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Microscopia De Fuerza Atómica (AFM),

Modos De Operación y Aplicaciones
Ronal Mauricio Betancourt Borja
Universidad Autónoma De Occidente – Ingeniería Mecánica

ronal.betancourt@uao.edu.co

ABSTRACT: AFM was investigated, its principle, II. ESTADO DEL ARTE
detection methods, image acquisition, contact mode
and non-contact mode. It is a work of the subject https://parksystems.com/products/small-sample-
Structure and Properties of Materials. afm/park-nx10/overview?
gclid=Cj0KCQjwp4j6BRCRARIsAGq4yMGsCV2xvYRPR
KEY WORDS: mIPJXOt29X_im6og0bFWQLcLleZrAPEsZffpZChuhgaA
RESUMEN: Se investigo sobre AFM, su principio, kdtEALw_wcB
métodos de detección, adquisición de imágenes, modo
de contacto y modo de no contacto. Es un trabajo de
la asignatura Estructura y Propiedades de los
Materiales.
PALABRAS CLAVE:

I. INTRODUCCION
El microscopio de fuerza atómica es un instrumento
mecano-óptico capaz de detectar fuerzas del orden de
los nano newtons. Al rastrear una muestra, es capaz
de registrar continuamente su topografía mediante una
sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica.

A. Justificación
Es importante para nuestra carrera obtener este
conocimiento ya que de este abstraer información
para saber uno de los métodos usados en la III. DESARROLLO INVESTIGACION
microscopia.

B. Objetivo General
Investigar sobre modos de operación y aplicaciones
de AFM y moldear una información mas concreta.
Mundo Nano
Nano, de la palabra griega que significa 'enano', se
corresponde con un prefijo que indica un factor de 10-
9. Así, un nanómetro es una milmillonésima de un
metro, que es la escala de longitud a la que la fuerza
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intermolecular y el efecto cuántico toman lugar. ¡Para se observa un aumento de las fuerzas repulsivas que
poner la nano escala en una perspectiva más inducen una inversión de la flexión de la micro
comprensible, tenga en cuenta que el tamaño de un palanca contra la superficie.
átomo en comparación con una persona es similar al
tamaño de una persona en relación con el planeta
tierra! Los microscopios de fuerza atómica (AFM)
nos ofrecen una ventana a este mundo de nano escala.

Principio AFM

Sensor de superficie Método de detección

Un AFM utiliza una micro palanca con una punta Se emplea un haz láser para detectar desviaciones en
muy afilada en su vértice para escanear la superficie la micro palanca hacia o contra la superficie.
de la muestra. A medida que la punta se acerca a la
muestra, las fuerzas de atracción de corto alcance
entre la superficie y la punta de la micro palanca
provocan que ésta se flexione hacia la superficie.

Haciendo reflejar el haz incidente en la parte superior

plana de la micro palanca, cualquier movimiento de la
micro palanca producirá pequeños cambios en la
dirección del rayo reflejado. Empleando un fotodiodo
sensible a la posición (PSPD) se pueden monitorizar
estos cambios de posición.

Sin embargo, debido a que la punta continua

aproximándose a la superficie hasta llegar a tocarla,
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Así, si una punta de AFM pasa sobre una superficie
elevada, la flexión contra la superficie de la micro
palanca resultante (y el subsecuente cambio en la
dirección del rayo reflejado) se registra por los
cambios de la posición del haz laser medidos en el
PSPD.
Usando un circuito de retroalimentación para
controlar la altura de la punta sobre la superficie, y
buscando mantener constante la posición del láser
sobre el PSPD, el AFM puede generar un mapa
topográfico exacto de las características superficiales.

Adquisición de imágenes

La obtención de la imagen topográfica de AFM en

una muestra se realiza explorando la superficie con la
micro palanca en la zona de interés. La transición
entre accidentes topográficos elevados y deprimidos
en la superficie de la muestra influyen en la
desviación de la micro palanca, que se monitoriza en
el PSPD.

Imagen estándar
Modo de contacto
En este método, la micro palanca se desplaza a lo
largo de la superficie de la muestra. Debido a que la
micro palanca está en contacto con la superficie, la
fuerza repulsiva fuerte causa que la micro palanca se
desvíe cuando pasa sobre distintos accidentes
topográficos.
Modo de no contacto
En esta técnica, la micro palanca oscila a poca
distancia justo por encima de la superficie a medida
que explora. Un circuito de retroalimentación preciso
de alta velocidad evita que la punta de la micro
palanca se estrelle contra la superficie, preservando la
agudeza de la punta y dejando la superficie intacta.
Cuando la punta se acerca a la superficie de la
muestra, disminuye la amplitud de oscilación de la
micro palanca. Utilizando el circuito de
retroalimentación para corregir estas desviaciones de
amplitud, se puede generar una imagen de la
topografía de la superficie.
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Ejemplo en el cual fue usado la microscopia AFM en
un material.
This work deals with the preparation of poly (vinyl
alcohol) solutions composed of a surface active agent,
an acid and water. With this solution firstly
electrospun nanofiber mats and then nanofiber
aggregates were obtained by electrospinning/sol-gel
process. The samples were morphologically
characterized using scanning electron microscopy
(SEM) and Atomic Force Microscopy (AFM),
obtaining superficial roughness values, distribution
and average diameter before and after the
electrospinning/sol-gel process. The PVA nanofiber
aggregate reached a maximum strength and a
modulus of 90 MPa and 2.55 GPa, respectively.
Experimental results show that these fibers have a
potential use as secondary reinforcement materials in
cementitious composites.
Tipo de documento: research article
Idioma: English
Afiliaciones del autor:
A01Universidad del Valle
A03Universidad del Valle
A04Universidad Politécnica de Valencia
A02Universidad del Valle
ISSN: 0012-7353
URL de acceso:
http://www.scielo.org.co/scielo.php?
script=sci_arttext&pid=S0012-
73532013000200014&lng=en&tlng=en
Número de acceso:
edssci.S0012.73532013000200014
Base de datos: SciELO
IV. REFERENCIAS
a) Wed
1 https://www.youtube.com/watch?v=g26stHX4YmE
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2 http://www.scielo.org.co/scielo.php?
script=sci_arttext&pid=S0012-
73532013000200014&lng=en&tlng=en 

3 https://www.google.com.co/search?
q=escala+de+nanometros&sxsrf=ALeKk02nV7GZ9sy8
ZOsEyWzSoAyoIj-
G4g:1598204594642&source=lnms&tbm=isch&sa=X
&ved=2ahUKEwjCi5GJ8LHrAhWqo1kKHYhqCpEQ_AU
oAXoECAwQAw&biw=1536&bih=722#imgrc=I2GfLVX
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