fabricados en diferentes lneas de produccin, o en fechas diferentes, o en ambas.

Las Tablas de la NTC-ISO 2859-2 son diseadas principalmente para emplearse con lotes
aislados.

2.6 NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE

2.6.1 Descripcin

El nivel aceptable de calidad (NAC), se emplea como instrumento "indexador" en las tablas de las
NTC-ISO 2859-1, NTC-ISO 3951 y en algunas de la norma ISO 8422 e ISO 8423.

Cuando se utilizan estos planes de muestreo "indexados", por NAC, los lotes para inspeccin,
tomados de un proceso cuya calidad es igual o mayor a la del NAC, sern aceptados la mayora
de las veces.

Cuando se considera una serie continua de lotes, el NAC es un nivel de calidad que, para los
propsitos de la inspeccin por muestreo, es el lmite de los valores satisfactorios del promedio
de un proceso.

El NAC es el lmite seleccionado entre lo que se considerada aceptable como el promedio del
proceso y lo que no lo es. Como tal, no describe un plan de muestreo, sino que establece cmo
debera ser la produccin, y es una cantidad til en la definicin de un proceso tolerable.

El hecho de que se fije un NAC no implica que sera totalmente deseable o aceptable que un
porcentaje de tems no conformes llegue hasta el valor especificado.

Siempre es mejor no tener tems no conformes; entre ms se reduzca el porcentaje no
conformes por debajo del NAC, tanto mejor. Esta reduccin aumenta la probabilidad de
aceptacin de cada lote.


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2.6.2 Determinacin del NAC

Al determinar del NAC, debe recordarse que representa una indicacin de la calidad requerida en
el proceso de produccin. Al productor se le pide lotes con una calidad promedio mejor al NAC.
Por un lado, esta calidad ha de ser fcilmente alcanzable, mientras que por otro, debe tener un
valor razonable desde el punto de vista del consumidor. Con frecuencia esto implica un
compromiso entre la calidad que el consumidor desea y la que podra pagar; ya que mientras
ms exigentes sean las especificaciones, tanto ms difcil ser para el productor satisfacerlas, y
mucho ms costosa ser la inspeccin para asegurar que se cumplan.

Un proceso diseado y controlado debidamente podra fabricar productos con un porcentaje de
tems no conformes inferior al indicado por el NAC. Cuando sea factible mejorar el promedio de
un proceso, el costo de produccin y el costo de la inspeccin sern menores para esta calidad
superior.

La consideracin primaria debe ser el conjunto de requisitos definidos por el consumidor; sin
embargo, es necesario asegurarse de que el consumidor es consciente y no est exigiendo
caractersticas mucho ms rigurosas de las que realmente se necesitan. Es importante
considerar la forma en la que se ha de utilizar el tem y las consecuencias en caso de que llegue
a fallar. Si los tems se encuentran disponibles en gran nmero y su falla slo representa una
dificultad durante el ensamblaje, de manera que el tem no conforme puede ser reemplazado por
otro, se puede tolerar un NAC poco exigente. Si por otra parte, una falla en el tem hace que falle
el funcionamiento de una pieza costosa e importante de un equipo, en un momento y lugar en
donde no se puede llevar a cabo el reemplazo del tem no conforme, se puede establecer un
NAC mucho ms estricto.

En el numeral 3.9 y en la norma ISO/TR 8550 se presenta una informacin ms amplia, y
criterios de seleccin del NAC.

2.7 PROMEDIO DEL PROCESO

Es la calidad media presentada por una serie de lotes, excluyendo los lotes que se presentan
nuevamente a inspeccin.

Es particularmente importante darse cuenta de que al contrario del NAC, de la CLMS (vase el
numeral 2.12) o el de la CL (vase el numeral 2.8), el promedio del proceso no se pueda calcular,
o seleccionar, ni es una propiedad de un plan particular de muestreo, sino que se relaciona con lo
que realmente se est produciendo, independientemente de qu tipo de inspeccin se est
llevando a cabo.

En general, la estimacin del promedio del proceso no es esencial para un esquema de
muestreo. No obstante, el concepto es importante por s mismo, pues tanto el inspector como el
productor no slo se interesan en las decisiones tomadas con respecto a cada lote sino tambin
en la calidad de la produccin a largo plazo de la calidad de la produccin.

Por esta razn, es conveniente mantener un registro del valor estimado del promedio del proceso
alcanzado, ya que constituye una forma til de medir la calidad, as como una fuente valiosa de
informacin para aquellos que tienen que decidir los planes de muestreo deberan adoptarse
cuando, se diseen o fabriquen productos similares en el futuro.


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Cuando se llevan a cabo muestreos dobles o mltiples, se deben tener en cuenta algunas reglas
especiales; solamente se deben emplear los resultados de la primera muestra, en el clculo del
promedio del proceso.

Ocasionalmente se hacen recomendaciones en el sentido de excluir los resultados anormales.
Esto constituye una prctica peligrosa que debera usarse, con mucha moderacin en caso de
que se use. El nico caso en que esta prctica se puede aplicar sin peligro, es aqul en el cual se
conoce que los resultados anormales se deben a una causa especfica que se sabe que ya ha
sido eliminada. An en este caso, es necesario proporcionar ambos resultados con o sin los
resultados, anormales para indicar que stas anormalidades fueron registradas.

Se debera estimar promedios separados para el proceso en caso de tener caractersticas
mltiples o diferentes clases de NAC.

2.8 CALIDAD LMITE (CL)

La calidad lmite es un elemento indexador empleado en la NTC-ISO 2859-2. Cuando se
considera un lote en forma aislada, la calidad lmite (CL) es el nivel de calidad en porcentaje de
piezas no conformes (o de no conformidades por cada 100 tems) que, para propsitos de
inspeccin mediante muestreo, tiene una baja probabilidad de aceptacin. Esta baja probabilidad
se denomina "riesgo del consumidor".

Una calidad lmite es en realidad, la especificacin de una calidad que no se desea. Para que los
lotes sean aceptados con regularidad, la fraccin de tems no conformes debe ser mucho ms
pequea que la CL (usualmente menor de 1/4 de la CL).

La NTC-ISO 2859-2 establece procedimientos para la aplicacin de los planes de muestreo en
base al CL. Estos planes de muestreo y las tablas correspondientes son, en su mayor parte,
consistentes con los planes de muestreo empleados en la NTC-ISO 2859-1.

Los planes basados en la calidad lmite se emplean principalmente para lotes aislados. Los
procedimientos presentados en la NTC-ISO 2859-1 son los ms apropiados cuando el producto
se encuentra en proceso de fabricacin y se estn produciendo una serie de lotes.

2.9 INSPECCIN NORMAL Y ESTRICTA

Se recordar que un NAC corresponde a la frontera de separacin entre lo bueno y lo malo en
una escala de calidades, al inspeccionar una secuencia de lotes. Cuando se ha especificado un
NAC para un determinado producto, lo ideal sera tener un sistema, por el cual todos los lotes con
una calidad mejor que el NAC seran aceptados y todos los lotes con una calidad peor que el
NAC no lo seran. Este sistema ideal no se logra con ningn plan de muestreo.

Para satisfacer las exigencias tanto del productor como del consumidor, se debe llegar a un
acuerdo; el mecanismo adoptado en las NTC-ISO 2859-1 e ISO 8422 es complementar la
inspeccin normal con la inspeccin estricta, es decir, dos planes de muestreo se especifican
para una situacin, junto con las reglas que determinan cundo se cambia del uno al otro.

La inspeccin normal est diseada para proteger al productor contra la no aceptacin de una
alta proporcin de lotes cuando la calidad es mejor que el NAC. El realidad, el productor se
beneficia de la incertidumbre debido a la variabilidad en el muestreo.


11
Sin embargo, el consumidor tambin necesita ser protegido, y esto se obtiene al no favorecer al
productor ciega e invariablemente, sino solamente en tanto que se muestre digno de ello. Si en
un momento dado, los resultados del muestreo indican que el promedio del proceso es
probablemente peor que el NAC, el productor pierde su derecho al beneficio de la duda (es decir,
su derecho a una inspeccin normal), y se implanta una inspeccin estricta para proteger al
consumidor.

En los numerales 3.11 y 3.12 se presentan ejemplos y detalles adicionales.

2.10 INSPECCIN REDUCIDA

A veces se tiene evidencia de que la calidad del producto es consistentemente mejor que el NAC.
Cuando esto ocurre y es razonable suponer que se seguir produciendo a este buen nivel de
calidad, la inspeccin por muestreo deja de cumplir su funcin de separar los lotes malos de los
buenos. No obstante, no puede dejar la inspeccin totalmente de lado, ya que se necesita
advertir si la calidad de la produccin desmejora.

En estas circunstancias, se puede obtener un ahorro considerable utilizando los planes de
muestreo por inspeccin reducida, establecidos en la NTC-ISO 2859-1 o los planes de muestreo
para lotes intermitentes indicados en la NTC-ISO 2859-3. Las reglas especiales que determinan
el empleo de estos planes, en caso de que as lo permita la autoridad competente, se presentan
en la Seccin 3 de esta norma, en la NTC-ISO 2859-1 y NTC-ISO 2859-3.

En el numeral 3.15 se har un anlisis ms amplio y se darn ejemplos.

2.11 REGLAS DE CAMBIO

En el numeral 2.9 se presentaron los conceptos de inspeccin normal, e inspeccin estricta, as
como sus propsitos. En este numeral se sealan las reglas de cambio por la que se toma la
decisin de cambiar de una inspeccin normal a inspeccin estricta o de volver a inspeccin
normal al usar la NTC-ISO 2859-1.

Si se conociera el valor preciso de la calidad ofrecida por el productor, esto servira para calificar
el lote y no hara falta una inspeccin de aceptacin. Ya que la calidad real nunca se conoce, lo
mejor que se puede hacer es utilizar los datos de los cuales se dispone, es decir, los propios
resultados de la inspeccin por muestreo.

Puesto que una inspeccin normal est concebida para aceptar casi todos los lotes presentados,
con la condicin de que su calidad sea al menos tan buena como el NAC, sera lgico pensar que
si una gran proporcin de lotes no es aceptado, la calidad no puede ser tan buena como la del
NAC. Ahora bien, qu proporcin de no aceptacin es lo suficientemente elevada para llegar a
esta conviccin?. Es preciso disponer de una regla que produzca una reaccin relativamente
rpida cuando la calidad sea inferior al NAC, y que al mismo tiempo tenga una baja probabilidad
de exigir, por error una inspeccin estricta, cuando la calidad es superior a la del NAC.

La regla es implementar la inspeccin estricta para los lotes siguientes, cuando dos de cinco (o
menos), lotes sucesivos han sido rechazados en la primera inspeccin. Esto significa que, los
lotes que no fueron aceptados en su primera inspeccin y sometidos a una nueva inspeccin
despus de su rectificacin, estos lotes presentados de nuevo no se tienen en cuenta para la
aplicacin de esta regla.


12
Una vez implantada la inspeccin estricta se mantiene vigente hasta que se hayan aceptado
cinco lotes sucesivos bajo este tipo de inspeccin; a partir de este momento, se retoma la
inspeccin normal. Este requisito es bastante severo, ya que es ms difcil que un lote sea
aceptado bajo inspeccin estricta que bajo inspeccin normal; sin embargo, una vez que se
comprueba que se produce una calidad inferior al NAC, no se puede restituir al productor su
derecho al beneficio de la duda hasta tener la seguridad de que la calidad se ha mejorado.

Existe otra garanta para el cliente. Consiste en una regla mediante la cual la inspeccin de
aceptacin debe interrumpirse, en espera de que se tomen las medidas necesarias para mejorar
la calidad, si el nmero acumulado de lotes rechazados en una secuencia de lotes consecutivos
durante la primera inspeccin rigurosa se eleva a cinco. Este constituye un principio importante: si
la calidad es mala, deben tomarse medidas correctivas y el inspector debe estar autorizado para
rehusar la inspeccin de los lotes siguientes, hasta que tenga la evidencia de que se han tomado
las medidas necesarias.

En el numeral 2.19 se presentan detalles adicionales y ejemplos.

2.12 CALIDAD MEDIA DE SALIDA (CMS) Y SU LMITE (LCMS)

Al igual que con el concepto de NAC, los conceptos de calidad media de salida (CMS) y de su
lmite (LCMS) slo son significativos cuando una larga secuencia de lotes se presenta a un
sistema definido de inspeccin por muestreo; por ejemplo, de acuerdo con lo establecido en la
NTC-ISO 2859-1. Cuando el nmero de tems no conformes en la muestra es igual o menor al
nmero de aceptacin, el lote ser aceptado. Si al contrario, el nmero de tems no conformes es
igual o mayor al nmero de rechazo, el lote no ser aceptado. Cuando el proceso de produccin
funciona a un promedio cercano a un NAC especificado, la mayora de los lotes sern aceptados.
Si la calidad del proceso es constante y los lotes que no son aceptados son descartados (en
lugar de ser devueltos para su rectificacin), el muestreo no tendr ningn efecto sobre la
calidad.

En algunos casos, particularmente cuando la transferencia se realiza entre departamentos antes
que entre compaas, la consecuencia de que un lote no pase la inspeccin por muestreo es que
se somete a una inspeccin al 100 %, con el consiguiente rechazo de las tems no conformes (y
su posible reemplazo con tems conformes). Esto es lo que se denomina inspeccin
rectificadora.

Cuando se presentan lotes a una inspeccin rectificadora se puede, aceptar el lote sin ninguna
inspeccin posterior o, bien, en caso de que la muestra indique no aceptacin, se inspeccionan
todos los tems en el lote y las tems no conformes se descartan o se reemplazan con tems
conformes. En el primer caso la calidad de salida es, para efectos prcticos, la misma calidad
ofrecida por el productor. En el segundo caso, todos los tems conformes satisfacen las
especificaciones. An cuando la calidad ofrecida por el productor sea constante y tenga un valor
de p (fraccin no conforme), la calidad de salida variar de lote a lote, tomando bien sea el valor
de p o el valor de 0, dependiendo de si el lote es aceptado con base en el resultado de la muestra
o de si es sometido a un proceso de inspeccin rectificadora. Sin embargo, es posible visualizar
la media de la calidad de salida de un proceso prolongado con la calidad de entrada constante en p.
Esta media de calidad de salida no ser superior al valor de p y podra, ser mucho menor cuando
una gran proporcin de lotes es inspeccionada completamente.

El trmino calidad media de salida se puede interpretar como el porcentaje promedio de tems
no conformes en una gran cantidad de lotes, de un proceso que continuamente surte un producto
de calidad p. Cada lote se examina y se evala mediante el mismo plan de muestreo que tiene
una probabilidad P
a
de aceptacin del lote. Todos los tems no conformes, seran (tericamente)
eliminados de aquellos lotes que no con aceptados por el plan de muestreo. El resultado, en


13
promedio, es que despus de la inspeccin, 100 (1-P
a
) % de lotes contienen 100 % de tems
conformes y 100 P
a
% de los lotes, que fueron aceptados en la inspeccin por muestreo,
contienen 100p % de tems no conformes (menos unas pocas que se han retirado durante el
proceso de muestreo). La calidad media de salida, en porcentaje de tems no conformes, ser de
aproximadamente 100 (P
a
x p) % La aproximacin es buena si el tamao del lote (N) es mayor o
igual a 10 veces el tamao de la muestra (n).

La realizacin de este clculo para diferentes valores de p, cada uno de los cuales tiene una
probabilidad diferente de aceptacin, genera la curva de calidad media de salida representada en
la Figura 1. Se puede ver en la Figura, que la calidad de salida puede ser buena ya sea porque la
calidad inicial es buena, o porque el lote fue completamente inspeccionado. Tambin se puede
ver que hay un valor (p) intermedio de la calidad de entrada para lo cual la calidad media de
salida alcanza un valor mximo. Este valor mximo recibe el nombre de lmite de calidad media
de salida (LCMS). No constituye un lmite de calidad de salida de ningn lote en particular ni
tampoco un lmite de la calidad de salida real promediada sobre una corta secuencia de lotes. Sin
embargo, en una secuencia larga de lotes, la calidad de salida real promediada sobre esa
secuencia no ser significativamente diferente a esta LCMS. Si la calidad antes de entrada (p) ha
variado, la calidad real puede entonces ser significativamente mejor al LCMS. Por lo tanto, es una
buena prctica calcular la calidad media real directamente, en lugar de considerar el LCMS como
el lmite superior.

2.13 TEM; UNIDAD DE PRODUCTO

Al emplear la inspeccin por atributos, es necesario calcular los valores de cantidades tales como
el tamao del lote, tamao de la muestra, nmero de tems no conformes etc. Esta enumeracin
se hace en trminos de unidades de producto. El trmino tem se ha adoptado por parte de la
ISO para representar la unidad de producto, para evitar confusiones con unidades como
centmetros, gramos, etc. Usualmente, el tem ser un artculo determinado (del tipo que est
sometido a inspeccin), en cuyo caso, si se desea, se puede emplear la palabra artculo en
lugar de tem.

EJEMPLO 1.

Antes de despachar un lote de 250 tubos de arcilla vitrificada de longitud nominal de 3 m y
un dimetro nominal de 150 mm, se toma una muestra aleatoria de ocho tubos; se
someten a ensayos de resistencia al aplastamiento, resistencia al momento flector e
impermeabilidad. El lote se despacha siempre y cuando haya por lo menos siete tubos
que cumplan con las tolerancias establecidas de cada una de las tres caractersticas. En
este caso, el tem es cada uno de los tubos.

Nota 2. La razn para introducir el trmino tem es que aveces se desea inspeccionar por muestreo a un producto que
no consiste de artculos individuales, o para el cual la entidad bsica siendo inspeccionada consta de varios artculos.


14

n = tamao de muestra

Ac = nmero de aceptacin

Figura 1. CMS y su lmite LCMS

EJEMPLO 2.

Una mezcla (10 000 kg) de arena-cemento es empacada en sacos de 10 kg. El lote ha de
ser inspeccionado para determinar si cumple con una especificacin que define el tamao
mximo de los granos de arena y del cemento, la proporcin de arena-cemento, y el peso
de cada saco.

El NAC ha sido establecido previamente. La especificacin establece como conformes
aquellos sacos donde menos de un x % de los granos de arena exceden un tamao 'a' y
menos de un y % de los granos de cemento exceden un tamao 'b', etc.

El lote contiene 1 000 unidades (sacos). El empleo de un nivel de inspeccin S4 y de un
NAC de 2,5 % determina el tamao apropiado de la muestra (20 sacos) y del nmero
de aceptacin (1). Vanse las Tablas I y X-F-2 de la NTC-ISO 2859-1: 1989.

El tem es un saco de 10 kg. Este material a granel es granular y no podra tratarse como
un nmero determinado de tems individuales.

EJEMPLO 3.

Una pieza de un equipo electrnico contiene en su circuito dos transistores similares, para
que funcione correctamente es importante que las caractersticas elctricas de estos dos


15
transistores concuerden estrechamente. El tem a ser inspeccionado se definir, como un
par concordante de transistores. As 500 pares de transistores, un total de 1 000 transistores,
constituirn 500 tems, El tamao de lote tambin es de 500. Si el tamao necesario de la
muestra fuera, por ejemplo de 50, esto significara 50 pares, es decir, un lote de 100
transistores. Evidentemente, en esta situacin sera necesario definir los pares antes de tomar
la muestra y conservar intactos estos pares hasta el momento de su utilizacin. En el caso de
transistores electrnicos que constan de dos estructuras similares contenidas en un mismo
empaque o sobre una base comn, el artculo completo constituir un tem, an si fuese
necesario ensayar cada transistor individualmente.

EJEMPLO 4.

50 000 piezas, que consisten de 25 000 recipientes y 25 000 tapas, fabricados de manera
que forman parejas perfectamente acopladas, se producen y se despachan diariamente a
una planta de ensamblaje. El proceso de fabricacin y uso es tal que no se separan las
dos partes y se han ensamblado por parejas.

El aspecto ms importante que se debe verificar es si encajan correctamente. El tem que
se va a someter al proceso de inspeccin es el par, identificado como el conjunto de
recipiente y tapa.

2.14 NO CONFORMIDAD E TEMS NO CONFORMES

2.14.1 Falta de conformidad

Para los propsitos de las normas NTC-ISO 2859 e ISO 8422, cualquier falta de conformidad con
una caracterstica establecida, dimensin, atributo o requisito funcional establecido, es una no
conformidad. Un tem no conforme puede tener uno o ms no conformidades.

Por ejemplo, supngase que un bolgrafo no escribe. Esto constituye una no conformidad; el
bolgrafo es no conforme. El mismo bolgrafo podra tener algunas otras fallas con respecto a las
especificaciones, por ejemplo con respecto a su color, dimensiones, etc. A pesar de que presente
varias no conformidades, sera contado como un solo un tem no conforme.

La calificacin no conformidad no implica necesariamente que el producto no pueda ser
utilizado para el uso previsto. Por ejemplo, un ladrillo puede tener una de sus dimensiones fuera
de la tolerancia prevista, pero an no conforme, puede sin embargo utilizarse en la construccin.

La distincin entre tem no conforme y no conformidad no tiene importancia si el tem no tiene
ms que una sola no conformidad, pero es esencial cuando varios no conformidades, se
presentan.

La calidad de un producto puede expresarse bien sea como porcentaje de tems no conformes o
como nmero de no conformidades por cada cien tems, pero usualmente estos dos conceptos
no se pueden intercambiar.

Se disponen de planes de muestreo tanto para el porcentaje de tems no conformes como para el
nmero de no conformidades por cada cien tems.


16
EJEMPLO 5.

En un proceso de conteo de agujeros en una lmina de aluminio, el nmero de agujeros
por metro cuadrado puede ser un dato de inters. En este caso se contaran todos los
agujeros por cada metro cuadrado (tem) y la calidad se expresara en agujeros por cada
100 m
2
.

EJEMPLO 6.

En un lote de 500 tems de producto, 480 son aceptables, 15 tienen una no conformidad
cada una, 4 tienen dos no conformidades, y 1 presenta tres no conformidades.

El porcentaje de no conformes se calcula mediante la frmula:

4 100 (20/500)
100
items de total No.
conformes no items de No.
= = x
x

Es decir, este lote tiene el 4 % de tems no conformes.

El nmero de no conformidades por cada 100 tems se calcula mediante la siguiente
frmula:

5,2 100 (26/500)
100
items de total No.
des conformida no de No.
= = x
x

Es decir, este lote tiene 5,2 defectos por cada 100 tems.

La decisin de emplear un porcentaje de tems no conformes o nmero de no
conformidades por cada 100 tems, se har considerando cada caso en particular. Lo
importante es que la eleccin sea acordada y especificada antes de la inspeccin y no
dejar esta toma de decisin hasta que la muestra haya sido inspeccionada.

Los factores que se deben tener en cuenta al decidir el empleo del porcentaje de tems no
conformes o el del nmero de no conformidades por cada cien tems son los siguientes:

a) La inspeccin con base en el porcentaje de tems no conformes supone que si un
tem tiene uno o ms no conformidades, el tem se considera no conforme y no es
aceptable.


17
Tambin supone que son limitadas y conocidas las formas en las cuales un tem
puede resultar no conforme; por ejemplo, solamente hay 5 formas en las cuales un
tem puede considerarse no conforme (vase tambin el punto b)).

Bajo las condiciones de inspeccin para porcentaje de tems no conformes, se
debe llevar un registro de todas las no conformidades encontrados en cada uno de
los tems no conformes, de tal modo que se pueda tomar una accin correctiva
para cada tipo de defecto. A pesar de esto, no es necesario realizar ninguna
diferenciacin en el conteo. Un tem con una no conformidad o un tem con varias
es considerado como un tem no conforme.

b) La inspeccin del nmero de defectos por cada 100 tems cuenta cada una de las
no conformidades encontradas. Tres no conformidades encontrados en un tem se
cuentan como tres, y se le da el mismo peso como tres tems con una no
conformidad cada una.

Se presenta un caso especial cuando una no conformidad puede aparecer en los
tems un nmero desconocido y casi ilimitado de veces; por ejemplo, las
imperfecciones superficiales o agujeros pueden presentarse en cualquier nmero
y no se sabe cuantas veces no se presentan; de manera que el valor del
porcentaje de tems no conformes con relacin a esta caracterstica carece de
significado. En tales casos, es mejor determinar el nmero de no conformidades
por cada cien tems. (Vase el ejemplo 5).

Nota 3. El porcentaje de tems no conformes implica una distribucin binomial. Para no conformidades por
cada 100 tems es apropiado usar la distribucin de Poisson. Vase el numeral 2.19 para informacin
sobre las curvas caractersticas de operacin de los planes de muestreo.

c) Dos propiedades sern mutuamente dependientes si las no conformidades en un
tem se originan, total o parcialmente, por la misma causa, o si una propiedad
afecta la otra. Es necesario un conocimiento detallado del proceso de produccin
para decidir si las propiedades son independientes. En trminos matemticos, si
dos caractersticas, digamos la longitud y el dimetro, son independientes, esto
significa que si se toman todos las tems producidas y se forman con ellas dos
grupos, de acuerdo a si la longitud es conforme o no, se encontrar que el
porcentaje de tems no conformes por dimetro es prcticamente el mismo en
ambos grupos; si a su vez, se forman dos grupos de acuerdo a si todos los
dimetros son conformes o no, se encontrar que el porcentaje de tems no
conformes por longitud es prcticamente el mismo en ambos grupos. Se puede
demostrar matemticamente que ambos procedimientos son equivalentes.

Si dos no conformidades no son independientes, se dice que son correlacionados
o dependientes y la presencia de ambas no conformidades en un mismo tem
debe contarse como una sola conformidad, no como dos. Ocasionalmente la
correlacin entre dos no conformidades relacionadas es baja. En estas
condiciones, los dos no conformidades pueden considerarse independientes. Se
evita esta dificultad si se opta por la alternativa del porcentaje de tems no
conformes.

d) Si el porcentaje de no conformidades en el lote es inferior al 2,5 %, entonces las
distribuciones de probabilidad de los tems no conformes y de las no
conformidades sern prcticamente idnticas. En el intervalo entre 2,5 % y 10 %
se harn patentes algunas diferencias; el plan para no conformidades por cada


18
100 tems ser ms severo que el plan equivalente por porcentaje de tems no
conformes.

e) En un puesto de inspeccin, siendo admisible, puede ser una mejor prctica y
ms sencillo usar uno solo de los mtodos en lugar de estar cambiando
frecuentemente de uno a otro; por ejemplo, tems no conformes en lugar del
mtodo de no conformidades por cada cien tems.

f) La alternativa de no conformidades por cada cien tems es preferible desde el
punto de vista del registro de datos, ya que permitir disponer de un historial
completo con miras al mejoramiento de la calidad, de esta manera los registros
incluirn informacin sobre todos las no conformidades, mientras que si se adopta
la alternativa de porcentaje de tems no conformes, pueden que se omitan algunas
no conformidades de los registros.

2.14.2 Nomenclatura

La discusin en lo que resta de esta parte de la norma se llevar a cabo en trminos de
inspeccin de tems no conformes. Cuando sea apropiado, se podr leer en trminos de
inspeccin de no conformidades, reemplazando las expresiones "tems no conformes" por "no
conformes" y "porcentaje de tems no conformes" por "no conformidades por cada cien tems".

2.14.3 Clasificacin de las no conformidades

En lo que antecede se ha supuesto que si un tem es no conforme por diferentes causas, se le
concede la misma importancia a todas estas no conformidades. As es posible limitarse al conteo
de los tems no conformes para clasificar el lote. Por ejemplo, si hay que comprobar tres
dimensiones (a, b, c) en la muestra, y tres artculos son no conformes en la dimensin a
solamente, tres en la b, uno en la c y uno en a y b a la vez, se tendr un total de ocho
tems no conformes, que es el nmero que hay que comparar con los nmeros de aceptacin y
de rechazo.

Este procedimiento de sumar tems no conformes de diferentes tipos es razonable solamente si
los defectos tienen importancia igual o similar. Cuando esto no es el caso, es necesario clasificar
todos los defectos posibles en grupos, de tal forma que, las no conformidades en los diferentes
grupos tengan diferentes rdenes de importancia pero de modo que todas las no conformidades
dentro de un mismo grupo tengan aproximadamente el mismo orden de importancia. Los
diferentes grupos emplearn valores diferentes para los NAC.

Para muchos propsitos son suficientes dos grupos, a saber: no conformidades principales de
clase A, que son los de mayor importancia y no conformidades de importancia secundaria.
Algunas veces es necesario introducir otras clases o subclases dentro de ellas. El grupo ms
importante contiene las no conformidades crticas que hacen que el artculo sea peligroso,
potencialmente peligroso, o que afecte en forma adversa su caractersticas de funcionamiento.
Las no conformidades crticas constituyen un caso especial y sern tratados con ms detalle en
el numeral 2.15. Por el momento, la discusin se restringe a los grupos correspondientes a las no
conformidades mayores y menores. Estos grupos hacen referencia a la importancia relativa de
los diferentes no conformidades dentro de un producto determinado y, puesto que los productos
mismos varan en importancia, no hay un criterio absoluto de clasificacin. Por lo tanto, no existe
un valor particular de CA que corresponda normalmente a un grupo determinado.

Es importante que la clasificacin de las no conformidades se haga correctamente. Es evidente
que se ha de tener cuidado de no "subclasificar" (por ejemplo, clasificar como una no


19
conformidad de clase B una caracterstica que se debera clasificar en la clase A), ya que esto
conducira a la aceptacin de un nmero mayor de no conformidades de esta caracterstica en el
plan de los que realmente son necesarios. Sin embargo, es tambin es muy importante no
"sobreclasificar" una no conformidad.

Cuando se adopta un sistema de clasificacin de no conformidades, es necesario fijar valores
diferentes de NAC a cada una de las clases, para asegurar que las no conformidades ms
importantes, correspondientes a la clase A, se controlan de una manera ms severa que las no
conformidades de la clase B.

Si un artculo tiene varias no conformidades y stas corresponden a grupos diferentes, se
clasificar el artculo como un tem no conforme del grupo ms severo. (Si, sin embargo, la
inspeccin se lleva a cabo en trminos de nmero de no conformes en lugar de tems no
conformes, cada no conformidad en la muestra se cuenta en el grupo correspondiente).

En el numeral 3.3 se presenta informacin adicional y ejemplos de clasificacin.

2.15 NO CONFORMIDADES CRTICAS

Las no conformidades crticas son, por definicin, aquellas que representan peligro y/o que
afectan adversamente las condiciones de funcionamiento o seguridad. Estas no conformidades
crticas constituyen una categora especial. Para estas no conformidades, es imposible elegir un
valor del porcentaje de tems no conformes y afirmar: "...este porcentaje de tems no conformes
es aceptable".

Al utilizar una inspeccin no destructiva, generalmente se establece que las caractersticas
crticas se deben inspeccionar empleando una muestra de tamao igual a la del lote y un nmero
de aceptacin de 0. Esto es, una inspeccin al 100 %; sin embargo, debe sealarse que no se
trata de una inspeccin al 100 % tradicional. No se trata aqu de clasificar un artculo como bueno
o malo, sino que se pretende verificar que no hay ningn artculo no conforme. Si se encuentra
un artculo con no conformidades crticas, no se va a colocar simplemente en otra caja y
continuar con la inspeccin; sino que el lote entero no ser aceptado (aunque su no aceptacin
no signifique necesariamente que deba destruirse el lote. Vase el numeral 2.17). Siempre que
sea posible, tambin se detendr el proceso de produccin, para realizar una investigacin con la
intencin de descubrir de que manera se produjo la no conformidad y establecer mtodos que
impidan la recurrencia de dichas no conformidades crticas en el futuro. La razn de este
procedimiento es tratar de impedir que se produzcan tems con no conformidades serias, en
contraposicin con la nocin de que no importa que se produzcan algunas, ya que, el inspector
las sacar. An el mejor inspector puede dejar pasar una no conformidad, as que la nica
manera de tener la seguridad de que no llegue ninguna no conformidad crtica a manos del
consumidor es evitando su produccin.

Si se considera que una no conformidad crtica en particular no justifica este procedimiento,
habr que considerar seriamente su reclasificacin como no conformidad mayor y no crtica. Las
no conformidades crticas deben ser realmente importantes; de ah que ningn esfuerzo para
evitarlas puede considerarse demasiado grande.

Cuando la nica inspeccin posible relacionada con las no conformidades crticas es de
naturaleza destructiva, es ms importante buscar la forma de evitar esto. En un caso como este,
una muestra igual del 100 % est fuera de discusin y se hace necesario determinar qu tamao
de muestra se debe extraer. Esto se puede lograr empleando una frmula simple que relacione:


20
a) el nmero de no conformidades/tems no conformes para los que quisiramos
tener la certeza de encontrar, al menos uno en la muestra, en el caso que
estuvieran presentes.

b) el tamao del lote;

c) el tamao de muestra; y

d) el riesgo que estamos dispuestos a aceptar de no conseguir ningn tem no
conforme en la muestra.

Se obtiene el tamao de muestra (n) de la siguiente frmula y luego se redondea al
entero superior ms cercano
1)
. El lote se acepta si no se encuentra ningn tem no
conforme en la muestra.

n = (N-d/2) (1-
1/(d+1)
) (2.1)

Donde:

n = es el tamao de la muestra

N = es el tamao de lote

= es la probabilidad especfica del riesgo de no encontrar al menos un tem
no conforme en la muestra.

d = es el nmero mximo de no conformidades crticas especificado para el
lote

si p es la proporcin mxima permitida de tems no conformes en el lote, entonces:

d = Np, redondeado al entero inferior ms cercano
2)

EJEMPLO 7.

Se tiene un lote de 3 454 tems. Se especifica una probabilidad de 0,001, y un
porcentaje mximo de tems no conformes de 0,2 % entonces:

p = 0,2/100 = 0,002 y

Np = 3 454 x 0,002 = 6,908

redondeando al entero inferior ms cercano, se tiene que d = 6

1)
Esta aproximacin es exacta para la mayora de los propsitos prcticos en el muestreo de aceptacin.
Raras ocasiones dar como resultado una unidad mayor de lo necesario.

2)
Ya que las no conformidades son crticas, solamente se deben considerar valores pequeos del porcentaje no
conformidades


21
as:

(N-d/2)(1-
1/(d+1)
) = (3 454-3) (1-0,001
1/7
)

= 3 451 x 0,0627 24 = 2 164,61

redondeando al entero superior ms cercano, se tiene que n = 2 165

El plan de muestreo es el siguiente:

- Tamao de la muestra n = 2 165

- Nmero de aceptacin Ac = 0 tems no conformes.

- Nmero de rechazo Re = 1 tem no conforme

EJEMPLO 8.

Para que quede un determinado nmero de tems, L, despachables despus de destruir n
tems en el ensayo, (presumiendo que no se consiguen tems no conformes en la
muestra); el tamao de lote, N, a ser inspeccionado (considerando el valor del riesgo
preestablecido y el nmero mximo de tems no conformes permitido en el lote original),
se calcula por la frmula al entero ms alto:

N = (L-d/2)/
1/(d+1)
+ d/2 (2.2)

Supngase L = 1 500 tems fuesen requeridos despus del ensayo, siendo establecido
= 0,001 y d = 6 (como en el ejemplo 7), el tamao del lote que se somete a la
inspeccin sera:

(1 500 -6/2) /0,001
1/7
+ 6/2

= 1 497/0,372 76 + 3 = 4 018,99
redondeando al entero superior, se tiene que N = 4 109

El tamao de muestra es:

n = N-L = 4 019 - 1 500 = 2 519

El valor de n es el mismo que el calculado con la frmula (2.1) con un tamao de lote de 4 019.

Si los clculos iniciales conducen a valores inaceptables del tamao del lote o del tamao
de la muestra, entonces el riesgo y/o el nmero permitido de tems no conformes
crticos en el lote, deben ser reevaluados para establecer nuevos criterios.


22
Se puede emplear un plan alternativo para la inspeccin de no conformidades crticas, cuando
la caracterstica que se va a inspeccionar es de una magnitud medible y no simplemente un
atributo. Este plan consiste en ensayar las muestras con un margen de seguridad. Si la carga
de rotura mnima admisible para un cierto componente es de 2 000 kg, sera posible
establecer un lmite es de 2 500 kg y clasificarlo como una no conformidad mayor, en vez de
establecer un lmite de 2 000 kg. El valor lmite por establecer y la determinacin del plan de
muestreo dependen del conocimiento previo que se tenga de la variabilidad observada en la
resistencia del componente en cuestin. Cuando es factible el empleo de este mtodo, se
obtienen resultados mucho ms satisfactorios en todos los aspectos, que la inspeccin al
100 % Existe, en este caso, la posibilidad de muestreo por variables (NTC-ISO 3951), que
permite un ensayo de sobretensin y generar informacin sobre el promedio y la
variabilidad de las caractersticas.

2.16 INSPECCIN TRUNCADA

A medida que se va avanzando en la inspeccin de los tems en la muestra, la accin que se va a
emprender llega a ser cada vez ms y ms evidente; una vez que se han verificado todos los
tems de la muestra, se puede tomar una decisin de acuerdo con el criterio del plan de muestreo
empleado. Es posible que esta decisin se pueda predecir con certeza en una etapa anterior a la
finalizacin del ensayo, bien sea porque ya hay suficientes tems buenos que obligan que se
acepte el lote, cualquiera que sea el resultado de la inspeccin de los dems tems, o bien que ya
hay suficientes tems no conformes que obligan a su no aceptacin. Por ejemplo, si el tamao de
la muestra es de 80 y el nmero de aceptacin es 10, entonces la presencia de 11 tems no
conformes en los primeros 20 tems ensayados conducir forzosamente al rechazo del lote, aun
cuando los tems restantes sean todos buenos. Si la inspeccin se detiene tan pronto como se
pueda predecir una decisin final con toda certeza, se dice que la inspeccin es truncada. Ntese
que la inspeccin no se puede detener antes de que se tenga certeza de la decisin final, sin
invalidar las caractersticas operativas del plan. Existe una disminucin evidente en los costos de
inspeccin, derivados de una inspeccin truncada. Sin embargo, hay desventajas menos obvias
que se derivan de esta prctica.

Dos de los propsitos de la inspeccin por muestreo de una secuencia de lotes son: obtener
informacin acerca de las no conformidades encontrados en el producto y estimar la calidad
promedio de un proceso para esa secuencia de lotes. Al completar la inspeccin de cada
muestra (inspeccin no truncada), la proporcin de las tems no conformes en todas las muestras
es una estimacin no sesgada de la calidad promedio de un proceso. Si la inspeccin es
truncada, este simple procedimiento ya no dar la estimacin no sesgada de la calidad del
proceso ya que no se puede ignorar que el tamao de muestra utilizada en la inspeccin
truncada no es el mismo que el propuesto para la inspeccin completa. La prdida de
informacin relacionada con los tems que no se sometieron al ensayo es otra de las desventajas
asociadas con el truncamiento. Una tercera desventajas podra ser el esfuerzo administrativo
adicional necesario para disponer de los resultados individuales del ensayo en forma secuencial,
para poder llevar a cabo el truncamiento.

Los planes de muestreo dobles, mltiples y secuenciales pueden emplearse con el propsito de
disminuir el nmero de las tems sometidas a ensayo. El ahorro promedio en los costos de los
ensayos puede ser del orden de 3/8, 1/2 5/8 del costo del muestreo simple. Con la inspeccin
truncada no se pueden lograr estos ahorros en el caso de una, ya que el ahorro principal de la
inspeccin truncada se presenta cuando el lote no es aceptado. No hay, por tanto, justificacin
para preferir la inspeccin truncada al hacer inspeccin por muestreo simple, en lugar de un plan
de muestreo doble o mltiples que emplea un tamao de muestra fijo ms pequeo en la primera
etapa en el procedimiento de decisin. Con el muestreo doble o mltiple, el promedio del proceso
se puede estimar con base en el porcentaje de tems no conformes en la primera muestra de


23
cada lote o por medio del porcentaje promedio general en un determinado nmero de primeras
muestras.

En caso de que se emplee el plan de muestreo doble o mltiples, es una prctica comn el
muestreo truncado a partir de la segunda muestra o posteriores muestras, ya que estos datos no
se utilizan en la estimacin de promedio de un proceso.

2.17 DISPOSICIN DE LOTES NO ACEPTABLES

Cuando un lote no satisface los criterios de aceptacin del muestreo, no es aceptado, y el cliente
puede elegir entre varias opciones, que dependen de los acuerdos comerciales.

El lote puede requerir una inspeccin al 100 %, ser sometido a un reprocesamiento o ser
descartado.

En caso de que el lote se enve al productor para ser reprocesado o para que se le d otra
disposicin final, es esencial que sea identificado como un lote reincidente al regresarlo al
consumidor. Es importante observar que cuando un lote se presenta a inspeccin de aceptacin
por muestreo un nmero suficiente de veces, eventualmente ser aceptado an cuando su
probabilidad de aceptacin en cada oportunidad sea pequea.

Un productor que procede as, lesiona sus propios intereses; ya que si el lote en cuestin se
ofrece reiteradamente como un nuevo lote, puede dar la impresin de que se estn entregando
varios lotes defectuosos en sucesin. Esto puede conducir a que el consumidor cambie el plan
de muestreo por otro ms estricto, seguido de una suspensin de la inspeccin, en espera de
que se mejore la calidad.

La no aceptacin de un lote no significa necesariamente que ste se deba descartar. De acuerdo
con las circunstancias de cada caso en particular, podra ser destruido, o que se realice con l
una inspeccin al 100 % con separacin o sustitucin de las tems no conformes encontradas,
que se acepte a un precio reducido, o para otro propsito, uso o aplicacin.

Si se permite una inspeccin al 100 % con reproceso, rectificacin o reemplazo de las tems no
conformes, el lote eventualmente ser sometido nuevamente a inspeccin. Es necesario que el
inspector sepa que se trata de un lote enviado nuevamente para inspeccin, de forma que pueda
dedicar una atencin especial a las caractersticas que provocaron su no aceptacin inicial. Los
resultados de la inspeccin sobre lotes que han sido sometidos de nuevo a inspeccin, se
archivarn separados de los obtenidos sobre lotes sometidos a inspeccin por primera vez, de tal
forma que no se presente confusin en los clculos para determinar la calidad de la produccin
obtenida. Estos resultados no deberan ser incluidos al determinar si se ha de cambiar el tipo de
inspeccin (normal, estricto o reducido).

La decisin de inspeccionar todas las clases de caractersticas del producto de un lote enviado
nuevamente para inspeccin, o solamente aquellas que causaron la no aceptacin, es
esencialmente una cuestin de orden administrativo, que depende de las condiciones de cada
caso en particular. En el caso en el que se lleven a cabo reprocesamiento del lote, se deben
considerar los posibles efectos adversos que dicha accin puede tener sobre las otras
caractersticas.

2.18 MUESTREO SIMPLE

Un plan de muestreo simple se describe mediante tres nmeros: el tamao de la muestra, el
nmero de aceptacin y el nmero de rechazo. El plan se lleva a cabo tomando del lote,
aleatoriamente, (vase el numeral 2.25) el nmero de tems requeridas de producto para


24
conformar el tamao de la muestra. Estos tems de producto extrados del lote se denominan
"tems de muestra" y, en conjunto, se conocen como "la muestra".

La muestra se inspecciona y se cuenta el nmero de tems no conformes descubiertos. Si dicho
nmero es inferior o igual al nmero de aceptacin, se aprueba todo el lote. Solamente no se
aceptarn aquellos tems de la muestra que se encontraron no conformes. Si, por otra parte, el
nmero de tems no conformes es igual o superior al nmero de rechazo, el lote entero no se
acepta. En el caso de la inspeccin reducida, el nmero de rechazo puede ser superior en ms
de una unidad con respecto al nmero de aceptacin. En este caso, puede suceder que el
nmero de tems no conformes sea superior al nmero de aceptacin pero menor al nmero de
rechazo. En estas condiciones, se acepta el lote pero se regresa al empleo de la inspeccin
normal para los siguientes lotes.

EJEMPLO 9.

Se inspeccionan tornillos para determinar si tienen ranura. Si no tiene ranura se
considerar como un tornillo no conforme. Se emplea el plan de muestreo simple ISO
NTC-ISO 2859-1 y se acuerda especificar un NAC de 0,65 % y usar una inspeccin
normal, nivel II. El tamao del lote es de 3 000 tems, lo cual impone la letra cdigo K. De
la Tabla II-A de la NTC-ISO 2859-1 se ve que:

- Tamao de la muestra: n = 125 tems.

- Nmero de aceptacin: Ac = 2 tems no conformes.

- Nmero de rechazos: Re = 3 tems no conformes.

Se extrae en forma aleatoria una muestra de 125 tornillos y se inspecciona. Se encuentra un
tornillo sin ranura, pero siendo que 1 es menor que el nmero de aceptacin, (Ac = 2), se acepta
el lote aun cuando el tornillo no se acepte.
Un plan de muestreo simple como ste es fcil de ejecutar. Para llevarlo a cabo en forma
satisfactoria, la muestra se debe seleccionar de manera aleatoria, lo cual implica que cada tem
del lote tenga la misma probabilidad de ser escogido para integrar la muestra. Es difcil cumplir
esta condicin de aleatoriedad cuando los tems son grandes, van colocados en empaques
individuales, o vienen en grandes cantidades dentro de un contenedor. En todos los casos, es
importante que el mtodo de la seleccin de la muestra se encuentre especificado y no se deje a
eleccin del inspector.

2.19 CURVAS CARACTERSTICAS DE OPERACIN (Curvas CO)

Cada plan de muestreo tiene una curva caracterstica de operacin (curva CO) que muestra
claramente sus propiedades. La Figura 2 presenta la curva caracterstica de operacin para el
plan de muestreo simple:

- Tamao de la muestra: n = 200 tems


- Nmero de rechazo: Re = 8 tems no conformes.


25
En la Figura 2 se presenta la curva caracterstica de operacin. La escala horizontal establece el
nivel de calidad del proceso de produccin. La escala vertical indica el porcentaje
correspondiente de lotes que, en promedio, sern aceptados en el proceso, en caso de que se
aplique este plan de muestreo.

En la prctica, no se conoce el nivel de calidad de un lote sometido a inspeccin. Si as fuera, se
podran juzgar directamente los lotes sin necesidad de la inspeccin. La curva caracterstica de
operacin muestra lo que el plan de muestreo har en circunstancias particulares. De una
manera ms precisa, la curva caracterstica de operacin muestra la probabilidad de aceptacin
de lotes con valores asumidos del nivel de calidad, es decir, el porcentaje de tems no conformes.

Si en el ejemplo de la Figura 2, se someten a inspeccin lotes que no contengan ningn tem no
conforme, la tasa de aceptacin ser del 100 %, es decir, no se encontrarn tems no conformes
y el nmero de aceptacin de 7, no podr ser excedido. S el nivel de calidad es del 2,3 % de
tems no conformes, la curva caracterstica de operacin indica que la tasa de aceptacin ser
del 90 %; es decir, nueve de cada 10 lotes se aceptarn y 1 de cada 10 no ser aceptado.

Tamao de la muestra n = 200

Nmero de aceptacin Ac = 7

Nmero de rechazo Re = 8

Figura 2. Curva caracterstica de operacin para un muestreo simple con un tamao
de muestra de 200 y un nmero de aceptacin de 7


26
La NTC-ISO 2859-1 presenta las curvas caractersticas de operacin de la inspeccin por
muestreo para el porcentaje de tems no conformes y para el nmero de no conformidades por
cada cien tems. Estas curvas caractersticas de operacin (curvas CO) muestran la probabilidad
promedio de aceptacin de los lotes en la ordenada, en funcin de la fraccin de tems no
conformes (calidad del proceso) en la abscisa. En el caso del porcentaje de tems no conformes,
estas curvas se han calculado en base en la distribucin binomial para tamaos de muestra de
hasta 80 tems. Para tamaos de muestra mayor de 80, dicha distribucin se reemplaza por la
aproximacin de Poisson a la distribucin binomial. La distribucin de Poisson es apropiada
cuando se trata del nmero de no conformidades por cada 100 tems y se ha empleado para
calcular las curvas caractersticas de operacin de estos planes.

La distribucin de Poisson se basa en el supuesto de que las no conformidades se presenten
independientemente con una expectativa matemtica constante. Este supuesto es vlido en
muchos casos. Cualquier divergencia substancial con relacin a este supuesto da distribuciones
con una varianza superior a la de la distribucin de Poisson. En estos casos, la proteccin del
consumidor es algo superior a la indicada por las curvas caractersticas de operacin.
En la NTC-ISO 2859-1, los planes de muestreo simple, doble y mltiples han sido escogidos de
manera que sus curvas caractersticas de operacin sean aproximadamente iguales a aquellos
de los planes de muestreo simple para el mismo NAC y letra de cdigo del tamao de muestra.

Es esencialmente comprender las implicaciones de las curvas caractersticas de operacin al
seleccionar el nivel de inspeccin y fijar lmites para los tamaos de los lotes. La comparacin de
las curvas caractersticas de operacin es lo que permite cotejar diferentes planes de muestreo
simple.

Obsrvese que las dos escalas de la Figura 2 se relacionan con propiedades generales del
plan de muestreo. La escala horizontal indica el promedio de un proceso, no la calidad de un
lote determinado, y la escala vertical indica el porcentaje esperado de aceptacin de una larga
serie lotes, no el porcentaje que se aceptar para una serie determinada de lotes. Una curva
caracterstica de operacin definida de esta forma es apropiada para los esquemas de
muestreo lote a lote de la NTC-ISO 2859-1, o para los esquemas de muestreo intermitente de
la NTC-ISO 2859-3. En el caso de un lote determinado, dicha caracterstica de operacin
mostrar la forma aproximada, como la probabilidad de aceptacin del lote, depende de la
calidad del mismo. La NTC-ISO 2859-2 presenta caractersticas de operacin que sern de
inters para los fabricantes interesados en sus posibilidades de xito a largo plazo, as como
tambin los valores exactos de probabilidad de aceptacin de planes de lotes aislados.

En el numeral 3.19 se encuentran comentarios relacionados con las curvas caractersticas de
operacin y el uso de la Tabla X de la NTC-ISO 2859-1.

2.20 MUESTREO DOBLE

El muestreo doble es un procedimiento en el cual se toma una primera muestra, ms pequea
que la necesaria para un muestreo simple. Si la calidad de esta muestra es suficientemente
buena, se aceptar o, si es suficientemente mala, el lote no ser aceptado. Solo si la calidad de
la muestra es intermedia, se tomar y se inspeccionar una segunda muestra antes de decidir si
el lote se acepta o no.

Un ejemplo de planes de muestreo simples y dobles equivalentes se presenta a continuacin:


27
EJEMPLO 10.

Con un tamao de lote es de 5 000 tems y un NAC para el producto de 0,65 %, la
aceptacin del lote se basar en una inspeccin simple con un nivel II de inspeccin
general. La Tabla I de la NTC-ISO 2859-1 establece que la letra clave correspondiente al
tamao de la muestra es la L.

Un plan de muestreo simple, teniendo en cuenta lo establecido en la Tabla II-A de la
NTC-ISO 2859-1, requiere una muestra de 200 tems con:



El plan de muestreo doble equivalente se obtiene a partir de la Tabla III-A y es el siguiente:

- Tamao de la primera muestra: n
1
= 125 tems

- Nmero de aceptacin: Ac = 1 tem no conforme.


- Tamao de la segunda muestra: n
2
= 125 tems

- Tamao acumulado de la muestra: n = 250 tems.

- Nmero de aceptacin: Ac = 4 tems no conformes


Lo anterior significa que si se encuentran 0 1 tems no conformes en la primera muestra de
125 tems, se aceptar el lote sin que haya necesidad de realizar una segunda inspeccin; si
se encuentran 4 ms tems no conformes, el lote se rechazar sin que haya necesidad de
realizar una segunda inspeccin. Si, en cambio, se encuentran 2 3 tems no conformes en la
primera muestra de 125 elementos, se debe tomar una segunda muestra de 125 elementos y
la decisin depender del nmero total de tems no conformes acumulados en las dos
muestras; el lote se aceptar si se encuentran 4 menos tems no conformes y se rechazar si
se encuentran 5 ms.

Los tamaos de la primera y segunda muestra son iguales en todos los planes de muestreo
doble en las Tablas de la NTC-ISO 2958-1 (vase el numeral 3.16).


28
Tabla 1. Plan de muestreo mltiple para letra clave L y NAC de 0,65 %

Muestra
Tamao de la
muestra
Tamao acumulativo
de la muestra
Nmero de
aceptacin
Nmero de rechazos
1era
2da
3era
4ta
5ta
6ta
7ma
50
50
50
50
50
50
50
50
100
150
200
250
300
350
#
0
1
2
3
4
6
3
3
4
5
6
6
7
Nota. El smbolo # indica que en este tamao de muestra no se permite la aceptacin

2.21 MUESTREO MLTIPLE

Todos los planes de muestreo mltiple de la NTC-ISO 2859-1 usan hasta 7 muestras. La decisin
de aceptar o no se toma, normalmente, antes de llegar a la sptima muestra.

Con relacin al mismo lote empleado en el numeral 1.21, el plan de muestreo para la letra clave L
y un NAC de 0,65 % se encuentra en la Tabla IV A de la NTC-ISO 2859-1y es el que se muestra
en la Tabla 1.

Las reglas para el muestreo mltiple son una extensin obvia de las empleadas en el muestreo
doble, de modo que no se explicarn aqu en detalle. La nica diferencia es que se encuentra
algunas veces el smbolo # en lugar de un nmero de aceptacin. Este smbolo indica que no se
permite la aceptacin en esta etapa, de modo que slo son factibles dos posibilidades: la no
aceptacin o la continuacin de la inspeccin con una muestra nueva.

Todos los planes de muestreo mltiple de la NTC-ISO 2859-1 tienen todos los 7 tamaos, de
muestras iguales, como en esta ilustracin (vase el numeral 3.16).

2.22 MUESTREO SECUENCIAL

En el muestreo secuencial, los tems van conformando la muestra de una manera aleatoria y se
inspeccionan uno despus de otro. Se va registrando un conteo acumulativo tanto del nmero de
items sometidos a inspeccin como del nmero de tems no conformes. Los criterios de decisin
establecen la aceptacin o no aceptacin del lote tan pronto como haya suficiente evidencia en
uno o en otro sentido. Tambin se establece un criterio de truncamiento, para evitar la posibilidad
de ampliacin de la muestra de una manera indefinida, sin que se tome una decisin. El proceso
de muestreo se detiene en un tamao de muestra especfico y en este punto se emplean los
criterios de decisin.

La norma ISO 8422 establece los procedimientos para calcular los planes de muestreo
secuencial por atributos. Estos planes pueden seleccionarse de tal modo que tengan los
mismo riesgos para el productor y el consumidor que los encontrados en los planes de la
NTC-ISO 2859-1.

La realizacin de un plan de muestreo secuencial puede ilustrarse grficamente mediante el
siguiente ejemplo.


29
EJEMPLO 11.

La Figura 3 ilustra un plan de muestreo secuencial, que corresponde a los planes de muestreo
simple y doble descritos en el numeral 2.20 y al plan de muestreo mltiple indicado en el
numeral 2.21. En este ejemplo, el nmero total de tems inspeccionados se trunca en 300. La
decisin de aceptar el lote depende de si se encuentran cinco o menos tems no conformes.
En caso de que se encuentren seis o ms tems no conforme no se acepta el lote. En la
grfica del ejemplo, los tems No. 30 y 100 fueron no conformes. Se ingres a la zona de
aceptacin despus de que se inspeccion el tem nmero 198 por lo que se encontr
aceptable.

Figura 3. Operacin de un plan de muestreo, secuencial truncado de la norma ISO 8422
correspondiente a un NAC de 0,65 %, tamao de muestra letra cdigo L

2.23 MUESTREO INTERMITENTE

Es posible iniciar un proceso de inspeccin intermitente cuando se recibe una serie de lotes de
un producto cuya calidad ha demostrado, con regularidad, ser considerablemente mejor que el
NAC, siempre y cuando se cumplan con determinados criterios.

El procedimiento intermitente descrito en la NTC-ISO 2859-3 determina de una manera
sistemtica los criterios por lo cual un producto califica para ser sometido a un muestreo
intermitente. Una vez que el producto se ha calificado de acuerdo con algn criterio especfico, se
realiza un muestreo a una fraccin (por ejemplo 1/2, 1/3, 1/4 1/5) de los lotes. Slo se pueden
admitir las fracciones ms pequeas cuando el producto presenta un nivel de calidad
marcadamente mejor al NCA. No se puede considerar una frecuencia de muestreo de 1/5 al


30
iniciar este tipo de muestreo. Cada lote se escoge al azar para someterse a un muestreo, o bien
para ser aceptado sin muestreo. Si se determina, mediante la inspeccin por muestreo, que la
calidad se ha deteriorado, se vuelve a tomar muestras de cada lote hasta que el producto vuelve
a calificar para un muestreo intermitente.

En este tipo de muestreo se mantienen las ventajas del muestreo aleatorio y los riesgos
calculables.

La magnitud del proceso de inspeccin y el costo del muestreo intermitente es, algunas veces,
inferior al muestreo reducido de la NTC-ISO 2859-1.

Se conserva la aleatoriedad real del proceso para la seleccin de la muestra.

2.24 COMPARACIN DEL MUESTREO SIMPLE, DOBLE, MLTIPLE Y SECUENCIAL

2.24.1 Planes equivalentes

Si el nmero de aceptacin en el plan de muestreo simple es mayor que cero, entonces es
posible encontrar un plan de muestreo doble, mltiple o secuencial, con una curva caracterstica
de operacin cercana a la del plan de muestreo simple. Por esta razn, con excepcin de
aquellos planes simples con nmeros de aceptacin de cero, no existe fundamento para escoger
entre muestreos simple, doble, mltiple o secuencial, con base en la curva caracterstica de
operacin. Tampoco hay razn para preferir uno a otro en todas las situaciones posibles. El
balance entre las ventajas y las desventajas algunas veces favorece a un procedimiento de
muestreo, algunas veces favorece a otro. Las caractersticas que se deben tener en cuenta son
las siguientes:

a) Simplicidad

El muestreo simple es el ms fcil de describir y de llevar a cabo, mientras que el
muestreo doble demanda un mayor administracin para tramitar la segunda
muestra en los casos en que sea necesario. Obviamente la complejidad aumenta
en los casos de muestreo mltiple y secuencial. Algunas veces la sencillez es la
consideracin fundamental en la seleccin del plan de muestreo. Habr otras
ocasiones en las cuales el aliciente psicolgico de poder tomar una segunda
muestra en los casos aparentemente marginales, favorecer la eleccin de un
plan de muestreo doble.

b) Variabilidad en la magnitud del muestreo.

En el muestreo simple, el tamao de la muestra es fijo y ya se conoce de
antemano el esfuerzo que se requiere durante la inspeccin para llegar a una
decisin. Para los dems tipos de muestreo; el nmero de tems que se van a
ensayar vara de acuerdo con los resultados de las muestras iniciales. Es posible
calcular el promedio del tamao muestra y el costo promedio de inspeccin para
cualquier calidad de entrada dada. Esta magnitud vara con la calidad, siendo
mnima tanto para valores muy buenos como para valores muy malos. Adems de
la incertidumbre asociada con la calidad de entrada desconocida, est la
incertidumbre causada por la variacin de la magnitud de la muestra con respecto
al tamao promedio, aun cuando la calidad inicial se conozca. Esta incertidumbre
puede originar inconvenientes en el momento de definir los recursos para la
inspeccin requerida. En caso de no haber recursos suficientes, el resultado se
demora. En caso contrario, habr una subutilizacin de los recursos. En algunas
situaciones la carga variable de la inspeccin se considerar a menudo como un


31
pequeo inconveniente comparado con la reduccin significativa en el costo
promedio total de la inspeccin.

c) Facilidad en la toma de la muestra.

Algunas veces es muy sencillo tomar una segunda muestra; la toma de dos
muestras no es ms complicada que el de una sola muestra de tamao
acumulado. Sin embargo, en otros casos, la toma de muestras constituye la mayor
tarea de la inspeccin, hacindose muy complicada la extraccin de una segunda
muestra una vez que ha sido extrada la primera. En este caso, el muestreo simple
es normalmente el mejor plan. Hay, de seguro, la posibilidad alterna de sacar una
muestra del tamao mximo que podra ser necesario, y entonces inspeccionar de
acuerdo al plan previamente escogido: doble, mltiple o secuencial. Esto puede
dar un ahorro insignificante comparado con el plan sencillo, debido a problemas en
la devolucin de tems no inspeccionados.

d) Duracin del ensayo.

Si se trata de ensayos de larga duracin y es posible ensayar simultneamente
todos los tems, ser preferible utilizar el muestreo simple. Con cualquiera de los
otros tipos de muestreo se corre el riesgo de que los resultados de la primera
muestra no permitan llegar a ninguna decisin y sea necesario tomar una segunda
muestra o ms, con lo cual se duplicara la duracin del ensayo. Este es otro caso
donde el muestreo simple es usualmente el mejor, siempre que la totalidad del
tamao de muestra pueda ser ensayada de inmediato. Sin embargo si uno o dos
tems pueden ser ensayados a la vez, el tipo de muestreo ms adecuado sera el
mltiple (o el secuencial).

EJEMPLO 12.

Se almacena un determinado nmero de latas de conserva de carne, durante 3
semanas, en unas condiciones atmosfricas establecidas, para someterlas a un
ensayo de conservacin. Para obtener una curva caracterstica de la operacin
deseable, se podra elegir una muestra simple de 80, un plan doble con muestra
de 50 latas cada una, o un plan mltiple de 7 etapas con muestras de 20 latas
cada una.

Si se utiliza muestreo simple, se tendr la respuesta a las 3 semanas de
comenzar el ensayo; con el muestreo doble el resultado se podra tener en 3
semanas, pero tambin podra requerir 6 semanas; con el muestreo mltiple, se
podra tener que esperar aproximadamente de 5 meses para obtener una
respuesta, en el peor de los casos.

En estas condiciones, probablemente se escoger el muestreo simple.

EJEMPLO 13.

Se va a realizar a una inspeccin destructiva. Todos los tems del lote se
presentan al laboratorio de ensayo y el dispositivo empleado no puede aplicarse
ms que a un solo tem a la vez. Como la destruccin del tem es el principal costo
del ensayo, es deseable destruir el mnimo posible de tems consistentes, con la
curva caracterstica deseada.


32
Puesto que los tems de la muestra deben ensayarse uno a uno, es probable que,
en este caso, el empleo de un muestreo secuencial ahorre tiempo y reduzca el
nmero promedio del tamao de la muestra lo que valdra la pena considerar.

e) No conformidades mltiples.

En cuanto ms complejos son los productos desde el punto de vista del nmero
de no conformidades posibles y nmero de clases de no conformidades, ms se
requieren los muestreos doble y mltiple. Cuando se deben inspeccionar todas las
caractersticas del producto en la primera muestra, algunas sobre la segunda y
eventualmente otras pocas sobre la tercera, es difcil el empleo ptimo del personal
y el equipo de inspeccin. En general, se puede decir que una inspeccin complicada
favorece un plan de muestreo simple, mientras que donde la inspeccin no es
complicada un plan ms elaborado de muestreo puede dar beneficios.

En la Figura 4 se presenta la curva caracterstica de operacin para el plan de
muestreo simple para un tamao de muestra de 200, un nmero de aceptacin de 3,
un nmero de rechazo de 4 y los planes equivalentes dobles y mltiples analizados en
los numerales 2.20 y 2.21. La coincidencia no es exacta, pero es suficientemente
buena para la mayora de los propsitos prcticos. El plan secuencial equivalente es
coincidente con la curva caracterstica de operacin del plan de muestreo simple, pero
no se presenta para evitar un amontonamiento excesivo. Las curvas caractersticas de
operacin de los planes de muestreo simple y secuencial son virtualmente
indistinguibles uno del otro.

Figura 4. Comparacin entre las curvas caractersticas de operacin para los muestreos
simple, doble, mltiple y secuencial. (Letra clave L, NAC 0,65 %)


33

Figura 5. Comparacin de los tamaos medios de muestra para los muestreos simple,
doble, mltiple y secuencial (para los planes de aceptacin de la Figura 4)

2.24.2 Tamao promedio de la muestra

En los numerales del 2.18 al 2.22, se han descrito los planes de muestreo simple, doble, mltiple
y secuencial. Para efectos de comparacin es til considerar el tamao promedio de la muestra
que, a la larga, sera necesaria para realizar el muestreo con diferentes promedios de calidad del
producto. Esto conduce a una curva de tamao promedio de una muestra representativa de la
eficiencia relativa de los diferentes sistemas de muestreo. Estas curvas indican el nmero
promedio de tems que se van a inspeccionar antes de llegar a una decisin de aceptacin o
rechazo. La Figura 5 presenta los tamaos promedio de la muestra para un conjunto de planes
equivalentes de muestreo simple, doble, mltiple y secuencial, establecidos en la Tabla 2 y
caracterizados en la Figura 4.
El nmero promedio de tems a ser ensayado es ms grande al usar muestreo simple. La mayor
reduccin en el tamao de muestra, en el muestreo doble, mltiple o secuencial, se presenta
cuando los lotes son de muy buena o de muy mala calidad.

El ahorro promedio en la inspeccin, en caso de calidad buena o mala, puede ser substancial;
pero el nmero real de tems que se van a inspeccionar de un lote en particular, cuando se hace
uso de los planes de muestreos dobles, mltiples o secuenciales, puede exceder al del plan de
muestreo simple correspondiente. Esto es muy probable cuando la calidad tiene un valor
intermedio, por ejemplo de 2 3 veces el valor del NAC.
Por estas razones, el muestreo simple puede ser aconsejable en algunos casos; por ejemplo,
cuando la duracin del ensayo es largo y todos los tems se pueden someter al ensayo en el
mismo momento. Por otra parte, cuando los ensayos slo se pueden realizar uno a la vez, o son
de naturaleza destructiva, el muestreo doble, mltiple o secuencial puede ofrecer una ventaja
sustancial (vanse los ejemplos 10 y 11).


34

Tabla 2. Planes de muestreo equivalentes para la letra clave l y un NAC de 0,65

Tipos de planes
de muestreo
Tamao de
muestra

Ac Re
Simple Muestra n = 200 3 4
Doble Primera muestra
1era. y 2da muestra combinada
n = 125
n = 250
1
4
4
5
Mltiple

Primera muestra
Tamao de muestra acumulada
n = 50
n = 100
n = 150
n = 200
n = 250
n = 300
n = 350
#
0
1
2
3
4
6
3
3
4
5
6
6
7
Secuencia Vase el numeral 2.22
Nota. El smbolo # significa que no es permitido aceptar con este tamao de muestra

En el caso de los planes doble y mltiple, existe un lmite superior para el nmero de tems que
se van a someter a inspeccin. En el caso de los planes secuenciales generalmente no existen
tales lmites, a menos que se establezcan reglas de muestreo truncado que impongan
restricciones al nmero potencial de tems por inspeccionar. Las normas ISO 8422 e ISO 8423
establecen lmites para el tamao de la muestra.

El muestreo doble, mltiple y secuencial, ofrece la oportunidad de realizar ahorros significativos
en el tamao de muestra, aunque requiere un mayor control administrativo. Cuando se dispone
de aparatos para uso semiautomtico, el muestreo secuencial automatizado da la oportunidad de
aumentar la eficiencia y el ahorro, en particular cuando se trata de ensayos de carcter
destructivo.

Las curvas de tamao promedio de la muestra para los planes doble y mltiples se dan en la
NTC-ISO 2859-1. Para los planes secuenciales por atributos, los tamaos promedios de la
muestra se encuentran en la norma ISO 8422. Para los planes secuenciales por variables con
desviacin estndar de proceso conocidos correspondientes a los planes de muestreo simple en
la NTC-ISO 3951, los tamaos promedios son dados en la norma ISO 8423. La NTC-ISO 3951
no contiene planes de muestreo doble, mltiple o secuencial.

2.25 TOMA DE MUESTRAS

En el muestreo de aceptacin, se juzga el lote con base en la calidad de la muestra. Por esta
razn, la muestra debe ser representativa del lote; se requiere entonces una muestra tomada al
azar, no una muestra sesgada.

Cuando se toma una muestra aleatoria de manera intuitiva, a menudo se presentan resultados
sesgados.

Por ejemplo, las personas que extraen tems de una caja suponen que los extraen al azar, pero
generalmente los toman del centro, con lo que los ngulos no quedan adecuadamente
representados. Cuando se les hace la observacin de que extraen muy pocos tems de los
ngulos, entonces eligen muchos de ellos de los ngulos. La nocin de azar consiste en dar a
cada combinacin una oportunidad igual de ser elegida y esto resulta un tanto difcil de alcanzar,
por lo que sin duda, vale la pena tomarse el trabajo adicional que representa la utilizacin de los
nmeros aleatorios, cada vez que ello sea posible.


35
La seleccin de una muestra aleatoria puede llevarse a cabo mediante el empleo de la Tabla 3
(vanse las pginas siguientes) o cualquier otra tabla aprobada de nmeros aleatorios, con la
condicin de que los tems pueden ser ordenados o se enumerados.

EJEMPLO 14.

Una muestra de 8 tems se ha de extraer de un lote que contiene 5 000. Los tems del lote se
etiquetan del 1 al 5 000 y, comenzando por la parte superior de la primera columna de la Tabla
3, los tems que se van a extraer para constituir la muestra son los correspondientes a los
nmeros 110, 4148, 2403, 1828, 2267, 2985, 4313 y 4691 (No se tienen en cuenta los
nmeros 5327, 5373, 9244 etc, ya que no estn en el tamao del lote).

Al utilizar la tabla de nmeros aleatorios, hay que tener en cuenta lo siguiente:

a) No es correcto comenzar siempre en la parte superior de la primera
columna. Para cada muestra, el mejor procedimiento es comenzar en un
punto elegido al azar y recorrer la tabla bien sea hacia arriba, hacia abajo o
a travs de las filas;

b) No es necesario leer los nmeros completos de cuatro cifras. Si el tamao
del lote fuera igual o menor a 1 000, sera suficiente leer las tres primeras
cifras, es decir, 11, 532, 537, etc. A veces, dos cifras son suficientes, otras
veces es necesario disponer de ms de cuatro cifras. Es posible combinar
tantas cifras como se deseen.

Debe reconocerse, no obstante, que no siempre resulta fcil el empleo de los nmeros
aleatorios. Si el lote comprende una gran caja de pequeos tems, es materialmente
imposible asignar un nmero a cada uno de ellos. En estas condiciones, es muy probable
que lo nico que pueda hacerse sea un muestreo realizado al azar de manera intuitiva; sin
embargo, si se puede mejorar la intuicin mediante el conocimiento de lo que sera
deseable hacer, lo que ayudara a producir mejores resultados. El hecho de saber que
debe darse la misma oportunidad a cada combinacin posible, hace comprender clara e
inmediatamente que es preciso sacar los tems de la caja de tal manera que todos estn
al alcance de la mano antes de tomar la muestra y tambin que no deben tenerse en
cuenta cualidades aparentes. No se deben elegir los tems deliberadamente segn
parezcan buenos o malos.

Adems del muestreo aleatorio simple, existe otra alternativa posible, incluso
recomendable, cuando se considere apropiado, que se puede aplicar utilizando o no los
nmeros aleatorios. Este mtodo alternativo se conoce bajo el nombre de muestreo
estratificado o representativo. Su empleo est justificado cada vez que un lote puede
dividirse en sublotes, de acuerdo con algn criterio lgico. Hay que subrayar que este
criterio debe ser estrictamente lgico; una divisin en sublotes, hecha al azar, no sirve
de nada. La muestra se obtiene tomando de cada sublote una submuestra cuyo tamao
sea proporcional al tamao del sublote. Las submuestras deben tomarse
obligatoriamente al azar dentro de cada sublote (empleando, si es posible, los nmeros
aleatorios) y finalmente estas submuestras se renen para constituir la muestra
completa antes de la inspeccin.


36
Tabla 3. Nmeros aleatorios para muestreos

0110
5327
5373
9244
4148

2403
1828
7249
7116
6659

2267
9460
2985
4313
6930

8910
8439
4691
1034
7472

2950
1312
8734
2907
1294
9140
3946
8259
9452
3948

4351
1956
9634
9731
8200

0362
9813
3541
0666
5368

3585
1052
6787
1157
4581

7419
7297
4921
0737
4883
2804
6289
4956
8324
5399

8240
1646
4263
2195
4135

5242
8325
6445
2179
4520

5655
5883
4107
5888
3837

6874
3848
6201
8496
2536
8046
6117
8185
8062
8687

3554
1370
4345
3265
6116

0261
6031
7981
1031
7727

1904
9283
5073
0213
8961

1128
4767
5057
7509
2351
7142
0060
0135
9817
3568

3568
9096
0567
9542
3019

7990
1102
8796
7804
2536

0681
1053
8503
2430
7931

5108
5386
9228
9304
5860
6277
2827
8640
9853
4046

4701
0738
1272
2808
6223

8886
2825
9480
8075
4166

6310
5667
6875
7397
6351

7643
7361
9938
7112
0344
6210
6546
7410
7479
4558

7494
8015
5302
1720
7323

0375
4899
2409
8187
7653

0568
0572
7525
7204
1727

7335
2079
5104
5528
2595
8627
2738
6335
9559
0705

6036
0513
3352
4832
0965

7577
1599
9456
6575
0448

3718
0611
8894
6893
9793

5303
3197
6662
2390
4880
3209
8760
0831
4264
5075

7735
6969
7389
2553
8105

8422
1199
7725
0065
2560

3537
0100
7426
7017
2142

2703
8904
1617
7736
5167
6845
6604
2774
6919
4440

4082
0949
9976
7425
4394

5230
0909
0183
2170
4795

8858
5190
0212
7038
0816

8793
4332
2323
0475
5370
0430
5632
7960
5138
8615

4968
9228
9657
9270
8206

1562
1568
5697
3186
3275

7931
5956
1866
2673
7824

2251
7661
6651
2917
5970
5819
0752
0067
6660
7292

8420
3232
9617
5743
3008

7953
4342
9273
0656
7697

1949
2912
7901
7071
5427

0864
8813
6718
4989
3582
7017
8287
7837
7759
1010

5016
5804
1033
8129
7396

0607
5173
8609
3248
1415

1739
2698
4279
4948
0957

0373
5810
1088
9207
2346
4512
8178
9890
9633
9987

1391
8004
0469
8655
0240

6254
3322
8442
0341
5573

3437
5721
4715
8100
6076

7808
2612
2972
4484
8356
8081
8552
4490
0924
2993

8711
0773
3564
4769
0524

0132
0026
1780
9308
9661

6157
1703
9741
7842
2914

1256
3237
0673
0916
0780
9198
2264
1619
1094
5116

4118
7886
3799
2900
3384

3860
7513
1961
9853
0016

2128
2321
2674
8208
0336

1144
2829
8440
9129
4899
9786
0658
6766
5103
7876

3881
0146
2784
6421
6518

6630
1743
7221
5129
4090

6026
8880
7148
3256
3466

4152
3133
3154
6517
7204
7388
2336
6148
1371
7215

9840
2400
3815
2788
4268

2865
1299
5630
3956
2384

2268
3268
8392
3217
0631

8262
4833
6962
0889
1042
0704
4912
0370
2874
9715

5843
6957
3611
4858
5988

9750
1340
8036
4717
7698

5247
7420
2497
8331
5249

4998
7826
0199
0137
8795
0138
4268
8322
5400
3906

0751
8968
8362
5335
9096

9397
6470
4029
7594
4588

2987
2121
8018
7256
7289

3315
1897
2604
9055
2435

Contina...


37
Tabla 3.(Final)

1564
6022
8418
5948
6945

0370
6702
3740
3833
8683

6794
5054
1733
6609
3970

9504
0668
4364
8875
4521
5066
9138
0975
1049
0682
8048
9676
9906
1652
3629

1165
6457
4721
3356
7947

1732
1532
6560
6263
7716

2769
9636
0606
3041
3391

1454
5003
1836
9925
1343
6359
5768
0019
2545
7351

8035
2270
3002
9025
4719

4809
9498
9758
9160
8807

0534
6001
4355
7183
6695

9642
8633
7629
3408
7454
8802
3388
0550
3981
3502

4415
8611
8020
5749
9403

9473
7702
8586
0600
6123

0758
9372
2395
2261
5986

8675
2670
5136
3029
9600
2860
9918
4223
2102
1760

9812
8479
0182
4780
7863

5893
0544
3263
4304
3748

9824
8746
2070
7210
2416

8767
7575
7824
7244
8598
3546
8897
5586
3523
0550

4312
1419
4451
6042
0701

1154
0087
2532
2784
1036

9536
1579
8915
6072
7979

0582
4021
3916
1766
9953
3117
1119
4842
7419
8874

3524
0835
9389
3829
9245

0067
9602
6668
1089
0516

7825
6102
8461
7128
8106

0410
0391
0542
1013
5773
7357
9441
8786
2359
4599

1382
1866
1730
8458
5960

0899
6259
2888
7321
0607

2985
7990
9820
0825
7759

5515
0118
2614
0221
6482
9945
8934
0855
0381
7809

4732
1307
3394
1339
9257

1184
3807
1404
5618
2710

3824
4526
6811
8281
6379

2697
9493
6567
8492
4439
5739
8555
5650
8457
9474

2303
4211
7094
6948
2588

8630
7276
3887
6172
3700

3449
3429
5873
6815
2101

1575
2291
3015
3801
6708
0263
2733
1441
5014
3745

8384
9944
3045
5939
4294

3787
4764
0292
7876
3490

3670
3665
3792
2618
8972

7305
1794
3179
2930
8418
4909
3398
2684
5616
5956

8727
8361
2466
5741
1777

2516
2339
9574
1662
3071

8960
2367
0557
2204
8829

8852
4551
1304
3828
9627
9832
7630
1116
1721
5512

5567
7050
6640
7210
5386

2661
4541
0285
2627
2967

6477
8144
8489
9433
0962

1688
1262
7767
7172
7948
0627
3824
0758
8772
8577

5881
8783
6804
0872
7182

6711
5415
4230
0940
4922

3671
9663
8446
2527
5597

3571
4845
4769
3188
6243
1155
0734
5411
4605
4178

3721
3815
1704
3279
7238

9240
6314
2283
7836
3658

9318
0990
8082
5744
9834

3393
4039
7373
7487
1176
4007
7736
3365
0388
0031

1898
9768
8665
3177
8408

5994
7979
5232
3741
4333

1317
6155
1122
9330
5857

2990
7760
5195
2191
9393
0446
8465
4489
1399
3090

3758
3247
2539
6021
7674

3068
3634
8830
3217
6452

6355
4520
1181
0721
9800

9488
1565
5013
1225
2252
6988
0849
6241
5993
2296

7236
1706
2320
2045
1719

5524
5320
5662
8824
9149

4982
0294
8142
8866
7375

8883
4745
6894
7770
0377
4699
0459
6413
7459
0124

6860
9355
9831
0163
9068

0932
5400
6404
7393
4420

6815
7504
7119
3695
9209

2476
1178
5734
3999
9798
1740
8733
3615
4445
5896

1740
3510
9442
3706
9921

5520
6714
2514
7306
6091

0814
0223
3200
1081
0630

9136
8370
5852
0006
8648


38
EJEMPLO 15.

Debe tomarse una muestra de 125 tems de un lote que se ha dividido en dos cajas; cada
una de ellas contiene la mitad del lote, y se ha decidido que cada caja constituir un
sublote. Se toma de una de las cajas una muestra de 62 tems y de la otra una muestra
de 63, combinndose estas dos muestras para formar la muestra de 125 (la caja que
suministre la unidad suplementaria debe elegirse preferentemente al azar).

Si en lugar de que cada caja contenga la mitad del lote, una de ellas contiene dos tercios
y la otra un tercio, sera necesario tomar 83 de la primera caja y 42 de la segunda, puesto
que stos son los nmeros enteros ms prximos a los dos tercios y un tercio
respectivamente, de 125.

Cuando se practica un muestreo doble o un muestreo mltiple, puede resultar prctico, en
algunas ocasiones, la toma de la primera muestra al azar y su inspeccin; a continuacin,
la toma de la segunda muestra si fuera necesario, y as, sucesivamente. En este caso, las
tcnicas de muestreo al azar son las mismas descritas anteriormente, sin dificultades
adicionales. Sin embargo, resulta a veces ms prctico tomar inmediatamente la muestra
mxima que sea necesaria y dividirla en una primera muestra, una segunda muestra, etc.,
antes de la inspeccin. En este caso, es extremadamente importante que, adems de que
la toma de la muestra mxima del lote se realice al azar, tambin se tomen al azar la
primera muestra, la segunda, etc, de la muestra mxima. Lo anterior es particularmente
importante cuando se prctica un muestreo estratificado; por ejemplo, sera totalmente
incorrecto permitir que todo el conjunto de la primera muestra provenga de un sublote y
todo el conjunto de la segunda muestra de otro sublote.

El muestreo con una aleatoriedad real da una oportunidad igual para que cada tem del
lote se incluya en la muestra, lo cual est implcito en la aplicacin de todos los planes.

2.26 PLANES, ESQUEMAS Y SISTEMAS MUESTREO

Un plan de muestreo es un conjunto reglas por medio de las cuales se inspecciona un lote y se
decide su aceptacin o su no aceptacin.

Un esquema de muestreo es una combinacin de planes de muestreo y procedimientos con
reglas de cambios (normal, estricto o reducido)

Un sistema de muestreo es un conjunto de esquemas de muestreo, cada uno con sus propias
reglas de modificacin junto con criterios para seleccin de esquemas apropiados.

Las normas: NTC-ISO 2859-1, NTC-ISO 2859-2, NTC-ISO 2859-3 e ISO 8422, presentan
diferentes sistemas de muestreo. Contienen muchos esquemas de muestreo y describen las
condiciones (NCA, tamao del lote, nivel de inspeccin etc.) en las cuales la utilizacin de estos
esquemas de muestreo es apropiada.

Un esquema de un plan de muestreo simple es el siguiente:


39
- Tamao de la muestrean: n = 125 tems.

- Nmero de aceptacin: Ac = 5 tems tems.


Un ejemplo de un esquema de muestreo simple es la combinacin de una inspeccin norma,
estricta y reducida con las reglas de cambio dadas en NTC-ISO 2859-1.

Normal Estricta Reducida

Tamao de muestra

n = 125

n = 125

n = 50

Nmero de aceptacin

Ac = 5

Ac = 3

Ac = 2

Nmero de rechazo

Re = 6

Re = 4

R e = 5

2.27 CARACTERSTICAS DE LAS DISTRIBUCIONES (BINOMIAL, POISSON E
HIPERGEOMTRICA)

Las curvas caractersticas de operacin empleadas cuando se realiza la inspeccin del
porcentaje de tems no conformes en una serie de lotes, se calculan empleando la distribucin
binomial. Se supone que el proceso se lleva a cabo en condiciones en las cuales la calidad
promedio es 100 p % . El proceso esta operando de manera aleatoria mientras se mantiene esta
calidad promedio. Los lotes tendrn entonces un porcentaje promedio de tems no conformes de
100 p, ordenados de acuerdo con la distribucin binomial.

Cuando se realiza el muestreo de una serie continua de lotes, para el nmero de no
conformidades por cada cien tems, a menudo no se tiene un lmite superior natural al nmero de
tales no conformidades. En el caso de que se utilice el nmero de no conformidades por cada
cien tems como criterio bsico de aceptacin, la distribucin de Poisson es la representacin
vlida y se emplea como base para el clculo de la probabilidad de aceptacin de cada lote.

El planteamiento anterior se aplica a las partes 1 y 3 de la NTC-ISO 2859 y a la ISO 8422.

Cuando se realiza el muestreo sobre un lote aislado, el mtodo apropiado de clculo de
probabilidad de aceptacin es la distribucin hipergeomtrica.

En caso de que la muestra sea una pequea proporcin del lote, la distribucin binomial
constituye una buena aproximacin de la hipergeomtrica. Cuando el porcentaje de tems no
conformes es pequeo y el tamao de la muestra es grande, la distribucin de Poisson es una
buena aproximacin a la binomial.

Nota 4. Para un anlisis completo de este tema, se remite al lector a los textos sobre mtodos estadsticos y muestreo.

En el desarrollo de las publicaciones anteriores de tablas de muestreo no se emple la
distribucin hipergeomtrica, debido a la gran extensin de los clculos necesarios. Actualmente
se emplea la distribucin hipergeomtrica en aquellos casos en los cuales se considera
apropiada.


40
SECCIN 3: EL SISTEMA DE LA NTC-ISO 2859-1

3.1 DESCRIPCIN DE LA NTC-ISO 2859-1

La NTC-ISO 2859-1 tiene un texto de introduccin que presenta las instrucciones para el uso de
las tablas, sin embargo dicho texto es bastante corto y contiene slo la informacin mnima
esencial. El propsito de esta parte de la NTC-ISO 2859 es ampliar estas instrucciones y,
mediante comentarios detallados y un cierto nmero de ejemplos, aclarar el mtodo de
inspeccin por muestreo, desarrollado por el sistema de muestreo de la NTC-ISO 2859.

Los nmeros en esta seccin que se encuentran entre corchetes se refieren a los numerales
correspondientes de la NTC-ISO 2859-1: 1989

La NTC-ISO 2859-1 est diseada para la inspeccin lote a lote por atributos [vase el numeral 3.13].
El sistema es particularmente pertinente para el caso de una inspeccin "externa" de una secuencia
de lotes. La inspeccin interna, o el caso de lotes ocasionalmente aislados, se puede cubrir con la
NTC-ISO 2859-2 que considera la norma como un conjunto de planes de muestreo ms que un
programa de muestreo.

Las Tablas de la NTC-ISO 2859-1 se designan mediante nmeros romanos, con subdivisiones
indicadas mediante letras maysculas, por ejemplo: Tabla I, Tabla II-A, Tabla II-B, etc. En esta
parte de la ISO 2859 las tablas se designan mediante nmeros arbigos, por ejemplo Tabla 1,
Tabla 2, Tabla 3, etc., y se har referencia a las tablas sin especificar cada vez cul es la
apropiada, ya que esto ser evidente a partir de los nmeros de las tablas.

El principal propsito del sistema de la NTC-ISO 2859-1 es la aceptacin de los productos, con
un nivel de calidad igual o mejor al del NAC (vase el numeral 3.6). Sin embargo, la eleccin de
un determinado NAC no implica que el productor tiene el derecho de suministrar,
intencionalmente alguna cantidad de productos no conformes.

Por esta razn, una manera de estimar el NAC es considerarlo como un tem indexador de los
riesgos que el consumidor est dispuesto a aceptar con el propsito de obtener un beneficio
econmico de la inspeccin mediante muestreo. Si, a pesar de esto, el riesgo del muestreo es
inaceptable, o si no se dispone de un plan apropiado, se debe realizar una inspeccin al 100 %
Una vez que se lleve a cabo la inspeccin mediante muestreo y que el productor est
produciendo con una calidad peor al NAC, un plan de muestreo apropiado har evidente,
mediante la no aceptacin de una fraccin excesiva de lotes, la necesidad de tomar
determinaciones inaplazables sobre el mejoramiento de la calidad. En consecuencia, una vez la
produccin se encuentre bajo control a un nivel adecuado, se puede esperar que se presente un
nivel de calidad superior al del NAC.

Tambin se debe comprender que con frecuencia resulta difcil y costoso garantizar que una
mquina, un proceso o una lnea de produccin elaboren productos exentos de no
conformidades. En la prctica generalmente se acepta un cierto porcentaje de tems no
conformes, lo cual no significa que necesariamente se vayan a encontrar en el producto final.
Algunos sern identificados en etapas posteriores de la inspeccin y otros no se podrn
ensamblar o no cumplirn con las caractersticas de funcionamiento exigidas en los ensayos. El
lmite aceptable del porcentaje de tems no conformes a menudo estar determinado por
consideraciones econmicas, ya que el consumidor debe elegir entre un tem razonablemente
bueno que est dentro de sus posibilidades de adquisicin, o un tem mucho mejor que se
encuentra ms all de sus posibilidades. Con frecuencia se encuentra que un mejor control del
proceso puede producir un porcentaje mucho menor de tems no conformes; en estas
condiciones, una calidad mejorada puede costar menos.


41
Se puede considerar que la NTC-ISO 2859-1 est compuesta por tres partes, a saber: el texto,
las tablas principales (vase la Tabla I a la Tabla IV), las tablas suplementarias (vase la Tabla V
a la Tabla IX), y las tablas adicionales (vase la Tabla X-A a la Tabla X-S).

El texto define los trminos empleados y presenta las reglas para la inspeccin mediante
muestreo.

En las tablas adicionales, las pginas de la derecha repiten informacin ya presentada en las
tablas principales. En la prctica ha resultado til disponer de esta informacin en dos formas
diferentes, pues algunas veces una de las presentaciones es ms apropiada que la otra.

El esquema se basa en el uso del concepto de NAC, y los planes se indexan por el NAC y por el
tamao de la muestra. Sin embargo, el tamao mismo de la muestra no se emplea directamente
como tem indexador, sino que se codifica en la forma de "letra cdigo del tamao de la muestra"
(vase el numeral 3.18, en el cual se presentan las razones para esto).

Tambin se presentan [11.1.2, 11.1.3] los planes de muestreo doble, y mltiple los cuales son
equivalentes a los planes de muestreo simple por tener curvas caractersticas de operacin
(Curvas CO) comparables.

Las tablas se presentan tanto para inspeccin normal, estricta y para inspeccin reducida [vase
el numeral 9], junto con las reglas de cambio de uno a otro sistema de inspeccin. [vase el
numeral 9.3].

3.2 PREPARACIN DE UNA ESPECIFICACIN PARA SU APLICACIN CONJUNTA CON
LA NTC-ISO 2859-1

Si de desea someter un producto al mtodo de la NTC-ISO 2859-1 de inspeccin por muestreo,
se debe llevar a cabo en forma adecuada la especificacin para un producto o servicio. Los
requisitos de tal especificacin pueden resumirse de la siguiente forma:

a) Cada uno de los requisitos de inspeccin o de ensayo relativos al producto en
cuestin, debe expresarse en forma de atributos; si la caracterstica que se va a
inspeccionar es medible, es preciso decidir si se prefiere aplicar en su lugar un
mtodo por variables.

b) Para cada uno de estos requisitos deben indicarse claramente los siguientes
factores:

1) El tem de producto

2) Una clasificacin de sus caractersticas, cuando sea pertinente

3) Si cada no conformidad debe considerarse separadamente con relacin al
NAC, o si deben agruparse (y cmo debe hacerse).

4) El NAC requerido para cada caracterstica o grupo de caractersticas.


42
5) El nivel de inspeccin necesario para cada no conformidad

6) Si debe aplicarse inicialmente una inspeccin normal o una inspeccin
estricta.

7) Cualquier limitacin impuesta a los tamaos de los lotes.

8) Si se permite realizar una inspeccin reducida.

9) Qu se debe hacer si la inspeccin se interrumpe.

10) Designacin de la autoridad responsable.

Adicionalmente, puede especificarse el tipo de plan de muestreo (simple, doble, etc.) si se desea,
aunque no es obligatorio. Si la produccin se realiza en lotes aislados, puede resultar preferible fijar el
valor de la calidad lmite en lugar del valor del NAC, para su empleo con la NTC-ISO 2859-2.

3.3 CLASIFICACIN DE NO CONFORMIDADES Y TEMS NO CONFORMES

En el caso que el muestreo de aceptacin considere la evaluacin de ms de una caracterstica
de calidad, la NTC-ISO 2859-1 presenta un mtodo mediante el cual la importancia de cada tipo
de no conformidad se hace corresponder con la influencia ejercida por cada uno de ellos, sobre
la decisin de aceptacin [vanse los numerales 5.2 y 7.3]. Las no conformidades se clasifican
generalmente de acuerdo con su gravedad, en la siguiente forma:

Clase A Aquellas no conformidades consideradas de mayor trascendencia para el
producto o servicio. A esta clase de no conformidades se debe asignar un
valor pequeo de NAC.

Clase B Aquellas no conformidades consideradas de menor trascendencia; por
esta razn, a esta clase de no conformidades se debe asignar un valor
superior de NAC que a los de la clase A, pero inferior al de la clase C y as
sucesivamente.

El nmero de clases y la asignacin de una no conformidad en una clase particular, debe
adecuarse los requerimientos de calidad de la situacin especfica.

Existen varias formas de determinar los valores de NAC de las diferentes clases. Posiblemente la
manera ms simple es agrupar todas las no conformidades en dos clases, A y B, y designar un
NAC particular para cada clase, como en el ejemplo siguiente:

Clase NAC
A

B
0,40 % de tems no conformes



43
Se tendrn entonces dos planes de muestreo distintos, correspondientes a estos dos valores de
NAC. Si un lote satisface cada uno de estos dos planes, ser aceptado; si falla en cualquiera de
los dos, no deber ser aceptado.

Otras alternativas posibles, son:

a) Establecer ms de dos clases, pero tomando la decisin para cada caso en
particular, por ejemplo:

Clase NAC
A

B

C
0,65 % no conformes

1,50 % no conformes

4,00 % no conformes

b) Atribuir un NAC distinto para cada caracterstica, posiblemente con un NAC adicional
para todas las caractersticas tomadas en conjunto o para todas las caractersticas de
una misma clase. Por ejemplo, un NAC de 1,0 para cada uno de los tres tipos de no
conformidades y un NAC de 1,5 para la sumatoria de las 3 no conformidades. Este
mtodo puede ser muy valioso cuando el artculo es complejo y presenta un gran
nmero de caractersticas independientes unas de otras. [vase el numeral 3.3].

c) Considerar en forma separada la clase A pero a continuacin, agregar todos las
no conformidades, para considerar las clases A y B como un conjunto. Se
podra, por ejemplo, dar al NAC los valores siguientes:

Clase NAC
A

A + B
1,0 % no conformes

4,0 % no conformes

En esta parte de la NTC-ISO 2859 se considerar nicamente el mtodo ms sencillo. Aunque sin
duda alguna los dems mtodos tienen su aplicacin en determinados casos, es importante darse
cuenta que la aplicacin de un plan complicado puede acarrear un trabajo considerable para el
personal de control. En la mayor parte de los casos, es preferible el mximo de simplicidad.

EJEMPLO 16.

En un producto se deben verificar cinco dimensiones sobre cada artculo. Considerando
los efectos de las tems no conformes de cada tipo, se ha decidido que las no
conformidades relativas a las dimensiones 1 y 2 deben incluirse dentro de la clase A,
mientras que los relativos a las dems dimensiones deben incluirse dentro de la clase B.


44
Consideremos que los valores de NAC se han elegido de la siguiente manera:

Clase NAC
A

B


Supngase que para ambas el nivel de inspeccin es III y que se ha decidido aplicar un
muestreo simple y una inspeccin normal con lotes de tamao 900. La letra clave del tamao
de la muestra es la K. Los planes de muestreo son los siguientes:

Clase Tamao de la muestra Nmero de aceptacin
(tems no conformes)
Nmero de rechazo
(tems no conformes)
A

B
125

125
2

7
3

8

Este modelo (el mismo tamao de muestra para cada clase pero con nmeros de aceptacin
diferentes) es tpico y facilita la realizacin del muestreo, puesto que se puede utilizar la misma
muestra fsica en cada clase (con la condicin de que la inspeccin no es destructiva para mas
de uno de los tipos de no conformidades).

Una muestra de 125 tems tomada de un lote determinado, puede dar los resultados
siguientes:

- 1 tem no conformes en la dimensin 1 nicamente.

- 1 tem no conforme en las dimensiones 2 y 4.

- 2 tems no conformes en la dimensin 3 nicamente.

- 3 tems no conformes en las dimensiones 3 y 4.

Hay dos tems con defectos de clase A, y 5 con no conformidades de clase B. Por
consiguiente, el lote puede ser aceptado.

EJEMPLO 17.

Un producto debe inspeccionarse en las siguientes condiciones: tamao del lote 500,
nivel de inspeccin II, inspeccin normal, muestreo simple. Los valores del NAC son los
siguientes:


45

Clase NAC
A

B
0,065 % no conformes

0,25 % no conformes

Los planes de muestreo deben ser:

Clase Tamao de la muestra Nmero de aceptacin
(tems no conformes)
Nmero de rechazo (tems
no conformes)
A

B
200

50
0

0
1

1

En estas condiciones, sera necesario examinar una muestra de 150 para todos los tipos de no
conformidades y a continuacin una muestra de 150 nicamente para las no conformidades de
clase A.

Puesto que de todas maneras se necesita de una muestra de 200, el inspector puede decidir
tambin inspeccionar una muestras de este tamao para clases. De esta manera, tambin se
resuelve cualquier inquietud sicolgica, al tener que ignorar no conformidades de clase B en los
150 tems examinados para la clase A. Puede proceder as siempre y cuando la autoridad
responsable lo autorice [vase el numeral 3.10]. Sirvindose de la letra clave L, el plan para los
defectos de la clase B sera:

- Tamao de la muestra: n = 200

- Nmero de aceptacin: Ac = 1

- Nmero de rechazo: Re = 2

Cuando las no conformidades se han clasificado con valores de NAC distintos para las diversas
clases, el cambio de una inspeccin a otra (por ejemplo, entre normal y estricta) se efecta
independientemente para cada clase o grupo de clases para el cual un NAC se ha especificado,
segn las aceptaciones o no aceptaciones para cada clase o grupo en particular.

EJEMPLO 18.

Las condiciones son: tamao del lote: 275, nivel de inspeccin III, muestreo simple
(letra clave H). El NAC para las no conformidades de clase A es 1,5 % de tems no
conformes, el NAC para las no conformidades de clase B es de 4 % de tems no
conformes.

La Tabla 4 presenta los resultados hipotticos y la manera en la cual se hace el cambio de un
tipo de inspeccin a otro.


46
Tabla 4. Muestreo sobre 20 lotes tomados en el curso de una inspeccin hipottica. nivel de inspeccin III (vase el ejemplo 18)

Nmero Tamao Tamao Clase A (NAC = 1,5 % de tems no conformes) Clase B (NAC = 4,0 % de tems no conformes) Resultado
del lote del lote de la
muestra
Ac Re Unida-
des no
confor-
mes
Acep-
tabi-
lidad
Medidas futuras Ac Re Unida-
des no
confor-
mes
Acep-
tabi-
lidad
Medidas futuras global
36 275 50 2 3 2 A Continuar inspecc.normal 5 6 3 A Continuar inspecc.normal A
38 275 50 2 3 3 N Continuar inspecc.normal 5 6 3 A Continuar inspecc.normal N
40 275 50 2 3 4 N Pasar a inspecc.estricta 5 6 5 A Continuar inspecc.normal N

41 275 50 1 2 2 N Continuar inspecc.estricta 5 6 4 A Continuar inspecc.normal N
42 275 50 1 2 3 N Continuar inspecc.estricta 5 6 8 N Continuar inspecc.normal N
43 275 50 1 2 1 A Continuar inspecc.estricta 5 6 6 N Pasar inspecc.estricta N
44 275 50 1 2 1 A Continuar inspecc.estricta 3 4 5 N Continuar inspecc.estricta N
45 275 50 1 2 0 A Continuar inspecc.estricta 3 4 3 A Continuar inspecc.estricta A

46 275 50 1 2 0 A Continuar inspecc.estricta 3 4 5 N Continuar inspecc.estricta N
47 275 50 1 2 1 A Pasar a inspecc.normal 3 4 2 A Continuar inspecc.estricta A
48 275 50 2 3 1 A Continuar inspecc.normal 3 4 2 A Continuar inspecc.estricta A

51 275 50 2 3 1 A Continuar inspecc.normal 3 4 2 A Pasar inspecc.normal A
A = aceptable N = no aceptable


47
Nota 5. Estos cambios frecuentes de un tipo de inspeccin a otro, son tiles a ttulo de ejemplo, aunque son muy
improbables en la prctica.

3.4 LOTES

El concepto de inspeccin de lotes se introdujo en el numeral 2.4, en donde, con relacin al
tamao del lote (vase el numeral 2.4.2), se recomienda el empleo de lotes grandes siempre y
cuando todos sus tems hayan sido elaborados esencialmente bajo las mismas condiciones. En
los casos en que exista la posibilidad de que tengan diferentes valores de calidades, no deben
combinarse lotes pequeos para formar un lote de inspeccin grande.

La formacin de los lotes se presentar ms adelante en este numeral, junto con varios ejemplos:

EJEMPLO 19.

Un productor fabrica tems que se van a inspeccionar en las siguientes condiciones: NAC:
2,5 % de tems no conformes, nivel de inspeccin II, inspeccin normal, muestreo simple.

Hay dos mquinas, designadas como A y B. Cada mquina produce 900 tems por hora;
se ha decidido que la produccin de una mquina durante una hora constituir un lote.
Las tablas, para las condiciones expresadas y tamao de lote de 900, proporciona el plan
de muestreo siguiente, bajo la letra clave J:



- Nmero de rechazo: Re = 6 tems no conformes

Su curva caracterstica de operacin puede encontrarse en la Tabla X-J (NAC = 2,5).

Podra ser ventajosa la formacin de los lotes a partir de la produccin de las dos
mquinas durante una hora, aumentando el tamao del lote de 900 tems a 1 800 tems.
Si se procede de esta manera, las tablas indicaran, bajo la letra clave K, el siguiente plan
de muestreo:




La nueva curva caracterstica se encuentra en la Tabla X-K (NAC = 2,5).
El que resulte ventajoso, depende de que las mquinas A y B produzcan o no la misma
calidad. A ttulo de demostracin, se consideraran en seguida los tres casos posibles:


48
Caso 1. Las mquinas A y B producen la misma calidad, correspondiente al 2,3 % de tems no
conformes. Esta calidad es superior al NAC y por lo tanto, se desea que la gran mayora de los
lotes sean aceptados mediante el procedimiento de muestreo.

Si el tamao del lote es de 900 y el de la muestra de 80, la curva caracterstica de operacin
muestra que el plan de muestreo aceptar casi el 99 % de los lotes, no aceptar un nmero de
lotes por encima del 1 % . El nmero de artculos inspeccionados ser de 160 por hora .

Si el tamao del lote es de 1 800 y el de la muestra de 125, la curva caracterstica de operacin
muestra que se aceptar un nmero de lotes por encima del 99 % y se rechazara un nmero de
lotes por debajo del 1 %. El nmero de artculos inspeccionados ser de 125 por hora.

Por consiguiente, resulta ms apropiado un lote de mayor tamao. Todos los lotes tanto los
aceptados como los no aceptados, tienen el mismo nivel de tems no conformes de 2,3 %

Caso 2. Las mquinas A y B producen la misma calidad, del 10 % de tems no conformes. Esta
calidad es peor que el valor del NAC, de modo que es deseable que la mayora de los lotes no
sean aceptados.

Si el tamao del lote es de 900 y el de la muestra es de 80, la curva caracterstica de operacin
indica que los lotes tendran una probabilidad de slo un 20 % de ser aceptados,. El nmero de
artculos inspeccionados ser de 160 por hora.

Si el tamao del lote es de 1 800 y el de la muestra de 125, la curva caracterstica de operacin
indica que los lotes tendran slo un 8 % de probabilidades de ser aceptados. El nmero de
artculos inspeccionados ser de 125 por hora.

Nuevamente, resulta ms apropiado un lote de tamao mayor, ya que todos los lotes tienen el
mismo valor de 10 % de tems no conformes.

Caso 3. La mquina A genera una calidad del 2,3 % de tems no conformes, mientras que la
mquina B produce una calidad del 10 % de tems no conformes.

Si el tamao del lote es de 900 y el de la muestra es de 80, la curva caracterstica de operacin
indica que cerca de un 99 % de los lotes de la mquina A sern aceptados, en tanto que un 1%
no lo sern. Con relacin a los lotes producidos por la mquina B, slo un 20 % sern aceptados,
mientras que un 80 % no lo sern.

Por lo tanto, para el conjunto:

2
% 20 % 99 +
de los lotes sern aceptados, es decir, cerca del 60 %

y
2
% 80 % 1 +
de los lotes no sern aceptados, es decir, cerca del 40 %

Los lotes aceptados tendrn un porcentaje promedio de tems no conformes de:

% 10 x
20 99
20
% 2,3
20 99
99
+
+
+
de tems no conformes,


49
es decir 3,6 % de tems no conformes si se inspeccionan 160 tems por hora.

Si el tamao del lote es de 1 800 tems y el tamao de la muestra de 125 tems, la calidad de los
lotes ser: 0,5 (2,3 % + 10 % de tems no conformes), es decir, 6,15 % de tems no conformes.
La curva caracterstica de operacin indica que el 50 % de los lotes sern aceptados, en tanto
que el otro 50 % ser rechazado, si se inspeccionan 125 artculos por hora.

El lote de mayor tamao conlleva un menor trabajo en la inspeccin, como sucede en los
casos 1 y 2; sin embargo, este menor trabajo tiene su precio. En lugar de aceptar 60 % de los
lotes con una calidad promedio de 3,6 % de tems no conformes, se aceptan 50 % de los lotes
con un 6,15 % de tems no conformes.

Naturalmente que en cualquier caso, una proporcin de aceptacin tan baja es suficiente para
alertar con tiempo al productor y al inspector sobre el hecho de que la fabricacin no se ajusta a
la calidad requerida y que se ha de tomar medidas para su mejoramiento. Si la produccin de las
dos mquinas se ha separado, ser fcil descubrir donde se encuentra la dificultad; pero si las
dos producciones estn mezcladas, no resultara obvio que slo una las mquinas es la
responsable.

En este ejemplo se ha exagerado, en que las calidades de las dos mquinas (2,3 % y 10 % de
tems no conformes, respectivamente) son muy diferentes. Si las calidades fueran ms prximas,
el hecho de combinar los lotes no conducira a resultados tan variados, aunque el principio sera
el mismo.

En la prctica, un lote contiene a menudo tems que provienen de distintos orgenes. Estos
orgenes pueden producir niveles diferentes de calidad y, por otra parte, es posible que el aporte
de cada uno no corresponda a partes iguales del nmero total del tems del lote. Como ejemplos
pueden citarse las partes de un molde de mltiples cavidades, las partes de un torno automtico
de broca mltiple, o las partes de varias lneas de fabricacin similares. Esta produccin puede
estar organizada de tal manera que no resulta fcil la identificacin de las distintas fuentes, sin el
uso de medidas especiales, y costosas; adems, puede ser necesario incluir la produccin de
todas estas fuentes con el fin de constituir lotes del tamao solicitado.

Puede preguntarse ahora, si para un plan de muestreo, la curva caracterstica es vlida para
lotes que incluyen tems de diferentes orgenes, que pueden haber sido producidos a diferentes
niveles de calidad y por lo tanto no son estrictamente homogneos.

La respuesta es que no se afecta en manera alguna la validez de la curva caracterstica, aunque
puede conducir a la no aceptacin de producto bueno (puesto que est mezclado con productos
malos) o a la aceptacin de un producto malo (puesto que est mezclado con productos buenos),
mientras que el producto bueno habra podido ser aceptado y el malo no aceptado si se hubieran
mantenido separados.

No obstante, si una o varias fuentes tienen un nivel de calidad notablemente peor al de los otros,
el efecto se har sentir rpidamente sobre el porcentaje de aceptacin del conjunto y habr que
procederse a una investigacin. Esta indicar el origen de los productos no conformes y, si no se
puede corregir, debera aislarse y proceder a una inspeccin por separado.


50
3.5 SIGNIFICADO DEL NIVEL DE INSPECCIN

El nivel de inspeccin establece una relacin entre el tamao del lote y el tamao de la muestra
La configuracin de las tablas es tal que, cuando el tamao del lote es grande, la muestra es, en
general, mayor que cuando el lote es pequeo. No obstante, el incremento no es directamente
proporcional: para un lote muy grande, la muestra es proporcionalmente menor que para un lote
pequeo.

En la Tabla I de la NTC-ISO 2859-1 se encuentran tres niveles de inspeccin generales,
numerados I, II y III y cuatro niveles especiales de inspeccin numerados S-1, S-2, S-3 y S-4. Los
niveles para usos generales son los ms comnmente utilizados, y se designa el uso del nivel II,
a menos que se haya especificado uno de los otros niveles. (vase el numeral 10.1).

Con el nivel I se usara menos de la mitad del tamao de la muestra que con el nivel II, mientras
que con el nivel III se usara alrededor de una vez y media el tamao de la muestra dada por el
nivel II.

EJEMPLO 20.

Para un tamao de lote de 600 tems, los tamaos de las muestras correspondientes a
los distintos niveles de inspeccin, son los siguientes:

Nivel de
inspeccin
Letra clave Tamao de la muestra
(Muestreo simple)
I

II

III
G

J

K
32

80

125

No obstante, hay que recordar que para algunos NAC, las flechas situadas en las tablas sealan
tamaos de muestra diferentes de stos.

Una tabla completa de tamaos de muestra proporcionales a los tamaos de los lotes, requerira
que se tuvieran en cuenta tambin los NAC, debido a las flechas. Incluso para un valor dado, la
relacin no es regular puesto que nicamente son utilizables algunos valores del tamao de la
muestra, mientras que todos los tamaos de lote son posibles. Semejante tabla solo servira para
confundir, en lugar de aclarar. Sin embargo, la Tabla 5 resume esta situacin.

Los niveles especiales de inspeccin estn concebidos para las situaciones en las que el
tamao de la muestra debe ser pequeo. No deben especificarse antes de haber examinado
cuidadosamente sus consecuencias, evaluando los riesgos asociados al muestreo, mediante el
estudio de la curva caracterstica.

La NTC-ISO 2859-1 determina que "Cuando se establezca uno de los niveles de inspeccin
S-1 a S-4, debe tenerse mucho cuidado en evitar el empleo de valores de NAC contradictorios
con estos niveles de inspeccin " [vase el numeral 10.1]. Esto significa que el objetivo
principal de los niveles especiales de inspeccin es el de mantener muestras pequeas cuando
sea verdaderamente necesario. Por ejemplo, en la columna S-1, las letras clave no van ms
all de la D, lo cual equivale a una muestra simple de 8; pero no servira de nada especificar


51
S-1 con la esperanza de mantener el tamao de la muestra de 8 o menos, si el NAC fuera 0,10
para el cual, el tamao mnimo de muestra es de 125.

Tabla 5. Relacin entre el tamao de la muestra y el tamao del lote
en los tres niveles de inspeccin para usos generales

Tamao de la muestra
expresada como
porcentaje del tamao
del lote
Nivel I Nivel II Nivel III
(muestreo simple
inspeccin normal)
Tamao del lote Tamao del lote Tamao del lote
No ms de 50 %
No ms de 30 %
No ms de 20 %
No ms de 10 %
No ms de 5 %
No ms de 1 %
Por lo menos 4
Por lo menos 7
Por lo menos 10
Por lo menos 50
Por lo menos 640
Por lo menos 2 500
Por lo menos 4
Por lo menos 27
Por lo menos 160
Por lo menos 1 250
Por lo menos 4 000
Por lo menos 50 000
Por lo menos 10
Por lo menos 167
Por lo menos 625
Por lo menos 2 000
Por lo menos 6 300
Por lo menos 80 000
Nota. Esta tabla debe considerarse nicamente a manera de indicacin. Los valores del tamao del
lote que figuran son tales, que todos los tamaos mayores cumplen con la condicin requerida. En la
mayor parte de los casos, algunos tamaos de lote ms pequeos tambin cumplen; pero en todos los
casos un tamao de lote inferior en una unidad a los citados no cumplir con sta.

La informacin sobre la calidad de fabricacin obtenida mediante el examen de las muestras,
depende del tamao absoluto de las muestras y no del porcentaje del lote que se examina. Por
ello, es necesario preguntarse: Por qu depende el tamao de la muestra del tamao del
lote?

Por tres razones:

a) Cuanto mayor es lo que hay en juego, ms importante resulta tomar una buena
decisin. El empleo correcto de las tablas conduce al resultado siguiente:
partiendo de un buen proceso, la probabilidad de aceptacin de los lotes, crece
a medida que el tamao del lote aumenta, mientras que, inversamente, para los
lotes que provienen de un mal proceso, crece la probabilidad de rechazo.

b) Cuando se tiene un lote de gran tamao, se podra tomar una muestra que sera
costosa si se tratara de un lote pequeo; por ejemplo: resulta fcil de justificar
econmicamente una muestra de tamao 80 tomada de un lote de 1 000,
mientras que sera relativamente oneroso tomar una muestra de 80 de un lote
de 100.

c) Una correcta eleccin al azar (vase el numeral 2.25) es ms difcil de asegurar
si la muestra es una proporcin demasiado pequea del lote.

3.6 DETERMINACIN DE UN NIVEL DE INSPECCIN

Cuando se utiliza la NTC-ISO 2859-1 en las condiciones para las cuales ha sido concebida, es
decir, para una gran serie de lotes, es necesario, antes de utilizar las tablas, fijar el NAC y el
nivel de inspeccin. Frecuentemente ser necesario fijar estos datos antes de empezar la
fabricacin.


52
Una vez fijado el NAC, considerado como la calidad exigida en el promedio de un proceso
(vase el numeral 2.7), se debera establecer el nivel de inspeccin [vase el numeral 10.1],
teniendo en cuenta la calidad que debera tener una gran probabilidad de no ser aceptada, si
un lote ocasional con dicha calidad fuese presentado a inspeccin. Es posible, buscar un nivel
de inspeccin que d la curva caracterstica exigida para este propsito cuando el tamao del
lote se sita entre los lmites habitualmente esperados.

En el caso que tanto el NAC y la calidad lmite (CL) son especificados, es posible encontrar
una curva caracterstica a partir de las tablas (Tablas X) que satisfaga las dos condiciones y
obtener as la letra clave del tamao de muestra apropiado.

Entonces se puede encontrar el nivel de inspeccin (Tabla I) que da esta letra clave para un
determinado intervalo de tamaos de lote que contenga el tamao que se espera producir.

EJEMPLO 21.

Se ha fijado un NAC de 1,5 % de tems no conformes y se desea tener al menos un 80 %
de probabilidad de no aceptar un lote que contenga 6 % de tems no conformes, si tal lote
se presentara en el transcurso de una inspeccin normal.

Examinando las curvas caractersticas de las tablas adicionales, se encuentra que
ninguna de las letras clave A a J, satisface esta condicin para un NAC de 1,5, pero la
letra clave K la satisface casi con exactitud. En efecto, la probabilidad de no aceptacin
del lote con 6 % de tems no conformes es ligeramente inferior al 80 %, pero es
suficientemente prxima para la mayora de propsitos prcticos. Las letras clave L - P,
satisfacen ampliamente esta condicin.

Supngase que el tamao de lote de 1 000 tems. Se puede especificar el nivel de
inspeccin III, puesto que dar la letra clave K para un tamao de lote de 1 000. Si en
una etapa posterior se aumenta el tamao del lote, el nivel de inspeccin fijado puede
conducir a tomar letras clave siguientes a la K. Esto se considera satisfactorio, ya que
se hace buen uso del tamao aumentado del lote al reducir los riesgos de aceptar lotes
malos o de no aceptar lotes buenos. Desde este punto de vista, es intil establecer un
lmite superior para el tamao del lote (aunque probablemente ser necesario fijar este
lmite por otras razones). Por el contrario, ser preciso tener un lmite inferior para estar
seguros de no utilizar letras claves, anteriores a la K. Para un nivel de inspeccin III, el lmite
inferior del tamao del lote no debe ser inferior a 501, para asegurar el uso de la letra K.

EJEMPLO 22.

El NAC se fija en el 0,40 % de tems no conformes. Para lotes de 10 000, quiere tener
al menos 95 % de probabilidades de no aceptacin cuando se presenten lotes que
tengan el 1 % de tems no conformes durante una inspeccin normal.

Observando las curvas caractersticas para un NAC del 0,40 %, se encuentra que
incluso la letra clave R no puede satisfacer la condicin exigida. Ser necesario
entonces preguntarse si esta condicin es verdaderamente esencial. Si se decide que
verdaderamente lo es, la nica forma ser reforzar la severidad del NAC. Si se lleva al
0,25 % de tems no conformes, se encuentra que la letra clave R cumple bien la
condicin exigida.


53
Como ningn nivel de inspeccin de la Tabla I da la letra clave R para un lote de 10 000,
es necesario especificar la letra R como tal, en lugar de especificar un nivel de inspeccin.

Hay que observar que los niveles de inspeccin dados no son los nicos niveles
posibles; a veces es preciso fijar un nivel especial para responder a algn caso
determinado. Atribuir una letra clave constante, cualquiera que sea el tamao del lote,
puede ser un caso particular de tal nivel " especial", si, por ejemplo fuera necesario fijar
una curva caracterstica bien definida, como en el ejemplo 21.

Al comienzo de la produccin o cuando los registros sobre la produccin anterior no
estn disponibles, puede ser preferible aplicar una inspeccin al 100 % durante cierto
tiempo, para determinar la capacidad del proceso para cumplir con la calidad deseada.

Alternativamente, si se va a utilizar un procedimiento de muestreo, puede ser
conveniente la eleccin del nivel ms alto de inspeccin, (prctico o econmico), para la
primera serie fabricada. A continuacin se puede ir cambiando a un nivel ms bajo si el
promedio de un proceso registrado indica que a este nuevo nivel de inspeccin el riesgo
del consumidor es aceptable. Debe notarse que la eleccin de un nivel de inspeccin
ms bajo incrementa el riesgo del consumidor en el CL en mayor medida que lo que
aumenta el riesgo del producto de que no la sea aceptada un lote con una calidad igual
o mejor que el NAC.

Otro caso de empleo de varios niveles de inspeccin se produce cuando las mismas
tablas se aplican al mismo producto por dos organismos de inspeccin distintos, tales
como un contratista, un subcontratista o una empresa industrial y un organismo
gubernamental de inspeccin. Los dos organismos deben adoptar el mismo NAC
aplicados a las mismas caractersticas, pero el consumidor puede solicitar al inspector
del productor que aplique un nivel de inspeccin ms elevado que el que se va a aplicar
en el ensayo de recepcin. Existen otros mtodos de muestreo aplicables a este tipo de
situacin, pero quedan fuera del objeto de esta parte de la norma.

Tambin puede ser necesario utilizar un nivel de inspeccin bajo por razones de orden
econmico o por la naturaleza eventualmente destructiva de los ensayos. En este caso, el
inspector debe verificar, la totalidad de cada muestra (evitando las inspecciones
interrumpidas) y estimar peridicamente la calidad media de la produccin. Si se registra
esta media en forma de un grfico de control (vase por ejemplo la norma ISO 8258),
ste mostrar claramente si se cumplen las condiciones de calidad. Aunque no se puede
tomar acciones sobre la produccin pasada, la informacin permitir tomar medidas que
aporten mejoras para el futuro.

Una objecin a un nivel de inspeccin bajo es que la calidad lmite (CL), a un riesgo del
consumidor del 10 % por ejemplo, es alto comparado con el NAC. No obstante, si se
examinan los registros relativos a una serie continua de lotes, puede observarse que el
tamao de la muestra que se habra tomado para un plan de un nivel de inspeccin
ms alto y, posiblemente, de una letra clave ms alta, en el cual el riesgo del
consumidor para esta CL es ms aceptable. Si entonces se comparan los resultados
acumulados con este nuevo plan, podrn revisarse las decisiones de aceptacin o no
aceptacin tomadas bajo plan original.


54
EJEMPLO 23.

Un organismo exterior de inspeccin se ocupa del examen de la produccin de dos
productores A y B. Se propone aplicar una inspeccin por muestreo utilizando un NAC
del 1 % de tems no conformes, en lugar del examen actual que se realiza al 100 %

El productor A produce lotes de 4 000 tems, con un promedio de un proceso de 0,8 % de
tems no conformes. Se encuentran ocasionalmente lotes que contienen hasta el 4 % de
tems no conformes.

Con el fin de tener una gua para la eleccin del nivel de inspeccin, se estudian las curvas
caractersticas para los niveles de inspeccin general I, II y III (vase la Figura 6). Se juzga
necesario un aseguramiento superior al dado por el plan de nivel II (n = 200, Ac = 5, Re = 6),
de no aceptar lotes que contengan un 4 % de tems no conformes. En consecuencia, se
elige el nivel III y se emplea el plan n = 315, Ac = 7, Re = 8. Para la calidad de 4 % de tems
no conformes, la probabilidad de aceptacin es de 19 %, usando el nivel II, y con el plan del
nivel III baja a 7 %

El productor B produce lotes de tamao similar (alrededor de 3 500 tems) pero tiene un
mejor nivel de calidad. El promedio de un proceso real vara entre 0,4 % y 1,7 % de
tems no conformes.

En la Figura 6, se aprecia que hay una diferencia prctica muy pequea entre las
curvas caractersticas correspondientes a las letras clave J, L y M dadas en la Tabla I
para los niveles de inspeccin I, II y III respectivamente, para una calidad de 1,7 % de
tems no conformes. Por consiguiente, se especifica el nivel de inspeccin I,
consiguiendo as una economa importante en el nmero de tems inspeccionados por
muestreo. Se podra considerar la posibilidad de recompensar al productor por la
reduccin de los costos de la inspeccin.

3.7 VALORES DE NAC PREFERIDOS

Las tablas de la NTC-ISO 2859 proporcionan 26 valores de NAC escalonados desde 0,010 (es
decir 1 tem no conforme por cada 10 000 tems del producto) hasta 1 000 (es decir 1 000 no
conformidades por cada 100 tems de producto o un promedio de 10 no conformidades por tem).
Estos 26 valores se eligen de tal manera que cada uno de ellos es aproximadamente una vez y
media el precedente (la relacin media es en realidad la raz quinta de 10, o sea, 1,585).

Las tablas pueden utilizarse para inspeccionar un determinado producto cuando el NAC
especificado corresponde a uno de los NAC preferidos. Sin embargo, si un NAC especificado
no figura entre los NAC preferidos, las tablas no se pueden aplicar (vase el numeral 4.6). En
este caso, debe dirigirse a la persona, quin especific el NAC, para evaluar, si uno de los
NAC preferidos podra ser aceptable. En caso contrario, se tendr que fijar un plan de
muestreo en funcin del NAC exigido (vase el numeral 3.8).

Los valores muy altos de NAC, de 100 en adelante, se emplean muy poco en la prctica, ya
que implican que un producto con no conformidades en cada tem puede ser considerado
satisfactorio. Est claro que este caso solo puede presentarse cuando las no conformidades
especificadas son menores y la unidad de producto es relativamente compleja, tal como un
vehculo completo.


55

Figura 6. Comparacin de las curvas OC, para determinar el nivel de inspeccin
(NAC de 1 % de tems no conformes, inspeccin normal)

EJEMPLO 24.

Para inspeccionar un tejido que servir posteriormente para confeccionar ropa, la
unidad de producto podra ser una gran superficie del tejido. Para inspeccionar los
tems no conformes secundarios del tiraje, podra muy bien aceptarse un promedio de 4
no conformidades por metro cuadrado, en cuyo caso se podra especificar un NAC de
400 no conformidades por cada 100 metros cuadrados.

3.8 VALORES DE NAC NO PREFERIDOS

Por facilidad administrativa, se aconseja utilizar NAC preferidos siempre que sea posible. No
obstante, el modelo de la NTC-ISO 2859-1 permite disear fcilmente planes de muestreo
coherentes con el procedimiento de dicha norma para otros valores de NAC.

La Tabla 6 muestra los valores de NAC y los tamao de la muestra correspondiente a planes
dobles y mltiples expresados en trminos de n, el tamao de muestra para muestreo sencillo.


56
Tabla 6. Sumario de los planes de muestreo de la NTC-ISO 2859-1 para la inspeccin normal y estricta

Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
de la
muestra
Tamao
acumu-
lado de
la
muestra
NAC (inspeccin normal)
12,5/n 50/n 80/n 125/n 200/n 315/n - 500/n - 800/n - 1 259/n
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
Simple n n 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 8 9 10 11 12 13 14 15 18 19 21 22
Doble 0,63 n
0,63n
0,63n
1,26n
* 0
1
2
2
0
3
3
4
1
4
4
5
2
6
5
5
3
8
7
9
3
11
7
12
5
12
9
13
6
15
10
16
7
18
11
19
9
23
14
24
11
26
16
27

Mltiple
0,25n
0,25n
0,25n
0,25n
0,25n
0,25n
0,25n
0,25n
0,50n
0,75n
n
1,25n
1,50n
1,75n
* #
#
0
0
1
1
2
2
2
2
3
3
3
3
#
0
0
1
2
3
4
2
3
3
4
4
5
5
#
0
1
2
3
4
6
3
3
4
5
6
6
7
#
1
2
3
5
7
9
4
5
6
7
8
9
10
0
1
3
5
7
10
13
4
6
8
10
11
12
14
0
2
4
6
9
12
14
4
7
9
11
12
14
15
0
3
6
8
11
14
18
5
8
10
13
15
17
19
0
3
7
10
14
18
21
6
9
12
15
17
20
22
1
4
8
12
17
21
25
7
10
13
17
20
23
26
1
6
11
16
22
27
32
8
12
17
22
25
29
33
2
7
13
19
25
31
37
9
14
19
25
29
33
38
20/n 80/n 125/n 200/n 315/n - 500/n - 800/n - 1 250/n -
NAC (inspeccin estricta)
* Usar muestreo simple


57
EJEMPLO 25.

Se especifica un NAC de 2 % de tems no conformes; se requiere tener un conjunto de
planes para muestreo sencillo e inspeccin normal y estricta. La columna para un
nmero de aceptacin de 0 da un valor de NAC de 12,5/n = 2 para inspeccin normal.
Fijando 12,5/n = 2 (es decir, un 2 % de tems no conformes) se obtiene n = 6,25, lo que
redondeado al entero ms cercano da 6.

De igual manera, la columna para un nmero de aceptacin de 1 da un NAC de 50/n.
Fijando 50/n = 2, se obtiene n = 25. Las otras columnas se pueden utilizar de igual
manera para obtener los siguientes planes:

Tamao de muestra Ac Re
6 0 1
25 1 2
40 2 3
63 3 4
100 5 6
158 7 8
250 10 11
400 14 15
625 21 22

Para efectuar una inspeccin estricta la escala inferior que da los NAC en lugar de la
superior. Se encontrar entonces que:

Tamao de muestra Ac Re
10 0 1
40 1 2
63 2 3
100 3 4
158 5 6
250 8 9
400 12 13
625 18 19

EJEMPLO 26.

Se necesitan planes dobles y mltiples correspondientes a un plan sencillo con tamao
de muestra de 100, Ac = 5, Re = 6 como el del ejemplo 25,

Buscando en la columna para Ac = 5 y usando n = 100, hallamos:

Plan doble:

Tamao de la muestra Tamao acumulado de
la muestra
Ac Re
63 63 2 5
63 126 6 7

y, plan mltiple:


58

Tamao de la muestra Tamao acumulado de
la muestra
Ac Re
25 25 # 4
25 50 1 5
25 75 2 6
25 100 3 7
25 125 5 8
25 150 7 9
25 175 9 10

Sin embargo, este procedimiento no proporciona informacin suplementaria como, por
ejemplo los nmeros lmites para una inspeccin reducida. Por consiguiente, la
utilizacin de los NAC preferidos como punto de partida debe convertirse en una
prctica regular.

3.9 DETERMINACIN DEL NAC

En el numeral 2.6 se introduce el concepto del NAC, los puntos de vista del consumidor y del
productor, en relacin con los requisitos de cada uno, y el efecto que del empleo del elemento
y la consecuencia que tendr una falla en el establecimiento del NAC.

Tambin es necesario considerar el nmero de componentes que entrarn en la fabricacin de
un equipo. Si, por ejemplo, se decide que no debe haber ms de 10 % de tems no conformes,
teniendo en cuenta que cada equipo tiene tres componentes de igual importancia, cada uno de
los tres componentes podr tener un NAC el 3,5 si posee diez componentes, estos no deben
tener un NAC mayor de 1 %

En la frmula que sigue, si k es el nmero de componentes que contiene el conjunto, X es el
NAC de este conjunto, y x es el NAC de cada componente, la ley de multiplicacin de las
probabilidades establece que:

k
100
x 100
1
100
X

=

No obstante, el valor de X no tiene en cuenta los conjuntos no conformes que podran ser
producidos por un procedimiento impropio de montaje.

En este caso, el productor, probablemente, desear elegir un NAC, para cada componente y
calcular los resultados que pueden esperarse del equipo completo, mientras que el consumidor
desear especificar un NAC para el equipo completo y calcular cul debe ser la calidad de los
componentes. En general, este segundo mtodo es probablemente el ms razonable ya que lo
que importa son las caractersticas de funcionamiento del equipo completo, sin embargo este
mtodo es el ms costoso puesto que conduce casi siempre a adoptar NAC ms severos. Por
otra parte, hay que aceptar que una buena calidad para un tem complejo es inevitablemente
ms onerosa que una calidad similar para un tem ms simple.
Un examen del nivel de calidad producido y tolerado en el pasado, a menudo puede responder
al interrogante relativo al nivel de calidad que se puede prever razonablemente segn el precio
que est dispuesto a pagar el consumidor y aplicando los mtodos de produccin proyectados.
Cuando se trata de un tem nuevo del que no hay antecedentes en producciones anteriores, es
posible conseguir informes sobre otros tems similares. Los clculos promedios de un proceso


59
pasado pueden servir de ayuda. El hecho de referirnos a la calidad obtenida en el pasado no
implica que los niveles de calidad anteriores son sagrados, o siguiera que sean lo
suficientemente buenos. El costo de produccin de un tem no conforme es prcticamente
igual al de un tem conforme, por lo que una reduccin en el porcentaje de tems no conformes
resulta en una reduccin en el costo de produccin. Esto es solo uno de los factores a tomar
en cuenta al fijar un NAC razonable.

El mero hecho de fijar un NAC no es suficiente para asegurar al consumidor de que no sern
aceptados lotes con una calidad peor que el NAC. En primer lugar, el NAC expresa un
promedio. Algunos lotes pueden tener un porcentaje de tems no conformes ligeramente peor
que el NAC, es probable que algunos lotes sean aceptados antes de que se justifique un
cambio a una inspeccin estricta, an despus de cambiar a una inspeccin estricta, es
probable que alguno que otro lote de una calidad peor que el NAC sea aceptado. No obstante,
puede esperarse que el consumidor obtenga un producto con una calidad promedio mejor a la
correspondiente al NAC, ya que el muestreo contiene un estimulo econmico, debido a que el
productor no puede tener ms que una pequea porcin de lotes no aceptados, por lo que se
tomarn las medidas necesarias para mejorar su produccin si sobrepasa esta porcin.

Pudiera pensarse que esto no es muy satisfactorio, desde el punto de vista del consumidor,
siendo que depende de lo que probablemente ocurrir y no de lo que seguramente ocurrir.
Pero, en la prctica, la mayor parte de los fabricantes procuran vigilar que el promedio de un
proceso no sea peor a la caracterizada por el NAC, aunque slo sea para no tener dificultades
por no aceptaciones demasiadas frecuentes de sus lotes. De todas formas, la proteccin del
consumidor depende tanto de la parte inferior de la curva caracterstica, como de su parte
superior que tiene ms que ver con el NAC; la parte inferior se puede ajustar examinando la
calidad lmite (CL) de cada plan considerado.

No es necesario comenzar siempre por la eleccin del NAC y encontrar el resto en funcin de
ste. Tambin es posible, cuando las condiciones lo exijan, entrar a las tablas procediendo a la
inversa; es decir, eligiendo un plan con otro criterio y determinar a continuacin el NAC
especificado, para llegar al resultado deseado. En este caso, el NAC resulta un ndice cmodo
que permite la utilizacin de tablas normalizadas y tambin representa una ayuda considerable
para resolver una pregunta que, a menudo, se hace el productor. A qu nivel de calidad es
preciso producir para que la mayor parte de los lotes sean aceptados ?

Si se adopta este mtodo a la inversa, se puede comenzar por elegir un punto situado en la
parte baja de la curva, donde se estima especialmente importante limitar la probabilidad de
aceptacin de un lote de una calidad muy pobre, o con algn criterio de orden econmico. Con
respecto al criterio econmico, se ha sugerido que simplemente se estime el punto de
equilibrio; es decir, aquella calidad de lote donde el mal causado por la aceptacin de los tems
no conformes en un lote es exactamente igual al costo causado al no aceptar dicho lote.

Si se puede estimar la calidad de este punto de equilibrio sera conveniente escoger un plan
donde la calidad diera una expectativa del 50 % de lotes aceptados. No es que una
probabilidad de aceptacin con esta calidad sea particularmente deseable (por definicin, al
decir que el lote est en el punto de equilibrio, es indiferente si el plan lo acepta o no), sino que
da la seguridad de que hay una probabilidad mayor al 50 % de aceptar lotes de una calidad
mejor que esta calidad de equilibrio y una probabilidad mayor al 50 % de no aceptar lotes de
una calidad peor que sta.

Finalmente, teniendo todos estos factores en consideracin, es deseable escoger uno de los
valores del NAC que se han presentado en las tablas, ya que de otro modo, las tablas no
tendran aplicacin y tendra que disearse un plan especial.


60
En la norma ISO/TR 8550 se presenta informacin adicional a este respecto.

3.10 OBTENCIN DE UN PLAN DE MUESTREO A PARTIR DE LAS TABLAS DE LA NTC-
ISO 2859-1

Antes de establecer un plan de muestreo a partir de las tablas, es necesario conocer cinco
cosas, como lo siguiente:

a) El nivel de calidad aceptable NAC (vase el numeral 2.6).

b) El nivel de inspeccin (vase el numeral 3.5). En general, se fijan a) y b) para un
producto dado al comienzo de un contrato y permanecen constantes durante
toda la duracin del mismo.

c) Si se utilizara inspeccin normal, estricta o reducida. Con relacin a este punto,
la decisin se toma estudiando los resultados de las muestras de los ltimos
lotes, segn se explica ms adelante (vanse los numerales 3.11 a 3.14). Por el
momento se supondr que se utiliza la inspeccin normal.

d) Si se utilizar un muestreo sencillo, doble o mltiple. Por el momento se
supondr que se trata de un muestreo sencillo.

e) El tamao del lote.

EJEMPLO 27.

Supongamos que el NAC es 1,0, el nivel de inspeccin es II, y el tamao del lote es de 2
500. El primer aspecto que se debe determinar es la letra clave del tamao de la muestra
(designada habitualmente como letra clave). Para un tamao de lote de 2 500 y para un
nivel de inspeccin II, la Tabla I indica que la letra clave es K.

En la tabla general apropiada (Tabla II-A) se encuentra que, para un muestreo sencillo, el
tamao de la muestra es 125. Para una inspeccin normal, los NAC Figuran en la parte
superior de la tabla y, bajo el valor 1,0, se encuentran los valores de Ac = 3 y Re = 4.

El plan de inspeccin apropiado es:

- Tamao de la muestra n = 125 tems

- Nmero de aceptacin Ac = 3

- Nmero de rechazo Re = 4

Alternativamente, se podra utilizar la tabla adicional X-K-2.


61
De nuevo se encuentra un tamao de muestra de 125; en la columna correspondiente a un
NAC de 1,0, se encuentra, como antes, los nmero de aceptacin y de rechazo igual a 3 y 4,
respectivamente.

EJEMPLO 28.

Supngase que el NAC es 0,40, el nivel de inspeccin I y el tamao del lote 230. La Tabla I da
E como letra clave.

Consultando la Tabla II-A, se observa que no hay ningn plan que corresponda a la
letra E y a un NAC de 0,40, pero una flecha que apunta hacia abajo, dirige al usuario a
la letra G y el plan requerido en este caso es:

- Tamao de la muestra n = 32 tems.



Alternativamente se puede consultar la tabla adicional X-E-2, pero esta pgina no tiene
una columna para un NAC de 0,40. En su lugar, aparece el smbolo de un tringulo que
apunta hacia abajo para los NAC inferiores a 1,0. Al pie de pgina se encuentra el
significado de este tringulo: "Utilice la letra clave ms prxima siguiente para la cual
existen nmeros de aceptacin y de rechazo". Si se interpreta este tringulo como una
punta de flecha, esta apunta en la direccin en que se encontrar la tabla apropiada.
Esta lleva a la letra F donde, de nuevo, no se encuentra el valor correspondiente a un
NAC de 0,40 y se sigue a la letra G para encontrar el mismo plan establecido
anteriormente.

Es importante recordar que, si un tringulo o una serie de tringulos dirige al usuario de
una pgina a otra en las tablas adicionales, o que si una flecha dirige al usuario de una
letra a otra en las tablas generales, el tamao de muestra que se va a utilizar es el
indicado en la nueva pgina o en la nueva lnea a la que se ha llegado, y no el tamao
indicado en la pgina o lnea de origen (vase el numeral 10.3).

Cuando se encuentran flechas o tringulos que apuntan hacia arriba, su significado es
similar. Hacen referencia a los casos en los cuales no se encuentran valores altos de
NAC en las tablas adicionales, para las letras claves indicadas en la Tabla I, y el
smbolo tiene el siguiente significado: "Utilice el tamao de muestra precedente para el
cual se encuentren disponibles los nmeros de aceptacin y de rechazo". Los tringulos
apuntan en la direccin en la cual se encuentra la tabla apropiada.

EJEMPLO 29.

Se supone un NAC de 0,015, un nivel de inspeccin III y un tamao de lote de 120. La
Tabla I da como letra clave G, pero al consultar la Tablas II-A hay una flecha que
conduce a la letra P. A la cual corresponde un tamao de muestra de 800, que excede
al tamao del lote.


62
En este caso, se debe tomar como muestra la totalidad del lote, es decir 120. El nmero
de aceptacin y rechazo permanece como 0 y 1.

La NTC-ISO 2859-1 establece que los valores del NAC iguales o inferiores a 10 pueden
expresar un porcentaje de tems no conformes o bien un nmero de no conformidades
por cada 100 tems, en tanto que los valores del NAC superiores a 10 slo expresan no
conformidades por cada 100 tems (vase el numeral 3.5). Es necesario, decidir si
conviene contar las no conformidades o los tems no conformes. En funcin de esta
decisin debe definirse a continuacin el valor del NAC. Por esta razn, los ejemplos
26, 27 y 28 estn incompletos, porque los valores del NAC estn en forma de nmero
sin precisar la unidad, al igual que los nmeros de aceptacin y de rechazo, que no
tendra ningn sentido en la prctica. Estos ejemplos sirven nicamente para mostrar
cmo se obtiene un plan de muestreo sirvindose de estas tablas.

EJEMPLO 30.

En el ejemplo 27, el NAC tiene un valor de 1,0 y el plan de muestreo es:

- Tamao de muestra n = 125 tems



No obstante, el NAC debe definirse en trminos del porcentaje de tems no conformes o
en nmero de no conformes o en nmero de no conformidades por cada 100 tems.

Si el NAC fuera de 1,0 % de tems no conformes, el plan de muestreo sera:


- Nmero de aceptacin Ac = 3 tems no conformes

- Nmero de rechazo Re = 4 tems no conformes

Si el NAC fuera de 1,0 tems no conformes por cada 100 tems, el plan de muestreo
sera:


- Nmero de aceptacin Ac = 3 tems no conformes

- Nmero de rechazo Re = 4 tems no conformes

Debe advertirse que las tablas se utilizan exactamente de la misma manera en ambos casos


63
3.11 INSPECCIN NORMAL

Se debe recordar que un NAC corresponde a la frontera de separacin entre los productos
buenos y los malos en la escala de calidades. Cuando se ha especificado un NAC para un
determinado producto, lo ideal sera disponer de un sistema, gracias al cual los lotes pudieran
ser siempre aceptados para una calidad mejor que la caracterizada por el NAC y no ser
aceptados para una calidad inferior a la caracterizada por el NAC; es decir, una curva
caracterstica que descendiera verticalmente sobre el NAC, como la trazada en la Figura 7. No
obstante, este ideal es algo que ningn plan de muestreo puede dar, por lo que hay que
aceptar una curva que no desciende verticalmente.

Por otra parte, la curva caracterstica no puede cortar esta lnea vertical ideal ms que en un
solo punto, ahora bien: En qu punto debe cortarla ?

Una solucin posible consiste en permitir que la curva corte a la lnea vertical cerca de la base
del diagrama, como se muestra en la Figura 8. Tal plan de muestreo ofrece la ventaja de
proteger al consumidor, ya que si se presenta para aceptacin un lote cuya calidad es peor a la
caracterizada por el NAC, habr una gran probabilidad de que sea rechazado. No obstante,
esta solucin no es satisfactoria desde el punto de vista del productor: no se sentir
perjudicado si al presentar tems de peor calidad que la caracterizada por el NAC, la mayor
parte de ellos son rechazados; pero, por el contrario, tendr razn para sentirse perjudicado si,
al presentar tems de mejor calidad que la caracterizada por el NAC, muchos de ellos resultan
rechazados. En el caso representado en la Figura 8, solamente se aceptara algo ms de un
lote entre cinco, si la proporcin de tems no conformes fuera igual a la mitad del NAC, y se
aceptara menos de la mitad de los lotes aunque la proporcin de tems fuera igual a un cuarto
del NAC. Es evidente, que esto no es satisfactorio, ya que, si el productor desea evitar
rechazos demasiado frecuentes, est obligado a suministrar una calidad netamente superior a
la realmente necesaria. Se corre el riesgo de tener dificultades de produccin, de aumentar
bastante el precio de los productos y, adems, de deteriorar las relaciones entre el productor y
la autoridad responsable de la inspeccin.

Hay otra solucin: permitir que la curva corte a la lnea vertical en la parte superior del grfico,
como se indica en la Figura 9. Esta solucin satisface al productor, puesto que basta con que
introduzca lotes de una calidad igual o superior a la caracterizada por el NAC, para que tenga
casi la certeza de que sern aceptados. Sin embargo, el consumidor ser ahora quin se
sentir perjudicado ya que si el productor presenta lotes de calidad peor a la caracterizada por
el NAC, la probabilidad de que sean aceptados podra ser elevada. Por ejemplo, en el caso
representado en la Figura 9, si se presentan lotes que tienen una proporcin de tems no
conformes dos veces mayor que el NAC, cerca del 60 % de ellos sern aceptados.

Cuando el tamao de la muestra es relativamente pequeo para un NAC dado, un
aseguramiento tan elevado para el productor acarreara al consumidor un riesgo demasiado
grande.


64

Figura 7. Curva caracterstica de operacin ideal pero irrealizable

Por consiguiente, para nmeros de aceptacin pequeos, es obligatorio aceptar una
probabilidad de aceptacin ms pequea que la que corresponde al NAC. La Figura 10
muestra la razn de esto. Las curvas caractersticas se presentan para un NAC del 1 % de
tems no conformes y para los tamaos de muestra ms pequeos y ms grandes que
corresponden a este NAC. Si la calidad es buena, el productor tiene un mejor aseguramiento
con una muestra muy grande que con una pequea, pero la curva va descendiendo con una
pendiente ms rpida segn se va otorgando una mayor proteccin al consumidor. Una
inspeccin normal, tal como la mostrada en el ejemplo de la Figura 9, est concebida para
proteger al productor contra la eventualidad de un porcentaje elevado de lotes rechazados, aun
cuando produzca una calidad mejor que la caracterizada por el NAC. Tambin, para la
inspeccin normal, las curvas caractersticas cortan a la lnea vertical del NAC en la proximidad
de la cumbre, pero el nivel exacto de la interseccin vara de un plan a otro segn el valor del
producto: "NAC x Tamao de la muestra", o lo que viene a ser lo mismo, segn el valor del
nmero de aceptacin.

Con relacin a la Tabla 7, se puede observar que un tamao de muestra grande, para un NAC
dado, que conduzca a un valor del producto: "NAC x Tamao de la muestra" de al menos 200,
significa, por consiguiente, un aseguramiento para el productor de al menos el 98 % para la
aceptacin de su lote, si la calidad es igual a la caracterizada por el NAC y un aseguramiento
an ms elevado para una calidad mejor.


65

Figura 8. Curva caracterstica de operacin de un plan de muestreo diseado para dar una
probabilidad elevada de rechazo, al someter a inspeccin lotes de calidad inferior al NAC

Tabla 7. Porcentaje de lotes que se espera sean aceptados para un valor de
calidad de NAC, muestreo simple, inspeccin normal

NAC x tamao de la muestra
(aproximado)
Nmero de aceptacin Porcentaje de lotes que se espera sean
aceptados (aproximado)
12,5
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
3 150
0
1
2
3
5
7
10
14
21
30
44
88,1
90,9
95,3
96,1
98,3
98,4
98,5
98,3
99,0
98,7
98,5
Nota. Las cifras de la primera columna son aproximadas, ya que es imposible conseguir que los valores
de "NAC x Tamao de la muestra" sean exactamente constantes sobre las diagonales de la Tabla II-A.
Como resultado las cifras de la tercera columna son tambin, aproximadas, aunque se apreciar que las
cifras reales estn siempre muy cerca del valor aproximado dado en esta tabla.


66

Figura 9. Curva OC de un plan de muestreo diseado para dar una alta probabilidad de
aceptacin, si se someten lotes de calidad mejor al NAC

3.12 INSPECCIN ESTRICTA

Cuando se necesita realizar una inspeccin estricta, en las tablas se encuentra el plan
apropiado, exactamente de la misma forma, excepto que, si se emplean las tablas principales,
se utiliza la Tabla II-B en lugar de la Tabla II-A, mientras que si se emplean las tablas
adicionales (Tabla X), se encuentra la columna apropiada leyendo el valor del NAC a partir de
la parte inferior en lugar de leerse comenzando por la parte superior.

En general, puede comprobarse que un plan estricto tiene el mismo tamao de muestra que el
plan normal correspondiente, pero con un nmero de aceptacin ms pequeo. No obstante, si
el nmero de aceptacin es 1 en inspeccin normal, reducirlo a 0 conducira a un grado de
rigurosidad excesivo del plan, y cuando el nmero de aceptacin es de 0 en inspeccin normal,
no existen nmeros ms pequeos. En ambos casos, el aumento de rigurosidad se obtiene
aumentando el tamao de la muestra y manteniendo el nmero de aceptacin igual al de la
inspeccin normal.

Las curvas caractersticas de operacin (curvas OC) para inspeccin estricta no se presentan
con el fin de evitar confusin al poner demasiada informacin en los diagramas. Sin embargo,
los valores de las posibilidades de aceptacin se dan en las Tablas X, y donde existe un plan,
tanto como plan normal para un NAC y como plan estricto para un NAC diferente, se aplica la
misma curva caracterstica en ambos casos. Es preciso recordar que las cifras utilizadas para
identificar las curvas se refieren a los valores del NAC correspondientes a una inspeccin
normal.


67
EJEMPLO 31.

Supngase que el NAC es 1,0, el nivel de inspeccin II, el tamao del lote 2 500. Segn
la Tabla Y, la letra clave es la K. Utilizando de la Tabla X-K-2, el plan estricto es el
siguiente:


- Nmero de aceptacin Ac = 2 tems no conformes.

- Nmero de rechazo Re = 3 tems no conformes.

Este plan es el mismo que el plan normal para una letra clave K y un NAC de 0,65. Su curva
caracterstica de operacin (curva OC)es, por consiguiente, la marcada con 0,65 en el
grfico K.

3.13 REGLAS DE CAMBIO. EJEMPLO

El numeral 2.9 introduce el concepto de inspeccin normal y estricta; adems, las ltimas dos
clusulas anteriores han analizado estos conceptos, lo que cada uno puede hacer y el modo de
utilizar las tablas con el propsito de encontrar los planes de muestreo apropiados. En el numeral
2.11 se estudian las reglas de cambio por medio de las cuales se puede tomar la decisin de
cambiar de una inspeccin normal a una estricta, o viceversa [vase el numeral 9.3], o,
alternativamente, descontinuar el proceso si el nmero acumulado de lotes no aceptados en una
inspeccin estricta, alcanza el valor de 5 [vase el numeral 9.4]. En este numeral se presenta un
ejemplo que ilustra las reglas de cambio de la inspeccin mediante el uso de la NTC-ISO 2859-1.

Figura 10. Curva caracterstica para dos planes de muestreo,
inspeccin normal, para el 1,0 % de no conformidades


68
EJEMPLO 32.

Un producto se suministra en lotes de 4 000. El NAC es del 1,5 % de tems no
conformes. El nivel de inspeccin es III. Se practica el muestreo simple. La Tabla I da
como letra clave la letra M y se encuentra que los planes de muestreo que se van a
aplicar, son:

Inspeccin normal Inspeccin estricta
Tamao de la muestra

Nmero en aceptacin

Nmero en rechazo
315

10

11
315

8

9

La Tabla 8 muestra los resultados de la inspeccin de los 25 primeros lotes. Es corriente la
aplicacin de una inspeccin normal al comienzo de la produccin, que es lo que se hace en
este ejemplo. La no aceptacin de los lotes 4 y 10 no produce el paso a una inspeccin estricta
ya que en un ninguno de estos casos se aplica la regla de dos sobre cinco; sin embargo, la no
aceptacin del lote 12 que se produce despus de la no aceptacin del 10, implica el paso a
una inspeccin estricta a partir del lote 13. Al pasar el lote 21 han sido ya aceptados en
inspeccin estricta cinco lotes sucesivos, por lo que se vuelve a una inspeccin normal a partir
del lote 22.

Tabla 8. 25 Lotes de un proceso hipottico de inspeccin

Nmero
del lote
Tamao
del lote
Tamao
de la
muestra
Ac Re tems no
conformes
Resultado Medidas a tomar

1
2
3
4
5

6
7
8
9
10

11
12
13
14
15

16
17
18
19
20

21
22
23
24
25
4 000
4 000
4 000
4 000
4 000

4 000
4 000
4 000
4 000
4 000

4 000
4 000
4 000
4 000
4 000

4 000
4 000
4 000
4 000
4 000

4 000
4 000
4 000
4 000
4 000
315
315
315
315
315

315
315
315
315
315

315
315
315
315
315

315
315
315
315
315

315
315
315
315
315
10
10
10
10
10

10
10
10
10
10

10
10
8
8
8

8
8
8
8
8

8
10
10
10
10
11
11
11
11
11

11
11
11
11
11

11
11
9
9
9

9
9
9
9
9

9
11
11
11
11
7
2
4
11
9

4
7
3
2
12

8
11
7
8
4

9
3
5
2
7

6
7
2
5
3
A
A
A
N
A

A
A
A
A
N

A
N
A
A
A

N
A
A
A
A

A
A
A
A
A
Contine normal
Contine normal
Contine normal
Contine normal
Contine normal

Contine normal
Contine normal
Contine normal
Contine normal
Contine normal

Contine normal
Pasar a estricta
Contine estricta
Contine estricta
Contine estricta

Contine estricta
Contine estricta
Contine estricta
Contine estricta
Contine estricta

Retornar a normal
Contine normal
Contine normal
Contine normal
Contine normal
NAC = 1,5 % no conformes, de nivel III de inspeccin (vase el ejemplo 32)
A = Aceptacin; N = No aceptable


69
3.14 MTODOS PARA REDUCIR LOS RIESGOS

En una inspeccin por muestreo existir el riesgos de aceptar lotes malos o de no aceptar lotes
buenos; sin embargo estos riesgos sern tolerables siempre que se hayan elegido
satisfactoriamente el NAC y el nivel de inspeccin.

Si el productor o el consumidor considera en su caso en particular que su riesgo es demasiado
alto, sera conveniente chequear que el NAC y el nivel de inspeccin se han elegido
correctamente. En el resto de estas subclusulas se supondr que estos son apropiados y
fueron seleccionados apropiadamente.

El productor estar interesado en reducir su riesgos cuando la calidad sea mejor que el NAC;
(por otra parte, el no esta autorizado para reducir el riesgo). y el consumidor estar
particularmente interesado en los riesgos cuando la calidad es peor que el NAC, as como en
el caso que la calidad sea mejor que el NAC, en cuyo caso recibir la calidad requerida

Existen tres mtodos que se pueden utilizar para reducir los riesgos de ambas partes.

El primer mtodo consiste en mejorar la calidad durante la produccin, lo cual puede parecer
obvio, pero es muy fcil olvidar la regla simple cuando se discuten planes de muestreo, curvas
OC, reglas de cambio, etc., de que un bajo porcentaje de no conformes en la produccin
aumenta la probabilidad de aceptacin al productor.

El segundo mtodo se aplica solo en un caso particular, pero este es el caso que causa mayor
ansiedad, ya que el nmero de aceptacin es 0. Los planes con un nmero de aceptacin cero
darn curvas OC con una inclinacin tan reducida, que corresponden inevitables a los riesgos
ms elevados.

Por esta razn, la NTC-ISO 2859-1 permite el uso de una alternativa cuando las tablas conducen a un
nmero de aceptacin cero (siempre que la autoridad responsable de la inspeccin lo acepte). Esta
alternativa consiste en utilizar el muestreo para el mismo NAC, con un nmero de aceptacin 1, en
lugar de cero [vase el numeral 10.3]. Esto tiene su precio, ya que se requiere de un tamao de
muestra cuatro veces mayor, pero los riesgos para ambas partes se reducen tanto que vale la pena.

Este costo se puede reducir al adoptar un muestreo doble o mltiple (vanse los
numerales 2.20 y 2.21). Solo se disponen de estas alternativas cuando el nmero de aceptacin
es 1 o ms. El muestreo secuencial es otra posibilidad, pero no esta cubierto por el alcance de esta
seccin.

El tercer mtodo consiste en considerar la posibilidad de aumentar el tamao del lote. Si el
tamao del lote puede aumentarse lo suficiente para cambiar la letra clave y aumentar el
tamao de la muestra, los riesgos se reducirn para ambas partes, ya que un tamao de
muestra mayor conduce a una curva caracterstica con una pendiente mayor; las tablas estn
hechas de tal manera que esta curva quedar por encima de la anterior en la mayor parte de
los puntos donde la calidad es mejor que la caracterizada por el NAC, y por debajo para la
mayor parte de los puntos en los que la calidad es inferior al NAC.

Desafortunadamente, no es posible conformar las tablas de tal modo que estas caractersticas
sean siempre las que se desean, sin perder otras. La Figura 11 muestra, como ejemplo, cuatro
planes de inspeccin normal asociados a un NAC de 1,5 % de tems no conformes. Para una
calidad mejor que el NAC se ve que mientras mayor es la muestra, mayor es la proporcin de
los lotes aceptados. Para una calidad inferior a dos veces el NAC, la muestra mayor no acepta
la mayora de los lotes y con la muestra menor se acepta una proporcin mayor proporcin de
lotes (se desea que el plan tan a menudo como sea posible no acepte el lote, cuando la calidad


70
es peor que el NAC). El punto de interseccin de las curvas para los tamaos de muestra 32 y
50 no es satisfactorio.

La idea de aumentar los tamaos de los lotes para obtener una mejor proteccin en el
muestreo, puede ser objetado ya que no siempre es fcil o razonable cambiarlos. El tamao de
lote debe fijarse en funcin de parmetros tales como la continuidad de la produccin, la
cantidad de producto que puede manipularse al mismo tiempo, los problemas de transporte,
los problemas de control de inventarios, etc. Todo esto es cierto, sin embargo es conveniente
recordar que en igualdad de condiciones, el incremento del tamao del lote puede servir de
gran ayuda desde el punto de vista de la inspeccin por muestreo. Se recomienda remitirse al
numeral 3.4 para un anlisis ms amplio sobre el tamao del lote.

Al examinar la altura de las curvas presentadas en la Figura 11, a dos, tres y cuatro veces el
NAC, hay que recordar que las curvas muestran solo la parte correspondiente a la inspeccin
normal. Para casi todos los planes en inspeccin normal, en la NTC-ISO 2859-1 el porcentaje
de lotes aceptados cuando la calidad es dos veces el NAC, es menos del 80 % Semejante
proporcin de aceptacin tan baja siempre conducir a una inspeccin estricta en poco tiempo.

En algunas circunstancias es posible decidir que no vale la pena el compromiso necesario al
usar un sistema completo de muestreo. Las partes, pueden, en este caso, acordar un plan a
partir de las curvas OC, pero cuando se adopta este enfoque, las partes deben estar
informadas para que el resultado sea satisfactorio.

3.15 INSPECCIN REDUCIDA

Algunas veces hay evidencia que la calidad de la produccin es mejor que el NAC. Donde esto
ocurre y hay razones para suponer que esta calidad continuar, no es necesario un plan de
muestreo para separar los lotes buenos de los lotes malos ya que todos los lotes sern
buenos. Sin embargo la inspeccin no se puede obviar del todo puesto que se requiere de una
advertencia, en caso que la calidad de la produccin desmejore.

En estas circunstancias, se puede conseguir un ahorro considerable, utilizando un plan de
inspeccin reducida con tamaos de muestra de las dos quintas partes del tamao
correspondientes a un plan de inspeccin normal (salvo cuando el plan de inspeccin normal
tenga un tamao de muestra menor a 5, y la proporcin es mayor a las dos quintas partes, ya
que una inspeccin reducida requiere de un tamao de muestra de al menos 2.

A simple vista, se puede pensar que la mejor forma de reducir el tamao de la muestra,
consiste en tomar una letra clave anterior en el orden alfabtico, pero tambin podra reducir la
proporcin de lotes que se espera sean aceptados con el NAC. Esto penalizara al productor
por realizar un buen trabajo; este resultado sera claramente insatisfactorio por esto es
necesaria una tabla especial para la inspeccin reducida, la que corresponde a la Tabla II-C de
las tablas generales.

La implementacin de la inspeccin reducida no es obligatoria. El uso de la inspeccin estricta,
s es esencial para el esquema cuando se dan las condiciones para las reglas de cambio, pero
la inspeccin reducida es totalmente opcional; an si se obtienen las condiciones de cambio
necesarias, no es obligatorio que el consumidor las introduzca a menos que l lo desee o el
contrato especifique su uso.


71

Figura 11. Cuatro planes de muestreo para un NAC de 1,5 % de
no conformes, inspeccin normal, muestreo simple

Las reglas de cambio [vase el numeral 9.3.3] estn diseadas para asegurar que la
inspeccin reducida no se introduce a menos que la calidad observada es realmente buena y
probablemente continuar as para determinar si la inspeccin reducida, es permisible, la
historia reciente de la produccin tiene que ser comparada con un nmero lmite tomado de la
Tabla VIII.

EJEMPLO 33.

Un producto en elaboracin ha de ser inspeccionado en las condiciones siguientes:
NAC: 10 % de tems no conformes, tamao del lote = 4 000 tems, nivel de inspeccin I
con muestreo simple.

El plan normal para la letra clave J es :

- Tamao de la muestra: n = 80 tems.




72
La Tabla 9 presenta los resultados del proceso de inspeccin. La inspeccin normal es usada
al comienzo de la tabla, y corresponde a una parte de una serie ms larga. Los primeros
resultados en la lista son buenos, aceptndose todos los lotes con un nmero de tems no
conformes en cada muestra muy por debajo del nmero de aceptacin. Despus de haber
inspeccionado la muestra tomada del lote 51, el inspector se pregunta si sera admisible la
aplicacin de una inspeccin reducida. As, se cuenta el nmero total de tems no conformes en las
muestras de los ltimos 10 lotes y se encuentra que asciende a 70 en un total de 800 tems
inspeccionados. En la Tabla VIII se encuentra que el nmero lmite es de 68 para 800 tems y un
NAC de 10, por lo que 70 es demasiado elevado y an no es admisible cambiar a una inspeccin
reducida.

Despus de seguir obteniendo muy buenos resultados, se decide hacer un nuevo intento una
vez se ha inspeccionado el lote 55. El nmero de tems no conformes encontrados en los 10
ltimos lotes es ahora slo de 54, y este valor se encuentra dentro del lmite. As, se permite
practicar una inspeccin reducida, puesto que los 10 lotes precedentes han sido aceptados en
inspeccin normal y la produccin esta a una tasa estable.

El concepto de "una produccin a una tasa estable", varia de una industrias para otra.
Fundamentalmente, significa que no ha habido ninguna interrupcin en la fabricacin, que
pudiera invalidar el argumento de que la calidad actual seguramente es buena, porque los
ltimos resultados registrados han sido buenos. El sentido exacto de la expresin "una
produccin a una tasa estable" depender del criterio tcnico basado en la consideracin de
todos los factores cuya variacin pueda afectar la calidad del producto.

Puesto que la decisin de cambiar a una inspeccin reducida es opcional, el regreso a una
inspeccin normal est permitido siempre que se quiera y debe efectuarse cuando la
fabricacin se torne irregular o se retarde, o cuando otras condiciones conduzcan a estimarla
necesaria. El regreso a una inspeccin normal es obligatorio cuando un lote en inspeccin
reducida no es aceptado.

Tabla 9. Quince lotes de un proceso de inspeccin hipottico

Nmero
del lote
Tamao
del lote
Tamao
de la
muestra
Ac Re
tems
no
conformes
Resultado Medidas a tomar

41
42
43
44
45

46
47
48
49
50

51
52
53
54
55
4 000
4 000
4 000
4 000
4 000

4 000
4 000
4 000
4 000
4 000

4 000
4 000
4 000
4 000
4 000
80
80
80
80
80

80
80
80
80
80

80
80
80
80
80
14
14
14
14
14

14
14
14
14
14

14
14
14
14
14
15
15
15
15
15

15
15
15
15
15

15
15
15
15
15
7
5
7
6
9

7
9
8
6
5

8
4
3
1
3
A
A
A
A
A

A
A
A
A
A

A
A
A
A
A
Contine normal
Contine normal
Contine normal
Contine normal
Contine normal

Contine normal
Contine normal
Contine normal
Contine normal
Contine normal

Contine normal
Contine normal
Contine normal
Contine normal
Cambiar a reducida
NAC = 10 % no conformes, de nivel I de inspeccin (vase el ejemplo 33)
A = Aceptacin
Los planes de muestreo reducido tienen la caracterstica poco usual de presentar un intervalo
entre el nmero de aceptacin y el de rechazo. Segn la regla, si el nmero de tems no


73
conformes comprobado es inferior o igual al nmero de aceptacin, el lote se acepta y se
contina aplicando una inspeccin reducida (a no ser que existan otras condiciones que
obliguen al regreso a una inspeccin normal). Si se alcanza o sobrepasa el nmero de
rechazo, el lote no se acepta y a partir del lote siguiente se aplica la inspeccin normal. Sin
embargo, si el resultado se encuentra en el intervalo que separa el nmero de aceptacin del
nmero de rechazo, se acepta el lote aunque se restaura la inspeccin normal [vase el
numeral 11.1.4]

Los tamaos de la muestra en un rgimen de inspeccin reducida, siguen la misma serie de
nmeros que para la inspeccin normal, pero con dos etapas de retraso. Esto da tambin
constancia sobre los diagonales.

Se observar que no se presentan las curvas caractersticas de operacin para la inspeccin
reducida. Esto se ha hecho deliberadamente por dos razones: primera, porque tienden a
confundir ya que el ojo apreciara la totalidad de la curva a pesar de que su extremo derecho
no tiene aplicabilidad en este caso, (debido a que la inspeccin reducida slo est permitida
cuando se sabe, por los ltimos resultados, que el porcentaje de tems no conformes es inferior
al NAC y que hay buenas razones para confiar que esta buena calidad se mantendr).
Segunda, porque si la ordenada de las curvas representa el "porcentaje de lotes que se espera
que sean aceptados", esta expresin no es aplicable a la inspeccin reducida, porque basta
que un solo lote sea rechazado para que se vuelva a la inspeccin normal.

A veces, al consultar la Tabla VIII, se encuentra un asterisco en lugar de un nmero. Esto
significa que el nmero de tems muestreados de los diez ltimos lotes no es suficiente para
poder juzgar si es admisible pasar a una inspeccin reducida. En cuyo caso se tomar un
nmero de lotes superior a 10 hasta que se encuentre un nmero en la tabla. El primer nmero
que se encuentra es siempre 0, por lo que esta tcnica slo se debe adoptar cuando se haya
comprobado que no hay ningn tem no conforme en las muestras tomadas de ms de 10 lotes
sucesivos.

EJEMPLO 34.

La Tabla 10 es la continuacin del ejemplo de la Tabla 8. Se han aceptado veinte lotes en
inspeccin reducida, desde el lote 56 hasta el 75. El plan reducido se encuentra en la Tabla II-
C, y es:




Se encuentran 7 o menos tems no conformes en cada muestra hasta el lote 81, y se contina
en inspeccin reducida. Los 9 tems no conformes del lote 82 obligan a volver a la inspeccin
normal, aunque se acepta el lote. Tres lotes despus, hay que imponer la inspeccin estricta
ya que dos lotes (la No. 83 y 85) entre los cinco ltimos en inspeccin normal, no han sido
aceptados. Como la inspeccin reducida es opcional, un inspector consciente habra
establecido la inspeccin normal a partir del lote 79, despus de haber observado que haba 14 tems
no conformes en las 96 tems inspeccionados de los lotes 76, 77 y 78, lo que pareciera indicar
que ya no se estaba cumpliendo con el NAC de 10 %


74
Se debe sealar que la inspeccin reducida no es el nico procedimiento que puede emplearse
cuando el nivel de la calidad del productor es mejor que el NAC. Algunas veces podra ser
ventajoso utilizar los procedimientos de muestreo intermitentes (vase la NTC-ISO 2859-3). En
caso de que los procesos de control de calidad del fabricante sean satisfactorios y los niveles
de calidad sean significativamente mejores que el NAC, puede aplicarse la inspeccin
indirecta. El comprador puede entonces reemplazar su muestreo de aceptacin por los
resultados de la inspeccin obtenido por el productor.

3.16 MUESTREO DOBLE Y MLTIPLE

Los principios para seleccionar planes dobles o mltiples a partir de las tablas, son semejantes a los
del muestreo simple, aunque se utilizan las tablas principales III o IV en lugar de la Tabla II) o la parte
apropiada de la pgina al usar las tablas adicionales X.

Cuando se utilizan las tablas adicionales, es necesario asegurarse de que se han tomado los
tamaos de muestra correctos, ya que las tablas proporcionan nicamente los tamaos
acumulados. No obstante, todos los planes tienen la caracterstica comn de que las muestras
sucesivas tienen el mismo tamao que la primera muestra y esta regla es fcil de recordar.

Cuando el plan de muestreo simple apropiado tiene un nmero de aceptacin de cero o un
tamao de muestra igual a 2, no se dispone de un plan doble. Cuando el plan de muestreo
simple apropiado tiene un nmero de aceptacin de cero, o un tamao de muestra de 2, 3 5,
no se dispone de un plan mltiple. La alternativa consiste en, o bien practicar un muestreo
simple, o bien, adoptar el plan doble o mltiple correspondiente al tamao de muestra
inmediatamente superior disponible para el NAC requerido.

EJEMPLO 35.

Si el NAC es de 0,40 y la letra clave es G, la Tabla III-A tiene un asterisco que hace
referencia a una nota al pie de pgina. Se podr utilizar la Tabla II-A (plan simple), en
cuyo caso, el plan ser:



- Nmero de rechazo: Re = 1 tem no conforme.

o bien, se continuar buscando en la Tabla III-A, descendiendo en la columna de 0,40
hasta encontrar el plan doble bajo la letra clave K que es:.

Primera Segunda Combinada
Tamao de muestra 80 80 160
Nmero de aceptacin 0 1
Nmero de rechazo 2 2


75
Si se emplean las tablas adicionales, se encontrarn las mismas alternativas.

Para un muestreo doble o mltiple con inspeccin reducida, si se obtiene un resultado
en la ltima muestra que est en el intervalo comprendido entre el nmero de
aceptacin y el de rechazo, significa que hay que tomar otra muestra, igual que para
una inspeccin normal o estricta, slo que ahora hay tambin un intervalo entre los
nmeros definitivos de aceptacin y de rechazo. Un resultado comprendido en este
ltimo intervalo significa que el lote se debe aceptar pero se debe reestablecer la
inspeccin normal, igual que en un muestreo simple reducido.

En la Tabla IX figuran las curvas del "tamao medio de la muestra" para el muestreo
doble o mltiple, estos se pueden utilizar para decidir si la ventaja obtenida al aplicar un
muestreo doble o mltiple, en lugar de un muestreo simple, es suficiente para que valga
la pena su aplicacin (vase el numeral 12.5).

Las curvas se clasifican segn el valor del nmero de aceptacin en muestreo simple y
son necesariamente aproximaciones hasta cierto punto, porque no pueden aplicarse
exactamente a todos los planes dados. El abcisa de cada curva est graduado en
unidades que expresan "n veces la proporcin de tems no conformes", expresin en la
que n es el tamao de muestra del plan de muestreo simple correspondiente. En cada
caso particular, este eje puede dividirse por n para obtener una escala que exprese la
proporcin de tems no conformes.

La ordenada expresa fracciones de este mismo valor de n. La lnea trazada en lo alto
de cada diagrama representa, por tanto, el tamao de muestra simple, y la eficacia de
los planes doble y mltiple puede juzgarse por medio de sus curvas en relacin con
esta lnea superior.

Obsrvese que en el curso de una inspeccin por muestreo, se espera que la mayor
parte del tiempo se usar una inspeccin normal, a la vez de que los lotes sern de una
calidad mejor a la del NAC. En este caso, las partes ms significativas de estas curvas
son las situadas a la izquierda de las flechas de la lnea de la base. En los grficos en
los que no figura ninguna flecha, se refieren a nmeros de aceptacin utilizados
nicamente en inspeccin estricta.

Cuando para un plan de muestreo simple el nmero de aceptacin es 1, el plan mltiple
es, casi siempre, menos eficaz que el plan doble. No es posible obviar este
inconveniente sin que las tablas pierdan otras propiedades valiosas. En estas
condiciones, es preferible usar un muestreo doble, a no ser que existan buenas
razones, distintas a las del tamao medio de la muestra, para querer aplicar un
muestreo mltiple.

La Tabla X supone que no se aplica la suspensin de la inspeccin descrita en el
numeral 2.22.


76
Tabla 10. Diez lotes tomados en el curso de una inspeccin hipottica

Nmero
del lote
Tamao
del lote
Tamao
de la
muestra

Ac

Re
tems
no
conformes
Resul-
tado
Medidas a tomar

76
77
78
79
80

81
82
83
84
85
4 000
4 000
4 000
4 000
4 000

4 000
4 000
4 000
4 000
4 000
32
32
32
32
32

32
32
80
80
80
7
7
7
7
7

7
7
14
14
14
10
10
10
10
10

10
10
15
15
15
5
2
7
3
1

4
9
17
12
15
A
A
A
A
A

A
A
N
A
N
Contine reducida
Contine reducida
Contine reducida
Contine reducida
Contine reducida

Contine reducida
Retornar a normal
Contine normal
Contine norma
Cambiar a estricta
NAC = 10 % no conformes, de nivel I de inspeccin (vase el ejemplo 34)
A = Aceptacin; N = No aceptable

EJEMPLO 36.

Se aplica el plan de muestreo simple correspondiente a la letra clave K y a un NAC del
2,5 % de no conformes:




Se est considerando la utilizacin de un muestreo doble o mltiple en lugar de ste. La
curva de la Tabla IX que se debe consultar es la designada por Ac = 7, refirindose al
nmero de aceptacin. Si se desea, puede dividirse el eje inferior por 125, tamao de la
muestra, y multiplicar el resultado por 100 para obtener una escala graduada en
porcentaje de tems no conformes. Las cifras 3, 6, 9 y 12 se convertiran entonces en
2,4 %, 4,8 %, 7,2 % y 9,6 % de conformes. En general no es necesario realizar esta
operacin. De igual manera, puede atribuirse a la escala de la izquierda los valores 1/4,
1/2, 3/4 de 125.

Al observar las curvas, se comprobar que:

a) El plan doble tiene un tamao de muestra menor que el plan simple y el
plan mltiple tiene siempre un tamao medio menor que el plan doble;

b) Si la calidad es perfecta, el tamao de muestra de un plan doble es
alrededor de los 2/3 del tamao de muestra de un plan simple, y la
muestra de un plan mltiple es alrededor de la cuarta parte de un plan
simple;

c) En el nivel aceptable de calidad (NAC) estas proporciones se elevan
hasta alrededor de los 70 % y 60 % respectivamente del plan simple;


77
d) El valor promedio mximo de la muestra de un plan doble es ligeramente
superior a los 9/10 de la muestra de un plan simple, y el valor medio mximo
de la muestra de un plan mltiple es ligeramente superior al 8/10 de la
muestra de un plan simple.

3.17 CALIDAD LMITE Y LOTE AISLADO

En la NTC-ISO 2859-1 se supone que se presentan una serie de lotes aceptables, por lo que la
parte alta y a la izquierda de la curva caracterstica es la ms importante. Sin embargo, cuando
el producto viene en un lote nico aislado o una serie corta de lotes, la parte baja y a la
derecha de la curva tambin es importante, ya que indica la probabilidad de aceptar un lote
malo al presentarlo entre una serie de lotes buenos. Esto resulta particularmente significativo
cuando se compra un solo lote de una serie.

Para resolver los casos de esta naturaleza, se han establecido las Tablas VI-A, VI-B, VII-A y VII-B
[vase el numeral 12.6]. Las Tablas VI-A y VII-A expresan el lmite de calidad en porcentaje de
tems no conformes y las Tablas VI-B y VII-B en nmero de no conformidades por cada cien tems.
Es necesario separar los dos casos, ya que las respuestas son algo diferentes en el extremo inferior
y a la derecha de la curva son los CL
10
y CL
5
(vase el numeral 2.8).

Los valores que figuran en las tablas CL son los mismos que se encuentran en las curvas
caractersticas de las tablas adicionales pero resulta til reunirlos en una sola tabla.

Las tablas se refieren al muestreo simple, pero son igualmente aplicables, de forma
aproximada a los planes doble y mltiple.

EJEMPLO 37.

Debe inspeccionarse un lote aislado. Se ha resuelto que deber exigirse una buena
probabilidad de aceptacin si la calidad del lote es de 1,0 % tems no conformes; pero
debera tener una probabilidad de aceptacin del 10 % si la calidad es casi el 4,0 % de
tems no conformes. Respetando estas condiciones, se requiere el menor tamao de
muestra conforme a las tablas.

Bajo la columna para un NAC de 1,0, en la Tabla VI-A, es necesario encontrar un
nmero inferior o igual a 4,0. La letra clave M es la primera que satisface estas
condiciones para un valor del CL de 3,7 % de tems no conformes. Remitindose a las
tablas adicionales se encuentra el plan deseado y su curva caracterstica, a saber:




No est de ms recordar en este momento, el significado de la curva caracterstica. Un
CL de 3,7 % de tems no conformes significa que si el lote contiene 3,7 % de tems no
conformes, la probabilidad de que sea aceptado es de un 10 %. Esto no significa que
exista una probabilidad del 10 % de que el lote contenga 3,7 % de tems no conformes.


78
Se puede observar que los valores del CL son siempre ms altos que los del NAC, y en
algunos casos mucho ms altos, pero mientras se incrementa el tamao de muestra se
va disminuyendo la diferencia entre los dos valores.

Cuando se inspecciona un lote aislado, a diferencia de un lote en una serie de lotes,
los valores del CL deben considerarse aproximados si el tamao de la muestra
sobrepasa la quinta parte del tamao del lote. En estas condiciones, el valor real ser
un poco inferior al que figura en las tablas.

En la NT-ISO 2859-2 se presentan detalles adicionales relacionados con el mtodo de
muestreo para lotes aislados.

3.18 TAMAO DE MUESTRAS

Los tamaos de las muestras dadas en la NTC-ISO 2859-1 para un muestreo simple forman
una serie (como la serie de los valores del NAC) escalonada de manera que cada nmero es,
ms o menos, igual a 1,585 veces el precedente. Esto significa que el producto NAC
multiplicado por el tamao de la muestra es aproximadamente constante sobre las diagonales
de izquierda -abajo a derecha - arriba en la Tabla II-A, lo que conduce a una Tabla lgica en s
misma si los nmeros de aceptacin se eligen tambin de manera que sean constantes a lo
largo de las diagonales.

Esta caracterstica es ms til para construir las tablas que para utilizarlas, aunque el patrn
resultante significa que las tablas se prestan para elaborar resmenes convenientes,
nomogramas especiales o reglas de clculo que pueden ser prcticos. Vase por ejemplo el
numeral 3.21 y las Figuras 12 y 13.

En el muestreo doble o mltiple (vanse los numerales 2.20, y 2.21) los tamaos de las
muestras siguen el mismo patrn, aunque para una letra clave dada, el tamao de la muestra
doble est retrasado un lugar en la serie con relacin al muestreo simple, mientras que el
tamao de la muestra mltiple est retrasado dos lugares con relacin al del muestra doble.
Los tamaos de las muestras para una inspeccin reducida estn siempre retrasados dos
lugares con relacin a los tamaos correspondientes a una inspeccin normal.

De lo anterior resulta que a cada letra clave dada corresponden cinco valores distintos de
tamao de la muestra segn se efecte un muestreo simple, doble o mltiple y segn que la
inspeccin sea o no reducida (vase el numeral 2.15). Esta es la razn por la cual es necesario
disponer de letras clave para indexar las Tablas, en lugar de los valores de los tamaos de las
muestras.

3.19 CURVAS CARACTERSTICAS DE OPERACIN

Las tablas adicionales X de la NTC-ISO 2859-1 muestran tanto las curvas caractersticas como
los valores tabulados a partir de los cuales se han obtenido dichas curvas.

Estas son aplicables a un muestreo simple. pero las curvas correspondientes a un muestreo
doble o mltiple se ajustan a stas de una forma muy aproximada (vase el numeral 12.1).

Las curvas caractersticas, presentadas en la NTC-ISO 2859-1, muestran que cuando el
nmero de aceptacin es cero, la parte superior de la curva es bastante difcil de leer con
exactitud. Para esta parte superior de las curvas existe una frmula aproximada y simple lo
suficientemente exacta para los fines prcticos, cualquiera que sea el tamao de la muestra.


79
Esta frmula es la siguiente:

Porcentaje de lotes que se espera que sean aceptados = 100 - n (porcentaje de tems no conformes en los
lotes presentados).

Note que esta frmula slo puede aplicarse cuando el nmero de aceptacin es cero y
solamente para la parte superior de la curva; es decir, cuando el porcentaje de lotes que se
espera sean aceptados es igual o mayor que 80 %

EJEMPLO 38.

Con un NAC de 0,40 % de tems no conformes y la letra clave G. El plan de muestreo
es:



- Nmero de rechazo: Re = 1 unidad defectuosa.

Cul es el porcentaje de lotes que se espera sean aceptados para este NAC?. La
respuesta es;

100 - (32 x 0,40 %) de los lotes = 87,2 % de los lotes.

Este valor es cercano al valor exacto de 88,0 %, calculado a partir de la expresin:

100 (1-0,0040)
32

EJEMPLO 39.

En las mismas condiciones, cual debera ser el porcentaje de tems no conformes en
los lotes presentados, para que sean aceptados el 95 % de los lotes?.

La frmula precedente, escrita en otra forma establece que:

conformes no items de % 0,156
32
95 100
muestra la de tamao
aceptados ser a s presentado lotes de porcentaje 100
s presentado lotes los en conformes no items de orcentaje P
=
=

Este valor es muy cercano al valor de 0,160 % dado por la Tabla X-G-1 de la NTC-ISO 2859-1.


80
3.20 TABLA DE LCMS (vase el numeral 2.12 de la teora)

Las Tablas V-A y V-B presentan los factores de LCMS para los planes de muestreo simples
normal y estricto. Se aplican, tambin, aproximadamente, a los planes dobles y mltiples
equivalentes.

Si se requieren valores ms exactos de LCMS, se multiplica el valor tabulado por factor de
correccin f siguiente:

a) Para el caso de inspeccin por porcentaje de tems no conformes:

2N
2n
1 f = (para Ac >0), y

2n
1
2N
n
1 f = (para Ac=0), donde

Donde:

n = es el tamao de muestra

N = es el tamao de lote

b) Para el caso de inspeccin por no conformidades por 100 tems:

N 3) (2Ac
n x Ac
1 f
+
= (para todo valor de Ac)

Notas:

6) Si el factor de correccin citado, cualquier que sea apropiado, es cercano al valor de 1,00, entonces no se
hace mucha diferencia y pueden emplearse los valores tabulados sin ninguna correccin; de otra forma, es
preferible usar el factor.

7) En el caso de la inspeccin de no conformidades por cada cien tems, no se requiere ninguna correccin
Cuando Ac=0

El anlisis de la Tabla V-B mostrar que, con excepcin de la diagonal superior (para la cual el
nmero de aceptacin es 0), el valor del LCMS para la inspeccin estricta es siempre cercano
al valor de NAC. Si se requiere mantener esta relacin entre el NAC y el LCMS en la
inspeccin estricta, entonces se debe hacer uso a la opcin de emplear los planes con un
nmero de aceptacin de 1, en lugar de aquellos que tienen un nmero de aceptacin de 0.

EJEMPLO 40.

Para un tamao de lote de 400, un NAC de 4,0 % de tems no conformes y un nivel de
inspeccin II, se encuentra que la letra clave es H. En caso de inspeccin normal, el


81
LCMS se encuentra en la Tabla V-A con un valor de 6,3 %, por lo que un valor ms
exacto es:

conformes no items % 5 )
400 x 3
50 x 2
(1 x 6,3 =

Notas:

8) Los valores reales del LCMS pueden obtenerse mediante un clculo complicado que hace uso de la
distribucin hipergeomtrica. En el caso del ejemplo anterior, el valor real del LCMS es de 5,81 %

9) En el ejemplo anterior, si la inspeccin fuese por no conformidades por cada cien tems, en vez de
porcentaje de tems no conformes, el valor del LCMS sera el siguiente:

( ) 5 Ac un para 6,0
400 x 3) (10
50 x 5
1 x 6,3 = =
+

3.21 NOMOGRAMAS

En la elaboracin de las tablas de la NTC-ISO 2859-1 se han utilizado determinadas frmulas
matemticas que permiten relacionar algunas caractersticas de las tablas bajo una forma
simplificada, tal como se indica en las Figuras 12 y 13.

Estos nomogramas no reemplazan a las tablas, pero pueden ser de inters ya que muestran
las relaciones entre diferentes valores, y pueden ser tiles porque muestran, en una forma
condensada, una parte de las informaciones contenidas en las tablas.

Para usar la Figura 12 supngase que se desea conocer cual es (en muestreo simple e
inspeccin normal) el tamao de muestra correspondiente a la letra clave H. Una lnea recta
que une el punto dado H en la escala de la izquierda con el punto denominado simple (normal
o estricta) de la escala de la derecha, corta la escala central en el valor 50, que es el tamao
buscado de la muestra.

Nota 10. Antes que trazar lneas sobre la Figura, es preferible utilizar una regla, o unir los dos puntos con un hilo,
con el fin de mantener la pgina limpia para su uso futuro.


82
Se procede igual con la Figura 13. Si se desea saber cul es el nmero de aceptacin que
corresponde a un tamao de muestra 50 para un NAC de 2,5, una lnea recta corta la escala
del centro en el valor 3 en inspeccin normal 2 en inspeccin estricta.

Figura 12. Nomograma que da el tipo de muestreo, la letra clave
y el tamao de muestra que figura en la NTC - ISO 2859-1


83

Figura 13. Nomograma para el NAC que da el tamao de la muestra y los
nmeros de aceptacin que figuran en la NTC-ISO 2859-1

NTC Iso 2859-0 1995

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