AFM

MICROSCOPÍA DE FUERZA
ATOMICA
 AFM
• Estudio de superficies de materiales no
conductores.
• Controla la fuerza que experimenta la
punta al aproximarse a la superficie del
material (aislante o conductor).
• Proporciona imágenes
tridimensionales de superficies con alta
resolución espacial en tiempo real.
 Principios básicos de trabajo
≈100 micras en
movimiento lateral y
≈10 micras en
movimiento vertical

El primer propósito es
medir cuantitativamente la
rugosidad superficial con
una resolución nominal
lateral de 5 nm y vertical
de 0.01 nm en todo tipo
de muestras.
Las fuerzas entre la punta y la muestra
provocan la deflexión del cantilever,
simultáneamente un detector mide esta
deflexión a medida que la punta se
desplaza sobre la superficie de la muestra
generando una micrografía de la
superficie
Preparación de Muestras
La mica se ha seleccionado como soporte en numerosos trabajos
por dos razones:
Por un lado, la mica es atómicamente plana con lo que podemos
obtener una muy buena resolución lateral y además
conseguimos extender adecuadamente nuestra muestra
polimérica. Y por otro lado, la preparación de la superficie de
mica es muy sencilla, ya que permite ser clivada, con lo que se
obtiene una superficie virgen y limpia al eliminar
las últimas capas del material.
 MODOS DE OPERACIÓN

Modo contacto Modo No-contacto

La fuerza en la punta es
En este modo de trabajo la
repulsiva con un valor medio
punta se sitúa a 50 – 150
de 10-9 N.
Angstrom por encima de la
Se ajusta presionando el
superficie de la muestra. Lo
cantilever contra la superficie
que se detectan son las
de la muestra con un
fuerzas atractivas de Van der
elemento piezoeléctrico de
Waals
posicionamiento.
CURVA DE FUERZA
PROCESO DE NANORAYADO Y NANODESGASTE
ARTEFACTOS EN LA IMAGEN
TOPOGRAFÍA
REFERENCIAS
[1] D. A. Bonnell, "Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy" 2nd ed. Ed. Wiley-VCH 2001.
[2] J. D. Jacson, "Classical Electrodynamics, John Wiley and sons, New York, 1998.
[3] S. M. Sze, "Physics of Semiconductor Devices" John Wiley and sons, New York, 1981
[4] A. Zangwill, "Physics at Surfaces" Cambridge University Prees, Cambridge, UK, 1988.
[5] H. J. Guentherodt, R. Wiesendanger "Scanning bTunneling Microscopy I" Springer-Verlag,
Berlin, 1992.
Binnig y Rohrer
En 1982

SCANNING

FORCE MICROSCOPY
 Es una herramienta

¿QUÉ ES? ampliamente usada en

la caracterización de
superficies.

Es un instrumento que
se utiliza para obtener
imágenes de la materia
a escala nanométrica de
los átomos

Forman imágenes de
superficies mediante
imágenes ópticas o
electrónicas
 MORFOLOGÍA

TIPOGRAFÍA

Muestra una
topografía general
de una lamina
delgada de YSi.

https://repositorio.uniandes.edu.co/bitstream/handle/1992/23 https://wp.icmm.csic.es/wp-
523/u295298.pdf?sequence=1 content/uploads/sites/26/2009/02/gago_cap19.pdf
VENTAJAS -Escala que ofrece -Difícil de trabajar con
(atómica) muestras aislantes.
-Información sobre -Baja profundidad de
vacantes y procesos campo.
locales a esta escala.
-Imágenes realmente 3D

DESVENTAJAS
-Posibilidad de análisis
espectroscópico.
RESOLUCIONES

RESOLUCIÓN LATERAL RESOLUCIÓN DE PROFUNDIDAD

0.1 nm 0.01 nm

lo que confiere al se debe a que la punta

microscopio de efecto macroscópica siempre tiene
túnel una gran resolución minipuntas (si no las tiene
en la dirección inicialmente se crean in situ).
perpendicular a la
superficie
FIGURA. DIAGRAMA
DE BLOQUES BÁSICO
DE UN STM
A) Esquema de la cabeza del STM.
B) Representación esquemática del móvil, el cual
es parte del STM que porta la punta y permite
acercarla y separarla de la muestra.
C) Ilustracion de un piezotubo, donde son
visibles tres de sus cinco electrodos.
D) Ilustracon cenital de un piezotubo, donde se
aprecian los cinco electrodos
DOS METODOS DE OPERACIÓN
https://www.resear
chgate.net/profile/
Margarita_Rivera2/
publication/332958
631_De_los_micro
metros_a_los_pico
metros_evolucion_
de_las_tecnicas_de
_microscopia_para_
el_estudio_de_nan
omateriales/links/5
d925982a6fdcc2554
a96de0/De-los-
micrometros-a-los-
picometros-
evolucion-de-las-
tecnicas-de-
 DOS MODOS DE OPERACIÓN
DE CORRIENTE CONSTANTE.
En el modo de corriente constante, el sistema
de retroalimentación modifica la separación
entre punta y muestra de manera precisa para
mantener la corriente túnel en un valor
predeterminado, proporcionando la
morfología de la superficie con una alta
resolución espacial.
DE ALTURA CONSTANTE
A corriente túnel deja de depender de las
variaciones en distancia, y las imágenes que se
obtienen son el reflejo de variaciones en las
propiedades electrónicas, pues, por sus
características fundamentales, la corriente
túnel muestra una alta sensibilidad a la
densidad electrónica y función de trabajo de
los átomos en la superficie de la muestra
EMPLEADO EN

VACÍO AIRE AGUA LIQUÍDOS

Y GASES
 APLICACIONES

http://www.uco.es/~iq2sagrl/TranspTema9.pdf