Universidad Autónoma de Nuevo León

Facultad de Ingeniería Mecánica y Eléctrica

Difracción de Rayos X

Dr. Iván Eleazar Moreno Cortez

 Difracción de Rayos X

Índice

• Naturaleza de los rayos X

• Fuentes de rayos X

• Fenómeno de difracción

• Aplicación de la difracción de rayos X

Naturaleza de los rayos X

Descubrimiento por W. Roentgen:

1895 • Invisibles al ojo humano, pero al igual que la luz podían

afectar a las placas fotográfica
• Alto poder de penetración (cuerpo humano, madera,
piezas de metal y objetos opacos)

Descubrimiento de la difracción de rayos-X por un cristal

(Laue):
1912
• Comprensión de la naturaleza de los rayos-X
• Nuevo método para conocer la estructura de sólidos

Resolución de la primera estructura cristalina por los

1913 Bragg:

• KCl
Naturaleza de los rayos X

Radiografía (10-1 cm)

Aplicaciones Rayos-X
Difracción (10-8 cm)
Naturaleza de los rayos X

¿Qué son los rayos-X?

Radiación electromagnética
con  1 Å

Luz visible  6000 Å

Naturaleza de los rayos X

2
IA

Relación entre frecuencia

c
y longitud de onda

f

Energía de la radiación E  hf
Fuentes de rayos X

Generación de los rayos X

E = 30, 000 V

ánodo cátodo
calor

, 1%
s-X electrón
yo
Ra 1
K  Ee  mV 2
2
 Fuentes de rayos X

nálisis de la radiación proveniente de la fuente de rayos-X

Fuentes de rayos X

Espectro característico

Cada metal posee una serie de líneas características sobre impuestas al espectro
continuo, clasificadas en grupos llamados K, L, M, etc. los cuales en conjunto
forman el espectro característico de un metal usado como blanco.

Ej. para el molibdeno (Mo):

K   0.7 Å Utilizadas para R-X

L 5Å
M   >5 Å

Líneas “K” del Molibdeno:

K1 0.709 Å
K2 0.714 Å K doblete o línea K
K1 0.632 Å
Fuentes de rayos X

K

K1

K2
K
Fuentes de rayos X
Líneas características:

Descubiertas por W.H. Bragg y

sistematizadas por H.G.
Moseley
Fuentes de rayos X

Origen del espectro característico

Energía cinética para 1

remover un electrón de la WK  mV 2
capa K 2
Fuentes de rayos X
Fuentes de rayos X
Fuentes de rayos X
Filtros

“muchos experimentos de difracción

de rayos-X requieren de radiación
monocromática”

Filtrado
Fuentes de rayos X
Filtros
Fuentes de rayos X
Fuentes de rayos X
Fuentes de rayos X

Difractómetro de rayos-X en polvo, SIEMENS D-5000

Fenómeno de difracción

¿Qué es la difracción?
Fenómeno de difracción

En conclusión:

Diferencias en la longitud del camino recorrido conduce a diferencias de fase

 La introducción de diferencias de fase produce un cambio en la amplitud de la

onda.
Dos haces están completamente en fase cuando sus recorridos son iguales o
difieren en un número entero de λ.
Fenómeno de difracción

 Un haz difractado puede ser definido como un haz compuesto de un gran número
de rayos dispersados que se refuerzan mutuamente unos con otros.

 La difracción es por lo tanto un fenómeno de dispersión y no implica ninguna

interacción distinta de los rayos-X con los átomos
Fenómeno de difracción

QK  PR  PK cos   PK cos  0 ML  LN  d ' sen  d ' sen

n  2 d ' sen Ley de Bragg

Fenómeno de difracción

Sir William Henry William Lawrence

Bragg Bragg
Fenómeno de difracción

Ley de Bragg

Factores geométricos a considerar:

 El haz incidente, la normal al plano reflectado y el haz difractado

son siempre co-planares.

 El ángulo entre el haz difractado y el transmitido siempre es 2.

“La difracción en general ocurre sólo cuando la longitud de onda es del mismo
orden de magnitud de la distancia entre los centros de dispersión”

n 2d '  sen  1
por lo tanto se debe cumplir:

  2d '
Fenómeno de difracción

Existen dos tipos de dispersión:

 Por átomos arreglados al azar en el espacio, como en un gas monoatómico.

Ocurre en todas direcciones y es débil. Las intensidades se añaden.

 Por átomos arreglados periódicamente en el espacio, como en

un cristal:

• En unas cuantas direcciones, aquellas que satisfacen la ley de Bragg. La

dispersión es fuerte y es llamada entonces difracción. Las amplitudes se
suman.

• En muchas direcciones, las cuales no satisfacen la ley de Bragg

Fenómeno de difracción

“La difracción es esencialmente un fenómeno de dispersión en el cual

cooperan un gran número de átomos. Puesto que los átomos están
arreglados periódicamente en una red, los rayos dispersados por ésta
tienen relaciones de fase definidas entre sí; estas relaciones de fase
son principalmente interferencia destructiva que ocurre en muchas
direcciones, pero en unas cuantas direcciones tiene lugar la
interferencia constructiva y entonces un haz difractado es construido”
Difracción de rayos X

Experimentalmente la ley de Bragg puede ser aplicada en 2 formas:

 Utilizando rayos-X de  conocida y midiendo , podemos determinar

el espaciado d de varios planos en un cristal.

 Utilizando un cristal cuyos espaciados ( d) de sus planos son conocidos

y midiendo , podemos determinar la  de la radiación utilizada.
(Espectroscopía de rayos-X).
Difracción de rayos X
Difracción de rayos X
Aplicación de la difracción de rayos X

Métodos de difracción

100 100
111

025
011
2

detector
R-X
1 -3 2

101 220


Aplicación de la difracción de rayos X

Métodos de difracción
Aplicación de la difracción de rayos X

Aplicaciones

Identificación de fases (1-5 %)

Banco de datos Powder Diffraction File (JCPDS)

Compuestos inorgánicos 172,360 (2007)
Compuestos orgánicos 30,728

Determinación precisa de los parámetros de celda

Relación posición de reflexiones-parámetros de celda (a, b, c,...)

Defectos de cristal y desorden

Impurezas- anchura de reflexiones

Polimorfismo y transiciones de fase (alta temperatura)

Estudio de fases que sólo existen a temperaturas elevadas

Aplicación de la difracción de rayos X

Aplicaciones

cualquier sustancia cristalina produce un

Análisis cualitativo patrón de difracción característico.

Las intensidades de las líneas de difracción

Análisis cuantitativo
de una muestra dentro de una mezcla son
proporcionales a la cantidad en que se
encuentra dicha muestra.

Ventajas con respecto al análisis elemental:

Indica la forma en que se encuentran las sustancias como tal y no

en términos de su composición elemental.
Aplicación de la difracción de rayos X

Análisis cualitativo

Se basa en la comparación del diagrama de difracción obtenido de la muestra

contra un grupo de difractogramas almacenados en un banco de datos.
datos

Por lo tanto se requiere de un ordenamiento sistemático de los patrones

de difracción conocidos hasta el momento para poder realizar una
búsqueda rápida.

Hanawalt (1936) clasificación de los patrones en función de sus valores de

“d” e”I”

Desde 1969 el Joint Committe on Powder Diffraction Standars (JCPDS) se

encarga de la recopilación de los patrones de difracción, haciendo
actualizaciones cada año.

Elementos, aleaciones, compuestos inorgánicos,

Sustancias indexadas
minerales, compuestos orgánicos y
organometálicos.
Aplicación de la difracción de rayos X

Análisis cualitativo

(31.70,100)

(45.54,60)
n  2dsen
(27.42,10)

(56.40,30)
(76.08,30)
(65.70,20) (84.10,30)
Aplicación de la difracción de rayos X

Análisis cualitativo

Muestra X, radiación Cu K

d1 = 2.82 Å, d2 = 1.99 Å y d3 = 1.63 Å

Aplicación de la difracción de rayos X

Análisis cualitativo
Aplicación de la difracción de rayos X

Análisis cualitativo
Aplicación de la difracción de rayos X
Factor de estructura

Fhkl   f i exp2i hxi  kyi  lzi 

i

Donde Fhkl es el factor de estructura, el cual es una medida de

las amplitudes de las partículas dispersadas por una celda
unidad de una estructura cristalina y fi es el factor de
Cúbica centrada en el cuerpo dispersión atómica

Coordenadas puntos de red

P1= (0,0,0) Fhkl  f 1  expi h  k  l 
P2 = (1/2,1/2,1/2)

exp(ix )  cos( x)  isen( x)

Si
expi h  k  l   1 N es par
F 2f
hk l  N
Si
expi h  k  l   1 N es impar
F 0
Aplicación de la difracción de rayos X
Factor de estructura
Cúbica centrada en las caras
Fhkl   f i exp2i hxi  kyi  lzi 
Coordenadas puntos de red i
P1= (0,0,0)
P2 = (1/2,1/2,0) Fhkl  f 1  expi h  k  expi h  l  expik  l 
P3 = (1/2,0,/12)
P4 = (0,1/2,1/2)
exp(ix )  cos( x)  isen( x)

F 4f Si
hkl todos son pares o impares

Si
F 0 hkl estan mezclados pares e
impares
Aplicación de la difracción de rayos X

Análisis cualitativo
Aplicación de la difracción de rayos X

Análisis cualitativo


d' 
2sen

a
d´
h 2  k 2  l2

 a

2sen h 2  k 2  l2

sen 2 A

h 2
 k 2  l2 A
sen 2 B h 2
 k2 l 
2
B
Aplicación de la difracción de rayos X

Análisis cualitativo

Para los sistemas

cúbicos:

sin 2  A
 0.5 ( BCC );  0.75 ( FCC )
sin 2  B
Aplicación de la difracción de rayos X

Análisis cualitativo