ESPECTROMETRA DE

RAYOS X

RAYOS X
Son Radiaciones electromagnticas.
De longitud corta ( 0.1 A hasta 100 A)
Pero En espectroscopia se maneja desde 0.1 A
hasta 25 A.
Son producidos por el frenado de electrones de
elevada energa o por transmisiones electrnica
de electrones que se encuentran en los orbitales
internos.

CARACTERISTICAS DE LOS RAYOS X

Invisibles
No tienen masa
No tienen carga elctrica
Viajan en lnea recta y en forma de Ondas
No penetran cuerpos Densos
La materia los puede Absorber
Viajan ala velocidad de la luz
Son Ionizantes
Producen Fluorescencia
Producen efectos Sobre pelculas Fotogrficas
Siempre divergen desde un punto de Origen

 Laespectrometra de rayos Xes un conjunto

de tcnicas espectroscpicas para la
determinacin de la estructura electrnica de
materiales mediante el uso de excitacin por
rayos X.
Karl Manne Georg Siegbahn de Uppsala, Suecia
(Premio Nobel 1924), fue uno de los pioneros en el
desarrollo de rayos X espectrometra de emisin
(tambin llamado X-espectroscopa de
fluorescencia de rayos). Midi las longitudes de
onda de los rayos X en muchos elementos de alta
precisin, utilizando electrones de alta energa

EMISIONES DE RAYOS X
Los rayos X se pueden Obtener de 4 Formas:
Por Bombardeo de un blanco metlico con un has de
electrones de elevada energa.
Por exposicin de sustancias a un haz primario de rayos x
con el objetivo de generar un haz secundario de
fluorescencia de rayos X.
Utilizando una fuente radiactiva cuyo proceso de
desintegracin de lugar a emisin de rayos X.
A partir de una fuente de radiacin de sincrotrn.

TIPOS DE ESPECTROMETRA DE RAYOS

X

FLUORESCENCIA DE RAYOS
X

La tcnica de Fluorescencia de Rayos X se basa en el estudio de las

emisiones de fluorescencia generadas despus de la excitacin de una
muestra mediante una fuente de rayos X. La radiacin incide sobre la
muestra excitando los tomos presentes en la misma, que emiten a su
vez radiacin caracterstica denominada fluorescencia de rayos X. Esta
radiacin, convenientemente colimada, incide sobre un cristal analizador
(con espaciado interatmico d) que la difracta en un ngulo ()
dependiente de su longitud de onda () por la ley de Bragg (sen
=n/2d). Un detector que puede moverse sobre un determinado rango
de dicho ngulo mide el valor de la intensidad de radiacin en un ngulo
determinado y por tanto para una longitud de onda especifica, que es
funcin lineal de la concentracin del elemento en la muestra que
produce tal radiacin de fluorescencia.
El trminoFluorescencia se usa para denominar el fenmeno por el cual
la absorcin de radiacin de una energa especfica genera reemisin de
radiacin de una energa diferente, generalmente menor.

APLICACIONES
Para el anlisis elemental en procesos industriales y de control de
calidad de la industria petroqumica, del cemento y minera.
Para en anlisis Naturales como la arqueologa ciencias forenses
medicina geologa farmacutica y medio ambiente.

ESPECTROSCOPA FOTOELECTRNICA DE RAYOS X

Es actualmente la tcnica analtica de superficie ms ampliamente
usada. Cuando la estudiaron Siegbahn y col., se le denomin ESCA
(espectroscopa electrnica para anlisis qumico).
La superficie a analizar se irradia con fotones de rayos X blandos.
Cuando un fotn de energahvinteracciona con un electrn en un
nivel con una energa de ligadura EB, la energa del fotn se
transfiere completamente al electrn, con el resultado de la
emisin de un fotoelectrn con una energa cintica EKin=h
EB- e
dondeees la funcin de trabajo del aparato, que es pequea y casi
constante.
El electrn emitido puede proceder de un nivel interno, o de una
parte ocupada de la banda de valencia, pero en XPS la mayor
atencin se centra en los electrones de los niveles internos.

APLICACIONES
Las reas de conocimiento donde de la tcnica XPS encuentra
aplicacin son muy variadas y pueden ciarse entre ellas:
Anlisis qumico de superficies.
Mapas qumicos de composicin de materiales.
Anlisis de aceros y otras aleaciones.
Caracterizacin de lminas delgadas por ARXPS.
Realizacin de perfiles de profundidad por XPS-AES.
Caracterizacin de circuitos electrnicos.
Estudio de soldaduras.
Caracterizacin de polmeros.

CONCLUSIONES
EL Estudio del los Rayos X a lo largo de los aos luego de su
descubrimiento cambio el modo de realizar las
investigaciones gracias a su proceso no destructivo ya que
Ello implica poder desarrollar la investigacin Interna sin
necesidad de manipular fsicamente el material u objeto
que se analiza.
Los rayos X son importantes para la vida actual y cotidiana
del Ser humano sin embargo se debe tener cuidado ya que
su procedencia radiactiva puede producir daos en la
materia viva donde se incide.

GRACIAS POR
SU ATENCIN