• Alarcón Hernández César de Jesús.

• Cárdenas Cortez Olda Alexia.

• Díaz del Angel Dinorah.
• Hernández Valdez Hada Aurora.
• Papayanopulos Ruiz Iris Sabday.
• San Juan Refugio Zayra Melissa .
 Historia

En 1986, Binning, Roher y Ruska ganaron el premio Nobel de

Física por el diseño y construcción del
MBET. Binning y Roher son acreditados por el microscopio de
barrido de efecto túnel y Ruska, por
otro lado, por su trabajo fundamental en óptica electrónica y el
diseño del primer microscopio electrónico.

En 1986, Binnig, Quate, y Gerber publicaron un artículo sobre Gerd Binning Heinrich Rohrer
la invención del AFM.
El AFM original consistía en una pequeña parte de diamante
adjunta a una tira de oro. La punta de diamante
tenía contacto directo con la superficie, donde las fuerzas
interatómicas de Van der Waals permitían el
mecanismo de interacción. La detección del movimiento
vertical del cantilever fue hecha por una
segunda punta, ubicado por arriba del cantilever.
Ernst Ruska
Microscopio de Fuerza Atómica:
Es uno de las
varios
técnicas
llamadas SPM
(Scanning
Probe
Microscopes)

Utilizando una sonda

o micropalanca, esta
recorre la muestra
haciendo una
exploración línea por
línea, es decir
escanea la muestra
en función de la
posición generando
una imagen
• Imágenes topográficas
en 3D.
• Hacer mediciones del
orden de los nm.
• Detectar fuerzas de Nn.
• Mediciones de visco-
elasticidad y dureza de
la muestra.
 Cabeza :
Esquema de la cabeza
de un microscopio de
barrido típico de AFM.
1. laser
2. Espejo
3. Cantiléver
4. Espejo móvil
5. Foto detector
 El escáner

El escáner empleado tiene

de forma de tubo. En la
figura se observan distintos
tipos de tubos de barrido o
escáneres que se pueden
emplear con este equipo.
Existen distintos tipos de
escáneres con diferente
poder de resolución.
Unos de los aspectos más
importantes en la resolución de las
imágenes obtenidas por AFM es la
agudeza de la punta. Las primeras
utilizadas por los precursores del
AFM consistieron en pegar el
diamante sobre pedazos de papel
de aluminio. Las mejores puntas con
radio de curvatura se encuentran
alrededor de los 5nm.

Las puntas de nitruro de

Existen tres tipos de influencias para
formar las imágenes:
• Ensanchamiento
• Compresión
• Interacciones punta-muestra: En
no contacto, fuerzas
electrostáticas y magnéticas; en
casi contacto, fuerzas de van der
Waals; en contacto, capilaridad y
fuerzas de contacto.
• Aspecto del radio
silicio generalmente se
emplean en el modo de
contacto, las de silicio,
son las más ampliamente
empleadas tanto para el
modo de contacto
intermitente o “tapping”
como para la mayoría de
las aplicaciones de la
microscopía de fuerza
atómica.
• El láser incide sobre la
punta de barrido.
• se producirá una deflexión
de la punta que se
traducirá en un cambio en
la posición de incidencia
del láser en el fotodetector.
• El sistema rectifica, de
forma que el haz vuelva a
incidir en el centro del
fotodetector.
• también permite detectar
movimientos laterales del
haz del laser,
monitorizándose así los
fenómenos asociados a
procesos de fricción que
tienen lugar entre la punta
y la superficie de barrido.
 El AFM puede realizar
dos tipos de medidas:
imagen y fuerza.

Las medidas de fuerza son útiles en:

* Estudios de fuerzas de adhesión.
* Permiten estudiar a nivel de una En la modalidad de imagen, la superficie
sola molécula interacciones es barrida en el plano de la superficie por
específicas entre moléculas. la punta.
* Interacción antígeno-anticuerpo e a) modo de contacto
interacción entre hebras b) No contacto.
complementarias de ADN o plegado
c) contacto intermitente o “tapping”
de proteínas.
*Caracterizar la elasticidad de
polímeros.

La fuerza interatómica se
puede detectar cuando la
punta está muy próxima a
la superficie de la muestra.
a) Modo de contacto

la punta barre la superficie de la

muestra, aplicando una fuerza
constante (F = constante) y sin
levantar la punta de la superficie.
El movimiento vertical del tubo de
barrido permite obtener una
imagen topográfica de la muestra
que generalmente se llama Imagen
de Alturas.
b) Modo de no-contacto

En condiciones de no – contacto, también se aplica una onda sinusoidal,

pero sin llegar a tocar la superficie de la muestra. Es más complejo, ya
que debido a la capa de contaminación de agua que recubre a todas las
muestras, podría en cualquier momento pasar a tocar la muestra. Sus
aplicaciones se limitan al caso de muestras muy planas.
c) Modo de contacto intermitente (tapping)

Se aplica una señal sinusoidal, haciendo oscilar a la

punta a su frecuencia de resonancia. Los barridos se
efectúan a una amplitud de oscilación constante,
denominada amplitud de trabajo o Asp (sp= setpoint).
El escáner de barrido sube y baja para mantener esa
amplitud constante en todo momento. El movimiento
vertical del tubo de barrido, proporciona, de nuevo la
imagen topográfica (Imagen de Alturas). Por otra parte,
por efecto de la interacción de la punta con los
distintos constituyentes de la muestra, se produce un
cambio en la fase de la onda sinusoidal aplicada, esto
es, un desfase. El registro de este desfase, permite
obtener la denominada Imagen de Fase
• Ha sido el principal modo de trabajo aplicado al
estudio de polímeros.
• Mayor sensibilidad para el estudio composicional en
la muestra.
• Utilizada en el análisis de nano-materiales, ya que, no requiere
trabajar en condiciones de vacío, la muestra no requiere una
preparación sofisticada y tampoco es necesario que la muestra a
analizar sea conductora o se encuentre recubierta.
• Se utiliza en campos como biología, materiales, ciencias
ambientales, etc.
• Los tipos de muestras pueden ser: muestras sólidas, polvos, películas
delgadas, muestras biológicas, etc, sin embargo la muestra debe ser
lo más plana y homogénea posible, sin importar si es conductora.
No es posible hacer análisis de gases y/o líquidos.
• El análisis por AFM requiere varios minutos para una exploración típica, es decir la
obtención de imágenes es del orden de minutos.
• El éxito del análisis depende en gran medida de la preparación de la muestra.
• Las muestras no deben ser mayores a 1x1 cm con un grosor máximo de 3mm.
• Si la muestra presenta una gran topografía se corre el riesgo de no obtener
imágenes y hasta de romper la punta de trabajo.
• La cantidad de puntas presentes en el mercado es muy variada, presentando
diversas características, que van desde la forma de la punta, la forma del cantiléver,
hasta la constante de fuerza y resonancia, entre otras.
AFM: Tip Functionalization
(c)

(c)
colloidal particle

(a) Single Cell Dictyostelium Discoideum

(d)
nanotube with
individual ligand

(b) E. Coli Bacteria

(a) Benoit, M.; Gabriel, D.; Gerisch, G.; Gaub, H. E. Nature Cell. Bio 2000, 2 (6), 313.
(b) Ong, Y-L.; Razatos, A.; Georgiou, G.; Sharma, M. K. Langmuir 1999, 15, 2719.
(c) J . Seog, Ortiz/ Grodzinsky Labs 2001
(d) Wong S.S.; Joselevich E.; Woolley, A.T.; Cheung, C. L.; Lieber, C. M. Nature 1998, 394 (6688), 52.
 Biological Applications: AFM Images of Cells
Contact mode image of human red blood cells - note cytoskeleton is
visible. blood obtained from Johathan Ashmore, Professor of Physiology Red Blood Cells
University College, London. A false color table has been used here, as Shao, et al., : http://www.people.virginia.edu/~js6s/zsfig/random.html
professorial blood is in fact blue. 15µm scan courtesy M. Miles and J.
Ashmore, University of Bristol, U.K.

Rat Embryo Fibroblast(*M. Stolz,C.

Height image of endothelial cells taking in fluid using Contact
Radmacher, et al., Cardiac Cells Schoenenberger, M.E. Müller Institute, Mode AFM. 65 µm scan courtesy J. Struckmeier, S. Hohlbauch, P.
http://www.physik3.gwdg.de/~radmacher/ Biozentrum, Basel Switzerland) Fowler, Digital Intruments/Veeco Metrology, Santa Barbara, USA.
 Biological Applications: AFM Images of DNA
TappingMode image of nucleosomal DNA was the highlight Image of PtyrTlac supercoiled DNA. 750 nm
of the "Practical Course on Atomic Force Microscopy in scan courtesy C. Tolksdorf, Digital
Biology," held at the Biozentrum in Basel, Switzerland, July Instruments/Veeco, Santa Barbara, USA, and R.
1998. Image courtesy of Y. Lyubchenko.
Schneider and G. Muskhelishvili, Istitut für
Genetik und Mikrobiologie, Germany.

http://www.people.virginia.edu/~js6s/zsfig/DNA.html

AFM image of short DNA fragment with RNA

The high resolution of the SPM is able to discern polymerase molecule bound to transcription
very subtle features such as these two linear dsDNA recognition site. 238nm scan size. Courtesy of
molecules overlapping each other. 155nm scan. Bustamante Lab, Chemistry Department, University
Image courtesy of W. Blaine Stine of Oregon, Eugene OR
AFM: From Nano to MicroStructures

Human hair (C. Ortiz)

Eggshell